JPH04326606A - 発振回路 - Google Patents

発振回路

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JPH04326606A
JPH04326606A JP3096893A JP9689391A JPH04326606A JP H04326606 A JPH04326606 A JP H04326606A JP 3096893 A JP3096893 A JP 3096893A JP 9689391 A JP9689391 A JP 9689391A JP H04326606 A JPH04326606 A JP H04326606A
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JP
Japan
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oscillation
oscillation circuit
circuit
antenna element
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JP3096893A
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English (en)
Inventor
Nobuo Shiga
信夫 志賀
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Sumitomo Electric Industries Ltd
Original Assignee
Sumitomo Electric Industries Ltd
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Publication date
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    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01Q—ANTENNAS, i.e. RADIO AERIALS
    • H01Q3/00—Arrangements for changing or varying the orientation or the shape of the directional pattern of the waves radiated from an antenna or antenna system
    • H01Q3/26—Arrangements for changing or varying the orientation or the shape of the directional pattern of the waves radiated from an antenna or antenna system varying the relative phase or relative amplitude of energisation between two or more active radiating elements; varying the distribution of energy across a radiating aperture
    • H01Q3/267—Phased-array testing or checking devices
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/302—Contactless testing
    • G01R31/304—Contactless testing of printed or hybrid circuits
    • H—ELECTRICITY
    • H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03B—GENERATION OF OSCILLATIONS, DIRECTLY OR BY FREQUENCY-CHANGING, BY CIRCUITS EMPLOYING ACTIVE ELEMENTS WHICH OPERATE IN A NON-SWITCHING MANNER; GENERATION OF NOISE BY SUCH CIRCUITS
    • H03B5/00—Generation of oscillations using amplifier with regenerative feedback from output to input
    • H03B5/18—Generation of oscillations using amplifier with regenerative feedback from output to input with frequency-determining element comprising distributed inductance and capacitance
    • H03B5/1841—Generation of oscillations using amplifier with regenerative feedback from output to input with frequency-determining element comprising distributed inductance and capacitance the frequency-determining element being a strip line resonator
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    • H03B5/1847—Generation of oscillations using amplifier with regenerative feedback from output to input with frequency-determining element comprising distributed inductance and capacitance the frequency-determining element being a strip line resonator the active element in the amplifier being a semiconductor device
    • H03B5/1852—Generation of oscillations using amplifier with regenerative feedback from output to input with frequency-determining element comprising distributed inductance and capacitance the frequency-determining element being a strip line resonator the active element in the amplifier being a semiconductor device the semiconductor device being a field-effect device

