JPH04299279A - Ｘ線検出器試験装置 - Google Patents
Ｘ線検出器試験装置Info
- Publication number
- JPH04299279A JPH04299279A JP6363891A JP6363891A JPH04299279A JP H04299279 A JPH04299279 A JP H04299279A JP 6363891 A JP6363891 A JP 6363891A JP 6363891 A JP6363891 A JP 6363891A JP H04299279 A JPH04299279 A JP H04299279A
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- JP
- Japan
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- random number
- pulse
- ray
- ray detector
- generator
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- Pending
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 abstract description 10
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
Landscapes
- Measurement Of Radiation (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、Ｘ線検出器の検出回路
を試験するための装置に関する。
を試験するための装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】Ｘ線検出器には、Ｘ線を受けるＸ線検出
部と、Ｘ線を受けたＸ線検出部が生成するパルスをカウ
ントする検出回路が含まれるが、従来、検出回路が正常
に作動するかどうかを試験するために、模擬Ｘ線パルス
発生回路が使用されている。これは、Ｘ線が入射したと
きにＸ線検出部が生成するパルスと同じ形のパルスを発
生させるものであり、これを検出回路に入力し、検出回
路がパルス数を正しくカウントしたり近接するパルスを
分別することができるか否か等を試験するものである。
部と、Ｘ線を受けたＸ線検出部が生成するパルスをカウ
ントする検出回路が含まれるが、従来、検出回路が正常
に作動するかどうかを試験するために、模擬Ｘ線パルス
発生回路が使用されている。これは、Ｘ線が入射したと
きにＸ線検出部が生成するパルスと同じ形のパルスを発
生させるものであり、これを検出回路に入力し、検出回
路がパルス数を正しくカウントしたり近接するパルスを
分別することができるか否か等を試験するものである。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】従来の模擬Ｘ線パルス
発生回路は、一定の周期でパルスを発生するものであっ
た。しかし、実際に測定するＸ線では、通常、各フォト
ンが一定の周期で発生することはあり得ず、フォトンは
Ｘ線検出器にはランダムに入射してくる。従って、従来
の模擬Ｘ線パルス発生回路では検出回路の実際の動作条
件をシミュレートした試験を行なうことができなかった
。本発明は上記課題を解決するために成されたものであ
り、その目的とするところはＸ線検出器の実際の動作条
件に近い状態でその検出回路の動作試験を行なうことの
できる試験装置を提供することにある。
発生回路は、一定の周期でパルスを発生するものであっ
た。しかし、実際に測定するＸ線では、通常、各フォト
ンが一定の周期で発生することはあり得ず、フォトンは
Ｘ線検出器にはランダムに入射してくる。従って、従来
の模擬Ｘ線パルス発生回路では検出回路の実際の動作条
件をシミュレートした試験を行なうことができなかった
。本発明は上記課題を解決するために成されたものであ
り、その目的とするところはＸ線検出器の実際の動作条
件に近い状態でその検出回路の動作試験を行なうことの
できる試験装置を提供することにある。
【０００４】
【課題を解決するための手段】本発明に係るＸ線検出器
試験装置は、所定範囲内の一様乱数を一定周期で発生す
る乱数発生手段と、上記所定範囲内の所定の値を発生す
る閾値発生手段と、乱数発生手段の発生する乱数と閾値
発生手段の発生する所定値とを比較し、乱数が所定値以
上であるとき、又は、乱数が所定値以下であるときに、
生成信号を発生する比較手段と、比較手段が生成信号を
発生したときに模擬Ｘ線パルスを発生するパルス発生手
段とを備えることを特徴とする。
試験装置は、所定範囲内の一様乱数を一定周期で発生す
る乱数発生手段と、上記所定範囲内の所定の値を発生す
る閾値発生手段と、乱数発生手段の発生する乱数と閾値
発生手段の発生する所定値とを比較し、乱数が所定値以
上であるとき、又は、乱数が所定値以下であるときに、
生成信号を発生する比較手段と、比較手段が生成信号を
発生したときに模擬Ｘ線パルスを発生するパルス発生手
段とを備えることを特徴とする。
【０００５】
【作用】ある一定の時間を定めたとき、その時間内にＸ
線検出器に到着するＸ線フォトンの個数はポアソン分布
に従うことが知られている。上記の閾値発生手段の発生
する所定値を所定範囲の上限又は下限に近い値にするこ
とにより、比較手段の発生する生成信号の生起分布をほ
