JPH04343075A - 4端子対標準器のインピーダンス測定方法 - Google Patents

4端子対標準器のインピーダンス測定方法

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JPH04343075A
JPH04343075A JP14256091A JP14256091A JPH04343075A JP H04343075 A JPH04343075 A JP H04343075A JP 14256091 A JP14256091 A JP 14256091A JP 14256091 A JP14256091 A JP 14256091A JP H04343075 A JPH04343075 A JP H04343075A
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潔 鈴木
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、4端子対標準器(以下
、「4TP−Std」と言う)のインピーダンス測定方
法に関し、4TP−Stdが4端子動作をする際のイン
ピーダンス、または該4TP−Stdの電圧信号が印加
される端子対あるいは該電圧信号に応答して出力される
電流の値を検出するための端子対からみた出力インピー
ダンスを極めて高精度かつ簡易にそれぞれ算定する上記
測定方法に関する。
【0002】
【技術背景】近年、電子部品のインピーダンスを高精度
で測定する場合には、4端子対を用いた装置による測定
が行われている。具体的にはインピーダンス解析器(例
えば、横河・ヒューレット・パッカード株式会社,Mo
del  4192A,4194A)等の測定装置によ
り、電気部品の抵抗等の測定が行われている。ところで
、このような測定器の校正を行う場合、通常、4TP−
Std標準器が用いられ、正しい(標準となる)アドミ
ッタンス値を有する4TP−Stdを測定端子に装着し
て、測定装置の指示値とから該測定装置の校正が行われ
る。
【0003】図5において、LCRメータである測定装
置30には、ケーブル21,22,23,24を介して
4TP−Std10が接続されている。ケーブル21,
22,23,24の各シールドは、4TP−Std10
側で端子対1,2,3,4のグランド(これらは、ST
P−Std10の外被に接続されている)に、測定装置
30側で端子1′,2′,3′,4′のグランド(これ
らは、測定装置30の外被31に接続されている)にそ
れぞれ接続されている。4TP−Std10には標準器
12が内蔵されており、該標準器12の一端(高圧側)
は端子1,2の信号端子に、他端(低圧側)は端子3,
4の信号端子に接続されている。また、図5においては
、配線のインダクタンスや配線間の容量等を、標準器1
2の一端と外被11間に接続したインピーダンス13お
よび標準器12の低圧側と外被11間に接続したインピ
ーダンス14により示してある。測定装置30は、信号
源32により端子1′,ケーブル21,端子1を介して
標準器12の一端(高圧側)を駆動し、その電圧の大き
さは端子2,ケーブル22を介して電圧計33により測
定される。
【0004】一方、標準器12の低圧側の電圧は、端子
3,ケーブル23,端子3′,増幅器33、さらに抵抗
35,電流計36,端子4′,ケーブル24,端子4を
介して負帰還される。この結果、標準器12の低圧側の
電圧は実質的に0電位となる。したがって、インピーダ
ンス14を流れる電流はなく、電流計36を流れる電流
は標準器12を流れる電流のみとなる。標準器12の端
子間電圧は、電圧計33により測定されるので、標準器
12のインピーダンスZは電流計36の測定値(一般に
、複素値)と電圧計33の測定値(一般に複素値)との
比を演算することにより求められる。この求められた値
