JPH04322950A - 軸物ワ−クの仕上加工方法 - Google Patents
軸物ワ−クの仕上加工方法Info
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- JPH04322950A JPH04322950A JP11698791A JP11698791A JPH04322950A JP H04322950 A JPH04322950 A JP H04322950A JP 11698791 A JP11698791 A JP 11698791A JP 11698791 A JP11698791 A JP 11698791A JP H04322950 A JPH04322950 A JP H04322950A
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- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 claims abstract description 3
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 claims description 12
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 11
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims description 9
- 238000011545 laboratory measurement Methods 0.000 claims description 3
- 238000013461 design Methods 0.000 abstract description 3
- 238000003754 machining Methods 0.000 abstract description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 11
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は軸物ワ−クの仕上加工方
法に関する。
法に関する。
【０００２】
【従来の技術】図５は軸物ワ−クの一例を示す図（図面
は符号の向きに見ること。）であり、この軸物ワ−ク１
０１は多段軸であり、先端部１０２、ギヤ部１０３、第
１スプライン部１０４、中間部１０５、第２スプライン
部１０６及びねじ部１０７とからなる。中間部１０７に
はオイル孔１０８があけられている。
は符号の向きに見ること。）であり、この軸物ワ−ク１
０１は多段軸であり、先端部１０２、ギヤ部１０３、第
１スプライン部１０４、中間部１０５、第２スプライン
部１０６及びねじ部１０７とからなる。中間部１０７に
はオイル孔１０８があけられている。
【０００３】上記軸物ワ−ク１０１は切削成形された後
に、仕上工程にて、軸外径が製品公差に入るまで研磨等
の仕上げが為される。
に、仕上工程にて、軸外径が製品公差に入るまで研磨等
の仕上げが為される。
【０００４】図６はスプライン部の外径測定法を示す図
であり、一般に２個の接触ヘッド１１０ ，１１０で軸
物ワ−ク１０１を挟み、これらヘッド１１０ ，１１０
の相対差をもって、ワ−クの外径測定値としている。こ
の方式は２点接触式外径測定法と言われている。
であり、一般に２個の接触ヘッド１１０ ，１１０で軸
物ワ−ク１０１を挟み、これらヘッド１１０ ，１１０
の相対差をもって、ワ−クの外径測定値としている。こ
の方式は２点接触式外径測定法と言われている。
【０００５】図５の先端部１０２や、オイル孔１０８を
除いた中間部１０５は、単純な円断面であるから問題な
いが、第１スプライン部１０４及び第２スプライン部１
０６は図６に示すとおり鋸歯状を呈し、ヘッド１１０
，１１０が山谷を上下するので、測定値は大きくばらつ
き、外径は特定し難い。
除いた中間部１０５は、単純な円断面であるから問題な
いが、第１スプライン部１０４及び第２スプライン部１
０６は図６に示すとおり鋸歯状を呈し、ヘッド１１０
，１１０が山谷を上下するので、測定値は大きくばらつ
き、外径は特定し難い。
【０００６】従って、２点接触式外径測定法でスプライ
ン部を測定する場合には、谷の部分のデ−タをカットし
、具体的には読取値の最大値を外径測定値と見なすとい
うデ−タ処理が為されている。
ン部を測定する場合には、谷の部分のデ−タをカットし
、具体的には読取値の最大値を外径測定値と見なすとい