ぼポアソン分布にすることができる。従って、パルス発
生手段から発生する模擬Ｘ線パルスもほぼポアソン分布
に近似した生起確率となり、実際のＸ線の発生状況をほ
ぼシミュレートしたものとなる。
線検出器に到着するＸ線フォトンの個数はポアソン分布
に従うことが知られている。上記の閾値発生手段の発生
する所定値を所定範囲の上限又は下限に近い値にするこ
とにより、比較手段の発生する生成信号の生起分布をほ
ぼポアソン分布にすることができる。従って、パルス発
生手段から発生する模擬Ｘ線パルスもほぼポアソン分布
に近似した生起確率となり、実際のＸ線の発生状況をほ
ぼシミュレートしたものとなる。
【０００６】
【実施例】図１は本発明の一実施例であるＸ線検出器試
験装置の構成を示すブロック図である。本試験装置は、
８ビット乱数発生器１０、８ビットスイッチアレイ１１
、コンパレータ１２、それに擬似Ｘ線パルス発生器１３
の４つのブロックにより構成される。乱数発生器１０と
スイッチアレイ１１はコンパレータ１２の入力に接続さ
れ、コンパレータ１２の出力はパルス発生器１３に入力
される。
験装置の構成を示すブロック図である。本試験装置は、
８ビット乱数発生器１０、８ビットスイッチアレイ１１
、コンパレータ１２、それに擬似Ｘ線パルス発生器１３
の４つのブロックにより構成される。乱数発生器１０と
スイッチアレイ１１はコンパレータ１２の入力に接続さ
れ、コンパレータ１２の出力はパルス発生器１３に入力
される。
【０００７】８ビット乱数発生器１０は、一定時間毎に
８ビットの各ビットについて、ランダムに信号を発生し
又は発生しない回路であり、結局、０から２５５の間の
値を有する一様乱数ＲＮＤを発生する回路である。８ビ
ットスイッチアレイ１１は、８ビットの各ビットについ
て独立に信号を出力し又は出力しないように設定するこ
とのできる回路であり、結局、０から２５５の間のある
一定の値（閾値）ＲＥＦを出力する回路である。コンパ
レータ１２は、乱数発生器１０の発生する値ＲＮＤとス
イッチアレイ１１の出力する閾値ＲＥＦとを比較し、乱
数値ＲＮＤが閾値ＲＥＦよりも小さいとき（ＲＮＤ≦Ｒ
ＥＦ又はＲＮＤ＜ＲＥＦ）のみ矩形パルス１４（上記の
生成信号に相当）を発生する。この矩形パルス１４を受
けた擬似Ｘ線パルス発生器１３は、矩形パルス１４の立
ち上がりに同期して擬似Ｘ線パルス１５を発生する。こ
の擬似Ｘ線パルス１５をＸ線検出器の検出回路に入力す
ることにより、検出回路の動作試験を行なうのである。
８ビットの各ビットについて、ランダムに信号を発生し
又は発生しない回路であり、結局、０から２５５の間の
値を有する一様乱数ＲＮＤを発生する回路である。８ビ
ットスイッチアレイ１１は、８ビットの各ビットについ
て独立に信号を出力し又は出力しないように設定するこ
とのできる回路であり、結局、０から２５５の間のある
一定の値（閾値）ＲＥＦを出力する回路である。コンパ
レータ１２は、乱数発生器１０の発生する値ＲＮＤとス
イッチアレイ１１の出力する閾値ＲＥＦとを比較し、乱
数値ＲＮＤが閾値ＲＥＦよりも小さいとき（ＲＮＤ≦Ｒ
ＥＦ又はＲＮＤ＜ＲＥＦ）のみ矩形パルス１４（上記の
生成信号に相当）を発生する。この矩形パルス１４を受
けた擬似Ｘ線パルス発生器１３は、矩形パルス１４の立
ち上がりに同期して擬似Ｘ線パルス１５を発生する。こ
の擬似Ｘ線パルス１５をＸ線検出器の検出回路に入力す
ることにより、検出回路の動作試験を行なうのである。
【０００８】ここで、この試験装置の発生する擬似Ｘ線
パルスの生起がポアソン分布に従うことを説明する。コ
ンパレータ１２に１個の乱数ＲＮＤが入ったとき、それ
が閾値ＲＥＦよりも小さい（ＲＮＤ≦ＲＥＦ又はＲＮＤ
＜ＲＥＦ）確率ｐは、ＲＮＤが０から２５５の間の一様
乱数であるため、ｐ＝ＲＥＦ／２５６である。ある一定
の期間をとり、その間に乱数がｎ個発生するとすると、
その間にコンパレータ１２がｒ個の矩形パルスを出力す
る確率Ｐｂ（ｒ）は、Ｐｂ（ｒ）＝［ｎ！／｛ｒ！・（
ｎ−ｒ）！｝］ｐｒ（１−ｐ）ｎ−ｒ である。これは二項分布であるが、二項分布は、ｐ→０
、ｎ→∞、ｐ・ｎ→λとしたときにポアソン分布Ｐｐ（
ｒ）＝（λｒ／ｒ！）・ｅｘｐ（−λ）になることが知
られている。従って、スイッチアレイ１１により閾値Ｒ
ＥＦを小さい値に設定しておき（すなわち、ｐを０に近
づける）、乱数発生器１０の発生する乱数の個数ｎを非
常に多くする（あるいは、発生間隔を非常に短くする）
ことにより、本試験装置の発生する擬似Ｘ線パルスの発
生確率はほぼポアソン分布に従うようになる。なお、上
記実施例ではコンパレータ１２におけるパルス発生基準
をＲＮＤ≦ＲＥＦとしたが、逆にＲＮＤ≧ＲＥＦとし、
ＲＥＦを大きい値に設定しても全く同様である。
パルスの生起がポアソン分布に従うことを説明する。コ
ンパレータ１２に１個の乱数ＲＮＤが入ったとき、それ
が閾値ＲＥＦよりも小さい（ＲＮＤ≦ＲＥＦ又はＲＮＤ
＜ＲＥＦ）確率ｐは、ＲＮＤが０から２５５の間の一様
乱数であるため、ｐ＝ＲＥＦ／２５６である。ある一定
の期間をとり、その間に乱数がｎ個発生するとすると、
その間にコンパレータ１２がｒ個の矩形パルスを出力す
る確率Ｐｂ（ｒ）は、Ｐｂ（ｒ）＝［ｎ！／｛ｒ！・（
ｎ−ｒ）！｝］ｐｒ（１−ｐ）ｎ−ｒ である。これは二項分布であるが、二項分布は、ｐ→０
、ｎ→∞、ｐ・ｎ→λとしたときにポアソン分布Ｐｐ（
ｒ）＝（λｒ／ｒ！）・ｅｘｐ（−λ）になることが知
られている。従って、スイッチアレイ１１により閾値Ｒ
ＥＦを小さい値に設定しておき（すなわち、ｐを０に近