と標準器12の値とからLCRメータ30の校正が行わ
れる。
【0005】前述の校正が精度良く行われるためには、
4TP−Std10の値(特に標準器12の値)が正し
くわかっていなければならない。このため、従来は、(
イ)4TP−Std10の内部の物理的性質や寸法から
、理解できる範囲での精しい等価回路を作り、これらの
内部定数の値を用いて4TP−Std10の値を計算し
たり、(ロ)4TP−Std10の外部に値が既知の素
子を接続して、共振等により内部定数を求めていた。 ところが、(イ)の方法では、内部構造から全ての要素
を洗い出すことはできず、評価漏れが生じ、さらに販売
された後に解体される場合があるときには、各要素の再
評価は非常に困難となるという問題がある。また、(ロ
)の方法では4TP−Std10と外部素子のリード部
分との分離が不明確となり、精度が低くなるという問題
がある。また、校正により国家標準への(トレースアビ
リティ)を確率するためには標準器は1端子対でなけれ
ばならず、4端子対標準器においては、端子対の変換器
(例えば、2端子から1端子への変換器)を用いて校正
しなければならない。したがって、変換器による校正精
度(確度)の低下はまぬがれないという問題がある。
【0006】
【発明の目的】本発明の目的は、4TP−Stdをブラ
ックボックスとみて、各端子対からみた駆動点インピー
ダンスを測定することで、4TP−Stdの動作インピ
ーダンスを求め、これにより高精度で4TP−Stdの
回路定数を算定すると共に、高精度でLCRメータやベ
クトルインピーダンスアナライザ,ネットワークアナラ
イザ等の測定器の校正を行うことにある。
【0007】
【発明の概要】本発明においては、まず、4TP−St
dの第1〜第4の端子対の4端子対のうち3端子対をそ
れぞれを短絡し、残る1端子対の駆動点インピーダンス
を測定する。これにより、第1〜第4の端子対のうち所
定の端子対の第1種インピーダンスが求められる。ここ
で、第1種インピーダンスは、4TP−Stdをブラッ
クボックスとみた場合の、インピーダンスマトリクス(
以下、Zマトリクスという)〔Z〕の対角要素(自己イ
ンピーダンス)Z11,Z22,Z33,Z44(便宜
上Ziiで表す)を意味している。これら第1種インピ
ーダンスは必ずしも全て求める必要はなく、4TP−S
tdが4端子動作をする際のインピーダンスZ4TPを
測定する場合にはZ11,Z22,Z44が、第1の端
子対からみた出力インピーダンスZHpotを測定する
場合にはZ11,Z22が、第4の端子対からみた出力
インピーダンスZLcurを測定する場合にはZ33,
Z44がそれぞれ求められる。
【0008】次に、4端子対のうち2端子対を開放し、
残る2端子対のうち一方の端子対を短絡し他方の端子対
の駆動点インピーダンスを測定する。これにより、第1
〜第4の端子対のうち所定の端子対の第2種インピーダ
ンスが求められる。ここで、第2種インピーダンスは、
開放されていない端子対のうち短絡した端子対が第jの
端子対であり、駆動点インピーダンスが測定される端子
対が第iの端子対であるとすると、Ziisjで表され
る。 これら第2種インピーダンスZiisjも、上記第1種
インピーダンスと同様必ずしも全て求める必要はなく、
4TP−Stdが4端子動作をする際のインピーダンス
Z4TPを測定する場合にはZ11s2,Z11s3,
Z44s2,Z44s3が、第1の端子対からみた出力
インピーダンスZHpotを測定する場合にはZ11s
2,Z11s3,Z22s3が、第4の端子対からみた
出力インピーダンスZLcurを測定する場合にはZ3
3s1,Z44s1,Z44s3がそれぞれ求められる
。そして、上記のようにして求めた第1種および第2種
インピーダンス測定値Zii,Ziisjに基づき、4
TP−Stdが4端子動作をする際のインピーダンスZ
4TP、または第1あるいは第4の端子対からみた出力
