JPH04367816A - 走査光学装置 - Google Patents

走査光学装置

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JPH04367816A
JPH04367816A JP3170704A JP17070491A JPH04367816A JP H04367816 A JPH04367816 A JP H04367816A JP 3170704 A JP3170704 A JP 3170704A JP 17070491 A JP17070491 A JP 17070491A JP H04367816 A JPH04367816 A JP H04367816A
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light beam
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は走査光学装置に関し、特
に感光体や静電記録体等の像担持体である被走査面上を
光変調された光束で走査することにより画像形成するよ
うにした例えば電子写真プロセスを有するレーザービー
ムプリンタやカラーレーザービームプリンター、マルチ
カラーレーザービームプリンター等の装置に好適な走査
光学装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、この種の走査光学装置においては
、例えば特公昭62−36210号等に記載されている
ように光源手段から光変調された光束を光偏向器として
の回転多面鏡の反射面で偏向反射させた後、走査レンズ
系を介して被走査面上に導光して光走査している。この
ときの回転多面鏡の各反射面が回転軸に対して平行でな
く傾いた角度誤差(所謂面倒れ)があると被走査面上の
光束の走査位置が変位して最終的な画像出力に悪影響を
与える。
【0003】そこで同公報ではこのときの面倒れによる
悪影響を除去する為に、走査レンズ系にトーリックレン
ズを用いて回転多面鏡の反射面と被走査面(被照射体面
)とを光学的な共役関係に置くことを提案している。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】一般に回転多面鏡の反
射面の面倒れを良好に補正する為には走査レンズ系を用
いて回転多面鏡の反射点と被走査面との光学的共役関係
を高精度に維持することが必要となってくる。
【0005】この為従来は、光源手段から出射される光
ビームが精度よく、回転多面鏡の基準位置に入射する様
に光源手段から回転多面鏡に至る光路を調整することが
できる調整手段を設けたり、又個々の部品の精度を上げ
たり、また、経時的変化に強い構造にして行っていた。 この為装置全体が複雑化及び大型化してくる傾向があっ
た。
【0006】図5は従来の光源手段とコリメーターレン
ズを含むユニット50において光源手段51から出射す
る光ビームの出射方向を調整する構造を示す概略図であ
る。
【0007】同図において51は半導体レーザー、Sは
その発光点である。52は半導体レーザー51の取り付
け基台、53はコリメーターレンズ、54はコリメータ
ーレンズの鏡筒、55は鏡筒を支持する為のホルダーで
ある。鏡筒54とホルダー55は同図のA方向に調整で
きる様になっており、D方向に平行光束が出射するよう
に調整した後、即ちピント調整を行った後に双方を固定
している。
【0008】又、図5の全体のユニット50は回転多面
鏡に対して位置出しができる様に基準面Eに対して取り
付く構造になっている。ここで基準面Eに対してコリメ
ーターレンズ54から射出する平行光束が常に一定方向
へ出射すれば良いが、半導体レーザー51の取付け基準
に対して、発光点Sは製造的に例えば30μm〜100
μmの誤差を有してくる。
【0009】又、コリメーターレンズ53や鏡筒54に
もカン合のガタがあり、コリメーターレンズ53に対す
る発光点Sの位置精度は通常70μm程度ある。
【0010】今、仮りにコリメーターレンズ53の焦点
距離を10mmとして、発光点Sとコリメーターレンズ
53の光軸誤差(光軸と直交する誤差)を70μmとす
