JPH0437951B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 ［発明の技術分野］ 本発明はアレイ型探触子を用いた電子走査型の
超音波探傷装置の改良に関する。

［発明の技術的背景とその問題点］ 電子走査型の超音波探傷装置は、例えばパルス
反射法では、複数個の超音波振動子を直線状、曲
線状或いは平面状に配列したアレイ型探触子を用
い、各振動子を夫々遅延させて励振し、被検体中
に形成される超音波ビームを走査、集束制御する
と共に各振動子で受信して得た超音波受信信号を
夫々遅延させて加算することにより、被検体の所
望領域内から超音波情報を選択的に収集し、被検
体の探傷に供するようにしたものである。

ここで、アレイ型探触子の送受信面にアクリ
ル、水等の接触媒体を介して探傷する場合につい
て第１図を参照して説明する。即ち、アレイ型探
触子１の中央部から送信される超音波主ビーム２
に注目し、所望の集束点３（距離l₂）から図中の
ように演算される仮想集束点４（距離l₂×C₂／
C₁）中心とした円筒面５と各振動子の距離差６
に対応した時間差を各振動子に与えて夫々励振す
る。このように励振すると各振動子からの超音波
ビームは所望の集束点３に集束せず、所謂集差を
生じる。この集差は、接触媒体（距離l₁：音速
C₁）７と被検体（音速C₂）８の音速差C₁−C₂が
大きく、また、被検体８中の超音波集束距離l₂
が、アレイ型探触子の開口寸法Ａに比較して十分
大きくない場合に著しく生じるものである。

従つて上記接触媒体７を用いた探傷では各振動
子に遅延時間を与えて励振しても、十分な超音波
集束が得られず、よつて良好な超音波探傷は行え
なかつた。

また、上述した電子走査型の超音波探傷装置で
は、各振動子に対応させて送信器が必要である。
また受信信号は夫々送信時に対応して所定の時間
だけ遅延させ波形加算することが必要である。こ
の場合、この受信信号の遅延方式としては、遅延
線を組合わせたアナログ遅延方式や、CCD素子、
アナログ／デジタル変換によるデジタル遅延方式
等があるが、これらの遅延方式では上記送信器の
設置個数の必要性と相まつて構成が複雑であり、
信号処理が複雑であるという不具合があつた。

次に電子走査型の超音波探傷装置における超音
波ビームを直線状に走査させるリニア走査（直線
層）方式について説明する。即ち、この直線走査
方式では、方位分解能を高めるためには走査密度
を高める必要がある。このため、第２図に示すよ
うに超音波主ビーム２を微小角度だけ偏向送受信
する所謂微小角セクタにより同一の振動子で２倍
の情報を得るようにした方式もある。しかし乍
ら、探傷深さに応じ、即ち、距離方向での実質的
な走査線密度は異なり、よつて大幅な距離分解能
の向上は望めなく、また、この微小角セクタでは
超音波集束精度が不充分なため分解能向上は充分
に発揮できない。更に、セクタ走査、リアニ走査
共に特に超音波集束を探傷中に所望の探傷領域を
選定する毎に予めROM等に書込まれた遅延時間
データを随時変更する必要があり、試験状況に随
時対応できないという不都合が生じていた。特に
リニア走査を水浸法等で使用する場合には、水距
離が種々変化するため、その変化に随時対応して
超音波集束制御のできる装置の出現が強く望まれ
ていた。

［発明の目的］ 本発明は上記事情に基づいてなされたもので、
その目的とするところは、集差のない超音波集束
を得、また、超音波送信器の数を少くするととも
に、受信信号の遅延を簡素化し、さらに超音波の
集束領域を探傷試験中に随時変更、設定可能とし
た超音波探傷装置を提供することにある。

