JPH04364452A - 検査装置 - Google Patents

検査装置

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JPH04364452A
JPH04364452A JP13914691A JP13914691A JPH04364452A JP H04364452 A JPH04364452 A JP H04364452A JP 13914691 A JP13914691 A JP 13914691A JP 13914691 A JP13914691 A JP 13914691A JP H04364452 A JPH04364452 A JP H04364452A
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JP
Japan
Prior art keywords
light
spatial filter
space filter
inspected
fabric
Prior art date
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Pending
Application number
JP13914691A
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English (en)
Inventor
Masashi Toda
戸田 昌司
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toyota Industries Corp
Original Assignee
Toyoda Automatic Loom Works Ltd
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Publication date
Application filed by Toyoda Automatic Loom Works Ltd filed Critical Toyoda Automatic Loom Works Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は一定方向に移動する被検
査体、例えば織布等の幅方向に移動して被検査体に照射
された光を空間フィルタで受光して検査情報を得る検査
装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】織布の検反工程を製織工程から切り離し
て織布の良否判定を行う場合には、織布を織り上げた後
でなければ織布の良否を判定することができない。その
ため、綜絖あるいは筬羽間への経糸通しの際の通し違い
、あるいは開口運動の際の上下経糸同士の絡みによる経
糸の連れ込みが生じても織り上げ完了時まで織機の稼動
が継続され、このような経方向の欠点が織り上げ完了時
まで続いてしまう。又、織り上げられた織布に欠点がな
い場合にも検反工程に通す必要があり、検反効率の悪さ
は否めない。
【0003】従来の検反装置は織布に照射した光の反射
光や透過光の変化を利用するため、織布の振動や外乱光
の変化が検出誤差となる。そのため、検反工程で使用さ
れている検反装置を織機に装備しても製織時の機台の振
動に伴う織布の振動や外乱光により、精度の高い検反は
難しく、織機に検反装置を装備する場合には織布の振動
及び外乱光に対する対策が特に要求される。本願出願人
は織布の振動及び外乱光の影響を受け難く、高い精度で
織布の欠点を検出できる検反装置を先に提案している(
特願平2−46684号)。
【0004】この装置は図6に示すように、筬31の前
方にモータ32により駆動されるねじ軸33が織布Wの
織前W1と平行に配置され、ねじ軸33と平行に配置さ
れたガイドロッド34に摺動可能に支承されたセンサボ
ックス35が前記ねじ軸33に螺合され、モータ32の
正逆回転に伴ってセンサボックス35が織布Wの幅方向
に所定速度vで往復走査されるようになっている。
【0005】センサボックス35はその底部が開放され
、その内部に図7に示す構成の検反部が設けられている
。センサボックス35内に設けられた投光器36からの
光の通過経路にハーフミラー37が配設され、ハーフミ
ラー37の上方には織布Wから所定距離Hをおいて凸レ
ンズ38が、凸レンズ38から所定距離Dをおいて空間
フィルタ39がそれぞれ設けられている。投光器36か
ら照射された光がハーフミラー37で反射して織布Wに
垂直に照射され、織布Wの裏面に配置された反射鏡40
に経糸Tの間から達して反射する。そして、この反射光
がハーフミラー37を通過して凸レンズ38を経て空間
フィルタ39に収束され、明るさとして結像する。
【0006】空間フィルタ39は織布Wの経糸Tと平行
に、一定ピッチPで配設された多数の受光素子41a,
41bを備えた2個の櫛型フィルタ部42a,42bか
らなり、両櫛型フィルタ部42a,42bからの出力の
差分を差動演算回路43が求め、この差に基づく出力信
号のゲインが予め設定した値を超えた時に、判定回路4
4が織布Wに経糸切れ等の異常箇所があると判定して、
ランプ点灯や警告音発生等の適宜の方法で警告を行うよ
うにしている。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】検反センサとしての空
間フィルタを使用した場合、一定ピッチPで配設された
多数の受光素子41a,41bと対応する部分で織布W
からの反射光を受光するため、図5に示すように受光素
