JPH0442311A - 組物試験片の汎用支持装置 - Google Patents
組物試験片の汎用支持装置Info
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- JPH0442311A JPH0442311A JP2148709A JP14870990A JPH0442311A JP H0442311 A JPH0442311 A JP H0442311A JP 2148709 A JP2148709 A JP 2148709A JP 14870990 A JP14870990 A JP 14870990A JP H0442311 A JPH0442311 A JP H0442311A
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Links
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Landscapes
- Measuring Magnetic Variables (AREA)
- Tests Of Circuit Breakers, Generators, And Electric Motors (AREA)
- Control Of Position Or Direction (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
この発明は、組物試験片の汎用支持装置に係り、特にア
キシャルフラックス型ブラシレスモータの磁石ロータの
着磁分布を精密測定する際に使用される支持装置で、主
試験片となる磁石ロータとこれに対し所定間隔離反位置
に配設される副試験片としてのヨークを組物として支持
する組物試験片の汎用支持装置に関する。
キシャルフラックス型ブラシレスモータの磁石ロータの
着磁分布を精密測定する際に使用される支持装置で、主
試験片となる磁石ロータとこれに対し所定間隔離反位置
に配設される副試験片としてのヨークを組物として支持
する組物試験片の汎用支持装置に関する。
[従来の技術]
近年における音#機器、映像機器および計算機等の発展
が急速な状況下でその性能の向上に伴い品質の高度化か
要求されつつある。
が急速な状況下でその性能の向上に伴い品質の高度化か
要求されつつある。
殊にAV機器(オーディオビジュアル機器)に搭載する
モータは、回転むらが小さく、高能率、安定性が要求さ
れる。
モータは、回転むらが小さく、高能率、安定性が要求さ
れる。
しかるに、その駆動方式においては、ダイレクトドライ
ブ方式が注目され始め、低速度で回転むらの極めて小さ
いモータが要求され、これを満足するモータとしてアキ
シャルフラックス型ブラシレスモータが最適で、AVt
ll器にはこのモータが一般的に採用されている。
ブ方式が注目され始め、低速度で回転むらの極めて小さ
いモータが要求され、これを満足するモータとしてアキ
シャルフラックス型ブラシレスモータが最適で、AVt
ll器にはこのモータが一般的に採用されている。
すなわち、第5図(a)および(b)のブラシレスモー
フの全体断面図に示すように、最も多く使用される3相
バイポーラ8極ブラシレスモータは、その外形が直径に
比し軸方向寸法の小さい偏平な構成となっている。
フの全体断面図に示すように、最も多く使用される3相
バイポーラ8極ブラシレスモータは、その外形が直径に
比し軸方向寸法の小さい偏平な構成となっている。
この場合、ロータ80は円板状のマグネットで形成され
、この円板の面に垂直なロータ軸82aの方向に着磁さ
れたアキシュアルフラックスと呼ばれる着磁構成となっ
ている。
、この円板の面に垂直なロータ軸82aの方向に着磁さ
れたアキシュアルフラックスと呼ばれる着磁構成となっ
ている。
そして、このロータマグネッI・82のロータ軸82a
の一方はハウジング85のポス98a内に挿着された軸
受87a、 87bを介して回転可能に支持されている
。
の一方はハウジング85のポス98a内に挿着された軸
受87a、 87bを介して回転可能に支持されている
。
さらに、ハウジング98に形成されたフランジ98bの
上面には鉄基板(以下ヨーク50と称する)が固定され
、このヨーク50の絶縁面85aとなる上面には6個の
扇形コイル96をオレンジの輪切り状に配設したステー
タ97が構成される。そして、ロータマグネット82の
下面は8極の扇形状に着磁され、この着磁面82bとス
テータ97のコイル96上面との間に僅かなギャップδ
を形成するようにロータマグネット82が支持される。
上面には鉄基板(以下ヨーク50と称する)が固定され
、このヨーク50の絶縁面85aとなる上面には6個の
扇形コイル96をオレンジの輪切り状に配設したステー