［発明の概要］ 本発明による超音波探傷装置は、複数個の超音
波振動子を配列してなるアレイ型探触子を用い、
送信はリニア電子走査を行い、受信は前記アレイ
型探触子の全振動子からの受信信号の一括加算処
理を行うことによりＡスコープ像又はＢスコープ
像を得て表示する超音波探傷装置において、 超音波接触媒体を前記アレイ型探触子と被検体
との間に介挿した場合における前記超音波接触媒
体の音速データ、前記被検体の音速データ、前記
アレイ型探触子の振動子配列ピツチデータ、送信
振動子の組合せ数データ、走査線ピツチデータを
それぞれ入力するデータ設定手段を有し、 前記Ｂスコープ像上の任意の位置にカーソルを
設定するカーソル設定手段と、 前記データ設定手段により入力されたデータ群
と前記カーソル設定手段により設定されたカーソ
ル位置に対応した超音波伝搬距離データと超音波
接触媒体長データと前記被検体中の超音波集束点
距離データとに基づき前記リニア電子走査におけ
る遅延時間を算出し且つ前記リニア電子走査のた
めに設定する遅延時間設定手段と、 を具備したことを特徴とする。

［発明の実施例］ 以下本発明に係る超音波探傷装置を、第３図に
示す一実施例に従い説明する。第３図において、
１は複数の振動子９から構成されたアレイ型探触
子である。１０は各振動子９夫々に対応された複
数の超音波送信器で構成される送信器群である。
１１は各振動子９夫々からの受信信号を選定する
電子スイツチである。１２は電子スイツチ１１を
通過した受信信号が取込まれる複数の受信器で構
成される受信器群である。１３は受信器群１２の
夫々の受信器の出力を取込み、それらを加算する
加算器である。

１４は送信器群１０の各送信器に送信遅延時間
信号を与え、受信器群１４の各受信器に上記送信
遅延時間信号に同期した受信遅延時間信号を与え
る遅延時間設定器である。１５はデータ設定器１
６からの信号に基づき、遅延時間設定器１４、電
子スイツチ１１および加算器１３へ制御信号を与
えると共に信号処理器１７と信号の入出力を行な
うコンピユータである。上記においてデータ設定
器１６は信号処理器１７のデータ読取りを制御す
る信号を設定するものである。１８は、信号処理
器１７の出力を表示する画像表示器であり、この
画像表示器１８で得られた信号は信号処理器１７
に入力される。

次に上記構成の詳細について第３図および第４
図を参照して説明する。

即ち、第３図において、送信器群１０の各振動
子は、遅延時間設定器１４からのパルス信号を受
けることにより対応する振動子９の励振用単発波
を与えるものである。遅延時間設定器１４は、コ
ンピユータ１５からの遅延時間データを受取り、
内部のレジスターにプリセツト可能としており、
さらに所定のレジスターのデータプリセツトが終
了すると遅延時間設定器１４内部発振器が作動し
プリセツトされた値に応じて送信器群１０へパル
ス信号を送信するものである。

なお、遅延時間設定器１４内のレジスターの選
定は、電子スイツチ１１のセツトと加算器１３の
加算信号の選定と信号処理器１７への選定された
振動子群データの送信とをコンピユータ１５より
出力されるものである。

次に、電子スイツチ１１で選定された振動子群
９からの受信信号群は夫々受信機群１２で増幅さ
れた後、加算器１３に入力されてこの加算器１３
内でアナログ加算される。ここで加算器１３は入
力された受信信号を非遅延加算又は遅延加算する
ものであり、この加算受信信号は加算器１３が内
蔵する減衰器及び増幅器によつて適正信号レベル
にまで調整した後信号処理器１７に入力される。