子41a,41bと対応する部分に窓45aが形成され
た遮光マスク45が設けられる。そして、前記検反装置
では空間フィルタ39が織布Wの幅方向(図5の矢印A
方向)に走査されつつ織布Wの検反領域の検査が行われ
、織布Wは空間フィルタ39の走査方向と直交する方向
(図5の矢印B方向)に移動する。織布Wが移動しない
場合は、空間フィルタ39の走査により織布の同一検反
領域からの反射光が順次各受光素子41a,41b上に
走査方向と平行に移動しながら結像される。しかし、織
布Wが移動する場合には受光素子41a,41bへの結
像は図5の矢印C方向に移動し、図5の右端の受光素子
41a上に結像した箇所と同じ部分の検反領域が左端の
受光素子41b上に同じ状態で結像することができない
。そのため受光素子間で移動する光量が変化し、空間フ
ィルタ39の出力信号のS/N比が低下し、精度の高い
検出結果を得るのが難しい。又、S/N比の小さな信号
から精度の良い検出結果を得るためには、空間フィルタ
39の出力信号を処理する信号処理回路に加わる負荷が
大きくなり、回路容量が大きくなって回路が大型化する
という問題もある。
【0008】前記の不都合を解消する方法として、空間
フィルタ39及び遮光マスク45の窓45aを、結像の
移動方向に沿うように配置することが考えられる。しか
し、その場合は空間フィルタ39の受光素子41a,4
1bの配列方向が織布の経糸の配列方向と平行にならず
、S/N比が低下する。本発明は前記の問題点に鑑みて
なされたものであって、その目的は被検査体の移動に伴
う結像の相対移動によるS/N比の低下を防止して、空
間フィルタからの出力信号を処理する信号処理回路を大
型化せずに高精度の検出が可能となり、しかも被検査体
の移動速度及び空間フィルタの走査速度を自由に設定で
きる検査装置を提供することにある。
【0009】
【課題を解決するための手段】前記の目的を達成するた
め本発明においては、一定方向に移動する被検査体の幅
方向に移動して被検査体に照射された光を空間フィルタ
で受光して検査情報を得る検査装置において、空間フィ
ルタの受光部に対応する位置に少なくとも一対の平行な
辺を有する窓を形成した遮光マスクを空間フィルタに近
接して平行に配置し、前記遮光マスクを空間フィルタと
平行な状態で回動可能に設けた。
【0010】
【作用】検査に先立って被検査体の移動速度と空間フィ
ルタの走査速度とから一義的に決まる空間フィルタの受
光部上への結像の移動方向と、窓の一対の辺とが平行と
なる位置に遮光マスクが回動配置される。この状態で空
間フィルタの走査及び被検査体の移動が開始される。被
検査体に照射された光が空間フィルタで受光され、空間
フィルタの出力信号に基づいて被検査体の検査情報が得
られる。被検査体からの光を空間フィルタの受光部に導
く窓が、結像が受光部上だけを移動可能な位置に配置さ
れているため、結像が空間フィルタの走査方向と異なる
方向に移動しても空間フィルタを構成する各受光素子上
に被検査体の同一検査領域からの光が結像し、S/N比
が向上する。
【0011】
【実施例】以下、本発明を織機の検反装置に具体化した
一実施例を図1〜図4に従って説明する。検反装置は基
本的には図6及び図7に示した本願出願人が先に提案し
た装置と同じに構成され、検反領域からの反射光の空間
フィルタへの結像エリアを規制する遮光マスクの構成が
異なっている。
【0012】図1及び図2に示すように、空間フィルタ
1はプリント回路基板2上に固定され、一定ピッチPで
配設された多数の受光素子3aを備えた第1の櫛型フィ
ルタ部3と、同じく一定ピッチPで配設された多数の受
光素子4aを備えた第2の櫛型フィルタ部4とが互いに
対向配置された状態に構成され、両櫛型フィルタ部3,
4の出力が図示しない差動演算回路を含む信号処理回路
に出力されるようになっている。前記各受光素子3a,
4aは織布の経糸方向と平行に、すなわち空間フィルタ
1の走査方向と直交する方向に配置されている。
【0013】空間フィルタ1の近傍には長方形状の窓5
aが中央に形成された円形状の遮光マスク5が一対の保
持治具6により空間フィルタと平行な状態で回動可能に
支持されている。遮光マスク5の外周部には、駆動モー
タ7の駆動軸7aに嵌着された歯車8と噛み合う歯部5
bが形成されている。駆動モータ7にはステッピングモ
ータが使用され、制御装置9からの制御信号によりドラ
イバー10を介して駆動される。制御装置9は入力装置
11により入力された織布の移動速度V及び空間フィル
タ1の走査速度vから遮光マスク5の基準位置からの必
要回動量を演算し、ドライバー10に制御信号を出力す
る。
【0014】次に前記のように構成された装置の作用を
説明する。検反装置の駆動に先立って織布Wの移動速度
Vと、センサボックスすなわち空間フィルタ1の走査速
度vとが入力装置11により入力される。制御装置9は
入力された織布Wの移動速度Vと走査速度vとから結像
の移動方向が走査方向となす角度θを演算し、遮光マス
ク5の窓5aの長手方向と空間フィルタの走査方向との
なす角度の値が前記角度θとなる遮光マスク5の回動量
すなわち歯車8の回動量を演算する。そして、その回動
量となるように制御装置9からドライバー10に制御信
号が出力され、駆動モータ7が駆動されて遮光マスク5
が所定位置まで回動された後、織機の運転及び検反作業
が開始される。
【0015】空間フィルタの特性として空間フィルタの
走査に伴う各受光素子間の像の移動で光量の増減がない
ことが理想的である。センサボックスの走査速度をv、
織布の移動速度をV、光学系の倍率をmとすると、走査
