JPH04290936A - 容量式マノメータのためのセンサ - Google Patents
容量式マノメータのためのセンサInfo
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- JPH04290936A JPH04290936A JP3260090A JP26009091A JPH04290936A JP H04290936 A JPH04290936 A JP H04290936A JP 3260090 A JP3260090 A JP 3260090A JP 26009091 A JP26009091 A JP 26009091A JP H04290936 A JPH04290936 A JP H04290936A
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- Japan
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- electrodes
- diaphragm
- substrate
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- disk
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01L—MEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
- G01L9/00—Measuring steady of quasi-steady pressure of fluid or fluent solid material by electric or magnetic pressure-sensitive elements; Transmitting or indicating the displacement of mechanical pressure-sensitive elements, used to measure the steady or quasi-steady pressure of a fluid or fluent solid material, by electric or magnetic means
- G01L9/0041—Transmitting or indicating the displacement of flexible diaphragms
- G01L9/0072—Transmitting or indicating the displacement of flexible diaphragms using variations in capacitance
- G01L9/0075—Transmitting or indicating the displacement of flexible diaphragms using variations in capacitance using a ceramic diaphragm, e.g. alumina, fused quartz, glass
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01L—MEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
- G01L9/00—Measuring steady of quasi-steady pressure of fluid or fluent solid material by electric or magnetic pressure-sensitive elements; Transmitting or indicating the displacement of mechanical pressure-sensitive elements, used to measure the steady or quasi-steady pressure of a fluid or fluent solid material, by electric or magnetic means
- G01L9/12—Measuring steady of quasi-steady pressure of fluid or fluent solid material by electric or magnetic pressure-sensitive elements; Transmitting or indicating the displacement of mechanical pressure-sensitive elements, used to measure the steady or quasi-steady pressure of a fluid or fluent solid material, by electric or magnetic means by making use of variations in capacitance, i.e. electric circuits therefor