インピーダンスZHpot,ZLcurがそれぞれ算定
される。
【0009】これらの算定において、4TP−Stdが
4端子動作をする際のインピーダンスZ4TPを測定す
る場合には、 Z4TP =Z22{(Z11−Z11s2)1/2・(Z44−
Z44s3)1/2−(Z11−Z11s3)1/2・
(Z44−Z44s2)1/2}÷(Z11−Z11s
3)1/2 が採用される。また、第1の端子対からみた出力インピ
ーダンスZHpotを測定する場合には、ZHpot =Z22+{(Z22−Z22s3)/(Z11−Z1
1s3)}1/2×{Z22(Z11−Z11s2)}
1/2が、第4の端子対からみた出力インピーダンスZ
Lcurを測定する場合には、ZLcur =Z44+{(Z44−Z44s1)/(Z33−Z3
3s1)}1/2×{Z33(Z44−Z44s3)}
1/2がそれぞれ採用される。なお、図4に示すように
、出力インピーダンスZHpot,ZLcur(図4で
はZoutで示す)は、端子対の負荷アドミタンスがY
inのときに出力電圧eが下式のように表されるZou
tで定義される。 e={(1/(1+ZoutYin)}eo但し、eo
はYin=0のときの(すなわち無負荷での)出力電圧
である。
【0010】
【実施例】本発明の一実施例を図5に沿って説明する。 なお、図5に示すように、端子対1〜4の信号端子の電
位は4TP−Std10の外被11に対してV1〜V4
であり、各信号端子に流入する電流はI1〜I4である
。このとき、電圧V1〜V4と電流I1〜I4との間に
は以下の関係が成立する。   V1=Z11I1+Z12I2+Z13I3+Z1
4I4    (1a)  V2=Z21I1+Z22
I2+Z23I3+Z24I4    (1b)  V
3=Z31I1+Z32I2+Z33I3+Z34I4
    (1c)  V4=Z41I1+Z42I2+
Z43I3+Z44I4    (1d)以下、同図に
沿って説明する。
【0011】(1)測定器が理想的である場合(イ)ま
ず、この場合には、条件式V3=0,I2=0,I3=
0が成立し、Z4TPは以下のように定義される。 Z4TP=−V2/I4,V3=0 (ただし、ここでI4,V2はI2,I3=0における
値)ところが、−V2/I4を測定する装置自体を校正
しようとしているので、Z4TPを別な方法で求める必
要がある。上式を(10)式に代入すると、 V1=Z11I1+Z14I4  (2a)V2=Z2
1I1+Z24I4  (2b)0=Z31I1+Z3
4I4  (2c)V4=Z41I1+Z44I4  
(2d)となる。(2c)より、 I4=−(Z31/Z34)I1 となる。この式と(1b),(2b)式とから、Z4T
P=V2/(−I4) =(Z21Z34−Z31Z24)/Z31(3)が導
かれる。したがって、Z21,Z34,Z31,Z24
の値がわかれば、Z4TPを求めることができることに
なる。 いま、ブラックボックスに4端子対i,j,k,lが設
けられたモデルを考える。各端子対の入力電圧をVi,
Vj,Vk,Vl、入力電流をIi,Ij,Ik,Il
とすると、回路網方程式は、 Vi=ZiiIi+ZijIj+ZikIk+ZilI
l  (4a)Vj=ZjiIi+ZjjIj+Zjk
Ik+ZjlIl  (4b)Vk=ZkiIi+Zk
jIj+ZkkIk+ZklIl  (4c)Vl=Z
liIi+ZljIj+ZlkIk+ZllIl  (
4d)マトリックスで表すと、 〔V〕=〔Z〕〔I〕              (
5)となる。
【0012】端子対iの駆動点インピーダンスZiiを
求めるために、端子対i以外の3端子対j,k,lを全
て開放とすると、これら3端子対の入力電流Ij,Ik
,Ilは全て0となる。回路網方程式は、 Vi=ZiiIi となり、駆動点インピーダンスZii=Vi/Iiを得
ることができる。次に、Zマトリクス〔Z〕のマトリク