信号処理器１７に入力された加算受信信号は、
信号処理器１７内で検波された後、任意に設定で
きる信号処理器１７内のデイスクリレベルによつ
てCRT（陰極線管）を有した画像表示器１８への
輝度変調用信号を生成する。この輝度変調用信号
は、所定の信号レベルを100％とすれば、100％以
上、100〜50％、50％〜20％、20％以下の各段階
に対して階調を持つた信号出力であり、もちろん
超音波の距離減衰特性を考慮した輝度変調用信号
となつている。また、信号処理器１７は、コンピ
ユータ１５からの選定された振動子群のデータと
超音波集束点位置のデータを受け、画像表示器１
８への画像掃引用信号を作成して出力する。さら
に、画像表示器１８からは後述するカーソル位置
信号を受け、画像掃引速度との対応から、カーソ
ル位置を超音波ビーム伝播距離長さに換算してコ
ンピユータへ出力する。なおまた、信号処理器１
７は、画像表示器１８から、画像表示用走査線群
を選択したデータ出力を受け、Ａスコープ表示群
を選定し、これらのＡスコープ表示用の波形信号
群を画像表示器１８へ出力している。

画像表示器１８は前述したようにCRTの画像
掃引上の任意に移動設定可能なカーソルとＡスコ
ープ表示用の走査線群の選定カーソルとを表示す
るとともに、これらのカーソル位置信号を信号処
理器１７へ出力している。また、信号処理器１７
から画像表示用の掃引信号と輝度変調信号を受
け、被探傷材のＢスコープ像（断面画像）を表示
するとともに、Ａスコープ表示の波形信号群を受
け、Ａスコープ表示をCRTに行う。

次にデータ設定器１６は、例えば第４図に示す
ようにデジタルスイツチ１９等により、外部から
電子走査の設定に必要な、超音波接触媒体での音
速C₁と、被検体での音速C₂と、アレイ型探触子
１の振動子配列ピツチＰと送受信時の振動子９の
組合せの数と、電子走査線のピツチとをデコーダ
２０およびインポート２１を介してデータバスラ
インによりコンピユータ１５へ与えるものであ
る。コンピユータ１５は、これらの数値データ
と、前記した信号処理器１７からのカーソル位置
に対応した超音波伝播距離によつて超音波接触媒
体長さと被検体中の超音波集束距離とを用いて、
所定の各振動子に設定すべき遅延時間を演算す
る。また、ンピユータ１５は、信号処理器１７か
ら出力される画像掃引用信号に同期してタイミン
グ信号を信号処理器１７から受け、このコンピユ
ータ１７内にあらかじめ設定されたプログラムに
従い次回に走査すべき振動子群の組合せを選定し
て遅延時間設定器１４、電子スイツチ１１、加算
器１３および信号処理器１７へ出力するものであ
る。

次に本実施例の作用（探傷方法）を列挙して順
に説明する。

第１の方法、第５図に示すように、アレイ型探
触子１の選定された振動子群による探触子開口寸
法Ａの中央点Ｐから距離aiにある振動子９に与え
る遅延時間ΔTiは次のように定められる。ここで
アレイ型探触子１と被検体８とが角度θで傾いて
設定されているとする。この場合には、超音波接
触媒体７の音速C₁と被検体８の音速C₂とから下
記式(1)で示されるスネルの法則によつて被検体８
への超音波ビーム屈折角ψが容易に求められる。
さらに中央点Ｐからの超音波ビームが超音波接触
媒体７中を距離l₁だけ伝播し、被検体８中を集束
点３まで距離l₂だけ伝播することを知り、下記式
(2)で決定される。

sinθ／C₁＝sinψ／C₂ ……(1) ΔTi＝（√（_i−_i）²＋（₁−_i
）²）／C₁ ＋（√（₂＋_i）²＋（₂
）²）／C₂−（l₁／C₁＋l²／C₂）……(2) ここで、biは第５図に示されるように、ai位置
の振動子からの超音波ビームと中央点Ｐからの超
音波ビームとが被検体８の表示上でなす距離であ
り、スネルの法則により下記(3)で求められる。

（l₁sinθ＋a_icosθ−b_i）／（√（_i−_i
）²＋（₁−_i）²）×C₁） ＝（l₂sinψ＋b_i）／（√（₂＋_i）²＋
（₂）²）×l₂）……(3) ここで、biは式(3)で陰関数となつており、一般
に、閉じた形では求めることは困難である。