タ97が構成される。そして、ロータマグネット82の
下面は8極の扇形状に着磁され、この着磁面82bとス
テータ97のコイル96上面との間に僅かなギャップδ
を形成するようにロータマグネット82が支持される。
また、磁極とコイル96の中心が重なった位置を基準に
±7.5°の位置関係をなすコイル96は、コイル96
の1〜ルク発生導体(直線部分)が磁極の境界部分と多
く重なり、コイルの発生l・ルクが不安定になる為、モ
ータの回路より切離される。
±7.5°の位置関係をなすコイル96は、コイル96
の1〜ルク発生導体(直線部分)が磁極の境界部分と多
く重なり、コイルの発生l・ルクが不安定になる為、モ
ータの回路より切離される。
一方、6個のコイル96は互いにロータ軸82aを中心
に対向する2個のコイル96を直列に連結したものを一
札とし、このうちの上記の条件に無い2相を直列に連結
し磁極(N極、S極)に応じて回転トルクが一方向に発
生するように電流の向きか制御される。
に対向する2個のコイル96を直列に連結したものを一
札とし、このうちの上記の条件に無い2相を直列に連結
し磁極(N極、S極)に応じて回転トルクが一方向に発
生するように電流の向きか制御される。
この形式のモータは、常に3相のうち1相のコイルは休
止しており、この切換えはロータ80が15°回転する
ごとにドライバーICによって行われる。
止しており、この切換えはロータ80が15°回転する
ごとにドライバーICによって行われる。
すなわち、トルクの発生は、それぞれのコイルが同時に
ロータマグネットの全磁極に作用することにより起生ず
るようになっており、このロータマグネットの回転につ
れて電機子電流は一つの極を形成するコイルから次の極
を形成するコイルへと逐次切換えられ、各コイルがトル
クの発生を順送りに受持つ。そして一つの極のコイル電
流は接近してくる磁極の極性に応じて正負方向に切換え
られ、この電流の正負の切換えはロータマグネットの極
数とモータの回転速度で定まる同期周波数で行われる。
ロータマグネットの全磁極に作用することにより起生ず
るようになっており、このロータマグネットの回転につ
れて電機子電流は一つの極を形成するコイルから次の極
を形成するコイルへと逐次切換えられ、各コイルがトル
クの発生を順送りに受持つ。そして一つの極のコイル電
流は接近してくる磁極の極性に応じて正負方向に切換え
られ、この電流の正負の切換えはロータマグネットの極
数とモータの回転速度で定まる同期周波数で行われる。
この場合、トルクは主磁束の強さ、コイルの電流のみな
らず@極とコイル96との相対位置関係によっても変わ
るから、ロータマグネット82の回転によるロータマグ
ネッ1−82の磁極とコイル96との相対位置関係の変
化に応じて、適切に各コイルの電流を制御し、結果的に
どの瞬間にも発生するトルクが常に一定であるようにし
なければならない。
らず@極とコイル96との相対位置関係によっても変わ
るから、ロータマグネット82の回転によるロータマグ
ネッ1−82の磁極とコイル96との相対位置関係の変
化に応じて、適切に各コイルの電流を制御し、結果的に
どの瞬間にも発生するトルクが常に一定であるようにし
なければならない。
そして、トルクがロータマグネット82の位置関係によ
って変化すると、モータの回転速度が瞬間的に変動し、
いわゆるワウフラッタの原因になる。AVi器モータに
とって、このワウフラッタは致命的となるため、1ヘル
ク変動は極力抑えることが必要である。
って変化すると、モータの回転速度が瞬間的に変動し、
いわゆるワウフラッタの原因になる。AVi器モータに
とって、このワウフラッタは致命的となるため、1ヘル
ク変動は極力抑えることが必要である。
この制御を行うのかポール素子100とコイル電流制御
回路であり、ホール素子100がロータマクネッ1−8
2の磁極の位置を検出し、その信号に基づいて電子回路
か各相のコイルに適切な電流を分配する。
回路であり、ホール素子100がロータマクネッ1−8
2の磁極の位置を検出し、その信号に基づいて電子回路
か各相のコイルに適切な電流を分配する。
ここで、1〜ルク発生のシーケンスが正確に行われるな
めには、磁極、ホール素子100の配列位置が正確でな
けれはならす、各要素の配列間隔か不揃いであったり、
円周に偏心があったりすると、コイル電流を制御するシ
ーケンスの周期性を狂わせ、モータの1回転の中で時間
的にトルクが変動することになる。
めには、磁極、ホール素子100の配列位置が正確でな
けれはならす、各要素の配列間隔か不揃いであったり、
円周に偏心があったりすると、コイル電流を制御するシ
ーケンスの周期性を狂わせ、モータの1回転の中で時間
的にトルクが変動することになる。
またロータマグネットの回転につれてトルクを発生する
磁極は順次変化して行くが、若しマグネットの着磁にむ
