JPH04361600A - 部品回転検査方法 - Google Patents
部品回転検査方法Info
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- JPH04361600A JPH04361600A JP3137660A JP13766091A JPH04361600A JP H04361600 A JPH04361600 A JP H04361600A JP 3137660 A JP3137660 A JP 3137660A JP 13766091 A JP13766091 A JP 13766091A JP H04361600 A JPH04361600 A JP H04361600A
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- Japan
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- electrode
- electronic component
- electrodes
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 38
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 13
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 7
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 4
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 3
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
- Image Processing (AREA)
- Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
- Image Analysis (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は電子回路基板上の所定の
位置に電子部品などを実装する電子部品実装設備に用い
られる視覚認識装置において、電子部品の位置・姿勢を
検出する部品回転検査方法に関する。
位置に電子部品などを実装する電子部品実装設備に用い
られる視覚認識装置において、電子部品の位置・姿勢を
検出する部品回転検査方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】電子回路基板上の所定の位置に電子部品
の実装する電子部品実装設備において、電子部品を部品
供給部から取り出し電子回路基板上に移載する際、移載
中の電子部品の位置・姿勢を視覚認識装置を用いて検出
し電子部品の位置決めを行い、非接触で、かつ高精度に
電子部品を実装する方法がよく用いられている。電子部
品実装設備に用いられる視覚認識方法には、電子部品を
背景側より照明して得た電子部品の輪郭画像を処理し電
子部品の位置・姿勢を認識する方法（以下、透過照明認
識方法と呼ぶ）と、電子部品を表面側から照明し得られ
る電子部品のボディおよび電極部画像を検出し電子部品
の位置・姿勢を認識する方法（以下、反射照明認識方法
と呼ぶ）がある。透過照明認識方法には電子部品を移載
する部品保持部よりも小さい電子部品において正確な輪
郭画像が得られず認識が難しいといった制約がある。こ
の制約がない認識方法が反射照明認識方法である。
の実装する電子部品実装設備において、電子部品を部品
供給部から取り出し電子回路基板上に移載する際、移載
中の電子部品の位置・姿勢を視覚認識装置を用いて検出
し電子部品の位置決めを行い、非接触で、かつ高精度に
電子部品を実装する方法がよく用いられている。電子部
品実装設備に用いられる視覚認識方法には、電子部品を
背景側より照明して得た電子部品の輪郭画像を処理し電
子部品の位置・姿勢を認識する方法（以下、透過照明認
識方法と呼ぶ）と、電子部品を表面側から照明し得られ
る電子部品のボディおよび電極部画像を検出し電子部品
の位置・姿勢を認識する方法（以下、反射照明認識方法
と呼ぶ）がある。透過照明認識方法には電子部品を移載
する部品保持部よりも小さい電子部品において正確な輪
郭画像が得られず認識が難しいといった制約がある。こ
の制約がない認識方法が反射照明認識方法である。
【０００３】反射照明認識方法において電子部品の電極
部画像を検出し電子部品の位置・姿勢を認識する過程の
概略を図９に示す。図９（ａ）は反射照明認識方法によ
る画像入力部の例を示し、図９（ｂ）は取り込んだ画像
から電極部画像を検出し電子部品の位置・姿勢を求めて
いく過程の例を示している。この場合認識を行うために
必要な電子部品の寸法，電極方向，電極数などがあらか
じめ電子部品実装設備に与えられている。
部画像を検出し電子部品の位置・姿勢を認識する過程の
概略を図９に示す。図９（ａ）は反射照明認識方法によ
る画像入力部の例を示し、図９（ｂ）は取り込んだ画像