うデ−タ処理が為されている。
【０００７】一方、図７は３点法測定法の原理図で有り
、Ｖブロック１１１に軸物ワ−ク１０１を載せて回転し
、測微器１１２で指針の振れを求めることで、外径を割
り出す方法である。同等の測定法として３次元測定法も
知られている。３点法測定法や３次元測定法は所謂実験
室的測定法である。
、Ｖブロック１１１に軸物ワ−ク１０１を載せて回転し
、測微器１１２で指針の振れを求めることで、外径を割
り出す方法である。同等の測定法として３次元測定法も
知られている。３点法測定法や３次元測定法は所謂実験
室的測定法である。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】図６の２点接触式外径
測定法では、読取値の最大値を採用するために、外径測
定値が大きめに出る。又、表面に小さな突起があると、
外径測定値が更に大きめとなることがある。
測定法では、読取値の最大値を採用するために、外径測
定値が大きめに出る。又、表面に小さな突起があると、
外径測定値が更に大きめとなることがある。
【０００９】図７の３点法測定法は、外径測定値の精度
は良好であるが、測定に時間がかかり、実験室向きであ
ることから量産生産ラインに組込むことはできない。
は良好であるが、測定に時間がかかり、実験室向きであ
ることから量産生産ラインに組込むことはできない。
【００１０】そこで、本発明の目的は生産ラインに組込
め、且つ、外径測定値の精度が高い方法を提供し、軸物
ワ−クの仕上げ方法を改善することにある。
め、且つ、外径測定値の精度が高い方法を提供し、軸物
ワ−クの仕上げ方法を改善することにある。
【００１１】
【課題を解決するための手段及び作用】上記目的を達成
すべく本発明は、軸物ワ−クの外径を２点接触ヘッドで
測定し、次に外径を一定量仕上げ、再測定する如くに繰
返して、製品公差に仕上げるものにおいて、前記２点接
触ヘッドが読込んだ複数個のデ−タから異常値を排除し
たものを第１次デ−タ群とし、これから平均値χ及び標
準偏差σを求め、スプライン断面の場合はχ＋１σ未満
のデ−タを、またキ−溝有断面の場合はχ−０未満のデ
−タを、更にまたオイル孔有断面の場合はχ−１σ未満
のデ−タを、第１次デ−タ群から排除し、残ったデータ
を第２次デ−タ群とし、この第２次デ−タ群から平均値
χ２を求め、これに３点法測定法等の実験室的測定法を
参考にして予め定めた補正値Ｐを加え、このχ２＋補正
値Ｐを、製品公差と比較することで仕上加工と測定とを
繰返すものである。
すべく本発明は、軸物ワ−クの外径を２点接触ヘッドで
測定し、次に外径を一定量仕上げ、再測定する如くに繰
返して、製品公差に仕上げるものにおいて、前記２点接
触ヘッドが読込んだ複数個のデ−タから異常値を排除し
たものを第１次デ−タ群とし、これから平均値χ及び標
準偏差σを求め、スプライン断面の場合はχ＋１σ未満
のデ−タを、またキ−溝有断面の場合はχ−０未満のデ
−タを、更にまたオイル孔有断面の場合はχ−１σ未満
のデ−タを、第１次デ−タ群から排除し、残ったデータ
を第２次デ−タ群とし、この第２次デ−タ群から平均値
χ２を求め、これに３点法測定法等の実験室的測定法を
参考にして予め定めた補正値Ｐを加え、このχ２＋補正
値Ｐを、製品公差と比較することで仕上加工と測定とを
繰返すものである。
【００１２】
【実施例】本発明方法に係る実施例を添付図面に基づい
て以下に説明する。図１は本発明方法の対象になる軸物
ワ−クの図であり、軸物ワ−ク１は従来の技術の項で述
べたものと同様に先端部２、ギヤ部３、第１スプライン
部４、中間部５、第２スプライン部６及びねじ部７から
なる多段軸であり、上記中間部５にオイル孔８があけら
れている。なお、軸物ワ−ク１は前工程まででほとんど
の切削加工が施されているが、外径だけは僅かに（仕上
げ代分）大き目とされている。上記軸物ワ−ク１は左右
のセンタ軸９ ，９で挟持されつつ回転し、図示せぬ工
具で精密仕上加工が為される。
て以下に説明する。図１は本発明方法の対象になる軸物
ワ−クの図であり、軸物ワ−ク１は従来の技術の項で述
べたものと同様に先端部２、ギヤ部３、第１スプライン
部４、中間部５、第２スプライン部６及びねじ部７から
なる多段軸であり、上記中間部５にオイル孔８があけら
れている。なお、軸物ワ−ク１は前工程まででほとんど
の切削加工が施されているが、外径だけは僅かに（仕上
げ代分）大き目とされている。上記軸物ワ−ク１は左右
のセンタ軸９ ，９で挟持されつつ回転し、図示せぬ工
具で精密仕上加工が為される。
【００１３】図２は本発明の軸物ワ−クの仕上加工方法