ス要素Zijを求めるために、端子対k,lを開放にす
るとともに、端子対jをショートする。これにより、I
k,Ilk=0    Vj=0 となる。回路網方程式は、 Vi=ZiiIi+ZijIj    (6a)Vj=
ZjiIi+ZjjIj    (6b)となるが、4
TP−Std10が線形の受動回路であることを考慮す
ると、相反の定理が成立するのでZij=Zjiとなり
、(6a),(6b)の2式から、Vi=(Zii−Z
ji/Zjj)Iiが求められる。端子対jをショート
したときの該端子対jの駆動点インピーダンスをZii
sjとすると、Zji=±{Zjj(Zii−Ziis
j)}1/2    (7a)Zij=±{Zii(Z
jj−Zjjsi)}1/2    (7b)となる。 ゆえに、上式からZ21,Z24,Z31,Z34が得
られるので、これを(3)式に代入することで、Z4T
P=(Z21Z34−Z31Z24)/Z31を求める
ことができる。
【0013】(7a),(7b)における符合は、4T
P−Std10の内部構造によって、+,−をとる。例
えば、Zijが4TP−Std10の外被と端子との間
の浮遊容量に基づくものである場合には、Zijは容量
性となり符合は−となる。ここでは、Zji(=Zij
)の符合を−としてZ4TPを求めると、   Z4TP={Z22/(Z11−Z11s3)}1
/2  ×[{(Z11−Z11s2)(Z44−Z4
4s3)}1/2    −{(Z11−Z11s3)
(Z44−Z44s2)}1/2]  (8)となる。 なお、駆動点インピーダンスの測定は、図1に示すよう
に、ベクトルネットワークアナライザ(同図ではインピ
ーダンス測定器41)の反射係数の測定により行うこと
ができ、また共振周波数等の数値も併せて測定すること
で、CPU42により4TP−Std10のインピーダ
ンスの算出やその評価の自動化、およびディスプレイ4
3への表示等を容易に行うことができる。同図では、端
子対1の駆動点インピーダンスZ11を測定するために
、他の端子対2〜4は短絡した状態で示している。高圧
側−低圧側が左右対称の構造をしている場合には、Z4
4=Z11、Z44s3=Z11s2、Z44s2=Z
11s3とすることにより、該対称の場合のインピーダ
ンスZ4TPBALを、 Z4TPBAL={Z22/(Z11−Z11s3)}
1/2×(Z11−Z11s2)      (9)で
求めることができる。
【0014】(ロ)仮想モデルによる理論式のシミュレ
ーションを以下に説明する。 図2(A)における4TP−Stdは高圧側−低圧側が
左右対称構造をしており、標準器はコンデンサでありC
Oで表されている。また、端子対1の信号端子,端子対
2の信号端子と4TP−Std内部の接続点aとの間の
配線のインダクタンスをL1,L2、端子対3の信号端
子,端子対4の信号端子と接続点bとの間の配線のイン
ダクタンスをL3,L4とし、各接続点a,bと標準器
COの両端の接続点c,dとの間の配線のインダクタン
スをLH,LLとする。さらに、接続点cとグランドと
の間には容量CHGとインダクタンスLHGの直列回路
が存在し、接続点dとグランドとの間には容量CLGと
インダクタンスLLGの直列回路が存在している。 L1=L4=10.5mH L2=L3=  7.0mH LH=LL=  3.0mH LHG=LLG=10.0mH CHG=CLG=300pF CO=1000pF とすると、Z11,Z22,Z11s2,Z11s3は
図2(B)のように表される。ここで、低周波域(1k
Hz)におけるZ4TPの計算結果のみを示すと、 Z4TP=1/(jω1000×10−12)となり、
Z4TPに誤差が生じることはない。一方、高周波域に
おいては、Z22,Z11−Z11s2の共振周波数は
150MHz以上であり、数10MHz以下では実数と
考えられ、(9)式のルート部分は、   {Z22/(Z11−Z11s2)}1/2≒1.