らがあれは、それが直ちに回転速度の変動の原因となっ
てあられれる。
磁極は順次変化して行くが、若しマグネットの着磁にむ
らがあれは、それが直ちに回転速度の変動の原因となっ
てあられれる。
そこで、各種ブラシレスモータのロータマグネジ1−0
着磁分布状態を予め計測し、磁束密度のデータを収集す
る必要がある。
着磁分布状態を予め計測し、磁束密度のデータを収集す
る必要がある。
この場合、このロータマグネット82の着磁分布を測定
するに際し、ロータマグネット82とヨーク50とを一
定間隔離反してブラシレスモータを組立な状態と同様の
位置関係になるよう対向配置して、これを1組として支
持する。この状態でロータマグネッ1〜82を一定速度
で回転させ、後述する磁束密度測定装置の検出ヘッドを
ロータマグネット82に対しラジアル方向に一定速度で
移動し、検出ヘッドの出力電圧を測定値として着磁分布
を求めている。
するに際し、ロータマグネット82とヨーク50とを一
定間隔離反してブラシレスモータを組立な状態と同様の
位置関係になるよう対向配置して、これを1組として支
持する。この状態でロータマグネッ1〜82を一定速度
で回転させ、後述する磁束密度測定装置の検出ヘッドを
ロータマグネット82に対しラジアル方向に一定速度で
移動し、検出ヘッドの出力電圧を測定値として着磁分布
を求めている。
このように、ロータマグネット82とヨーク50とを一
定の位置関係を保った状態で支持する従来の組物試験片
の支持装置は、ロータ軸82aの下端部を回転可能に支
持する主軸と、ロータ軸の上端部を支持する回転可能か
つ軸方向摺動可能な補助軸とで構成され、またロータマ
グネット82とヨーク50との位置関係がブラシレスモ
ータとして組立らた状態と同様になるよう配設して所定
の磁界が発生するよう構成されていた。
定の位置関係を保った状態で支持する従来の組物試験片
の支持装置は、ロータ軸82aの下端部を回転可能に支
持する主軸と、ロータ軸の上端部を支持する回転可能か
つ軸方向摺動可能な補助軸とで構成され、またロータマ
グネット82とヨーク50との位置関係がブラシレスモ
ータとして組立らた状態と同様になるよう配設して所定
の磁界が発生するよう構成されていた。
さらに、前述した相互の位置関係がブラシレスモータの
種類によって変化しても、これに対応させて適宜設定し
、各種ブラシレスモータのロータマグネッ1−82の着
磁分布状態の計測に適用させるため、従来の組物試験片
の支持装置は定位置に支持されるロータマグネット82
の位置に対しヨーク50を調整可能に支持するよう、こ
れを支持するブラケットをこれと螺合している長尺螺子
の回転により平行移動し、かつm41[1に調整するよ
う構成されていた。
種類によって変化しても、これに対応させて適宜設定し
、各種ブラシレスモータのロータマグネッ1−82の着
磁分布状態の計測に適用させるため、従来の組物試験片
の支持装置は定位置に支持されるロータマグネット82
の位置に対しヨーク50を調整可能に支持するよう、こ
れを支持するブラケットをこれと螺合している長尺螺子
の回転により平行移動し、かつm41[1に調整するよ
う構成されていた。
[発明が解決しようとする課題]
しかしながら、このように構成された従来の組物試験片
の支持装置は、ブラシレスモータの種類によって異なる
ロータマグネッ1〜とヨークとの間隔の調整を1本の長
尺螺子の回転操作によりなされていたため以下のような
問題点を有していた。すなわち、例えば前回計測実施し
た際の組物試験片としてのロータマグネットとヨークと
の位置関係が大幅に異なる場合、その調整範囲が多くな
り長尺螺子による回転操作に多くの時間を費やし、その
操作が困りでさらにその位置決め精度も低下する等の難
点を有していた。
の支持装置は、ブラシレスモータの種類によって異なる
ロータマグネッ1〜とヨークとの間隔の調整を1本の長
尺螺子の回転操作によりなされていたため以下のような
問題点を有していた。すなわち、例えば前回計測実施し
た際の組物試験片としてのロータマグネットとヨークと
の位置関係が大幅に異なる場合、その調整範囲が多くな
り長尺螺子による回転操作に多くの時間を費やし、その
操作が困りでさらにその位置決め精度も低下する等の難
点を有していた。
そこで、本発明の目的は、副試験片としてのヨークを支
持する支持手段をテーブル上に複数配設された係合手段
の選択的な係合と前記テーブルを微少移動する移動手段
とを併用することにより、主試験片に対し副試験片を短
時間でしかも高精度に位置決め調整することのできる組
物試験片の汎用支持装置を提供するにある。
持する支持手段をテーブル上に複数配設された係合手段
の選択的な係合と前記テーブルを微少移動する移動手段
とを併用することにより、主試験片に対し副試験片を短