ると、絞り53aより出射する光束の傾きは24.1´
となる。又、絞り53aより回転多面鏡の反射点までの
距離を70mmとすると、反射点でのずれは0.49m
mとなる。例えば特公昭62−36210号公報で提案
している走査光学装置における面倒れの補正系では回転
多面鏡の反射点が基準値よりずれると、共役関係がくず
れてきて面倒れ補正の効果が減少したり、被走査面上に
おいて像面湾曲等の収差の変化が増大してくる。
【0011】図5において基台52とホルダー55をB
方向及びC方向(B方向と直交する方向)の2次元方向
に調整する事によって基準面55に対してD方向に出射
する光ビームの出射方向を一定にしている。
【0012】しかしながらこの方法は、基台52とホル
ダー55の微妙な調整を必要とし、又基台52とホルダ
ー55はそれぞれ剛性の高い材料で作る必要がある為、
構成が複雑化してくるといった問題点があった。
【0013】本発明は光源手段からの光束を平行光束と
する第1光学系の屈折力や該第1光学系からの光束の径
を調整する絞りの位置及び絞りの開口形状を適切に設定
することにより、調整手段を用いずに又は簡易な調整手
段により光源手段からの光束を回転多面鏡の反射面の所
定位置に高精度に集光させることができ、回転多面鏡の
面倒れを良好に補正し、高精度な光走査を可能とした走
査光学装置の提供を目的とする。
【0014】
【課題を解決するための手段】本発明の走査光学装置は
光源手段からの光束を第1光学系により少なくとも主走
査方向に平行光束とし、絞りと副走査方向に屈折力を有
する第2光学系とを介した後、光偏向器の偏向面に線状
に結像させ、該光偏向器で偏向させた光束を被走査面上
に導光して光走査する際、該第1光学系の主走査方向の
焦点距離をf1、該絞りから該偏向面の偏向点までの距
離をL、該絞りの主走査方向と副走査方向の開口の長さ
を各々D1,D2としたとき 1<L/f1<4    ・・・・・・・・(1)0.
16<D2/D1<0.7  ・・・(2)なる条件を
満足することを特徴としている。
【0015】この他本発明では、前記第2光学系は副走
査方向にのみ正の屈折力を有した前記光偏向器側に凹面
を向けたメニスカス状のシリンドリカルレンズより成っ
ていることや、前記光源手段と前記第1光学系は1つの
ユニットに固設されていること、そして前記第1光学系
と前記第2光学系を1つのアナモフィック素子より構成
したこと等を特徴としている。
【0016】
【実施例】図1、図2は各々本発明の実施例1の主走査
断面とそれと垂直で光軸を含む副走査断面の要部概略図
である。
【0017】図1、図2において、1は半導体レーザー
等から成る光源部(レーザ光源)であり、該光源部1か
ら出射された光束(光ビーム)は第1光学系としての球
面系より成るコリメータレンズ2により略平行光束とさ
れ、開口絞り3によってその断面の大きさが整えられて
第2光学系としてのシリンドリカルレンズ4に入射する
。シリンドリカルレンズ4は副走査断面に関して屈折力
を持ち主走査断面に関して屈折力を持っていない。この
為シリンドリカルレンズ4を通過した光束は主走査断面
では平行光束で、副走査断面ではほぼ線状に結像されて
光偏向器としての回転多面鏡5の反射面(偏向面)5a
に入射する。
【0018】回転多面鏡5は矢印12の方向に等速で高
速回転しており、回転多面鏡5の反射面5aの点Pに入
射した該光束は反射されて主走査断面において偏向走査
され、走査レンズ系67に入射する。走査レンズ系67
は主走査断面と副走査断面において異なる屈折力を有し
たトーリック面を有するレンズを含む全体として2つの
レンズ6,7より成っている。走査レンズ系67は集光
性と主走査断面内においてはf−θ特性を有している。
【0019】走査レンズ系67を通過した光束は被走査
面である感光ドラム(像担持体)8面上に結像されてそ
の面上を矢印8a方向に略等速度直線運動で光走査する
【0020】尚、図1、図2において点Pは回転多面鏡
5の反射面5aの反射位置(偏向位置)を示しており、
副走査断面における光束は上述した様にシリンドリカル
レンズ4を介し略この反射位置Pに集光される。