から電極部画像を検出し電子部品の位置・姿勢を求めて
いく過程の例を示している。この場合認識を行うために
必要な電子部品の寸法，電極方向，電極数などがあらか
じめ電子部品実装設備に与えられている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】上記反射照明認識方法
を図６に示すような電極を持った電子部品に適用する。 図６は通常ＳＯＴ（スモールアウトプットトランジスタ
）部品と呼ばれる種類の電子部品の例である。ＳＯＴ部
品について図７の通りに位置と角度が求まる。ただし画
像視野に対し電子部品の電極方向はあらかじめ与えられ
ているデータの通りであるものとする。しかしながら実
際の設備において条件が１００％満たされ続けることは
、設備のメンテナンス状態、電子部品のセットミス、ま
たはデータの入力ミスなどの要因により難しいことであ
る。条件が何らかの要因により満たされなくなった場合
、上記ＳＯＴ部品の位置・角度の認識は誤ったものとな
る。図８はその例を示した図である。図８の場合、電極
部画像の位置は検出しているがその位置関係はあらかじ
め与えられている電極方向の通りとして処理しているた
め、電子部品の位置・角度を誤って認識している。この
誤りを防ぐため通常、各電極間の距離、または各電極部
の寸法といったデータを用いる方法がある。しかし電子
部品はさまざまな寸法のものが有り得るので、電極間の
距離、または電極部寸法が等しい場合があり、一般的な
解決方法にはならない。
を図６に示すような電極を持った電子部品に適用する。 図６は通常ＳＯＴ（スモールアウトプットトランジスタ
）部品と呼ばれる種類の電子部品の例である。ＳＯＴ部
品について図７の通りに位置と角度が求まる。ただし画
像視野に対し電子部品の電極方向はあらかじめ与えられ
ているデータの通りであるものとする。しかしながら実
際の設備において条件が１００％満たされ続けることは
、設備のメンテナンス状態、電子部品のセットミス、ま
たはデータの入力ミスなどの要因により難しいことであ
る。条件が何らかの要因により満たされなくなった場合
、上記ＳＯＴ部品の位置・角度の認識は誤ったものとな
る。図８はその例を示した図である。図８の場合、電極
部画像の位置は検出しているがその位置関係はあらかじ
め与えられている電極方向の通りとして処理しているた
め、電子部品の位置・角度を誤って認識している。この
誤りを防ぐため通常、各電極間の距離、または各電極部
の寸法といったデータを用いる方法がある。しかし電子
部品はさまざまな寸法のものが有り得るので、電極間の
距離、または電極部寸法が等しい場合があり、一般的な
解決方法にはならない。
【０００５】また、誤りを検出するために各電極間の距
離、各電極部の寸法といったデータを追加してあらかじ
め電子部品実装機に与えなければならず、扱う電子部品
の種類が多い場合、データ入力ミス発生の確率が高くな
る。
離、各電極部の寸法といったデータを追加してあらかじ
め電子部品実装機に与えなければならず、扱う電子部品
の種類が多い場合、データ入力ミス発生の確率が高くな
る。
【０００６】本発明は上記課題を解決するもので、正し
い電子部品角度が得られる部品回転検査方法を提供する
ことを目的とする。
い電子部品角度が得られる部品回転検査方法を提供する
ことを目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明は上記目的を達成
するために、複数の長方形の電極部を持った電子部品に
ついて、あらかじめ与えられた電極部方向のデータをも
とに複数の電極部画像の位置から検出した電子部品の第
１の角度と、あらかじめ与えられた電極部方向に対し複
数の電極部画像の直線部がなす第２の角度とを比較し、
第１と第２の角度の差があらかじめ定めた角度差以内で
あることを判定して、検出した電子部品の角度が正しい
角度であることを検出する構成を有している。
するために、複数の長方形の電極部を持った電子部品に
ついて、あらかじめ与えられた電極部方向のデータをも
とに複数の電極部画像の位置から検出した電子部品の第
１の角度と、あらかじめ与えられた電極部方向に対し複
数の電極部画像の直線部がなす第２の角度とを比較し、
第１と第２の角度の差があらかじめ定めた角度差以内で
あることを判定して、検出した電子部品の角度が正しい
角度であることを検出する構成を有している。
【０００８】
【作用】本発明は上記した構成により、長方形形状の電
極部を持つ電子部品の画像において、各電極部の位置と
あらかじめ与えられている電極部方向から求めた電子部
品の持つ角度と、各電極部の持つ直線部があらかじめ与
えられる電極部方向に対しなす角度とを比較し、その角
度差があらかじめ定めた角度差以内であることを判定し
て求めた電子部品の角度が正しい角度であることを検出
するので、各電極間の距離の違い、または各電極部の寸
法の違いといった追加データを用いる必要がなく、従来
のデータだけで認識角度の誤りの有無を検出できる。
極部を持つ電子部品の画像において、各電極部の位置と
あらかじめ与えられている電極部方向から求めた電子部