時間でしかも高精度に位置決め調整することのできる組
物試験片の汎用支持装置を提供するにある。
[課題を解決するための手段]
主試験片と副試験片とを所定間隔離反して保持される組
物試験片であって、前記主試験片に対し副試験片の離間
距離を適宜所定の位置関係に設定支持する本発明の組物
試験片の汎用支持装置においては、前記の目的を達成す
るため、 上下を垂直に支持する支持軸中央に形成された円盤状の
検出体で前記主試験片を構成すると共に、前記検出片に
対し所定間隔離反して対向配置される円盤状の金属片で
前記副試験片を構成し、前記主試験片に対し前記副試験
片を前記支持軸方向に移動してその間隔を調整可能に設
定支持する支持手段を設け、この支持手段は、支柱と、
この支柱に前記支持軸軸線方向に移動可能に案内支持さ
れ表面に複数の係合手段を所定間隔に配設したテーブル
と、このテーブルを少なくとも前記係合手段間の所定間
隔内で微少移動する移動手段と、一端に前記係合手段に
係合可能な係合部を有すると共に前記副試験片を取着す
る取付は面を備えた支持部材とで構成することを特徴と
する。
物試験片であって、前記主試験片に対し副試験片の離間
距離を適宜所定の位置関係に設定支持する本発明の組物
試験片の汎用支持装置においては、前記の目的を達成す
るため、 上下を垂直に支持する支持軸中央に形成された円盤状の
検出体で前記主試験片を構成すると共に、前記検出片に
対し所定間隔離反して対向配置される円盤状の金属片で
前記副試験片を構成し、前記主試験片に対し前記副試験
片を前記支持軸方向に移動してその間隔を調整可能に設
定支持する支持手段を設け、この支持手段は、支柱と、
この支柱に前記支持軸軸線方向に移動可能に案内支持さ
れ表面に複数の係合手段を所定間隔に配設したテーブル
と、このテーブルを少なくとも前記係合手段間の所定間
隔内で微少移動する移動手段と、一端に前記係合手段に
係合可能な係合部を有すると共に前記副試験片を取着す
る取付は面を備えた支持部材とで構成することを特徴と
する。
この場合、前記移動手段は、支柱側と前記テーブル側と
を位置調整可能に螺子係合するよう構成し、この係合手
段は、前記テーブル上に等間隔に配設された複数の凹部
で構成し、前記支持手段は板状に形成されたブラケット
の一端に前記凹部と嵌合可能な凸部を設けるよう構成す
れば好適である。
を位置調整可能に螺子係合するよう構成し、この係合手
段は、前記テーブル上に等間隔に配設された複数の凹部
で構成し、前記支持手段は板状に形成されたブラケット
の一端に前記凹部と嵌合可能な凸部を設けるよう構成す
れば好適である。
1作用]
本発明に係る組物試験片の汎用支持装置は、副試験片と
してのヨークを支持する支持手段をテーブル上に複数配
設された係合手段の選択的な係合と、前記テーブルを少
なくとも前記係合手段の所定間隔内で微少移動する移動
手段とを併用することにより、回転可能に定位置に支持
された主試験片としてのロータマグネットに対しヨーク
を所定間隔離反設定するに際し、テーブル上の係合手段
としての凹部に支持手段としてのブラケットの凸部を選
択的に係合した後、螺子によるテーブルの微少移動によ
りロータマグネットとヨークとを短時間でしかも高精度
に所定間隔に位置決め設定することができる。
してのヨークを支持する支持手段をテーブル上に複数配
設された係合手段の選択的な係合と、前記テーブルを少
なくとも前記係合手段の所定間隔内で微少移動する移動
手段とを併用することにより、回転可能に定位置に支持
された主試験片としてのロータマグネットに対しヨーク
を所定間隔離反設定するに際し、テーブル上の係合手段
としての凹部に支持手段としてのブラケットの凸部を選
択的に係合した後、螺子によるテーブルの微少移動によ
りロータマグネットとヨークとを短時間でしかも高精度
に所定間隔に位置決め設定することができる。
[実施例]
次に、本発明に係る組物試験片の汎用支持装置の一実施
例につき添付図面を参照しながら以下詳細に説明する。
例につき添付図面を参照しながら以下詳細に説明する。
第1図は、本発明の一実施例を示すIfi物試験片の汎
用支持装置の断面図である。
用支持装置の断面図である。
この図において、参照符号80は主試験片として使用さ
れるブラシレスモータのロータを示し、このロータ80
の上下に設けられたロータ軸82aの両軸端は、これと
同一軸線上に対向配置された一対の軸に係合支持される
。
れるブラシレスモータのロータを示し、このロータ80
の上下に設けられたロータ軸82aの両軸端は、これと
同一軸線上に対向配置された一対の軸に係合支持される
。
この場合、ロータ軸の下端は後述するケース14に回転
可能に軸支された主軸18先端の係合部22(凹センタ
)で係合支持される。
可能に軸支された主軸18先端の係合部22(凹センタ
