JPH04368629A - 情報記録媒体 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、予め案内溝やプリフォ
ーマット部を有し、情報を光学的に記録再生する情報記
録媒体に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、光ディスクは基板に予め凹凸の状
態で案内溝やプリフォーマット部を形成し、この基板上
にある反射率をもった記録膜を成膜した後、その凹凸部
で光の回折干渉の効果により反射光量変化を生じさせて
案内溝またはランド部をトラッキングサーボに利用した
り、プリフォーマット部のデータ再生に利用していた。

【０００３】また、相変化に伴なう反射率変化によりデ
ータを記録する光ディスクにおいては、あくまでデータ
すなわち記録マーク部の反射率変化を重視して記録膜の
反射率状態を初期化（イニシャライズ）レベルに設定し
ていた。そして、初期化はプリフォートマット部、案内
溝部分、ランド部分にかかわらず全面を初期化する方法
が採られていた。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】従来、基板上の凹凸か
らなる案内溝やプリフォーマット部は追記型光ディスク
においては、基板上に一様な記録膜が成膜されていて、
基本的に凹凸部での光の回折・干渉を利用している。上
記案内溝はその原理に基づき光源波長λ、基板の屈折率
ｎとするとλ／８ｎの深さに最適化し、プリフォーマッ
ト部はλ／４ｎの深さに最適化してある。

【０００５】そうすると、案内溝とプリフォーマット部
が混在している部分では、本来トラッキング用に利用す
べき案内溝からの回折・干渉光が減少してその部分でト
ラッキングが不安定になるという問題があった。

【０００６】また、相変化に伴なう書き換え可能な光デ
ィスクにおいては、記録膜全体あるいは、記録するトラ
ックまたはランド部分を初期化するが、初期化すること
により記録膜の反射率が極めて小さくなる場合、案内溝
とプリフォーマット部が混在している部分では、上記回
折・干渉による影響に加えて反射率低下によりトラッキ
ングが不安定になる。

【０００７】そして、プリフォーマット部の凹凸の部分
も初期化され反射率が低下するのでプリフォーマットの
再生信号の振幅が低下してしまい、プリフォーマット部
分のデータ読取りの信頼性が低下するという問題があっ
た。

【０００８】そこで、この発明は、案内溝とプリフォー
マット部が混在している部分でのトラッキングの性能を
向上させ、プリフォーマット部分のデータ読み取りの信
頼性を向上できる情報記録媒体を提供することを目的と
する。

【０００９】

【課題を解決するための手段】本発明は上記課題を解決
するために、トラッキングガイドおよびプリフォ−マッ
ト部を有した基板と、この基板上に成膜され反射率が成
膜時、初期化後、記録後、記録消去後でそれぞれ異なる
記録膜とを備え、前記プリフォーマット部分の記録膜の
反射率が他の部分の反射率より低くない状態に設定した
。

【００１０】

【作用】プリフォーマット部分の記録膜の反射率を他の
部分の反射率より低くない状態に設定したことにより、
案内溝とプリフォーマット部分が混在する部分において
その部分の反射率が極めて低いレベルになることがなく
、回折・干渉の効果が十分に活用でき、安定したトラッ
キング性能が得られる。また、プリフォーマット部分の
反射率も極めて低いレベルになることがなく、プリフォ
ーマットデータの読み取り信頼性も向上する。

【００１１】

【実施例】以下、本発明を図面に示す一実施例を参照し
て説明する。図１は情報記録媒体としての光ディスクを
示すもので、図２は図１中のＡ−Ａ´ラインに沿って示
す断面図である。

【００１２】上記光ディスクの基板６は凹凸状をなし、
案内溝１とプリフォーマット部分２が形成されている。 前記案内溝１の溝ピッチ１２は１．６μｍ、溝幅１０は
０．４μｍ、溝深さ８は７０００オングストロ−ムに設
定されている。また、上記プリフォーマット部分２のピ
ット幅１１は０．４μｍ、ピット深さ９は１４００オン
グストロ−ムを目安に設定してある。一方、使用する光
源の波長はλ＝８３０ｎｍとし、フォーカスが合ってい
る集光スポット５がディスク表面上を移動する。上記凹
凸状をなす基板６の表面には予め所定の反射率をもち、
一様の膜厚で記録膜７が成膜されている。