この第１の方法では、式(3)を変形し、下記式(4)
のように表わし、(4)式のルート内に示されるbi
を、式(5)のbi^*で近似的に与えている。即ち、第
６図に示すように仮想集束点４を被検体８の表面
から距離l₂×C₂／C₁に与えた時前記位置aiの振動
子９からの超音波ビームが被検体８の表面上で中
央点Ｐからの超音波ビームとなす距離であり、 （１−（C₁／C₂）²）（a_i／i₂）²≪１の時bi^*≒biと
なる。

b_i ^*＝a_i・l₂C₂／（l₁C₁＋l₂C₂）cosθ ……(5) 従つて式(4)と式(5)とからbiが下記式(6)から容易
に決定され、式(2)から遅延時間ΔTiが得られる。

一方、アレイ型探触子１が被検体８と平行に配
置された場合には簡略となり、夫々(2)′、式およ
び(6)′式で示される。

ΔTi＝√（_i−_i）²＋₁ ²／C₁＋√_i ²＋₂ ²／C₂
−（l₁／C₁＋l₂／C₂）……(2)′ (2)と(6)式または(2)′と(6)′式によつて演算された
遅延時間ΔTiは、（１−（C₁／C₂）²）（a_i／l₂）²が1.
5程度 であつても式(2)，(3)を用いて厳密に求めた値の１
％以下の精度で一致し、従来式(5)と式(2)から求め
た遅延時間ΔTiの値が厳密値と10％以上の誤差を
生じていたのに較べ、極めて高精度となる。

以上述べたように、本例では、データ設定器１
６からの出力に基づき容易に超音波ビーム屈折角
ψが求められ、この超音波屈折角ψにより遅延時
間ΔTi（送信タイミング）が設定されるので、所
望の位置に超音波集束がなされ、良好な探傷画像
（Ａスコープ、Ｂスコープ）が得られる。

次に、本実施例における第２の方法である電子
走査方向へ超音波集束点を振動子配列ピツチの
Ｎ／Ｍ（Ｎ，Ｍは整数、Ｎ≦（Ｍ／２））だけ移動
させて電子走査する場合の作用例を説明する。即
ち、第７図ａに示すように、所定の振動子の組合
せを同一としたまま、超音波主ビーム２が、被検
体８の所定の集束深さ位置l₂で振動子ピツチＰの
Ｎ／Ｍだけ移動するように遅延時間ΔTiを設定す
るものであり、式(6)または(6)′によつて与えられ
るaiに超音波集束点の移動量Ｐ×（Ｎ／Ｍ）だけ
加算、或いは減衰した値を用いてbiを演算し、式
(2)または式(2)′から遅延時間ΔTiが得られる。第
７図ｂには振動子ピツチＰの1/3だけ超音波集束
点を左右に移動させた例を示したが、振動子の組
合せA₁とA₂とA₃とで夫々●印、○印および×印
で示されるように超音波集束点が移動され、超音
波の走査線密度が振動子ピツチＰの３倍となるこ
とが認められる。なお、第７図ａ，ｂは簡単のた
めに超音波接触媒体を有さない場合について示し
たものであるが、もちろん、第１の方法の如く超
音波接触媒体７を用いた場合にも適用できる。

第８図は上述した方法によつて、電子走査する
例を示したものである。即ち、超音波主ビーム２
を第８図の一点鎖線のＳ１方向へ傾け電子走査２
２した後、次に実線Ｓ２方向へ傾け、電子走査
し、さらに破線Ｓ３方向に傾けて電子走査してい
る。このように電子走査毎に超音波主ビーム２の
傾き方向を変更することにより、一回の電子走査
時には、第８図に示すように被検体８への超音波
屈折角が特定化されるため、被検体８内部の欠陥
２３の傾き角に応じた超音波反射を生じる。した
がつて特定化された超音波屈折角に応じた超音波
探傷画面が得られ、傾斜欠陥に対する判断も容易
となる。