)で係合支持される。
そして、このケース14はベース13に形成された貫通
穴15内に挿嵌され、このケース14の開口部には上端
縁にフランジ16aを形成したハウジング16が挿着さ
れ、このフランジ16aをボルトにより締付けてこれを
固定している。
穴15内に挿嵌され、このケース14の開口部には上端
縁にフランジ16aを形成したハウジング16が挿着さ
れ、このフランジ16aをボルトにより締付けてこれを
固定している。
そして、このハウジング16の中央に形成された貫通穴
の上下には一対のベアリング20a。
の上下には一対のベアリング20a。
20bが挿着され、このベアリンク20a、 20bの
上端部に凹センタ22を形成した主軸18か回転自在に
軸支されている。
上端部に凹センタ22を形成した主軸18か回転自在に
軸支されている。
さらに、主軸18の下部にはこれを図示しない駆動源で
回転駆動されるプーリ19が止めねじを介して固定され
、下部ベアリング20bはプーリ19のボス部によりこ
の下部ベアリング20bの内輪を軸方向に押圧しこれに
予圧を与えている。
回転駆動されるプーリ19が止めねじを介して固定され
、下部ベアリング20bはプーリ19のボス部によりこ
の下部ベアリング20bの内輪を軸方向に押圧しこれに
予圧を与えている。
また、上部ベアリング20aも同様にこの上部ベアリン
グ20aを通過した主軸18にキャップ3Gを挿通し、
このキャップ36と上部ベアリング2Oa間に予圧カラ
ー37および波ワツシヤ37aを介挿させてこれらを抑
圧状態にしてキャップ36を固定することにより、この
上部ベアリング2Qaの内輪を軸方向に弾力的に押圧し
これに予圧を与えている。
グ20aを通過した主軸18にキャップ3Gを挿通し、
このキャップ36と上部ベアリング2Oa間に予圧カラ
ー37および波ワツシヤ37aを介挿させてこれらを抑
圧状態にしてキャップ36を固定することにより、この
上部ベアリング2Qaの内輪を軸方向に弾力的に押圧し
これに予圧を与えている。
そして、このキャップ36には側面にピン34を半径方
向に突設させて、このピン34と係合すべく垂直なピン
38を植設したブラケット40をロータ軸82a下端に
固定させて主軸18の回 A 転をロータ80に伝達する回転伝達手段33が構成され
る。これにより、ロータ80は図示しない駆動源からプ
ーリ19により減速された主軸18の回転が回転伝達手
段34を介して伝達されこの主軸18と共に回転する。
向に突設させて、このピン34と係合すべく垂直なピン
38を植設したブラケット40をロータ軸82a下端に
固定させて主軸18の回 A 転をロータ80に伝達する回転伝達手段33が構成され
る。これにより、ロータ80は図示しない駆動源からプ
ーリ19により減速された主軸18の回転が回転伝達手
段34を介して伝達されこの主軸18と共に回転する。
さらに、主軸18の下端にはカップリング18aを介し
てロータリエンコーダ18Rか接続され、このエンコー
タ18Rによりロータ80の1回転に対し複数に分割さ
れたパルスを発生させて、この1回転分の計測が完了す
ると計測器44のプローブ46をロータ80のラジアル
方向に1ステツプ移動させる。これを順次繰返しながら
、座標分割されたロータ80上の磁器分布状態を、正確
に測定することができる。
てロータリエンコーダ18Rか接続され、このエンコー
タ18Rによりロータ80の1回転に対し複数に分割さ
れたパルスを発生させて、この1回転分の計測が完了す
ると計測器44のプローブ46をロータ80のラジアル
方向に1ステツプ移動させる。これを順次繰返しながら
、座標分割されたロータ80上の磁器分布状態を、正確
に測定することができる。
一方、主軸18の上部にはこの主軸18の凹センタ22
に対向すべく下端部に凹センタ32を形成した補助軸3
0が同一軸線上に配置され、この補助軸30は支持体2
4に挿着されたリニアボールベアリング28を介して回
転かつ軸方向摺動可能に支持されている。
に対向すべく下端部に凹センタ32を形成した補助軸3
0が同一軸線上に配置され、この補助軸30は支持体2
4に挿着されたリニアボールベアリング28を介して回
転かつ軸方向摺動可能に支持されている。
尚、このリニアボールベアリング28は通常市販されて
いるもので、その外輪を支持体24の挿通孔26内に固
定すると共に、その内部に複数のボールが保持器を介し
て回転自在に支持される構造となっている。
いるもので、その外輪を支持体24の挿通孔26内に固
定すると共に、その内部に複数のボールが保持器を介し
て回転自在に支持される構造となっている。
このようにして、ロータ軸82aの上下両端は主軸18
と補助軸30とにより垂直に係合支持されるが、さらに
この補助軸30の上端部にはロータ軸82aの上下両端