のフロ−チャ−トであり、先ず図６の接触ヘッド１１０
，１１０で例えば図１の第１スプライン部４を挟み、
軸物ワ−ク１を比較的低速（例えば毎秒１回転）で連続
回転しつつ、１／２回転（１８０゜）当り１００個（１
．８°毎に１個）の外径デ−タを読取る（Ｓ０１；ステ
ップ０１を意味する。以下同様。）。
のフロ−チャ−トであり、先ず図６の接触ヘッド１１０
，１１０で例えば図１の第１スプライン部４を挟み、
軸物ワ−ク１を比較的低速（例えば毎秒１回転）で連続
回転しつつ、１／２回転（１８０゜）当り１００個（１
．８°毎に１個）の外径デ−タを読取る（Ｓ０１；ステ
ップ０１を意味する。以下同様。）。
【００１４】一方、スプライン部４の外径の設計値は例
えば４０ｍｍであり、当該切削マシ−ンの保証加工公差
が±２μｍとすれば、読取ったデ−タが４０ｍｍから大
きく外れることは無いはずである。
えば４０ｍｍであり、当該切削マシ−ンの保証加工公差
が±２μｍとすれば、読取ったデ−タが４０ｍｍから大
きく外れることは無いはずである。
【００１５】しかし、スプライン部４は谷の部分が大き
くマイナス側になり、又、外周面に切削もれによる突起
があればこの箇所のデ−タはプラス側に出る。そこでＳ
０２において、（設計値±加工公差×Ｎ）なる判別項を
設ける。具体的には４０±０．００２×５０（Ｎ＝５０
とした場合）＝４０±０．１ ，即ち３９．９〜４０
．１の範囲内のデ−タのみが残され、これらが第１次デ
−タ群を構成する（Ｓ０３）。
くマイナス側になり、又、外周面に切削もれによる突起
があればこの箇所のデ−タはプラス側に出る。そこでＳ
０２において、（設計値±加工公差×Ｎ）なる判別項を
設ける。具体的には４０±０．００２×５０（Ｎ＝５０
とした場合）＝４０±０．１ ，即ち３９．９〜４０
．１の範囲内のデ−タのみが残され、これらが第１次デ
−タ群を構成する（Ｓ０３）。
【００１６】Ｓ０４で、第１次デ−タ群を母集団として
平均値χ及び標準偏差σを計算する。この時のデ−タ数
ｎは１００以内であり、スプライン軸の場合はｎ≒７０
である。
平均値χ及び標準偏差σを計算する。この時のデ−タ数
ｎは１００以内であり、スプライン軸の場合はｎ≒７０
である。
【００１７】Ｓ０５はセレクトステップであり、測定断
面が単純円断面、スプライン断面、キ−溝有断面、オイ
ル孔有断面のいずれかに区分される。現在はスプライン
が対象となっているので、Ｓ０６が選択される。
面が単純円断面、スプライン断面、キ−溝有断面、オイ
ル孔有断面のいずれかに区分される。現在はスプライン
が対象となっているので、Ｓ０６が選択される。
【００１８】図３（ａ）〜（ｄ）は本発明方法に係る断
面の種類別の判別項の説明図であり、図３（ａ）は単純
円断面（切欠き無し軸）の場合で、ほぼ正規分布するデ
−タのχ±３σを残す。
面の種類別の判別項の説明図であり、図３（ａ）は単純
円断面（切欠き無し軸）の場合で、ほぼ正規分布するデ
−タのχ±３σを残す。
【００１９】図３（ｂ）はスプライン断面の場合で、マ
イナス側のデ−タはほとんどスプラインの谷の部分で記
録されたものと見なし、χ＋１σ〜χ＋３σの範囲を残
す。
イナス側のデ−タはほとんどスプラインの谷の部分で記
録されたものと見なし、χ＋１σ〜χ＋３σの範囲を残
す。
【００２０】図３（ｃ）はキ−溝有断面の場合であり、
マイナス側はキ−溝部分で記録されたものと見なし、且
つ、これの影響は前記スプラインの谷よりも小さいので
χ−０以下をカットして、χ−０〜χ＋３σの範囲を残
す。
マイナス側はキ−溝部分で記録されたものと見なし、且
つ、これの影響は前記スプラインの谷よりも小さいので
χ−０以下をカットして、χ−０〜χ＋３σの範囲を残
す。
【００２１】図３（ｄ）はオイル孔有断面の場合であり
、マイナス側はオイル孔部分で記録されたものと見なし
、且つこれの影響は前記キ−溝よりも更に小さいのでχ
−１σ以下をカットして、χ−１σ〜χ＋３σの範囲を
残す。
、マイナス側はオイル孔部分で記録されたものと見なし
、且つこれの影響は前記キ−溝よりも更に小さいのでχ
−１σ以下をカットして、χ−１σ〜χ＋３σの範囲を
残す。
【００２２】図２に戻り、この様に断面形状の種類に応
じて個々にデ−タを処理した結果残ったデ−タで第２次
デ−タ群（Ｓ０７）を構成し、これに基づいて平均値χ
２を計算する（Ｓ０８）。しかし、この平均値χ２は、
まだマイナス側の値である可能性がある。
じて個々にデ−タを処理した結果残ったデ−タで第２次
デ−タ群（Ｓ０７）を構成し、これに基づいて平均値χ
２を計算する（Ｓ０８）。しかし、この平均値χ２は、
まだマイナス側の値である可能性がある。
【００２３】そこで、本発明は、Ｓ１０にて補正値を別
途設定しておくことに特徴がある。
途設定しておくことに特徴がある。
【００２４】図４は本発明の補正値を求める為のフロ−
チャ−トであり、１ロッド中から例えば１本のサンプル
を抽出し、これを図６で説明したところの２点法測定法
（Ｓ５１）で測定外径値χ０（Ｓ５２）を求め、次に、
同じサンプルを図２のＳ０１〜Ｓ０８のステップ（Ｓ５
３）で処理して平均値χ３（Ｓ５４）を求め、これらχ
０とχ３を差引いて、補正値Ｐ（Ｓ５５）を算出する。 この補正値Ｐは単純円断面の場合をＰａ、スプライン断
面の場合をＰｂ、キー溝有断面の場合をＰｃ、オイル孔
有断面の場合をＰｄと区別する。
チャ−トであり、１ロッド中から例えば１本のサンプル
を抽出し、これを図６で説明したところの２点法測定法
（Ｓ５１）で測定外径値χ０（Ｓ５２）を求め、次に、
同じサンプルを図２のＳ０１〜Ｓ０８のステップ（Ｓ５
３）で処理して平均値χ３（Ｓ５４）を求め、これらχ
０とχ３を差引いて、補正値Ｐ（Ｓ５５）を算出する。 この補正値Ｐは単純円断面の場合をＰａ、スプライン断
面の場合をＰｂ、キー溝有断面の場合をＰｃ、オイル孔
有断面の場合をＰｄと区別する。
【００２５】この図４に示す補正値Ｐは原則として１回
だけ求めておけばよいから、時間と手間の掛る２点法測
定法（Ｓ５１）を一部採用することでの生産ライン全体
に与える時間的損失等は軽微である。
だけ求めておけばよいから、時間と手間の掛る２点法測
定法（Ｓ５１）を一部採用することでの生産ライン全体
に与える時間的損失等は軽微である。
【００２６】図２に戻り、Ｓ０９にてＳ０８のχ２にＰ
ｂが加えられて補正測定値が求められる。Ｓ１１でＳ０
９の補正測定値が製品公差に入っているかの判別をする
。軸物ワ−クは外径がプラス側で仕上工程に移されてい
るので、公差に入らなければＳ１２にて精密仕上げ加工
を１工程のみ実施し、この後、Ｓ０１に戻す。
ｂが加えられて補正測定値が求められる。Ｓ１１でＳ０
９の補正測定値が製品公差に入っているかの判別をする
。軸物ワ−クは外径がプラス側で仕上工程に移されてい
るので、公差に入らなければＳ１２にて精密仕上げ加工
を１工程のみ実施し、この後、Ｓ０１に戻す。
【００２７】このル−チンを何回か繰返した後に、軸物
ワ−クは製品公差内に入り、精密仕上げ加工は完了する
。
ワ−クは製品公差内に入り、精密仕上げ加工は完了する
。
【００２８】本発明方法の成果を実施例１ ，２と比較
例１ ，２を対比して説明する。
例１ ，２を対比して説明する。
【００２９】
【表１】
【００３０】実施例１は図１の先端部２を本発明方法で
測定したもので、図２で述べた方法により、５０回（個
）の補正測定値（Ｓ１０に相当）を求めたところ、この
デ−タ群の値域は４０．７５２６１〜４０．７５００４
ｍｍであり、その幅は０．００２５７ｍｍであった。
測定したもので、図２で述べた方法により、５０回（個
）の補正測定値（Ｓ１０に相当）を求めたところ、この
デ−タ群の値域は４０．７５２６１〜４０．７５００４
ｍｍであり、その幅は０．００２５７ｍｍであった。
【００３１】比較例１は図１の先端部２を図２のＳ０１
〜Ｓ０４までの方法により、５０回（個）の平均値χを
求めたところ、このデ−タ群の値域は、４０．７５２６
１〜４０．７５００４ｍｍであり、その幅は０．００２
５７ｍｍであった。
〜Ｓ０４までの方法により、５０回（個）の平均値χを
求めたところ、このデ−タ群の値域は、４０．７５２６
１〜４０．７５００４ｍｍであり、その幅は０．００２
５７ｍｍであった。
【００３２】即ち、単純円断面については実施例１と比
較例１に差は無いことが確認された。
較例１に差は無いことが確認された。
【００３３】一方、実施例２は図１の第１スプライン部
４を本発明方法で５０回測定したもので、そのデ−タ群
の値域は４０．１０６１０〜４０．１０２９９ｍｍで、
その幅は０．００３１１ｍｍであった。
４を本発明方法で５０回測定したもので、そのデ−タ群
の値域は４０．１０６１０〜４０．１０２９９ｍｍで、
その幅は０．００３１１ｍｍであった。
【００３４】比較例２は図１の第１スプライン部４を比
較例１と同様な方法で５０回測定したもので、そのデ−
タ群の値域は４０．１０８８２〜４０．１０３５３ｍｍ
で、その幅は０．００５２８ｍｍであった。
較例１と同様な方法で５０回測定したもので、そのデ−
タ群の値域は４０．１０８８２〜４０．１０３５３ｍｍ
で、その幅は０．００５２８ｍｍであった。
【００３５】実施例２のデ−タ幅（０．００３１１ｍｍ