上記においては、第１の方法と第２の方法とを
併用して行う場合、また個別に行なう場合とがあ
り随時選定できるものである。

次に本実施例の第３の方法である超音波送信時
に超音波ビームの集束と集束点の移動とを行い、
受信時には超音波ビームを平行ビームとして、す
なわち各振動子間での遅延時間を与えずに受信信
号の加算を行なう方法の作用例と効果について説
明する。即ち、第９図は遅延時間ビームの送信お
よび受信時の様相を図示したものである。第９図
において超音波送波ビーム２４は遅延時間の制御
により集束されて欠陥２３に入射されるが、反射
された超音波ビームは欠陥の反射指向性に従う。
したがつて、本方法によれば超音波集束された超
音波ビームの領域からの反射エコーを通常の一探
触子で受波すると同等の効果を生じる。これによ
り通常の一探触子法による超音波の送信および受
信に比較し本方法によれば集束精度が従来より高
いため方位分解能が格段に向上するものである。
第１０図は、人工的な横穴の欠陥２３を探傷しア
レイ型探触子を用い送信と受信を超音波集束させ
た場合、送信だけ超音波集束させ、受信は集束さ
せない場合、送信と受信をともに集束させない場
合の超音波受信波形を示したものである。この第
１０図からも超音波集束が送信時だけ行なわれて
も十分な探傷性能があることが認められる。なお
第１０図は超音波媒体を介さない時の例であり、
第１０図ａは探傷の様相を示しており、第１０図
ｂにおいてE₁は送信時及び受信時共に超音波集
束でない場合の欠陥２３Ａの反射エコーのＡスコ
ープ表示であり、E₂は送信時には超音波集束で
受信時には超音波集束がない場合の欠陥２３Ａの
反射エコーのＡスコープ表示であり、E₃は送信、
受信時共に超音波集束の場合の欠陥２３Ａの反射
エコーのＡスコープ表示である。

第１０図ａ，ｂに示される如く、超音波接触媒
体を用いた場合でも同様な効果が得られることは
明らかである。よつて、アナログ信号の遅延加算
を行なう複雑な構成が省略できる。上記のおいて
は、第１、第２、第３の方法を併用して行なう場
合、また別個に行なう場合とがあり随時選定でき
るものである。

次に本実施例の第４の方法である被検体の断面
像表示（Ｂスコープ表示）の作用例について説明
する。

第１１図ａは被検体８を超音波接触媒体７を介
し欠陥２３を探傷する時の図である。本例ではア
レイ型探触子１が被検体８の表面に対して若干傾
いており、超音波主ビーム２は被検体中に屈折し
て入射している。この場合の探傷画像は第１１図
ｂのように示される。即ち、画像表示器１８の
CRT２４上には、アレイ型探触子１からの送波
パルス２５に対応して全走査線の送波パルス画像
２６と、超音波接触媒体７の被検体の境界部の反
射パルス２７ら対応して境界部反射パルス画像２
８と、欠陥２３からの反射パルス２９に対応した
欠陥部反射パルス画像３０とが表示される。した
がつて、CRT上には被検体８のＢスコープ像
（断面画像）とＡスコープ像とが超音波ビーム伝
播路程を同一の掃引軸として表示されている。こ
こで、Ａスコープ像として表示される表示用走査
線は既に記述したように、Ａスコープ表示用走査
線群の選定カーソル３１でCRT上に表示される。
したがつてＡスコープ像はこれらの選定された走
査線群が重ね合わされて表示される。また画像掃
引方向へは任意に移動設定可能なカーソル３２が
表示され、カーソル３２１により、送波パルス２
５から超音波接触媒体７を通過する時間が検出さ
れ、カーソル３２２により被検体８の表面から超
音波集束させる点までの時間が検出されるもので
あり、前述したように遅延時間を演算することが
できる。