に適正な押圧力を付与すべく、予め計量された適正な重
量の重錘42が着脱可能に挿嵌され、これにより#Jl
物試験片の一部としてのロータ80を軸方向に押圧して
安定した支持が達成される。
と補助軸30とにより垂直に係合支持されるが、さらに
この補助軸30の上端部にはロータ軸82aの上下両端
に適正な押圧力を付与すべく、予め計量された適正な重
量の重錘42が着脱可能に挿嵌され、これにより#Jl
物試験片の一部としてのロータ80を軸方向に押圧して
安定した支持が達成される。
次に、副試験片としてのヨークの支持手段につき、第2
図〜第4図を参照しながら説明する。
図〜第4図を参照しながら説明する。
すなわち、第2図は第1図のA−A断面図、第3図は第
2図のB−B断面図を示し、第4図は組物試験片の汎用
支持装置の全体斜視図を示す。
2図のB−B断面図を示し、第4図は組物試験片の汎用
支持装置の全体斜視図を示す。
すなわち、主試験片であるロータ80と共に副試験片と
してのヨーク50はこれを1組の組物試験片として使用
される。そして、これらの主・副試験片はブラシレスモ
ータとして組込まれた状態と同様の位置関係りを得るた
め、検出体であるロータマグネット82に対し所定間隔
離反した位置しに鉄基板からなるヨーク50を設定して
所定の磁界が発生するよう構成する。
してのヨーク50はこれを1組の組物試験片として使用
される。そして、これらの主・副試験片はブラシレスモ
ータとして組込まれた状態と同様の位置関係りを得るた
め、検出体であるロータマグネット82に対し所定間隔
離反した位置しに鉄基板からなるヨーク50を設定して
所定の磁界が発生するよう構成する。
この場合、ロータマグネッI・82の着磁面82bに対
しこのヨーク50を所定間隔離反して対設設定させるた
め、ヨークの支持手段51は、ベース13上に立設した
支柱54(第2図参照)と、この支柱54前側面に固定
されたリニアガイドレール58を備えたベースプレート
56と、このリニアガイドレール58に摺動可能に挿嵌
されたスライドテーブル59と、このスライドテーブル
59上に固定され上面に対をなして配設された複数の嵌
合凹部としてのピン孔75を等ピッチで平行に縦列に配
設したテーブル60と、このテーブル60上の一対のピ
ン孔75に選択的に適宜係合すべく端面から突出した一
対の嵌合凸部としての係合ピン74を設けると共に、ヨ
ーク50を下面に貼着する平面を形成したブラケット5
2とで構成されている。
しこのヨーク50を所定間隔離反して対設設定させるた
め、ヨークの支持手段51は、ベース13上に立設した
支柱54(第2図参照)と、この支柱54前側面に固定
されたリニアガイドレール58を備えたベースプレート
56と、このリニアガイドレール58に摺動可能に挿嵌
されたスライドテーブル59と、このスライドテーブル
59上に固定され上面に対をなして配設された複数の嵌
合凹部としてのピン孔75を等ピッチで平行に縦列に配
設したテーブル60と、このテーブル60上の一対のピ
ン孔75に選択的に適宜係合すべく端面から突出した一
対の嵌合凸部としての係合ピン74を設けると共に、ヨ
ーク50を下面に貼着する平面を形成したブラケット5
2とで構成されている。
従って、磁気隙長を設定するに際し、ブラケット52の
係合ピン74をテーブル60の最適位置の一対のピン孔
75に選択的に係合して位置決めすることができる。
係合ピン74をテーブル60の最適位置の一対のピン孔
75に選択的に係合して位置決めすることができる。
次に、テーブル60を微少移動する移動手段69につき
、第1図を参照しながら説明する。
、第1図を参照しながら説明する。
すなわち、ベース13上に立設した支柱54の前面にベ
ースプレート56を固定すると共に、このベースプレー
ト56の前面に取付けられたリニアカイト58にはスラ
イドテーブル59が摺動可能に挿嵌されている。
ースプレート56を固定すると共に、このベースプレー
ト56の前面に取付けられたリニアカイト58にはスラ
イドテーブル59が摺動可能に挿嵌されている。
さらに、このスライドテーブル59の上部側面(左11
11)には係止片64が突設し、この係止片64の下方
にはこれと対向して所定間隔離間した位置にブロック6
6がベースプレー1・56上に固設されている。
11)には係止片64が突設し、この係止片64の下方
にはこれと対向して所定間隔離間した位置にブロック6
6がベースプレー1・56上に固設されている。
そして、このブロック66には円筒状に形成されたナツ
ト本体70の一端が固定されると共に、このナツト本体
70に精密螺子杆72(マイクロメータと同様の構成)
が螺合し、このナット本体70端部に設けられている摘
み68の回転により螺子杆72は係止片64に対し、進
退移動可能に構成されている。