【0021】ここで反射位置Pと感光ドラム8は光学的
にほぼ共役な関係に設定されているので、例えば反射面
5aが副走査断面において回転軸11に対して平行でな
く倒れても(即ち面倒れがあっても)光束は感光ドラム
8上の同一走査線上に結像される。このようにして所謂
回転多面鏡5の反射面5aの面倒れ補正系を構成してい
る。
【0022】本実施例における光学系において感光ドラ
ム8面上で、例えば主走査方向に80μm、副走査方向
に100μmのスポット径の光束を得る場合の条件につ
いて求めてみる。
【0023】このとき感光ドラム面8側の光ビームの有
効FナンバーFNOは、一般的なスポット径を求める簡
略式φ=kFNOλ(φ;スポット径、k;定数、FN
O;有効Fナンバー、λ;使用波長)を使って、今k=
1.64、λ=780nmとすると、主走査方向のFナ
ンバーは62.5、副走査方向のFナンバーは78.2
となる。ここで走査レンズ系67の主走査方向の焦点距
離FをF=150mm、回転多面鏡5の反射点Pと被走
査面8の走査レンズ系67による副走査方向の横倍率を
−3倍とする。このとき図3に示すように、開口絞り3
の主走査方向の開口の寸法D1は、D1=2.4mmと
なり、シリンドリカルレンズ4の副走査方向の光束によ
る回転多面鏡5側の有効FナンバーFNOは26.1と
なる。
【0024】ここで開口絞り3の副走査方向の開口の寸
法D2を図3の様に楕円の短方向に設定し、D2=1.
2mmとしている。この為にシリンドリカルレンズ4の
副走査方向の焦点距離f2をf2=31.3mmと、開
口絞り3の開口径φをφ=2.4の円形にした時の半分
にする事が可能となる。
【0025】又、図2に示すように開口絞り3から回転
多面鏡5の反射点P(回転多面鏡5の反射面5aが走査
範囲の中心位置を走査するときの副走査断面内における
光束の反射面5a上の集光点)までの距離をLとしたと
き、シリンドリカルレンズ4を回転多面鏡5側のレンズ
面を凹面としたメニスカス形状より構成することにより
シリンドリカルレンズ4の主平面が開口絞り3側に移動
するようにして、これによりL<f2となるようにして
いる。
【0026】尚、本実施例では距離LをL=30mmと
している。又コリメータレンズ2の焦点距離f1はf1
=10mmである。
【0027】本実施例において前述したように例えばレ
ーザ光源1の発光点Sとコリメータレンズ2との光軸ず
れが70μm程度あったとする。そうすると、開口絞り
3より射出される光束は24.1´の傾きをもち、反射
点Pで主走査方向にずれたとすると0.21mmのずれ
となり、又副走査方向のずれとすると0.22mmのず
れとなる。このように従来の配置の系に比べると、本実
施例ではずれ量を非常に小さくする事ができる為にレー
ザーユニットのレーザー光源の発光点とコリメーターレ
ンズ2との光軸の調整が不要となり、かつ経時的な変化
にも強く構成することができる。
【0028】特に前述の条件式(1)、(2)を満足す
るように開口絞りやコリメータレンズ等を特定すること
により組立誤差の緩和を図りつつ感光ドラム面上に良好
なるスポットの光ビームを入射させることができるよう
にしている。
【0029】次に前述の条件式の技術的意味について説
明する。
【0030】条件式(1)の上限値を超えると、主走査
方向の光ビームのずれが大きくなりすぎ、又下限値を下
回るとコリメーターレンズの焦点距離f1が長くなりす
ぎ、装置全体が大型化し、又レーザ光源のカップリング
効率が小さくなってくる。
【0031】この他、本実施例では前述したように条件
式(1)を良好に成り立たせる為にシリンドリカルレン
ズ4を回転多面鏡5側に凹面を向けたメニスカス形状に
する事により、主平面の位置を、レーザ光源側に移動さ
せている。
【0032】条件式(2)の上限値を越えるとシリンド
リカルレンズ4の焦点距離f2が大きくなる為に主走査
方向のずれを増す要因となり、又下限値を下回ると光学
的な回折の影響や開口絞りの加工精度が厳しくなる為に
、スポット径に悪影響を与えたり、コストアップになっ
てくるので良くない。
【0033】図4(A)、(B)は本発明の実施例2の
レーザ光源近傍の主走査断面と副走査断面の要部概略図