030    (10)となる。また、Z11s3−Z
11s2を計算すると、図3(A)に示すような容量1
030pFとインダクタンス6mHの直列インピーダン
スとなる。なお、周波数特性はLH+LLの部分(6n
H)のみが共振に寄与する。したがって、4TP−St
d10のインピーダンスは(10)式と図3(A)とか
ら、同図(B)に示すような容量1000pFとインダ
クタンス6.18mHの直列インピーダンスとなる。た
とえば、10MHzにおいて、1kHzに対する誤差は
2.4%になる。
【0015】(2)測定器が理想的でない場合(イ)測
定器が入力アドミタンスY2を持つ場合この場合の条件
式は、 V3=0,I3=0,I2=−V2Y3となるので、回
路網方程式は、 V1=Z11I1+Z12(−V2Y3)+Z14I4
  (11a)V2=Z21I1+Z22(−V2Y3
)+Z24I4  (11b)0=Z31I1+Z32
(−V2Y3)+Z34I4  (11c)V4=Z4
1I1+Z42(−V2Y3)+Z44I4  (11
d)(11b)式よりI1を求めると、   I1={(1+Z22Y2)V2−Z24I4}/
Z21                      
                (12)となる。(
11d)式を(11c)式に代入し、−(V2/I4)
を求めると、 −(V2/I4)=(Z21Z34−Z31Z24)/
{Z31+(Z31Z22−Z32Z21)Y2}で計
算できる(これをZ4TP(Y2)とする)。上式にお
いてY2=0とした理想標準器のZ4TPidealと
、Z4TP(Y2)との比をとると、 {Z4TPideal/Z4TP(Y2)}={Z31
+(Z31Z22−Z32Z21)Y2}/Z31=1
+εp となるので、出力インピーダンスZHpotは、ZHp
ot=(Z31Z22−Z32Z21)/Z31となる
。詳述はしないが、ZHpotは、Z22+{(Z22
−Z22s3)/(Z11−Z11s3)}1/2×{
Z22(Z11−Z11s2)}1/2となり、極めて
簡単かつ高精度でZHpotを求めることができる。
【0016】(ロ)測定器が入力アドミタンスY4を持
つ場合 この場合の条件式は、 V3=0,I3=0,I4=ILC−Y4V4となるの
で、回路網方程式は、 V1=Z11I1+Z14(ILC−Y4V4)  (
16a)V2=Z21I1+Z24(ILC−Y4V4
)  (16b)0=Z31I1+Z34(ILC−Y
4V4)  (16c)V4=Z41I1+Z44(I
LC−Y4V4)  (16d)(16d)式よりI1
を求めると、   I1={V4−Z44(ILC−Y4V4)}/Z
41                       
             (17)となる。(17)
式を(16c)式に代入し、−(V2/ILC)を求め
ると、 −(V2/ILC) =(Z21Z34−Z31Z24) /{Z31+(Z31Z44−Z41Z34)Y4}で
計算できる(これをZ4TP(Y4)とする)。上式に
おいてY4=0とした理想標準器のZ4TPideal
と、Z4TP(Y4)との比をとると、 Z4TPideal/Z4TP(Y4)={Z31+(
Z31Z44−Z41Z34)Y4}/Z31=1+ε
c となるので、出力インピーダンスZLcurは、ZLc
ur=(Z31Z44−Z41Z34)/Z31となる
。この場合にも、詳述はしないが、ZLpotは、Z4
4+{(Z44−Z44s1)/(Z33−Z33s1
)}1/2×{Z33(Z44−Z44s3)}1/2
となり、極めて簡単かつ高精度でZLpotを求めるこ
とができる。
【0017】本発明方法を用いて測定したインピーダン
ス値を用いてLCRメータやネットワークアナライザ等
の各種測定器の校正等が行われる。また、4TP−St
dに2端子への変換アダプタを取り付けて使用する場合
においても、本発明の測定方法を使用することにより、
変換アダプタを取り付けた状態でのインピーダンスを測
定することができる。
【0018】
【発明の効果】本発明は上記のように構成したので以下
の効果を奏することができる。 (1)ブラックボックスに見立てた4TP−Stdの4
端子動作時のインピーダンスを、標準器の外側から算定
するので、4TP−Std内部の物理的寸法等から理解
できる範囲の要素で作られた等価回路を作成する等の煩
雑さがなくなる他、評価漏れによる測定精度の低下の心
配もなくなり、普遍的で高精度のインピーダンス測定方
法を提供できる。 (2)4TP−Stdを破壊することなく評価するする
ことができるので、経済性の向上を図ることができる。 (3)4TP−Stdに測定用の既知の素子を接続する
必要はないので、該既知素子との共振により測定する従
来方法と比較して格段に精度の向上が図れる。(4)導
出したZ4TP理論式の各要素はベクトルネットワーク
アナライザ等で測定可能な、各ポートの駆動点インピー