これにより、探傷試験中に検出される欠陥に対
し随時超音波集束点を演算し、設定することが可
能となるため探傷精度が向上することが可能とな
る。

なお、第１１図に示した例ではＡスコープ表示
として検波波形を示したが、もちろん検波する前
のRF波形表示することも可能であり、さらにＡ
スコープ表示上に超音波ビーム伝播路程に伴うデ
イスクリレベルの変化を重ねて表示してもよい。

上記においては、第１、第２、第３、第４の方
法を併用して行なう場合、また個別に行なう場合
とがあり随時選択できるものである。

本実施例は以下の列挙した如く変形して実施し
てもよい。即ち、 本実施例では、被検体８の表面とアレイ型探
触子１の振動配列方向と直行した方向が平行に
配置された場合を示したが、もちろん第１２図
に示すように傾けて配置してもよい。

本実施例では送信用振動子群と受信用振動子
群とを同一としたが、受信用振動子群と送信用
振動子群とを異ならせて実施してもよい。この
場合には第１３図ａに示すように受信用振動子
群を固定し、送信用振動子群だけを電子走査２
２させ、第１３図ｂに示すように送波用振動子
群を固定し、受波用振動子群だけを電子走査２
２させたりすることが可能となる。したがつ
て、従来、タンデム探傷法を本実施例により更
に精度よく実現できるものである。

送信用振動子群の遅延時間をプログラム的に
順次変更し、所謂セクタ走査（扇形走査）方式
で超音波ビームを送信することもできる。な
お、上記の場合には、例えばCRT上のＢス
コープ表示は、第１４図に示すように受信用振
動子群３３と送信用振動子群３４の主ビーム間
の距離Ｄと、遅延時間制御による送波ビーム設
定角度αと、アレイ型探触子と、被検体との距
離l₃を知ることにより、受信信号のビーム伝播
時間Ｌを用い下記式(7)によつて画像掃引信号Ｔ
を作成すればよい。

ここで、C₂′，C₂は夫々被検体への超音波ビー
ム送信時および受信時の音速であり、L〓＝Ｌ−
l₃／C₁−l₃／C₁cosα、δ＝Ｄ−l₃t_aoαである。またC₁ は超音波接触媒体中の音速である。もちろんC₂
＝C₂′の場合より簡略化された式となることは明
らかである。

上記式(7)によつて、画像掃引信号ＴはＴ＝ｘ／C₂ ＋l₃／C₁となり、ビーム伝播時間Ｌに応じて作成す ればよい。さらに画像掃引信号Ｔから超音波ビー
ム集束のための遅延時間を演算するためには前記
した画像掃引上のカーソルから下記式によつて、
l₁およびl₂を求め式(2)または(2)′を用いればよい。

l₁＝l₃／cosα，l₂＝LC₂′−TC₂′−C₂′l₃／C₁cosα なお、l₃は送信用振動子群と受信用振動子群を
十分近づけて被検体の表面からの反射エコーを検
出することにより、容易にCRT画像上のカーソ
ルを設定して求められる。また、送信時と受信時
の被検体中の音速C₂′，C₂は、送波ビーム設定角
度αからスネルの法則によつて超音波ビームのモ
ード（縦波、横波、表面波等）を選定することに
よつて決定できる。なお、送信ビーム設定角度α
によつては、被検体に複数の超音波モードが生じ
るが送波ビーム設定角度αが定まれば被検体中へ
の屈折角βは超音波モードによつて定まるため、
超音波エコーがいずれの送信時の超音波モードに
よつているものであるかは、第１４図に示した幾
何学的関係から容易に判断できる。なおまた、送
波ビーム設定角をαとして場合には、各振動子の
遅延時間設定は式(2)又は式(2)′の値に、前記設定
角に対応した遅延時間が付加される。例えばai位
置の振動子についてはai sinθ／C₁の遅延時間が
加算されるものであることき言うまでもない。