ト本体70の一端が固定されると共に、このナツト本体
70に精密螺子杆72(マイクロメータと同様の構成)
が螺合し、このナット本体70端部に設けられている摘
み68の回転により螺子杆72は係止片64に対し、進
退移動可能に構成されている。
この場合、スライドテーブル59はこの内部に設けられ
た図示しない引張りばねの張力により下方に(ベース1
3側)に向は付勢され、この付勢力によるスライドテー
ブル59の下方への移動は、これと一体的に構成されて
いる係止片64の下面64aを螺子杆72の先端との当
接により阻止されている。
た図示しない引張りばねの張力により下方に(ベース1
3側)に向は付勢され、この付勢力によるスライドテー
ブル59の下方への移動は、これと一体的に構成されて
いる係止片64の下面64aを螺子杆72の先端との当
接により阻止されている。
従って、螺子杆72の摘み68の回転操作によりテーブ
ル60を上下方向に微少移動させてこのテーブル60の
位置を適宜設定することができる。
ル60を上下方向に微少移動させてこのテーブル60の
位置を適宜設定することができる。
このようにして、副試験片としてのヨーク50はこれを
底部に貼着した支持手段としての一対の係合ピンをロー
タ80に対する間隔りを得るなめ最短位置となるテーブ
ル60上のピン孔75に選択的に嵌合させた後、螺子杆
の摘み68の回転操作により微少調整を短時間で行い、
かつ高精度に位置決め設定することができる。
底部に貼着した支持手段としての一対の係合ピンをロー
タ80に対する間隔りを得るなめ最短位置となるテーブ
ル60上のピン孔75に選択的に嵌合させた後、螺子杆
の摘み68の回転操作により微少調整を短時間で行い、
かつ高精度に位置決め設定することができる。
[発明の効果]
前述した実施例から明らかなように、本発明に係る組物
試験片の汎用支持装置は、主試験片と副試験片とを所定
間隔離間して保持される組物試験片であって、前記主試
験片に対し副試験片の離間距離を適宜所定の位置関係に
設定支持するため、主試験片である検出体に対しこれと
の間隔を適性位置に設定すべく前記副試験片を支持した
支持手段と係合する複数の係合手段を所定間隔に配設し
たテーブルを少なくとも前記係合手段の所定間隔内で微
少移動するよう構成することにより、短時間でしかも高
精度に位置決め調整することができ、それぞれ主・副試
験片間の寸法の異なる各種組物試験片に対しても幅広く
適格に対応することができる利点を有する。
試験片の汎用支持装置は、主試験片と副試験片とを所定
間隔離間して保持される組物試験片であって、前記主試
験片に対し副試験片の離間距離を適宜所定の位置関係に
設定支持するため、主試験片である検出体に対しこれと
の間隔を適性位置に設定すべく前記副試験片を支持した
支持手段と係合する複数の係合手段を所定間隔に配設し
たテーブルを少なくとも前記係合手段の所定間隔内で微
少移動するよう構成することにより、短時間でしかも高
精度に位置決め調整することができ、それぞれ主・副試
験片間の寸法の異なる各種組物試験片に対しても幅広く
適格に対応することができる利点を有する。
以上、本発明の好適な実施例について説明したが、前述
の実施例に限定されることなく本発明の精神を逸脱しな
い範囲内において種々の設計変更をなし得ることは勿論
である。
の実施例に限定されることなく本発明の精神を逸脱しな
い範囲内において種々の設計変更をなし得ることは勿論
である。
第1図は本発明の一実施例を示す組物試験片の汎用支持
装置の断面図、第2図は第1図のA−A断面図、第3図
は第2図のB−B断面図、第4図は組物試験片の汎用支
持装置の全体斜視図、第5図(a)はブラシレスモータ
の断面図であり、第5図(b)は第5図(a)のC−C
断面図である。 13・・・ベース 18・・・主軸20a、
20b・・・ベアリング 22.32・・・係合部(凹センタ) 24・・・支持体 28・・・リニアベアリン
グ30・・・補助軸 33・・・回転伝達手段
42・・・重錘 44・・・磁束密度計測器
46・・・プローブ 50・・・副試験片(ヨー
ク)51・・・支持手段 52・・・ブラケット
54・・・支柱 56・・・ガイドプレー1
−58・・・リニアカイトレール 59・・・スライドテーブル 60・・・テーブル 82・・・係合手段64・
・・係止片 66・・・ブロック69・・・移
動手段 74・・・嵌合凸部(係合ピン) 75・・・嵌合凹部(ピン孔) 80・・・主試験片(ロータ) 82・・・ロータマグネット 82a・・・ロータ軸 96・・・コイル97・・
・ステータ 100・・・ホール素子FIG、5 (G) (b) 手 続 補 正 書(方式) 1、事件の表示 平成 2年 特許願 第148709号 3、補正をする者 事件どの関係
装置の断面図、第2図は第1図のA−A断面図、第3図