ダンスで表すことができる。 (5)駆動点インピーダンスの測定は上記アナライザ等
の1ポート反射計数測定により行うことができる。また
、最近のアナライザはスミスチャート表示などの機能を
持ち、簡単に共振周波数等の数値を得ることができるの
で、測定・評価の自動化が見込まれる。 (6)共振周波数付近の測定は上記アナライザのO(オ
ープン),S(ショート),T(ターミネーション)校
正の校正点付近なので高精度測定が期待できる。 (7)上記ターミネーションの校正で例えば50Ωでタ
ーミネートされている場合には、50Ωの実数値をZ0
として入力できるので、スケールファクタを正確に校正
できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の測定方法に使用される端子対の駆動点
インピーダンスを求めるための装置構成を示す図である
【図2】本発明の測定原理を示すための図であり、(A
)が4TP−Std内部の等価回路を、(B)は駆動点
インピーダンスを算定するための図である。
【図3】本発明の測定原理を示すための図である。
【図4】本発明の測定方法により求められる出力インピ
ーダンスの概念図である。
【図5】本発明の作用および従来技術を説明するための
4TP−Stdの回路構成を示す図である。
【符号の説明】
1〜4  端子対 10    4TP−Std 11    4TP−Std外被 12    標準器 21〜24  ケーブル 30    測定器 31    測定器の外被 32    信号源 33    電圧計 34    演算増幅器 36    電流計

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  電圧信号が印加される第1の端子対と
    、この印加された電圧信号の値を検出するための第2の
    端子対と、端子電位が0電位となるように駆動される第
    3の端子対と、前記電圧信号に応答して出力される電流
    の値を検出するための第4の端子対とを有し、一端が前
    記第1および第2の端子対の各信号端子に接続され、他
    端が前記第3および第4の端子対の各信号端子に接続さ
    れた標準器を内蔵した4端子対標準器のインピーダンス
    測定方法において、前記4端子対のうち3端子対をそれ
    ぞれを短絡し、残る1端子対の駆動点インピーダンスを
    測定することで、第1〜第4の端子対のうち所定の端子
    対の第1種インピーダンスを求めるステップと、前記4
    端子対のうち2端子対を開放し、残る2端子対のうち一
    方の端子対を短絡し他方の端子対の駆動点インピーダン
    スを測定することで、第1〜第4の端子対のうち所定の
    端子対の第2種インピーダンスを求めるステップと、前
    記第1種および第2種インピーダンス測定値に基づき、
    前記4端子対標準器が4端子動作をする際のインピーダ
    ンス、または第1あるいは第4の端子対からみた出力イ
    ンピーダンスをそれぞれ算定するステップと、から成る
    ことを特徴とする4端子対標準器のインピーダンス測定
    方法。
  2. 【請求項2】  4端子対標準器が4端子動作をする際
    のインピーダンスを次式により算定することを特徴とす
    る請求項1記載の4端子対標準器のインピーダンス測定
    方法。 Z4TP =Z22{(Z11−Z11s2)1/2・(Z44−
    Z44s3)1/2−(Z11−Z11s3)1/2・
    (Z44−Z44s2)1/2}÷(Z11−Z11s
    3)1/2 Z4TP   ;4端子対標準器が4端子動作をする際
    のインピーダンス Zii    ;第iの端子対の第1種インピーダンス
    Ziisj  ;第jの端子対を短絡して測定した第i
    の端子対の第2種インピーダンス
  3. 【請求項3】  第1あるいは第4の端子対からみた出
    力インピーダンスを次式により算定することを特徴とす
    る請求項1記載の4端子対標準器のインピーダンス測定
    方法。 ZHpot =Z22+{(Z22−Z22s3)/(Z11−Z1
    1s3)}1/2×{Z22(Z11−Z11s2)}
    1/2ZLcur =Z44+{(Z44−Z44s1)/(Z33−Z3
    3s1)}1/2×{Z33(Z44−Z44s3)}
    1/2ZHpot  ;第1の端子対からみた出力イン
    ピーダンスZLcur  ;第4の端子対からみた出力
    インピーダンスZii    ;第iの端子対の第1種
    インピーダンスZisj3  ;第jの端子対を短絡し
    て測定した第iの端子対の第2種インピーダンス
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