上記方式以外に本発明ではその要旨を逸脱しな
い範囲で種々変形して実施できるものである。

［発明の効果］ 以上述べたように本発明によれば、以下の如く
の効果を奏する超音波探傷装置が提供できる。即
ち、超音波ビームの集束が高精度に実施できる。
また、任意の超音波ビーム集束距離で超音波ビー
ムを電子操作方向に微小に移動できるため、少い
超音波振動数で高い電子走査密度を得ることが可
能となり探傷分解能が向上する。

さらに、超音波ビームを送信する時だけ各振動
子の励振時点に遅延時間を持たせ、受信時には各
振動子間に遅延時間を持たせないため、アナログ
信号の遅延加算という複雑な回路が不要となる
他、装置の小型化が可能となる。さらに、受信信
号の遅延加算を行なわず平行ビームとして受信す
るため、受信時も集束を行うに比べ、広範囲の領
域を見逃しなく探傷できる。

また、Ｂスコープ画像の掃引信号上にカーソル
を配置しているため、カーソル位置を任意に移動
することにより、所望の領域に超音波ビームを集
束でき、したがつて被検体の内部欠陥の探傷精度
が向上する。

さらに、Ｂスコープ上の任意の電子走査線群の
Ａスコープ表示を随時得られるため、所定の欠陥
からの反射エコー信号を得ることができるため、
欠陥の性状に伴う反射エコーの微妙な特徴を把握
でき、探傷結果の判断が正確となる。

【図面の簡単な説明】

第１図は従来の超音波集束における集差を説明
する図、第２図は微小角セクター操作を説明する
図、第３図は本発明に係る超音波探傷装置の一実
施例を示すブロツク図、第４図は第３図における
データ設定器の一例を示す図、第５図は本実施例
の超音波集束を説明する図、第６図は本実施例の
超音波集束のための計算方式を説明する図、第７
図は本実施例の超音波集束点の移動を説明する
図、第８図は本実施例の方法によつて電子走査を
行う例を説明する図、第９図は本実施例の送信時
の集束と受信時の集束無しによる効果を説明する
図、第１０図は本実施例の超音波集束の効果を説
明する図、第１１図は本実施例におけるCRT表
示される一例を示す図、第１２図及び第１３図は
夫々本発明の他の実施例を説明する図、第１４図
は第１３図における適用法を説明する図である。 １……アレイ型探触子、１０……送信器群、１
１……電子スイツチ、１２……受信器群、１３…
…加算器、１４……遅延時間設定器、１５……コ
ンピユータ、１６……データ設定器、１７……信
号処理器、１８……画像表示器。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ 複数個の超音波振動子を配列してなるアレイ
   型探触子を用い、送信はリニア電子走査を行い、
   受信は前記アレイ型探触子の全振動子からの受信
   信号の一括加算処理を行うことによりＡスコープ
   像又はＢスコープ像を得て表示する超音波探傷装
   置において、 超音波接触媒体を前記アレイ型探触子と被検体
   との間に介挿した場合における前記超音波接触媒
   体の音速データ、前記被検体の音速データ、前記
   アレイ型探触子の振動子配列ピツチデータ、送信
   振動子の組合せ数データ、走査線ピツチデータを
   それぞれ入力するデータ設定手段を有し、 前記Ｂスコープ像上の任意の位置にカーソルを
   設定するカーソル設定手段と、 前記データ設定手段により入力されたデータ群
   と前記カーソル設定手段により設定されたカーソ
   ル位置に対応した超音波伝搬距離データと超音波
   接触媒体長データと前記被検体中の超音波集束点
   距離データとに基づき前記リニア電子走査におけ
   る遅延時間を算出し且つ前記リニア電子走査のた
   めに設定する遅延時間設定手段と、 を具備したことを特徴とする超音波探傷装置。