- G01L9/125—Measuring steady of quasi-steady pressure of fluid or fluent solid material by electric or magnetic pressure-sensitive elements; Transmitting or indicating the displacement of mechanical pressure-sensitive elements, used to measure the steady or quasi-steady pressure of a fluid or fluent solid material, by electric or magnetic means by making use of variations in capacitance, i.e. electric circuits therefor with temperature compensating means
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- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
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- Y10T29/00—Metal working
- Y10T29/43—Electric condenser making
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- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Ceramic Engineering (AREA)
- Measuring Fluid Pressure (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、絶縁材料から成る2つ
のディスクを有する容量式マノメータのためのセンサを
対象とする。この場合このディスクは、それらの周縁領
域において互いに結合されており、それらのディスクの
内側には、コンデンサ電極を形成する金属の層シートが
設けられており、さらに一方のディスクはダイヤフラム
として、他方のディスクは基板として形成されている。
のディスクを有する容量式マノメータのためのセンサを
対象とする。この場合このディスクは、それらの周縁領
域において互いに結合されており、それらのディスクの
内側には、コンデンサ電極を形成する金属の層シートが
設けられており、さらに一方のディスクはダイヤフラム
として、他方のディスクは基板として形成されている。
【0002】
【従来技術】この種のセンサを有する容量式マノメータ
は、通常の他の圧力測定装置に比較して、感度が高くか
つ一層正確であり、さらに━感度に応じて及び/又はセ
ンサの内部における基準圧力に応じて━ほとんど全部の
圧力領域及び周囲状況に使用できる利点を有する。しか
しセンサの製造が高価である。例えばダイヤフラム上に
設けられている電極の接触接続が特に機械的に困難であ
り、これにより良好な測定特性が損なわれる。
は、通常の他の圧力測定装置に比較して、感度が高くか
つ一層正確であり、さらに━感度に応じて及び/又はセ
ンサの内部における基準圧力に応じて━ほとんど全部の
圧力領域及び周囲状況に使用できる利点を有する。しか
しセンサの製造が高価である。例えばダイヤフラム上に
設けられている電極の接触接続が特に機械的に困難であ
り、これにより良好な測定特性が損なわれる。
【0003】冒頭で述べた形式のセンサはドイツ連邦共
和国特許第2709945号公報に示されている。この
公知の実施例の場合、接続線が電極の平面において外側
へ導かれている。この解決手段の前提とすることは、接
続線が、例えばガラスフリットを有するセンサの周辺領
域━この中では両方のディスクが圧力密に及び/又は真
空密に互いに接続する必要のある━を貫通することであ
る。接続線の貫通案内にもとづき、周縁領域の念入りの
密閉が必ずしも保証はされない。
和国特許第2709945号公報に示されている。この
公知の実施例の場合、接続線が電極の平面において外側
へ導かれている。この解決手段の前提とすることは、接
続線が、例えばガラスフリットを有するセンサの周辺領
域━この中では両方のディスクが圧力密に及び/又は真
空密に互いに接続する必要のある━を貫通することであ
る。接続線の貫通案内にもとづき、周縁領域の念入りの
密閉が必ずしも保証はされない。
【0004】
【発明の解決すべき課題】本発明の課題はセンサ両極の
接触接続に伴う困難がもはや生じないようにした、冒頭
の形式のセンサを提供することである。
接触接続に伴う困難がもはや生じないようにした、冒頭
の形式のセンサを提供することである。
【0005】
【課題を解決するための手段】この課題は本発明により
、次のようにして解決される。即ち基板ディスクの内側
に少なくとも2つの別個の金属の層シートが設けられて
おり、該層シートは、互いに導電結合されている金属の
層シートと共に2つの直列接続された容量を形成するよ
うにし、この容量の端子を基板ディスクに設けたのであ
る。
、次のようにして解決される。即ち基板ディスクの内側
に少なくとも2つの別個の金属の層シートが設けられて
おり、該層シートは、互いに導電結合されている金属の
層シートと共に2つの直列接続された容量を形成するよ