は第2図のB−B断面図、第4図は組物試験片の汎用支
持装置の全体斜視図、第5図(a)はブラシレスモータ
の断面図であり、第5図(b)は第5図(a)のC−C
断面図である。 13・・・ベース 18・・・主軸20a、
20b・・・ベアリング 22.32・・・係合部(凹センタ) 24・・・支持体 28・・・リニアベアリン
グ30・・・補助軸 33・・・回転伝達手段
42・・・重錘 44・・・磁束密度計測器
46・・・プローブ 50・・・副試験片(ヨー
ク)51・・・支持手段 52・・・ブラケット
54・・・支柱 56・・・ガイドプレー1
−58・・・リニアカイトレール 59・・・スライドテーブル 60・・・テーブル 82・・・係合手段64・
・・係止片 66・・・ブロック69・・・移
動手段 74・・・嵌合凸部(係合ピン) 75・・・嵌合凹部(ピン孔) 80・・・主試験片(ロータ) 82・・・ロータマグネット 82a・・・ロータ軸 96・・・コイル97・・
・ステータ 100・・・ホール素子FIG、5 (G) (b) 手 続 補 正 書(方式) 1、事件の表示 平成 2年 特許願 第148709号 3、補正をする者 事件どの関係
Claims (2)
- (1)主試験片と副試験片とを所定間隔離反して保持さ
れる組物試験片であつて、前記主試験片に対し副試験片
の離間距離を適宜所定の位置関係に設定支持する組物試
験片の汎用支持装置において、 上下を垂直に支持する支持軸中央に形成さ れた円盤状の検出体で前記主試験片を構成すると共に、
前記検出片に対し所定間隔離反して対向配設される円盤
状の金属片で前記副試験片を構成し、前記主試験片に対
し前記副試験片を前記支持軸方向に移動してその間隔を
調整可能に設定支持する支持手段を設け、この支持手段
は、支柱と、この支柱に前記支持軸軸線方向に移動可能
に案内支持され表面に複数の係合手段を所定間隔に配設
したテーブルと、このテーブルを少なくとも前記係合手
段間の所定間隔内で微少移動する移動手段と、一端に前
記係合手段に係合可能な係合部を有すると共に前記副試
験片を取着する取付け面を備えた支持部材とで構成する
ことを特徴とする組物試験片の汎用支持装置。 - (2)前記移動手段は、支柱側と前記テーブル側とを位
置調整可能に螺子係合するよう構成し、この係合手段は
、前記テーブル上に等間隔に配設された複数の凹部で構
成し、前記支持手段は板状に形成されたブラケットの一
端に前記凹部と嵌合可能な凸部を設けてなる請求項1記
載の組物試験片の汎用支持装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2148709A JPH0442311A (ja) | 1990-06-08 | 1990-06-08 | 組物試験片の汎用支持装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2148709A JPH0442311A (ja) | 1990-06-08 | 1990-06-08 | 組物試験片の汎用支持装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0442311A true JPH0442311A (ja) | 1992-02-12 |
Family
ID=15458846
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2148709A Pending JPH0442311A (ja) | 1990-06-08 | 1990-06-08 | 組物試験片の汎用支持装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0442311A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8740517B2 (en) | 2007-09-17 | 2014-06-03 | Arno Friedrichs | Only partly ground tool rod made of sintered material |
-
1990
- 1990-06-08 JP JP2148709A patent/JPH0442311A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8740517B2 (en) | 2007-09-17 | 2014-06-03 | Arno Friedrichs | Only partly ground tool rod made of sintered material |
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