【００１３】図３は記録膜７が、異なる反射率を表す状
態を示す図であり、成膜時の反射率１３から初期化の反
射率１４へ移り、記録後のマーク部の反射率１５となり
、記録消去後は１４に戻る状態が示されている。

【００１４】プリフォーマット部２を残して記録データ
領域のみを集光スポット５により初期化した領域３は反
射率１４に変化する。この初期化を行なった後その領域
へ記録を行なうと記録データマーク４が形成され反射率
１５に変化する。そして、データ消去を行なう場合は上
記同様の初期化した領域３を消去し、反射率は１４に戻
る。

【００１５】図４は１集光スポット５が光ディスクの表
面上で案内溝１とプリフォーマット部２を横切った場合
の光学ヘッドのディテクタ上の再生光量（通常トラック
和信号）１６とランド部トラッキング用のプッシュプル
信号（通常トラック差信号）１７を表わす。

【００１６】図４は図３の成膜時の反射率１３の状態の
場合の信号とすると、全面初期化した場合（反射率１４
）の信号は図５に示すように、トラック和信号１６が１
８へ、トラック差信号１７が１９へと変化する。つまり
、記録膜７の反射率低下に比例してトラッキング和信号
１６の絶対量が１８へ低下して、トラッキング差信号１
７の振幅も１９へと低下してしまう。

【００１７】図４でプリフォーマット部２を横切った時
、その凹凸により反射光量が減りトラック和信号１６に
プリフォーマット信号２０が乗る。案内溝１とランド部
分との回折・干渉によりトラック差信号が発生するので
、その干渉結果を最大にするためには図２に示す溝深さ
８は使用する光源の波長λ、基板６の屈折率ｎとすると
λ／８ｎに設定する。

【００１８】トラック差信号の振幅は大きい方がトラッ
キングサーボに有効でトラッキング性能も安定するから
である。ランド部をトラッキングしてそこをデータ記録
・再生として使いプリフォーマット部２もそこに存在す
る場合、プリフォーマット信号を最大にするためには図
２に示すピット深さ９はλ／４ｎに設定する。

【００１９】プリフォーマット信号は振幅、解像度も大
きい方がプリフォーマットデータは正確に再生できるか
らである。溝幅１０とピット幅１１は溝ピッチ１２が１
．６μｍということと、トラック差信号の振幅とプリフ
ォーマット信号の振幅とプリフォーマット信号の振幅・
解像度との規格を満たすように設定される。結果として
トラッキング性能を高めるべく溝形状を設定することと
、プリフォーマット信号を大きく出すべくピット形状を
設定することを同時に行なう必要があり、プリフォーマ
ット部２と案内溝１が混在する部分では、反射光量が減
少し、必然的にトラック差信号の振幅が２１のように小
さくなる。このことはトラッキング中でもプリフォーマ
ット部２ではランド部と案内溝１のみの場合よりややト
ラッキング性能が低下することを意味する。

【００２０】図５に示すように全面初期化した場合、記
録膜の反射率が１３から１４へ低下するため上記理由に
加えて更にトラック差信号の振幅２３は低下する。従っ
て一層トラッキング性能が低下してしまう。

【００２１】しかし、図１に示すように、プリフォーマ
ット部２を除くランド領域を初期化した場合を考えると
、フォーマット部２は成膜時の反射率１３のように高い
状態に保たれているため、そこを横切る時のトラック差
信号の振幅は２１の状態のまま２３まで低下することは
ない。従って、この方式のほうが全面初期化する場合よ
りも、トラッキング性能が向上することになる。