うにし、この容量の端子を基板ディスクに設けたのであ
る。
【0006】このように構成されたセンサにおいては、
もはやダイヤフラムに電気接点を設ける必要がない。そ
のためこれに伴う従来の機械的問題点と、それのセンサ
の特性への影響が回避される。さらに本発明の形式のセ
ンサは、接触接続されたダイヤフラム電極を有するセン
サと比較して、外乱(電気的,磁気的)に対して実質的
に影響されないことが十分に証明された。外乱電磁界は
本発明の全部の電極へ一様に作用するため、容量値が全
体として変化しない。
もはやダイヤフラムに電気接点を設ける必要がない。そ
のためこれに伴う従来の機械的問題点と、それのセンサ
の特性への影響が回避される。さらに本発明の形式のセ
ンサは、接触接続されたダイヤフラム電極を有するセン
サと比較して、外乱(電気的,磁気的)に対して実質的
に影響されないことが十分に証明された。外乱電磁界は
本発明の全部の電極へ一様に作用するため、容量値が全
体として変化しない。
【0007】次に本発明の実施例を図1〜図11を用い
て説明する。
て説明する。
【0008】
【実施例】全部の図面において、本発明のセンサは1で
、その基板ディスクは2で、及びそのダイヤフラムは3
で示されている。基板ディスクとダイヤフラムは絶縁材
料から、例えばブラスチック,ガラス,セラミック等か
ら成る。基板ディスクの周辺領域において基板ディスク
2とダイラフラム3とは、例えばガラスフリット4を介
してまたは接着剤を用いて互いに結合されている。この
構成により内室5が形成され、この内室の中へ基板ディ
スク2における孔6が連通する。この孔6を用いて室5
における基準圧力の設定調整が行なわれる。基準圧力の
設定調整後にこの孔6は閉じられる。この孔に栓を設け
ることも可能であり、これにより差圧センサが構成され
る。このセンサを真空測定装置に用いるべき時は、内室
5がまず最初に孔6を介してまたはこの孔6に接続され
たパイプを介して排気される。孔6の内部にまたはパイ
プの内部にゲッター材が収容される。孔6の閉鎖━例え
ば接続されたパイプの溶融による━の後はゲッター材が
、常に室5の内部に著しく小さい圧力が存在するように
、作動する。
、その基板ディスクは2で、及びそのダイヤフラムは3
で示されている。基板ディスクとダイヤフラムは絶縁材
料から、例えばブラスチック,ガラス,セラミック等か
ら成る。基板ディスクの周辺領域において基板ディスク
2とダイラフラム3とは、例えばガラスフリット4を介
してまたは接着剤を用いて互いに結合されている。この
構成により内室5が形成され、この内室の中へ基板ディ
スク2における孔6が連通する。この孔6を用いて室5
における基準圧力の設定調整が行なわれる。基準圧力の
設定調整後にこの孔6は閉じられる。この孔に栓を設け
ることも可能であり、これにより差圧センサが構成され
る。このセンサを真空測定装置に用いるべき時は、内室
5がまず最初に孔6を介してまたはこの孔6に接続され
たパイプを介して排気される。孔6の内部にまたはパイ
プの内部にゲッター材が収容される。孔6の閉鎖━例え
ば接続されたパイプの溶融による━の後はゲッター材が
、常に室5の内部に著しく小さい圧力が存在するように
、作動する。
【0009】図示されている実施例は全体的に円形のな
いし円筒状の構成を有する。軸線は9で示されている。
いし円筒状の構成を有する。軸線は9で示されている。
【0010】図2,3,6,7,9及び10は、ダイヤ
フラム2のないし基板ディスク3の内側に取り付けられ
た、所望のコンデンサを形成する金属電極を示す。これ
らの電極は蒸着によりまたはスクリーン印刷により取り
付けられ、例えば50Mの厚さを有し、例えばプラチナ
から構成される。
フラム2のないし基板ディスク3の内側に取り付けられ
た、所望のコンデンサを形成する金属電極を示す。これ
らの電極は蒸着によりまたはスクリーン印刷により取り
付けられ、例えば50Mの厚さを有し、例えばプラチナ
から構成される。
【0011】図1〜図4による実施例の場合の、2つの
半円形の電極7,8が基板ディスク2の上へ取り付けら
れた状態が、図2に示されている。ダイヤフラム3は相
応の電極11,12を支持する。これらの電極は橋絡体
13を介して互いに結合されている。両方の電極11,
12を、それらの隣り合う領域全体において互いに接続
することもできる。その結果、1つの円形の金属層シー
トだけがダイヤフラム3の上に存在することになる。
半円形の電極7,8が基板ディスク2の上へ取り付けら
れた状態が、図2に示されている。ダイヤフラム3は相
応の電極11,12を支持する。これらの電極は橋絡体
13を介して互いに結合されている。両方の電極11,
12を、それらの隣り合う領域全体において互いに接続
することもできる。その結果、1つの円形の金属層シー
トだけがダイヤフラム3の上に存在することになる。
【0012】層シートないし電極7,8及び11,12
は、図4に示されている様に、2つの直列に接続された
コンデンサを形成する。この実施例の場合、ダイヤフラ
ム3そのものに接続線を設ける必要はない。基板電極7
,8だけに端子14,15が設けられており、これらは
図示されていない回路へ導かれている導線16,17と
接続される。図2に端子14,15が破線で示されてい
る。
は、図4に示されている様に、2つの直列に接続された