方向への結像の移動速度v1 はmvとなり、織布Wの
移動方向への結像の移動速度V1 はmVとなる。従っ
て、受光素子3a,4aの各ピッチをPとすると、各櫛
型フィルタ部3,4の受光素子3a,4a間を結像が移
動するに必要な時間tは次式で表される。
【0016】t=P/v1 =P/(mv)又、この間
の織布の移動方向への結像の移動量Lは次式となる。   L=V1 t=mVt=mVP/(mv)=P(V
/v)=Ptanθ但しθは結像の移動方向とセンサボ
ックスの走査方向とのなす角度である。従って、図4に
示すように一方の櫛型フィルタ部3について考えると、
空間フィルタ1の移動に伴って結像が次の受光素子の方
へ移動するとき、織布の移動方向に対してPtanθだ
け遅れることになる。そのため、櫛型フィルタ部3の受
光素子3a群の幅がa、長さがbの場合、結像エリアを
長さが幅方向の全ての位置でb−atanθとなり、し
かも結像エリアの長さ方向の両端が結像の移動方向(矢
印Q方向)に沿って延びる平行四辺形となるように受光
素子3a群の残りの部分(図の斜線部分)を遮光すれば
、図4の左端の受光素子3a上に結像した箇所と同じ部
分の検反領域が右端の受光素子3a上にも同じ状態で結
像することができ、各受光素子間の像の移動で光量の増
減がなくなる。 そして、遮光マスク5はこの状態となるように空間フィ
ルタ1の受光部を遮光しているため、空間フィルタ1か
らの出力信号のS/N比が向上し、検反精度が高くなる
。又、出力信号を処理する信号処理回路の負荷が小さく
なり、信号処理回路の小型化が可能となる。
【0017】又、この実施例の装置では織布の移動速度
Vとセンサボックスの走査速度vを入力装置11で入力
すると自動的に遮光マスク5が所定の位置まで回動され
、結像エリアが製織速度及び走査速度に対応した状態に
確実に設定される。なお、本発明は前記実施例に限定さ
れるものではなく、例えば、遮光マスク5を駆動モータ
7で回動する構成に代えて、単に回動可能に配設すると
ともに織布の移動速度Vとセンサボックスの走査速度v
に基づいて作業者が所定の角度位置に回動配置する構成
としてもよい。又、窓5aの形状は長方形に限らず受光
素子3a,4aと交差する一対の辺が互いに平行な形状
であればよい。又、織機に装備する検反装置以外に製織
後の織布の良否を検査するための検反装置に適用したり
、織布以外の他のものの検査装置に適用したりしてもよ
い。
【0018】
【発明の効果】以上詳述したように本発明によれば、被
検査体の移動に伴う結像の相対移動によるS/N比の低
下が防止され、空間フィルタからの出力信号を処理する
信号処理回路を大型化せずに高精度の検出が可能となる
。又、被検査体の移動速度及び空間フィルタの走査速度
の変更に対応して遮光マスクの位置を変更することによ
り常に高精度の検出が可能なため、被検査体の移動速度
及び空間フィルタの走査速度を自由に設定できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明を具体化した一実施例の要部平面図であ
る。
【図2】同じく正面図である。
【図3】織布の移動方向、走査方向と結像の移動方向の
関係を示す概略図である。
【図4】結像の移動と受光素子との関係を説明する図で
ある。
【図5】従来装置の受光素子と遮光マスクの関係を示す
図である。
【図6】従来装置の織機への取付け状態を示す概略斜視
図である。
【図7】従来装置の構成を示す概略斜視図である。
【符号の説明】
1…空間フィルタ、3a,4a…受光素子、5…遮光マ
スク、5a…窓、5b…歯部、8…歯車、θ…角度、W
…被検査体としての織布、W1…織前。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  一定方向に移動する被検査体の幅方向
    に移動して被検査体に照射された光を空間フィルタで受
    光して検査情報を得る検査装置において、空間フィルタ
    の受光部に対応する位置に少なくとも一対の平行な辺を
    有する窓を形成した遮光マスクを空間フィルタに近接し
    て平行に配置し、前記遮光マスクを空間フィルタと平行
    な状態で回動可能に設けた検査装置。
JP13914691A 1991-06-11 1991-06-11 検査装置 Pending JPH04364452A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP13914691A JPH04364452A (ja) 1991-06-11 1991-06-11 検査装置

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JP13914691A JPH04364452A (ja) 1991-06-11 1991-06-11 検査装置

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JPH04364452A true JPH04364452A (ja) 1992-12-16

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ID=15238643

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JP13914691A Pending JPH04364452A (ja) 1991-06-11 1991-06-11 検査装置

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