【００２２】図６は成膜時の反射率１３で初期化を行な
わない状態でランド部をトラッキングした時のプリフォ
ーマット再生信号２４を示してあり、その部分をこの状
態に保ったままデータ領域に初期化を行なった後この領
域へデータ４を記録した場合の再生信号、すなわち、図
１で図示したランド部再生信号が図７である。この場合
では全面初期化する場合と比べて、フォーマット信号２
４は大きく再生でき、かつ、プリフォーマット部２での
トラッキング性能が向上するという特徴をもつ。

【００２３】図８に全面初期化した時の再生信号を示す
が、図４，図５で説明したようにトラッキング性能が不
安定かつフォーマット信号が２６のように小さくなる欠
点をもつ。つぎに、図９に基いて、成膜時の反射率２９
から記録後の反射率３０に上昇するような追記型光ディ
スクについて説明する。

【００２４】図１で説明した理由により、今度はプリフ
ォーマット部を囲むように記録状態２７にしておき、図
１０に示すように、反射率を２９から３０に上昇させる
。すると、プリフォーマット部をトラッキングさせる時
のトラッキング性能が成膜時の反射率２９のまま使う場
合より向上する事になり、かつプリフォーマット再生信
号も図１１、図１２に示すように、３１から３２へと増
大する。データ領域は成膜時の反射率２９のまま残して
あり、そこへ記録マーク２８が形成される。その記録マ
ーク２８の再生信号も３３のように本来の記録状態を示
す。

【００２５】図１３にプリフォーマット部を記録状態に
せず、成膜状態の反射率２９のまま記録マーク２８を形
成した場合の再生信号を示す。この場合では、図１で説
明したように、プリフォーマット部をトラッキングする
時のトラッキング性能が低下してしまうこととなる。

【００２６】

【発明の効果】本発明は以上説明したように、プリフォ
−マット部の反射率が他の部分の反射率より低くない状
態に設定したから、プリフォーマット部分と案内溝が混
在した部分をトラッキングする場合、トラッキング性能
が向上し、かつプリフォーマット再生信号の振幅も増大
して情報記憶媒体としての信頼性が向上するという効果
を奏する。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第１の実施例に係る相変化を伴なう書
き換え型光ディスクの一部を示す平面図。

【図２】図１のＡ−Ａ′線に沿って示す断面図。

【図３】図１の光ディスクの絶対反射率を示す説明図。

【図４】図１の光ディスクの案内溝とプリフォ−マット
部を集光スポットが横切った時のトラック和信号とトラ
ック差信号を示す説明図。

【図５】図１の光ディスクの記録膜を全面初期化した場
合のトラック和信号とトラック差信号を示す説明図。

【図６】図１の光ディスクの記録膜の成膜時の反射率で
初期化を行わない状態でランド部をトラッキングした時
のプリフォ−マット再生信号を示す説明図。

【図７】図１で示したランド部再生信号を示す説明図。

【図８】図１の光ディスクの記録膜を全面初期化した時
の再生信号を示す説明図。

【図９】本発明の第２の実施例である追記型光ディスク
の一部を示す平面図。

【図１０】図９の光ディスクの記録膜の絶対反射率を示
す説明図。

【図１１】図９の光ディスクを成膜時の反射率のままで
トラッキングした時のプリフォ−マット再生信号を示す
説明図。

【図１２】図９の光ディスクを記録状態にした状態でト
ラッキングした時のプリフォ−マット再生信号を示す説
明図。

【図１３】図９の光ディスクのプリフォ−マットを記録
状態にせず、成膜状態の反射率のまま記録マ−クを形成
したとき場合の再生信号を示す説明図。

【符号の説明】

１…案内溝、２…プリフォーマット部、６…基板、７…
記録膜、１３…記録膜の成膜時の反射率、１４…記録膜
の初期化・消去後の反射率、１５…記録膜の記録後の反
射率。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】　　トラッキングガイドおよびプリフォ−
   マット部を有した基板と、この基板上に成膜され反射率
   が成膜時、初期化後、記録後、記録消去後でそれぞれ異
   なる記録膜と、を備え、前記プリフォーマット部分の記
   録膜の反射率が他の部分の反射率より低くない状態に設
   定したことを特徴とする情報記録媒体。