コンデンサを形成する。この実施例の場合、ダイヤフラ
ム3そのものに接続線を設ける必要はない。基板電極7
,8だけに端子14,15が設けられており、これらは
図示されていない回路へ導かれている導線16,17と
接続される。図2に端子14,15が破線で示されてい
る。
【0013】端子14,15を形成する目的で軸線に平
行な孔18,19が設けられている。これらの孔はまず
最初にはんだで充たされる。次に、ディスク2の端面━
この上に電極7,8が取り付けられる━がみがかれる。 電極7,8の取り付けと同時に、これらの電極と端子1
4,15のはんだとの導電接続が形成される。
行な孔18,19が設けられている。これらの孔はまず
最初にはんだで充たされる。次に、ディスク2の端面━
この上に電極7,8が取り付けられる━がみがかれる。 電極7,8の取り付けと同時に、これらの電極と端子1
4,15のはんだとの導電接続が形成される。
【0014】さらに図1に示されている様に、基板ディ
スク2におけるもう一つの孔10の中にサーモ抵抗20
が例えばPT100が取り付けられている。この抵抗か
ら供給される信号も前記の図示されていない測定回路へ
導かれる。その結果、温度不安定性を補償することがで
きる。
スク2におけるもう一つの孔10の中にサーモ抵抗20
が例えばPT100が取り付けられている。この抵抗か
ら供給される信号も前記の図示されていない測定回路へ
導かれる。その結果、温度不安定性を補償することがで
きる。
【0015】図5〜図8の実施例の場合、基板ディスク
2は全部で4つの電極21〜24を支持する。電極25
〜28と共働して、ダイヤグラム3の上で対毎に互いに
導電結合されている電極21〜24が、それぞれ2つの
直列に接続されたコンデンサ(図8参照)を形成する。 基板ディスク2の4つの電極の各々はそれぞれ端子31
〜34を有する。これらの端子は図1〜図4に示された
様に構成されている。この実施例の場合も、ダイヤフラ
ム3の上の電極25〜28に接続線を設ける必要のない
利点が得られる。
2は全部で4つの電極21〜24を支持する。電極25
〜28と共働して、ダイヤグラム3の上で対毎に互いに
導電結合されている電極21〜24が、それぞれ2つの
直列に接続されたコンデンサ(図8参照)を形成する。 基板ディスク2の4つの電極の各々はそれぞれ端子31
〜34を有する。これらの端子は図1〜図4に示された
様に構成されている。この実施例の場合も、ダイヤフラ
ム3の上の電極25〜28に接続線を設ける必要のない
利点が得られる。
【0016】基板ディスク2の上の電極及びこれに対応
する電極は、半円形(電極22,23,26,27)な
いし半リング形(電極21,24,25,28)に形成
されている。中央の電極22,23,26,27は測定
値検出のために用いられる、何故ならばこれらの電極に
より形成されるコンデンサの容量が、ダイヤフラム3の
変位と共に値が変化するからである。半リング状の電極
21,24,25,28はセンサ1の周縁領域に存在す
る。これらの電極により形成されるコンデンサの容量は
ダイヤフラムの運動によりほとんど影響されない。その
ためこれらのコンデンサは公知のように温度補償の目的
で用いられる。
する電極は、半円形(電極22,23,26,27)な
いし半リング形(電極21,24,25,28)に形成
されている。中央の電極22,23,26,27は測定
値検出のために用いられる、何故ならばこれらの電極に
より形成されるコンデンサの容量が、ダイヤフラム3の
変位と共に値が変化するからである。半リング状の電極
21,24,25,28はセンサ1の周縁領域に存在す
る。これらの電極により形成されるコンデンサの容量は
ダイヤフラムの運動によりほとんど影響されない。その
ためこれらのコンデンサは公知のように温度補償の目的
で用いられる。
【0017】図9と図10は、基板ディスク2の上の変
形された層シート41,42,43及び、ダイヤフラム
3の上の変形された層シート44,45を示す。半リン
グ状の電極41は、図6に示された互いに導電結合され
た電極21,22に相応する。その結果、ただ1つの端
子46しか必要とされない。電極42,43は図6に示
された電極23,24に相応する。電極44,45は実
質的に電極25〜28(図7)と同一である。これらの
電極ないし層シート41〜46も、ダイヤフラム3の接
触接続を必要とすることなく、2対の直列に接続された
コンデンサ(図11)を形成する。基板ディスク2には
3つの端子46,47,48が設けられている。
形された層シート41,42,43及び、ダイヤフラム
3の上の変形された層シート44,45を示す。半リン
グ状の電極41は、図6に示された互いに導電結合され
た電極21,22に相応する。その結果、ただ1つの端
子46しか必要とされない。電極42,43は図6に示
された電極23,24に相応する。電極44,45は実
質的に電極25〜28(図7)と同一である。これらの
電極ないし層シート41〜46も、ダイヤフラム3の接
触接続を必要とすることなく、2対の直列に接続された
コンデンサ(図11)を形成する。基板ディスク2には
3つの端子46,47,48が設けられている。
【図1】基板ディスク上に2つの電極を有する本発明に
よるセンサの実施例の図面である。
よるセンサの実施例の図面である。