品の持つ角度と、各電極部の持つ直線部があらかじめ与
えられる電極部方向に対しなす角度とを比較し、その角
度差があらかじめ定めた角度差以内であることを判定し
て求めた電子部品の角度が正しい角度であることを検出
するので、各電極間の距離の違い、または各電極部の寸
法の違いといった追加データを用いる必要がなく、従来
のデータだけで認識角度の誤りの有無を検出できる。
【０００９】
【実施例】（実施例１）以下に本発明の部品回転検査方
法の第１の実施例を説明する。図１に本発明の部品回転
検査方法のフローチャート、図２に本発明の部品回転検
出方法による誤り検出過程、図３に本発明の部品回転検
出方法による正常認識過程を示す。本発明ではまず従来
と同様に電子部品の画像から各電極部の位置を検出し、
あらかじめ与えられる電極部方向を用いて電子部品の持
つ角度を求める（Ｆ−１）。次に検出した各電極部が持
つ直線部を検出し、直線部があらかじめ与えられる電極
部方向を基準とした際になす角度を求める（Ｆ−２）。 電極部分が持つ直線部は電極部が長方形形状であるため
一つの電極部につき４辺ある。４辺のうち、あらかじめ
与えられる電極部方向に対しなす角度の絶対値が４５度
以内であるものを採用する。最後に検出した電子部品の
持つ角度と、電極部の直線部から求めた角度を比較し（
Ｆ−３）、その角度差があらかじめ定めた角度差以内で
あることを判定し、検出した電子部品の角度が正しいこ
とを検出する（Ｆ−４）。角度差があらかじめ定めた角
度差を越えているならば検出した電子部品の角度が誤り
であるとする（Ｆ−５）。
法の第１の実施例を説明する。図１に本発明の部品回転
検査方法のフローチャート、図２に本発明の部品回転検
出方法による誤り検出過程、図３に本発明の部品回転検
出方法による正常認識過程を示す。本発明ではまず従来
と同様に電子部品の画像から各電極部の位置を検出し、
あらかじめ与えられる電極部方向を用いて電子部品の持
つ角度を求める（Ｆ−１）。次に検出した各電極部が持
つ直線部を検出し、直線部があらかじめ与えられる電極
部方向を基準とした際になす角度を求める（Ｆ−２）。 電極部分が持つ直線部は電極部が長方形形状であるため
一つの電極部につき４辺ある。４辺のうち、あらかじめ
与えられる電極部方向に対しなす角度の絶対値が４５度
以内であるものを採用する。最後に検出した電子部品の
持つ角度と、電極部の直線部から求めた角度を比較し（
Ｆ−３）、その角度差があらかじめ定めた角度差以内で
あることを判定し、検出した電子部品の角度が正しいこ
とを検出する（Ｆ−４）。角度差があらかじめ定めた角
度差を越えているならば検出した電子部品の角度が誤り
であるとする（Ｆ−５）。
【００１０】図４は本発明の部品回転検査方法を適用し
た例を示しており、図４（ａ）はあらかじめ与えられる
電子部品の電極部方向（正常な電子部品角度）を示して
いる。図４（ｂ）から図４（ｅ）はそれぞれ電子部品が
回転して画像視野内に存在する場合の本発明による判定
結果を示している。図４（ｂ）は正常時に比べ＋１８０
度方向に回転した場合であるが、図から分かるように求
めた電子部品角度θｂが誤りであると判定している。図
４（ｃ）は正常次に比べ−９０度方向に回転した場合で
あるが、図から分かるように求めた電子部品角度θｃが
誤りであると判定している。図４（ｄ）は同方向（正常
方向）の場合であるが、図から分かるように求めた電子
部品角度θｄは正常であると判定している。図４（ｅ）
は正常時に比べ＋９０度方向に回転した場合であるが、
図から分かるように求めた電子部品角度θｅが誤りであ
ると判定している。以上図に示すとおり本発明の部品回
転検査方法が正しいものであることがわかる。
た例を示しており、図４（ａ）はあらかじめ与えられる
電子部品の電極部方向（正常な電子部品角度）を示して
いる。図４（ｂ）から図４（ｅ）はそれぞれ電子部品が
回転して画像視野内に存在する場合の本発明による判定
結果を示している。図４（ｂ）は正常時に比べ＋１８０
度方向に回転した場合であるが、図から分かるように求
めた電子部品角度θｂが誤りであると判定している。図
４（ｃ）は正常次に比べ−９０度方向に回転した場合で
あるが、図から分かるように求めた電子部品角度θｃが
誤りであると判定している。図４（ｄ）は同方向（正常
方向）の場合であるが、図から分かるように求めた電子
部品角度θｄは正常であると判定している。図４（ｅ）
は正常時に比べ＋９０度方向に回転した場合であるが、
図から分かるように求めた電子部品角度θｅが誤りであ
ると判定している。以上図に示すとおり本発明の部品回
転検査方法が正しいものであることがわかる。
【００１１】（実施例２）本発明の部品回転検査方法の
第２の実施例を図５を用いて説明する。図５の例は本発
明の判定結果がＮＧであった場合、あらかじめ与えられ
る電極部方向を他の３種にかえ、判定結果がＯＫとなる
まで順番に検査をリトライしていくものである。図５に
示すようなリトライを行えば、特に電極部方向のデータ
が無くても正しい電子部品角度を得ることができる。
第２の実施例を図５を用いて説明する。図５の例は本発
明の判定結果がＮＧであった場合、あらかじめ与えられ