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、衛星放送受信用コンバ
ータや測定器などに用いられる局部発振回路に関するも
のである。
【０００２】
【従来の技術】近年情報ネットワークシステムの急速な
展開が図られる中で、衛星通信・放送システムの需要も
急増し、周波数帯もますます高周波化されつつある。高
周波信号を低周波信号に変換するダウンコンバータに局
部発振回路として使用される発振回路の需要も高まって
いる。
【０００３】ところで従来、この種の発振回路について
、その発振の有無、あるいは発振周波数や出力などを非
接触で確認する手段はなく、まず発振回路を測定器に接
続した上でテストを行っていた。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】上述したように衛星放
送受信用コンバータなどに用いられる従来の発振回路で
は、発振の有無、あるいは発振周波数や出力などのテス
トをその発振回路を測定器に接続することで行っている
。その場合、発振回路の負荷は測定器であり、そのイン
ピーダンスは５０Ωである。もちろん、通常のアプリケ
ーションでは発振回路の負荷は例えばミキサ回路であり
、そのインピーダンスは５０Ωではない。しかし、ミキ
サ回路のような実際の負荷を接続してしまうと、上述の
ような測定はできなくなる。
【０００５】本発明の課題は、このような問題点を解消
することにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明は、発振回路の出
力回路の一部にアンテナ素子を接続したものである。発
振回路は、ＧａＡｓＦＥＴを用いたマイクロ波帯発振回
路であれば、１つの半絶縁性ＧａＡｓ基板上にＦＥＴを
はじめとする発振回路の構成に必要な素子をすべて集積
したＭＭＩＣ（Ｍｉｃｒｏｗａｖｕ　Ｍｏｎｏｌｉｔｈ
ｉｃ　Ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ　Ｃｉｒｃｕｉｔ　）発振
回路でも、ディスクリートのＧａＡｓＦＥＴおよび他の
部品を組み合わせて構成されるものでもよい。
【０００７】
【作用】発振回路出力のエネルギーの一部が取り出され
、アンテナ素子に結合される。このため、このアンテナ
素子から放射されるエネルギーを測定することによって
、実使用状態での発振の状態の非接触測定が可能となる
。
【０００８】
【実施例】図１に本発明の一実施例を示す。ＭＭＩＣ発
振回路１は、ＦＥＴ、抵抗、コンデンサ、インダクタな
ど発振回路の構成に必要な素子をすべて１チップ上に集
積したもので、半絶縁性のＧａＡｓ基板上にＯＭＶＰＥ
（有機金属気相成長）法などにより各層を成長させて形
成される。
【０００９】このＭＭＩＣ発振回路１をセラミック基板
２上に実装し、このセラミック基板２上に形成されたマ
イクロストリップライン３とＭＭＩＣ発振回路１の出力
端子との間をワイヤ４により接続し、さらにこのマイク
ロストリップライン３に接続させて、アレイアンテナで
用いられるアンテナエレメント５を配置してある。この
場合、アンテナエレメント５の方形パッチの１辺の長さ
は、発振周波数のＧａＡｓ基板上での波長λｇ　の１／
２にすると良い。
【００１０】この状態で測定後、図中矢印で示した部分
をレーザー光などにより切断してアンテナエレメント５
を回路から切り離してもよい。
【００１１】図２に本発明の他の実施例を示す。図１と
はアンテナエレメント５の結合方法を変えたもので、図
１と同一符号は同一部分を示す。本実施例では、アンテ
ナエレメント５はマイクロストリップライン３に対して
直接接続はされず、間隙を介して結合している。結合部
の長さＬは、λｇ　の１／４にすると良い。
【００１２】上述した実施例ではアンテナエレメントを
方形のパッチアンテナにより構成したが、パッチの形状
には良く知られているように種々のものがあり、方形に
限られないことはもちろんである。さらに、パッチアン
テナ以外のライン形やスパイラル形などのアンテナエレ
メントを用いることも自由である。
【００１３】また、マイクロストリップライン３、アン
テナエレメント５を含めて発振回路１と同一半導体基板
上にモノリシックに集積してもよい。さらに発振回路や
ミキサ回路その他の回路が集積されたＭＭＩＣコンバー
ターであってもよく、実使用状態での発振の状態を非接
触で測定することができる。
【００１４】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、Ｇ
ａＡｓＦＥＴを用いたマイクロ波帯発振回路において、
出力回路の一部にアンテナ素子を接続したことにより、
非接触測定によって実使用状態での発振の状態を測定す
ることが可能になる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施例を示す発振回路の構成図
【図
２】本発明の他の実施例を示す発振回路の構成図
【符号の説明】
１…ＭＭＩＣ発振回路 ５…アンテナエレメント

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】ＧａＡｓＦＥＴを用いたマイクロ波帯発振
    回路において、出力回路の一部にアンテナ素子を接続し
    たことを特徴とする発振回路。
JP3096893A 1991-04-26 1991-04-26 発振回路 Pending JPH04326606A (ja)

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Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3096893A JPH04326606A (ja) 1991-04-26 1991-04-26 発振回路
US07/871,704 US5248947A (en) 1991-04-26 1992-04-21 Microwave oscillator having microstrip antenna for test purposes
CA002066999A CA2066999A1 (en) 1991-04-26 1992-04-24 Oscillating apparatus
EP92107124A EP0510708A1 (en) 1991-04-26 1992-04-26 Oscillating apparatus

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US (1) US5248947A (ja)
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CA2066999A1 (en) 1992-10-27
EP0510708A1 (en) 1992-10-28
US5248947A (en) 1993-09-28

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