）が比較例のそれ（０．００５２８ｍｍ）より約４０％
圧縮されたことになり、計測外径値の信頼性がその分、
大幅に向上したと言える。
）が比較例のそれ（０．００５２８ｍｍ）より約４０％
圧縮されたことになり、計測外径値の信頼性がその分、
大幅に向上したと言える。
【００３６】
【発明の効果】以上に述べたとおり本発明方法は、２点
接触式測定法を採用しているので測定具を生産ラインに
組込むことができ、断面の切欠きに応じてデ−タ群の取
捨選択をするので、スプライン軸等においても精度の良
い外径測定値を求めることができる。よって、本発明方
法を採用することにより、軸物ワ−クの仕上げ加工工程
の生産能率化を容易に図ることができる。
接触式測定法を採用しているので測定具を生産ラインに
組込むことができ、断面の切欠きに応じてデ−タ群の取
捨選択をするので、スプライン軸等においても精度の良
い外径測定値を求めることができる。よって、本発明方
法を採用することにより、軸物ワ−クの仕上げ加工工程
の生産能率化を容易に図ることができる。
【図１】本発明方法の対象になる軸物ワ−クの図
【図２
】本発明の軸物ワ−クの仕上加工方法のフロ−チャ−ト
】本発明の軸物ワ−クの仕上加工方法のフロ−チャ−ト
【図３】本発明方法に係る断面の種類別の判別項の説明
図
図
【図４】本発明方法に係る断面図の種類別の判別項の説
明図
明図
【図５】軸物ワ−クの一例を示す図
【図６】従来のスプライン部の外径測定法を示す図
【図
７】３点法測定法の原理図
７】３点法測定法の原理図
１…軸物ワ−ク、１１０…接触ヘッド。
Claims (1)
- 【請求項１】 軸物ワ−クの外径を２点接触ヘッドで
測定し、次に外径を一定量仕上げ、再測定する如くに繰
返して、製品公差に仕上げるものにおいて、前記２点接
触ヘッドが読込んだ複数個のデ−タから異常値を排除し
たものを第１次デ−タ群とし、これから平均値χ及び標
準偏差σを求め、スプライン断面の場合はχ＋１σ未満
のデ−タを、またキ−溝有断面の場合はχ−０未満のデ
−タを、更にまたオイル孔有断面の場合はχ−１σ未満
のデ−タを、第１次デ−タ群から排除し、残ったデータ
を第２次デ−タ群とし、この第２次デ−タ群から平均値
χ２を求め、これに３点法測定法等の実験室的測定法を
参考にして予め定めた補正値Ｐを加え、このχ２＋補正
値Ｐを、製品公差と比較することで仕上加工と測定とを
繰返すことを特徴とした軸物ワ−クの仕上加工方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11698791A JPH04322950A (ja) | 1991-04-19 | 1991-04-19 | 軸物ワ−クの仕上加工方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11698791A JPH04322950A (ja) | 1991-04-19 | 1991-04-19 | 軸物ワ−クの仕上加工方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04322950A true JPH04322950A (ja) | 1992-11-12 |
Family
ID=14700681
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11698791A Withdrawn JPH04322950A (ja) | 1991-04-19 | 1991-04-19 | 軸物ワ−クの仕上加工方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04322950A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH071290A (ja) * | 1993-06-15 | 1995-01-06 | Tokyo Seimitsu Co Ltd | 寸法異常検出方法 |
-
1991
- 1991-04-19 JP JP11698791A patent/JPH04322950A/ja not_active Withdrawn
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH071290A (ja) * | 1993-06-15 | 1995-01-06 | Tokyo Seimitsu Co Ltd | 寸法異常検出方法 |
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