る電極部方向を他の３種にかえ、判定結果がＯＫとなる
まで順番に検査をリトライしていくものである。図５に
示すようなリトライを行えば、特に電極部方向のデータ
が無くても正しい電子部品角度を得ることができる。
【００１２】このように本発明の実施例の部品回転検査
方法によれば、長方形の電極を持つ電子部品の画像にお
いて、各電極の位置とあらかじめ与えられている電極方
向から求めた電子部品の持つ角度と、各電極の直線部が
あらかじめ与えられる電極方向に対してなす角度とを比
較し、その角度差があらかじめ定めた角度差以内である
ことを判定して求めた電子部品の角度が正しいことを検
出するので、正しい電子部品角度を得ることができる。
方法によれば、長方形の電極を持つ電子部品の画像にお
いて、各電極の位置とあらかじめ与えられている電極方
向から求めた電子部品の持つ角度と、各電極の直線部が
あらかじめ与えられる電極方向に対してなす角度とを比
較し、その角度差があらかじめ定めた角度差以内である
ことを判定して求めた電子部品の角度が正しいことを検
出するので、正しい電子部品角度を得ることができる。
【００１３】
【発明の効果】以上の実施例から明らかなように本発明
によれば、ＳＯＴ部品やこれに類似した電極部位置関係
を持つ電子部品の位置・姿勢を認識することにおいて、
特別に検査用データを用いなくてもあらかじめ与えられ
る電極部方向と異なる方向に電極部が位置するような場
合に、誤った電子部品角度を認識せず、正しい電子部品
角度を得ることができるので、電子部品実装設備に使用
すると、高精度で電子部品が実装される部品回転検査方
法を提供できる。
によれば、ＳＯＴ部品やこれに類似した電極部位置関係
を持つ電子部品の位置・姿勢を認識することにおいて、
特別に検査用データを用いなくてもあらかじめ与えられ
る電極部方向と異なる方向に電極部が位置するような場
合に、誤った電子部品角度を認識せず、正しい電子部品
角度を得ることができるので、電子部品実装設備に使用
すると、高精度で電子部品が実装される部品回転検査方
法を提供できる。
【図１】本発明の第１の実施例の部品回転検査方法のフ
ローチャート
ローチャート
【図２】同方法による誤認識判定過程を示す模式図
【図
３】同方法による正常認識判定過程を示す模式図
３】同方法による正常認識判定過程を示す模式図
【図４
】同方法による判定結果を示す模式図
】同方法による判定結果を示す模式図
【図５】本発明の
第２の実施例の部品回転検査方法を説明する模式図
第２の実施例の部品回転検査方法を説明する模式図
【図６】本発明が対象とする電子部品の外観図
【図７】
図６の電子部品について位置，角度の検出過程を示す模
式図
図６の電子部品について位置，角度の検出過程を示す模
式図
【図８】従来の認識方法における誤認識を説明する模式
図
図
Claims (1)
- 【請求項１】 複数の長方形形状の電極部を持った電
子部品について、あらかじめ与えられる電極部方向のデ
ータをもとに前記複数の電極部画像の位置から検出した
電子部品の第１の角度と、前記あらかじめ与えられる電
極部方向に対し前記複数の電極部画像の直線部がなす第
２の角度とを比較し、前記第１と第２の角度の差があら
かじめ定めた角度差以内であることを判定して、検出し
た電子部品の角度が正しい角度であることを検出する部
品回転検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3137660A JP2943397B2 (ja) | 1991-06-10 | 1991-06-10 | 部品回転検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3137660A JP2943397B2 (ja) | 1991-06-10 | 1991-06-10 | 部品回転検査方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04361600A true JPH04361600A (ja) | 1992-12-15 |
| JP2943397B2 JP2943397B2 (ja) | 1999-08-30 |
Family
ID=15203842
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3137660A Expired - Fee Related JP2943397B2 (ja) | 1991-06-10 | 1991-06-10 | 部品回転検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2943397B2 (ja) |
-
1991
- 1991-06-10 JP JP3137660A patent/JP2943397B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2943397B2 (ja) | 1999-08-30 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |