JPH04294284A - 回路網分析器の較正方法 - Google Patents
回路網分析器の較正方法Info
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- JPH04294284A JPH04294284A JP3357387A JP35738791A JPH04294284A JP H04294284 A JPH04294284 A JP H04294284A JP 3357387 A JP3357387 A JP 3357387A JP 35738791 A JP35738791 A JP 35738791A JP H04294284 A JPH04294284 A JP H04294284A
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims abstract description 62
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 30
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 3
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 101000582320 Homo sapiens Neurogenic differentiation factor 6 Proteins 0.000 description 1
- 102100030589 Neurogenic differentiation factor 6 Human genes 0.000 description 1
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R35/00—Testing or calibrating of apparatus covered by the other groups of this subclass
- G01R35/005—Calibrating; Standards or reference devices, e.g. voltage or resistance standards, "golden" references
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は較正測定が２つの試験
端子間に結合された異なる構成標準について任意の所望
の順序で引き続いて次々と行われる回路網分析の方法に
向けられている。
端子間に結合された異なる構成標準について任意の所望
の順序で引き続いて次々と行われる回路網分析の方法に
向けられている。
【０００２】
【従来の技術】従来のタイプの回路網分析器の較正方法
は既知である。例えば米国特許明細書４，９８２，１６
４の方法では、４つの較正測定を実施すべき２つの試験
端子の直接接続を２端子通し試験回路として使用するこ
とが好まれる。次に少なくとも更に３つの較正測定が、
更なる２つの較正標準について実施される。例えば既知
の反射をもつ１端子の反射試験回路同米国特許明細書の
記載及び図面においてＲが、前記２つの試験端子に順次
に連結される第２の較正標準として使用される。そのた
めに整合負荷回路Ｍが使用されることが好ましい。しか
しこの第２の較正標準の反射とは異なる任意の反射を行
なう１端子回路が、第３の較正標準として使用される。 例えば、それらは２つの試験端子の一方のみに連結され
る短絡回路Ｓまたは開回路Ｏ等である。普通に使用され
ている１２項目較正方法（“Ｎｅｕｅｓ ｖｏｎ
Ｒｏｈｄｅ ＆ Ｓｃｈｗａｒｚ”１０８号１９８
４／８５の冬季号２６頁と２７頁）と比較して、この既
知の較正方法はより単純である。その理由は複素分散パ
ラメータのすべてが既知であるところの較正２端子回路
（例えば２端子回路Ｔ）のほかには、あと３つの較正標
準（例えばＭ１，Ｍ２．Ｓ１）さえあればよいからであ
る。
は既知である。例えば米国特許明細書４，９８２，１６
４の方法では、４つの較正測定を実施すべき２つの試験
端子の直接接続を２端子通し試験回路として使用するこ
とが好まれる。次に少なくとも更に３つの較正測定が、
更なる２つの較正標準について実施される。例えば既知
の反射をもつ１端子の反射試験回路同米国特許明細書の
記載及び図面においてＲが、前記２つの試験端子に順次
に連結される第２の較正標準として使用される。そのた
めに整合負荷回路Ｍが使用されることが好ましい。しか
しこの第２の較正標準の反射とは異なる任意の反射を行
なう１端子回路が、第３の較正標準として使用される。 例えば、それらは２つの試験端子の一方のみに連結され
る短絡回路Ｓまたは開回路Ｏ等である。普通に使用され
ている１２項目較正方法（“Ｎｅｕｅｓ ｖｏｎ
Ｒｏｈｄｅ ＆ Ｓｃｈｗａｒｚ”１０８号１９８
４／８５の冬季号２６頁と２７頁）と比較して、この既
知の較正方法はより単純である。その理由は複素分散パ
ラメータのすべてが既知であるところの較正２端子回路
（例えば２端子回路Ｔ）のほかには、あと３つの較正標
準（例えばＭ１，Ｍ２．Ｓ１）さえあればよいからであ
る。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかし上記の方法は、
一般に使用されている１２項目較正方法の欠点を除去で
きるものではない。その欠点とは、試験端子の両方が、
これら追加試験のために較正用の１端子回路に接近する
ことが必要と言うことである。その理由は、１端子回路
の１つ、例えば整合した負荷Ｍは、なお２つの試験端子
に連結されねばならないからである。それゆえ本発明の
目的は、もっと容易に実施できる回路網分析器の較正方
法で、その回路分析器はより一層単純な較正標準のみを
要するものを提供することである。
一般に使用されている１２項目較正方法の欠点を除去で
きるものではない。その欠点とは、試験端子の両方が、
これら追加試験のために較正用の１端子回路に接近する
ことが必要と言うことである。その理由は、１端子回路
の１つ、例えば整合した負荷Ｍは、なお２つの試験端子
に連結されねばならないからである。それゆえ本発明の
目的は、もっと容易に実施できる回路網分析器の較正方
法で、その回路分析器はより一層単純な較正標準のみを
要するものを提供することである。
【０００４】
【課題を解決するための手段】本発明の方法は、２つの
試験端子間に結合された異なる較正標準について、任意
の所望順序で順次に較正測定を行う回路網分析器の較正
方法であって、第１の較正標準として、複素分散パラメ
ータのすべてが既知であり、且つ前記２つの試験端子間
に連結される２端子回路を使用し、また更なる較正標準
（複数）として相互に異なるが任意の反射を有する１端
子回路で前記の２つの試験端子の一方に順次的に連結さ
れるか、あるいは任意の所望の組合せで両試験端子に連
結される３つの１端子回路を使用する、ことを特徴とす
る。
試験端子間に結合された異なる較正標準について、任意
の所望順序で順次に較正測定を行う回路網分析器の較正
方法であって、第１の較正標準として、複素分散パラメ
ータのすべてが既知であり、且つ前記２つの試験端子間
に連結される２端子回路を使用し、また更なる較正標準
（複数）として相互に異なるが任意の反射を有する１端
子回路で前記の２つの試験端子の一方に順次的に連結さ
れるか、あるいは任意の所望の組合せで両試験端子に連
結される３つの１端子回路を使用する、ことを特徴とす
る。
【０００５】
【作用】本発明による方法を用いると、両試験端子で実
施せねばならない１端子回路について行う更なる追加の
較正測定がも早不必要であり、３つの１端子回路を２つ
の試験端子の一方にだけ順次的に連結することが可能と
なる。この方法はまた、ある理由から２つの試験端子の
１つには接続できないか、または接続が困難であるよう
な回路網分析器についての較正測定をも可能にする。２
つの試験端子の内いずれに１端子回路が連結されるかは
本発明の方法にとって重要ではないので、この方法によ
れば、２つの試験端子が例えば一方は同軸線路コネクタ
であり他方は同軸線路ジャックであると云うように異な
った構成をもった回路網分析器でも、簡単な仕方で較正
できる。そのような回路網分析器の較正を行なうための
各種の較正用の１端子回路の接続部は、同軸線路コネク
タの端子かまたは同軸線路ジャック端子の何れにするこ
ともできる。それ故、ユーザの利用のために準備される
べき較正標準の数と種類は、実質的に削減され、単純化
される。本発明による方法を使用すると、較正諸定数は
、そのような回路網分析器に通常に設けられていて給電
している無線周波数信号発生器に２つの試験回路を結合
するところの、転極器の特性によっては影響されない。 そのため、上記転極器の性質についての分離と再現性の
点に関して極端な要求は生じない。この発明のその他の
目的、特徴、および利点、その構成、構造および動作は
、添付図面を用いて行なわれる以下の詳細な説明から最
もよく理解される。
施せねばならない１端子回路について行う更なる追加の
較正測定がも早不必要であり、３つの１端子回路を２つ
の試験端子の一方にだけ順次的に連結することが可能と
なる。この方法はまた、ある理由から２つの試験端子の
１つには接続できないか、または接続が困難であるよう
な回路網分析器についての較正測定をも可能にする。２
つの試験端子の内いずれに１端子回路が連結されるかは
本発明の方法にとって重要ではないので、この方法によ
れば、２つの試験端子が例えば一方は同軸線路コネクタ
であり他方は同軸線路ジャックであると云うように異な
った構成をもった回路網分析器でも、簡単な仕方で較正
できる。そのような回路網分析器の較正を行なうための
各種の較正用の１端子回路の接続部は、同軸線路コネク
タの端子かまたは同軸線路ジャック端子の何れにするこ
ともできる。それ故、ユーザの利用のために準備される
べき較正標準の数と種類は、実質的に削減され、単純化
される。本発明による方法を使用すると、較正諸定数は
、そのような回路網分析器に通常に設けられていて給電
している無線周波数信号発生器に２つの試験回路を結合
するところの、転極器の特性によっては影響されない。 そのため、上記転極器の性質についての分離と再現性の
点に関して極端な要求は生じない。この発明のその他の
目的、特徴、および利点、その構成、構造および動作は
、添付図面を用いて行なわれる以下の詳細な説明から最
もよく理解される。
【０００６】
【実施例】第１図は、例えばローデ ウント シユ
バルツの回路網分析器ＺＰＶ−ｚ５の原理に基づいて設
計された型の回路網分析器の基本的回路図である。この
タイプの分析器は、４つの試験点を含み且つその間に被
試験物３を連結できる２つの試験端子１と２を備えてい
る。 試験端子１は、４端子回路４を通って測定枝路５に連結
されている。他方試験端子２は、４端子回路６を通って
測定枝路７に連結されている。２つの４端子回路４およ
び６は、測定ブリッジまたは方向性結合器として設計す
ることができ、且つそれぞれ信号検出器８，９および１
０，１１に連結され、それらによって大きさと位相の電
圧測定を行うことができる。２つの測定枝路５および７
は、単純な転極器のような３端子装置１２を通って無線
周波数信号発生器１３に交互に結合されうる。この種の
回路網分析器を使って、第１図に示された複素反射率Ｓ
１１とＳ２２および複素透過率Ｓ１２とＳ２１を測定す
ることができる。
バルツの回路網分析器ＺＰＶ−ｚ５の原理に基づいて設
計された型の回路網分析器の基本的回路図である。この
タイプの分析器は、４つの試験点を含み且つその間に被
試験物３を連結できる２つの試験端子１と２を備えてい
る。 試験端子１は、４端子回路４を通って測定枝路５に連結
されている。他方試験端子２は、４端子回路６を通って
測定枝路７に連結されている。２つの４端子回路４およ
び６は、測定ブリッジまたは方向性結合器として設計す
ることができ、且つそれぞれ信号検出器８，９および１
０，１１に連結され、それらによって大きさと位相の電
圧測定を行うことができる。２つの測定枝路５および７
は、単純な転極器のような３端子装置１２を通って無線
周波数信号発生器１３に交互に結合されうる。この種の
回路網分析器を使って、第１図に示された複素反射率Ｓ
１１とＳ２２および複素透過率Ｓ１２とＳ２１を測定す
ることができる。
【０００７】被試験物の測定に際し、後の検討のためそ
のような回路網分析器のシステム誤差を決定するために
、較正標準に基づく較正方法が、被試験物の測定に先立
って実施され、このとき第２図に示すような各種の較正
標準が第１図の被試験物３の代わりに試験端子１および
２に連結される。最初、第１の較正段階において、すべ
ての複素散乱パラメータが既知な２端子回路からなる標
準回路Ｔが、２つの試験端子１と２の間に連結される。 好ましくは、上記２端子回路からなる標準回路Ｔが、２
つの試験端子１、２間の直接接続として設計される。し
かし他の２端子回路、例えば分散パラメータが全部既知
である対応寸法とした線路などもまた好適である。そし
て、それ自体は既知な４つの較正測定が、上記較正標準
回路Ｔに基づいて実施され、その標準回路Ｔから対応す
るマトリツクス要素が、以下の数学的説明に従って決定
できる。その後、任意ではあるが相互に異なり、且つ既
知の反射をもつ更に３つの１端子回路Ｍ，ＳおよびＯが
、連結される。これらの１端子回路Ｍ，Ｓ，Ｏは、試験
端子１または２の一方または両方に順次に連結してもよ
く、あるいは両試験端子１または２に、任意の所望の組
合せで連結されてもよい。第２図に示す実施例では、例
えば第１の１端子回路Ｍは整合負荷であり、第２の１端
子回路Ｓは短絡回路であり、第３の１端子部Ｏは開回路
である。しかしこれらの１端子Ｍ，ＳおよびＯは、任意
の所望の別の種類のものとすることもでき、それらは、
任意の反射状態を示すように、対応する長さを持つ予め
接続された線路を有する短絡回路であってもよい。ただ
重要なことは、それらの１端子が、相互に異なる反射を
示さねばならないということである。
のような回路網分析器のシステム誤差を決定するために
、較正標準に基づく較正方法が、被試験物の測定に先立
って実施され、このとき第２図に示すような各種の較正
標準が第１図の被試験物３の代わりに試験端子１および
２に連結される。最初、第１の較正段階において、すべ
ての複素散乱パラメータが既知な２端子回路からなる標
準回路Ｔが、２つの試験端子１と２の間に連結される。 好ましくは、上記２端子回路からなる標準回路Ｔが、２
つの試験端子１、２間の直接接続として設計される。し
かし他の２端子回路、例えば分散パラメータが全部既知
である対応寸法とした線路などもまた好適である。そし
て、それ自体は既知な４つの較正測定が、上記較正標準
回路Ｔに基づいて実施され、その標準回路Ｔから対応す
るマトリツクス要素が、以下の数学的説明に従って決定
できる。その後、任意ではあるが相互に異なり、且つ既
知の反射をもつ更に３つの１端子回路Ｍ，ＳおよびＯが
、連結される。これらの１端子回路Ｍ，Ｓ，Ｏは、試験
端子１または２の一方または両方に順次に連結してもよ
く、あるいは両試験端子１または２に、任意の所望の組
合せで連結されてもよい。第２図に示す実施例では、例
えば第１の１端子回路Ｍは整合負荷であり、第２の１端
子回路Ｓは短絡回路であり、第３の１端子部Ｏは開回路
である。しかしこれらの１端子Ｍ，ＳおよびＯは、任意
の所望の別の種類のものとすることもでき、それらは、
任意の反射状態を示すように、対応する長さを持つ予め
接続された線路を有する短絡回路であってもよい。ただ
重要なことは、それらの１端子が、相互に異なる反射を
示さねばならないということである。
【０００８】これら３つの追加の１端子回路Ｍ，Ｓ，Ｏ
は、第３図の表に図式的に示したように、試験端子１と
２に、所望の任意の組合せで順次的に連結される。例え
ば、この表の最上の列と最下の行により示したように、
３つの１端子回路Ｍ，ＳおよびＯのすべてをただ一つの
試験端子１あるいは試験端子２に、順次に連結すればよ
い。Ｔ，Ｍ，Ｓ，Ｏの４つの較正標準回路についての全
部で７回の測定、即ち２端子回路Ｔについての４回の測
定およびそれに続いて更に１端子回路Ｍ，Ｓ及びＯにつ
いての３回の測定を行って、下記の数学的記述に従って
回路網分析器の較正定数を計算するために必要なすべて
のパラメータを決定することができる。以下の記述に関
しては、次のように仮定することとする。すなわちそれ
ぞれ４端子回路４および６について実際に利用できる測
定値ｍ１′ｍ２′ｍ３及びｍ４に対する各試験端子用の
第１図の波の値ａ３Ａ′ｂ３Ａ′ｂ１Ｂ′ａ１Ｂをマツ
ピングするための一対の線形マツプがあるとする。そし
て後者ｍ１′ｍ２′ｍ３′ｍ４は、大抵はそれぞれ信号
検出器８、９および１０．１１のＡ−Ｄ変換器の出力に
おけるデイジタル値である。
は、第３図の表に図式的に示したように、試験端子１と
２に、所望の任意の組合せで順次的に連結される。例え
ば、この表の最上の列と最下の行により示したように、
３つの１端子回路Ｍ，ＳおよびＯのすべてをただ一つの
試験端子１あるいは試験端子２に、順次に連結すればよ
い。Ｔ，Ｍ，Ｓ，Ｏの４つの較正標準回路についての全
部で７回の測定、即ち２端子回路Ｔについての４回の測
定およびそれに続いて更に１端子回路Ｍ，Ｓ及びＯにつ
いての３回の測定を行って、下記の数学的記述に従って
回路網分析器の較正定数を計算するために必要なすべて
のパラメータを決定することができる。以下の記述に関
しては、次のように仮定することとする。すなわちそれ
ぞれ４端子回路４および６について実際に利用できる測
定値ｍ１′ｍ２′ｍ３及びｍ４に対する各試験端子用の
第１図の波の値ａ３Ａ′ｂ３Ａ′ｂ１Ｂ′ａ１Ｂをマツ
ピングするための一対の線形マツプがあるとする。そし
て後者ｍ１′ｍ２′ｍ３′ｍ４は、大抵はそれぞれ信号
検出器８、９および１０．１１のＡ−Ｄ変換器の出力に
おけるデイジタル値である。
【０００９】
【数１】
【００１０】
【数２】
【００１１】これらの式は、既知の方法で代数変換によ
り得られる。２つの試験端子１および２が、任意の２端
子回路に連結されるとき、以下の種類の測定値マトリッ
クスが得られる。
り得られる。２つの試験端子１および２が、任意の２端
子回路に連結されるとき、以下の種類の測定値マトリッ
クスが得られる。
【００１２】
【数３】
【００１３】この式（３）において、Ｎは、試験端子間
に連結されている２端子の透過パラメータのマトリツク
スである。測定値のマトリックスＭは、それぞれ測定値
ｍとｍ′から形成され、各ｍ値は、転極器１２の切換位
置Ｉ上で得られる。他方各ｍ′値は、切換位置ＩＩで得
られる。式（３）のマトリックスＡおよびＢは、求める
ところの較正定数である。個々の較正標準Ｔ，Ｍ，Ｓと
Ｏでの較正測定の順序は、基本的には任意であるが、以
下の例では、つぎのようであるものとする。すなわち、
最初較正測定は２端子回路Ｔについて行い、その後にお
いてのみ１端子回路Ｍ，ＳおよびＯについての較正測定
を行う。次の例では更に以下のように仮定する。すなわ
ち、２端子回路Ｔとして２つの試験端子１と２の直接の
通し接続Ｔが行われる。しかしこの単純化は、以下の記
述の一般性に何の影響も与えない。通し接続Ｔに対して
以下の測定値マトリックスが成り立つ。
に連結されている２端子の透過パラメータのマトリツク
スである。測定値のマトリックスＭは、それぞれ測定値
ｍとｍ′から形成され、各ｍ値は、転極器１２の切換位
置Ｉ上で得られる。他方各ｍ′値は、切換位置ＩＩで得
られる。式（３）のマトリックスＡおよびＢは、求める
ところの較正定数である。個々の較正標準Ｔ，Ｍ，Ｓと
Ｏでの較正測定の順序は、基本的には任意であるが、以
下の例では、つぎのようであるものとする。すなわち、
最初較正測定は２端子回路Ｔについて行い、その後にお
いてのみ１端子回路Ｍ，ＳおよびＯについての較正測定
を行う。次の例では更に以下のように仮定する。すなわ
ち、２端子回路Ｔとして２つの試験端子１と２の直接の
通し接続Ｔが行われる。しかしこの単純化は、以下の記
述の一般性に何の影響も与えない。通し接続Ｔに対して
以下の測定値マトリックスが成り立つ。
【００１４】
【数４】
【００１５】それ故、４つのマトリツクス要素は、２端
子回路Ｔにおける４つの較正測定により得ることができ
る。その後、更に３つの較正測定が、第３図の表に従っ
て、試験端子１または試験端子２に任意に接続されてい
る１端子回路Ｍ，ＳおよびＯについて行われる。１端子
回路Ｍ，ＳおよびＯについてのこれら３つの較正測定は
、以下の方程式により表わされる。
子回路Ｔにおける４つの較正測定により得ることができ
る。その後、更に３つの較正測定が、第３図の表に従っ
て、試験端子１または試験端子２に任意に接続されてい
る１端子回路Ｍ，ＳおよびＯについて行われる。１端子
回路Ｍ，ＳおよびＯについてのこれら３つの較正測定は
、以下の方程式により表わされる。
【００１６】
【数５】
【００１７】ここにｒＡｉは、試験端子１につながれた
回路の較正反射係数、すなわち第３図の表の左側半分か
ら得られる反射係数を示す。これは試験端子２について
のｒＢｉに対しても同様である。一般的な意味において
、上記の（５）の第１の式は、端子１における１端子測
定を記述し、また（５）の第２の式は、端子２における
同様測定についてあてはまる。式（４）によりＢｉｊを
消去することによって、大きさＡｉｊに関して線型であ
る２つのタイプの方程式が誘導される。
回路の較正反射係数、すなわち第３図の表の左側半分か
ら得られる反射係数を示す。これは試験端子２について
のｒＢｉに対しても同様である。一般的な意味において
、上記の（５）の第１の式は、端子１における１端子測
定を記述し、また（５）の第２の式は、端子２における
同様測定についてあてはまる。式（４）によりＢｉｊを
消去することによって、大きさＡｉｊに関して線型であ
る２つのタイプの方程式が誘導される。
【００１８】
【数６】
【００１９】ここに
【００２０】
【数７】
【００２１】これらの式が同次であるから、４つの異な
るＡｉｊを決定することは不可能であるが、しかしそれ
は較正を行うためには必要でない。このことは、次に解
が関係するところのものに或る値を与えねばならないこ
とを意味している。この場合一般性への限定な（Ａ２２
＝１を選択しよう、そうすると式が下のように変形され
る。
るＡｉｊを決定することは不可能であるが、しかしそれ
は較正を行うためには必要でない。このことは、次に解
が関係するところのものに或る値を与えねばならないこ
とを意味している。この場合一般性への限定な（Ａ２２
＝１を選択しよう、そうすると式が下のように変形され
る。
【００２２】
【数８】
【００２３】上記の更なる３つの較正測定のためには、
このタイプの３つの方程式が必要である。これらの式が
３つとも（８ａ）タイプがまたは３つとも（８ｂ）タイ
プか、あるいは両タイプの混合したものであるかは、第
３図の表による組合せの如何によって決まり、個々の１
端子回路Ｍ，ＳおよびＯは、試験端子１および２に連結
される。例えば、表の第２列においては、１端子回路Ｍ
および１端子回路Ｓは、順次に試験端子１に連結され、
その後１端子回路Ｏが試験端子２に連結されるが、（８
ａ）タイプの２つの式と（８ｂ）タイプの１つの式が必
要であり、その結果マトリックスＡについて以下の条件
式が生じる。
このタイプの３つの方程式が必要である。これらの式が
３つとも（８ａ）タイプがまたは３つとも（８ｂ）タイ
プか、あるいは両タイプの混合したものであるかは、第
３図の表による組合せの如何によって決まり、個々の１
端子回路Ｍ，ＳおよびＯは、試験端子１および２に連結
される。例えば、表の第２列においては、１端子回路Ｍ
および１端子回路Ｓは、順次に試験端子１に連結され、
その後１端子回路Ｏが試験端子２に連結されるが、（８
ａ）タイプの２つの式と（８ｂ）タイプの１つの式が必
要であり、その結果マトリックスＡについて以下の条件
式が生じる。
【００２４】
【数９】
【００２５】マトリックスＡが、このように決定された
とき、マトリックスＢは、次のようになる。
とき、マトリックスＢは、次のようになる。
【００２６】
【数１０】
【００２７】これで較正は完了する。いまや、２つの較
正マトリックスＡおよびＢにより、次式の関係によって
、関連する測定値マトリックスＭＸから、単純なマトリ
ツクス乗算を経て、任意の希望する試験項目のパラメー
タＮＸを計算することが可能である。
正マトリックスＡおよびＢにより、次式の関係によって
、関連する測定値マトリックスＭＸから、単純なマトリ
ツクス乗算を経て、任意の希望する試験項目のパラメー
タＮＸを計算することが可能である。
【００２８】
【数１１】
【００２９】この数学的記述が示すことは次の通りであ
る。即ち本発明の方法によれば、３つの異なる１端子回
路が任意の所望の組合せでそれぞれ試験端子１および２
に順次に連結されたときに、回路網分析器を正確に較正
することが可能である。
る。即ち本発明の方法によれば、３つの異なる１端子回
路が任意の所望の組合せでそれぞれ試験端子１および２
に順次に連結されたときに、回路網分析器を正確に較正
することが可能である。
【００３０】
【発明の効果】この発明によれば両試験端子で実施せね
ばならない１端子回路についての更なる較正測定が不必
要となり、３つの１端子回路を２つの試験端子の一方に
だけ順次的に連結することが可能となる。そしてそれ故
、２つの試験端子の１つには接続できないか、または接
続が困難であるような回路網分析器について較正測定が
可能になる。この方法によれば、２つの試験端子が、例
えば一方は同軸線路コネクタであり他方は同軸線路ジャ
ックであると云うように異なった構成をもった回路網分
析器でも、簡単な仕方で較正できる。１端子回路の接続
部は、同軸線路コネクタの端子かまたは同軸線路ジャッ
ク端子の何れにすることもでき、それ故、ユーザの利用
のために準備すべき較正標準の数と種類は、実質的に削
減され、単純化される。以上に我々の発明をその特定の
図解の実施例を参照して説明したが、この発明の多くの
変型と修正型は、この発明の精神と範囲から逸脱するこ
となく、この技術分野に熟練した人達には明かになるで
あろう。それ故我々は、そのような変形および修正型が
、この技術に対する我々の寄与の範囲内に正当に且つ適
切に含めてよいものとして、権利を与えられた特許の範
囲内に含めることを意図するものである。
ばならない１端子回路についての更なる較正測定が不必
要となり、３つの１端子回路を２つの試験端子の一方に
だけ順次的に連結することが可能となる。そしてそれ故
、２つの試験端子の１つには接続できないか、または接
続が困難であるような回路網分析器について較正測定が
可能になる。この方法によれば、２つの試験端子が、例
えば一方は同軸線路コネクタであり他方は同軸線路ジャ
ックであると云うように異なった構成をもった回路網分
析器でも、簡単な仕方で較正できる。１端子回路の接続
部は、同軸線路コネクタの端子かまたは同軸線路ジャッ
ク端子の何れにすることもでき、それ故、ユーザの利用
のために準備すべき較正標準の数と種類は、実質的に削
減され、単純化される。以上に我々の発明をその特定の
図解の実施例を参照して説明したが、この発明の多くの