である。
【0034】実施例1では第1光学系に球面単レンズ(
コリメータレンズ)、第2光学系に副走査方向のみにパ
ワーを有するシリンドリカルレンズを使った例を示した
が、本実施例では第1光学系と第2光学系を双方の機能
を有した1つのアナモフィック素子41より構成してい
る。
【0035】図4においてPは回転多面鏡における光束
の反射点を示している。図4(A)の主走査断面におい
てのアナモフィックレンズ41の焦点距離faは10m
mであり、この断面においてはレーザ光源の発光点Sよ
り発せられた光はアナモフィックレンズ41を通過し、
絞り3の開口幅D1=2.2mmを通過して反射点Pへ
平行光束で入射する。即ち主走査断面において第1光学
系の役割をもつ。
【0036】図4(B)の副走査断面においてアナモフ
ィックレンズ41の焦点距離fbは7.5mmであり、
発光点Sより射出された光ビームはアナモフィックレン
ズ41を通過し、絞り3の開口径D2=0.4mmを通
過する事によりこの光束幅を決められ、反射面P上へ結
像される。即ち副走査断面においては第2光学系の役割
をもつ。
【0037】このように本実施例ではアナモフィックな
光学素子を使うことにより、第1光学系と第2光学系の
役割をもつものを1つの光学素子で達成している。
【0038】尚、本発明は回転多面鏡の代わりに、回転
一面鏡やカルバノ鏡を用いた系においても同様に適用す
ることができる。又、開口絞りの形状は楕円の他に矩形
や菱形でも同様の効果を得る事が可能である。
【0039】
【発明の効果】本発明によれば光源手段からの光束を平
行光束とする第1光学系の屈折力や該第1光学系からの
光束の径を調整する絞りの位置及び絞りの開口形状を適
切に設定することにより、調整手段を用いずに、又は簡
易な調整手段により光源手段からの光束を回転多面鏡の
反射面の所定位置に高精度に集光させることができ、回
転多面鏡の面倒れを良好に補正し、高精度な光走査を可
能とした走査光学装置を達成することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例1の主走査断面内の要部概略図
【図2】本発明の実施例1の副走査断面内の要部概略図
【図3】図1の開口絞りの説明図
【図4】本発明の実施例2の要部概略図
【図5】従来の
走査光学装置における光源手段近傍の説明図
【符号の説明】
1  レーザ光源 2  第1光学系 3  開口絞り 4  第2光学系 5  光偏向器 67  走査レンズ系 8  被走査面 P  反射点(偏向点)

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  光源手段からの光束を第1光学系によ
    り少なくとも主走査方向に平行光束とし、絞りと副走査
    方向に屈折力を有する第2光学系とを介した後、光偏向
    器の偏向面に線状に結像させ、該光偏向器で偏向させた
    光束を被走査面上に導光して光走査する際、該第1光学
    系の主走査方向の焦点距離をf1、該絞りから該偏向面
    の偏向点までの距離をL、該絞りの主走査方向と副走査
    方向の開口の長さを各々D1,D2としたとき1<L/
    f1<4 0.16<D2/D1<0.7 なる条件を満足することを特徴とする走査光学装置。
  2. 【請求項2】  前記第2光学系は副走査方向にのみ正
    の屈折力を有した前記光偏向器側に凹面を向けたメニス
    カス状のシリンドリカルレンズより成っていることを特
    徴とする請求項1の走査光学装置。
  3. 【請求項3】  前記光源手段と前記第1光学系は1つ
    のユニットに固設されていることを特徴とする請求項1
    の走査光学装置。
  4. 【請求項4】  前記第1光学系と前記第2光学系を1
    つのアナモフィック素子より構成したことを特徴とする
    請求項1の走査光学装置。
  5. 【請求項5】  前記第1光学系と第2光学系との間に
    前記絞りを配置したことを特徴とする請求項1の走査光
    学装置。
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