づける）、乱数発生器１０の発生する乱数の個数ｎを非
常に多くする（あるいは、発生間隔を非常に短くする）
ことにより、本試験装置の発生する擬似Ｘ線パルスの発
生確率はほぼポアソン分布に従うようになる。なお、上
記実施例ではコンパレータ１２におけるパルス発生基準
をＲＮＤ≦ＲＥＦとしたが、逆にＲＮＤ≧ＲＥＦとし、
ＲＥＦを大きい値に設定しても全く同様である。
【０００９】
【発明の効果】本発明による試験装置では、ほぼポアソ
ン分布に従った擬似Ｘ線パルスを発生することができる
ため、実際に近い条件でＸ線検出器の検出回路の動作試
験を行なうことができるようになる。
ン分布に従った擬似Ｘ線パルスを発生することができる
ため、実際に近い条件でＸ線検出器の検出回路の動作試
験を行なうことができるようになる。
【図１】 本発明の一実施例である試験装置の構成を
示すブロック図。
示すブロック図。
１０…８ビット一様乱数発生器
１１…８ビットスイッチアレイ（閾値発生器）１２…コ
ンパレータ １３…擬似Ｘ線パルス発生器
ンパレータ １３…擬似Ｘ線パルス発生器
Claims (1)
- 【請求項１】 所定範囲内の一様乱数を一定周期で発
生する乱数発生手段と、上記所定範囲内の所定の値を発
生する閾値発生手段と、乱数発生手段の発生する乱数と
閾値発生手段の発生する所定値とを比較し、乱数が所定
値以上であるとき、又は、乱数が所定値以下であるとき
に、生成信号を発生する比較手段と、比較手段が生成信
号を発生したときに模擬Ｘ線パルスを発生するパルス発
生手段とを備えることを特徴とするＸ線検出器試験装置
。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6363891A JPH04299279A (ja) | 1991-03-28 | 1991-03-28 | Ｘ線検出器試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6363891A JPH04299279A (ja) | 1991-03-28 | 1991-03-28 | Ｘ線検出器試験装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04299279A true JPH04299279A (ja) | 1992-10-22 |
Family
ID=13235101
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6363891A Pending JPH04299279A (ja) | 1991-03-28 | 1991-03-28 | Ｘ線検出器試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04299279A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001074844A (ja) * | 1999-09-01 | 2001-03-23 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | ポケット線量計 |
| EP1088516A2 (en) * | 1999-08-19 | 2001-04-04 | General Electric Company | Apparatus and method for detecting defects in a multi-channel scan driver |
| JP2006304839A (ja) * | 2005-04-26 | 2006-11-09 | Shimadzu Corp | 光または放射線撮像装置 |
| WO2009116176A1 (ja) * | 2008-03-21 | 2009-09-24 | 株式会社島津製作所 | 擬似パルス生成器 |
-
1991
- 1991-03-28 JP JP6363891A patent/JPH04299279A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1088516A2 (en) * | 1999-08-19 | 2001-04-04 | General Electric Company | Apparatus and method for detecting defects in a multi-channel scan driver |
| JP2001074844A (ja) * | 1999-09-01 | 2001-03-23 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | ポケット線量計 |
| JP2006304839A (ja) * | 2005-04-26 | 2006-11-09 | Shimadzu Corp | 光または放射線撮像装置 |
| JP4617987B2 (ja) * | 2005-04-26 | 2011-01-26 | 株式会社島津製作所 | 光または放射線撮像装置 |
| WO2009116176A1 (ja) * | 2008-03-21 | 2009-09-24 | 株式会社島津製作所 | 擬似パルス生成器 |
| JP5007768B2 (ja) * | 2008-03-21 | 2012-08-22 | 株式会社島津製作所 | 擬似パルス生成器 |
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