変型と修正型は、この発明の精神と範囲から逸脱するこ
となく、この技術分野に熟練した人達には明かになるで
あろう。それ故我々は、そのような変形および修正型が
、この技術に対する我々の寄与の範囲内に正当に且つ適
切に含めてよいものとして、権利を与えられた特許の範
囲内に含めることを意図するものである。
【図１】回路網分析器の基本的回路図。
【図２】較正用１端子を連結するための種々の可能性を
示す図。
示す図。
【図３】第２図の種々の連結の関係を示す図。
１ 試験端子
２ 試験端子
３ 被試験物
４ ４端子回路
５ 測定枝路
６ ４端子回路
７ 測定枝路
８ 信号検出器
９ 信号検出器
１０ 信号検出器
１１ 信号検出器
１２ ３端子装置
１３ 無線周波数信号発生器
Ｔ ２端子回路網
Ｍ，Ｓ，Ｏ １端子回路網
Claims (6)
- 【請求項１】 ２つの試験端子間に結合された異なる
較正標準について、任意の所望順序で順次に較正測定を
行う回路網分析器の較正方法であって、第１の較正標準
として、複素分散パラメータのすべてが既知であり、且
つ前記２つの試験端子間に連結される２端子回路を使用
し、また更なる較正標準（複数）として相互に異なるが
任意の反射を有する１端子回路であって、前記の２つの
試験端子の一方に順次的に連結されるか、あるいは任意
の所望の組合せで両試験端子に連結される３つの１端子
回路を使用する、ことを特徴とする回路網分析器の較正
方法。 - 【請求項２】 請求項１による方法であって、２端子
回路が２つの試験端子の直接接続として構成されている
ことを特徴とする方法。 - 【請求項３】 請求項１による方法であって、１端子
回路の１つが、整合した１端子回路であることを特徴と
する方法。 - 【請求項４】 請求項１による方法であって、１端子
回路の１つが短絡回路として構成されていることを特徴
とする方法。 - 【請求項５】 請求項１による方法であって、１端子
回路の１つが、開回路として構成されていることを特徴
とする方法。 - 【請求項６】 請求項１による方法であって、１端子
回路の１つまたは数個が、所定長さの予め接続された線
路を有する短絡回路として構成されていることを特徴と
する方法。
Applications Claiming Priority (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE4038045 | 1990-11-29 | ||
| DE4038045.9 | 1991-08-02 | ||
| DE4125624A DE4125624C2 (de) | 1990-11-29 | 1991-08-02 | Verfahren zum Kalibrieren eines Netzwerkanalysators |
| DE4125624.7 | 1991-08-02 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04294284A true JPH04294284A (ja) | 1992-10-19 |
| JPH0718904B2 JPH0718904B2 (ja) | 1995-03-06 |
Family
ID=25898885
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3357387A Expired - Fee Related JPH0718904B2 (ja) | 1990-11-29 | 1991-11-29 | 回路網分析器の較正方法 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5313166A (ja) |
| JP (1) | JPH0718904B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2016528515A (ja) * | 2013-08-26 | 2016-09-15 | ローゼンベルガー ホーフフレクベンツテクニーク ゲーエムベーハー ウント ツェーオー カーゲー | 検査装置構成を校正する方法 |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| DE4332273C2 (de) * | 1992-12-12 | 1997-09-25 | Rohde & Schwarz | Verfahren zum Kalibrieren eines Netzwerkanalysators |