【図2】基板ディスク上に2つの電極を有する本発明に
よるセンサの実施例の図面である。
よるセンサの実施例の図面である。
【図3】基板ディスク上に2つの電極を有する本発明に
よるセンサの実施例の図面である。
よるセンサの実施例の図面である。
【図4】基板ディスク上に2つの電極を有する本発明に
よるセンサの実施例の図面である。
よるセンサの実施例の図面である。
【図5】基板ディスク上に4つの電極を有する実施例の
図面である。
図面である。
【図6】基板ディスク上に4つの電極を有する実施例の
図面である。
図面である。
【図7】基板ディスク上に4つの電極を有する実施例の
図面である。
図面である。
【図8】基板ディスク上に4つの電極を有する実施例の
図面である。
図面である。
【図9】図5〜図9におけるセンサの電極構造を示す図
面である。
面である。
【図10】図5〜図9におけるセンサの電極構造を示す
図面である。
図面である。
【図11】図5〜図9におけるセンサの電極構造を示す
図面である。
図面である。
1 センサ、 2 基板ディスク、
3 ダイヤフラム、 4ガラスフリット、
5 内室、 6 孔、 7,8,11
,12 電極、9 軸線、 14,15
端子、 16,17 線路、 20
サーモ抵抗、 21〜28 電極、
41,42,43 層シート、 44,45
電極、 46,47,48 端子
3 ダイヤフラム、 4ガラスフリット、
5 内室、 6 孔、 7,8,11
,12 電極、9 軸線、 14,15
端子、 16,17 線路、 20
サーモ抵抗、 21〜28 電極、
41,42,43 層シート、 44,45
電極、 46,47,48 端子
Claims (7)
- 【請求項1】 絶縁材料から成る2つのディスク(2
,3)を有する容量式マノメータのためのセンサであっ
て、該ディスクはそれらの周縁領域において互いに結合
されており、それらディスクの内側には、コンデンサ電
極を形成する金属の層シートが設けられており、さらに
一方のディスク(3)はダイヤフラムとして、他方のデ
ィスク(2)は基板として形成されている形式のセンサ
において、基板ディスク(2)の内側に少なくとも2つ
の別個の金属の層シート(7,8;22,23;41,
42)が設けられており、該層シートは、ダイヤフラム
(3)の上で互いに導電結合されている金属の層シート
(11,12;26,27;45)と共に、2つの直列
接続された容量を形成するようにし、該容量の端子(1
4,15;32,33;46,47)が基板ディスク(
2)に設けられていることを特徴とする容量式マノメー
タのためのセンサ。 - 【請求項2】 それぞれ4つの層シート(21〜24
ないし25〜28)が、基板(2)ないしダイヤフラム
(3)の上に設けられており、これらが2対の直列に接
続された容量を形成しており、これらの容量の端子(3
1〜34)が基板ディスク(2)に設けられている請求
項1記載のセンサ。 - 【請求項3】 互いに導電結合されている電極(21
,22;25,28;26,27)が一体的な層シート
(41,44,45)へまとめられている請求項2記載
のセンサ。 - 【請求項4】 電極が半円形にないし半リング状に形
成されている請求項1又は2又は3記載のセンサ。 - 【請求項5】 1つの層シートへまとめられた電極(
44ないし45)がダイヤフラム(3)の上でリング状
にないし円形に形成されている請求項3記載のセンサ。 - 【請求項6】 基板ディスク2にサーモ抵抗(20)
が配属されている請求項1から5までのいずれか1項記
載のセンサ。 - 【請求項7】 端子(14,15,31〜34,46
〜48)を形成する目的で、孔(18,19)が設けら
れており、該孔は基板ディスク(2)を貫通しさらには
んだで満たされている請求項1から6までのいずれか1
項記載のセンサ。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE4031791A DE4031791A1 (de) | 1990-10-08 | 1990-10-08 | Sensor fuer ein kapazitaetsmanometer |
DE4031791.9 | 1990-10-08 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04290936A true JPH04290936A (ja) | 1992-10-15 |
Family
ID=6415801
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3260090A Pending JPH04290936A (ja) | 1990-10-08 | 1991-10-08 | 容量式マノメータのためのセンサ |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5257542A (ja) |
EP (1) | EP0480170B1 (ja) |
JP (1) | JPH04290936A (ja) |
DE (2) | DE4031791A1 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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