| US5587934A (en) * | 1993-10-21 | 1996-12-24 | Wiltron Company | Automatic VNA calibration apparatus |
| JP2807177B2 (ja) * | 1994-07-27 | 1998-10-08 | 日本ヒューレット・パッカード株式会社 | 回路網測定装置及び校正方法 |
| DE4435559A1 (de) * | 1994-10-05 | 1996-04-11 | Holger Heuermann | Verfahren zur Durchführung elektrischer Präzisionsmessungen mit Selbstkontrolle |
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| US5825669A (en) * | 1996-12-17 | 1998-10-20 | Wiltron Company | Method of updating automatic calibration to provide a perceived perfect through connection |
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| US8436626B2 (en) * | 2009-12-17 | 2013-05-07 | Taiwan Semiconductor Manfacturing Company, Ltd. | Cascaded-based de-embedding methodology |
| US9841449B2 (en) * | 2015-11-30 | 2017-12-12 | Keysight Technologies, Inc. | Apparatus and method for cable phase correction for vector analyzer remote heads |
| US11474137B2 (en) * | 2020-09-18 | 2022-10-18 | Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg | Test system |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4853613A (en) * | 1987-10-27 | 1989-08-01 | Martin Marietta Corporation | Calibration method for apparatus evaluating microwave/millimeter wave circuits |
| US4982164A (en) * | 1988-04-22 | 1991-01-01 | Rhode & Schwarz Gmbh & Co. K.G. | Method of calibrating a network analyzer |
| DE3911254A1 (de) * | 1989-04-07 | 1990-10-11 | Eul Hermann Josef Dipl Ing | Verfahren zur etablierung der komplexen messfaehigkeit homodyner netzwerkanalysevorrichtungen |
-
1991
- 1991-10-10 US US07/774,604 patent/US5313166A/en not_active Expired - Lifetime
- 1991-11-29 JP JP3357387A patent/JPH0718904B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2016528515A (ja) * | 2013-08-26 | 2016-09-15 | ローゼンベルガー ホーフフレクベンツテクニーク ゲーエムベーハー ウント ツェーオー カーゲー | 検査装置構成を校正する方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0718904B2 (ja) | 1995-03-06 |
| US5313166A (en) | 1994-05-17 |
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