JPH0429054A - 金属管の渦流探傷装置 - Google Patents
金属管の渦流探傷装置Info
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- JPH0429054A JPH0429054A JP13491690A JP13491690A JPH0429054A JP H0429054 A JPH0429054 A JP H0429054A JP 13491690 A JP13491690 A JP 13491690A JP 13491690 A JP13491690 A JP 13491690A JP H0429054 A JPH0429054 A JP H0429054A
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- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
「産業上の利用分野」
本発明は、金属管の渦流探傷装置に係り、特に、強磁性
を有する金属管の内面及び外面近傍の欠陥を検出するも
のである。
を有する金属管の内面及び外面近傍の欠陥を検出するも
のである。
[従来技術とその課題」
熱交換器や蒸気発生器等の伝熱管、ガス導管等の非破壊
検査を実施する場合に、渦流探傷試験が利用されている
。
検査を実施する場合に、渦流探傷試験が利用されている
。
第5図ないし第1O図は、渦流探傷試験(電磁誘導試験
)の例を示している。
)の例を示している。
第5図は、基本的な渦流探傷試験(ECT)のモデル図
を示し、被検査導体Xに近接させたコイルCに交流電流
を流して磁束φを発生させ、磁束φが被検査導体Xと交
差して渦電流Iが流れることによって生じるインピーダ
ンスの変化を電流計Aにより検出して、被検査導体Xに
おける材質、欠陥Zの有無、形状変化及び厚さの変化等
の測定を実施しようとするものであり、比較的単純な形
状の金属板や金属管等に適用されている。かかる渦流探
傷試験では、被検査導体Xの表面から離れた深い部分や
、裏面にある欠陥Zの検出が、表皮効果の影響で困難と
なることや、被検査導体Xが強磁性体である場合には、
その壁の透磁率の局部的不均一に起因する透磁率雑音を
抑制するため磁気飽和装置の使用を必要とする等の難点
がある。
を示し、被検査導体Xに近接させたコイルCに交流電流
を流して磁束φを発生させ、磁束φが被検査導体Xと交
差して渦電流Iが流れることによって生じるインピーダ
ンスの変化を電流計Aにより検出して、被検査導体Xに
おける材質、欠陥Zの有無、形状変化及び厚さの変化等
の測定を実施しようとするものであり、比較的単純な形
状の金属板や金属管等に適用されている。かかる渦流探
傷試験では、被検査導体Xの表面から離れた深い部分や
、裏面にある欠陥Zの検出が、表皮効果の影響で困難と
なることや、被検査導体Xが強磁性体である場合には、
その壁の透磁率の局部的不均一に起因する透磁率雑音を
抑制するため磁気飽和装置の使用を必要とする等の難点
がある。
第6図はパルス渦流探傷試験(パルスECT )の例を
示すもので、パルス発振器1及び増幅器2によるパルス
信号をフェライトコア3に巻き付けた一次コイル4に供
給して、発生したパルス状の強磁場を被検査導体Xに交
差させて、被検査導体Xを部分的に磁気飽和させた状態
で渦電流lを生じさせ、フェライトコア3に巻き付けた
二次コイル5によって検出した信号を増幅器6を介して
波形解析装置7に伝送し、波形解析を行なうものであり
、被検査導体Xが強磁性材からなるものである場合に、
特に有効であるとされている。つまり、−次コイル4の
励磁電圧波形(−次コイル励磁信号)かパルス波形であ
るとき、被検査導体Xに欠陥部が無い状態では、二次コ
イル5の検出電圧波形(二次コイル検出信号)か、第7
図に示すようになるが、欠陥部Zの有無、欠陥部Zの大
きさや表面からの深さによって変化するので、検出電圧
波形の解析を行なうことによって、第8図に併記してい
るように、欠陥部Zの判別を行なうこと力へできる。な
お、図中符号Pはプローブで、フェライトコア3に一次
コイル4と二次コイル5とを巻き付けたものを意味して
いる。
示すもので、パルス発振器1及び増幅器2によるパルス
信号をフェライトコア3に巻き付けた一次コイル4に供
給して、発生したパルス状の強磁場を被検査導体Xに交
差させて、被検査導体Xを部分的に磁気飽和させた状態
で渦電流lを生じさせ、フェライトコア3に巻き付けた
二次コイル5によって検出した信号を増幅器6を介して
波形解析装置7に伝送し、波形解析を行なうものであり
、被検査導体Xが強磁性材からなるものである場合に、
特に有効であるとされている。つまり、−次コイル4の
励磁電圧波形(−次コイル励磁信号)かパルス波形であ
るとき、被検査導体Xに欠陥部が無い状態では、二次コ
イル5の検出電圧波形(二次コイル検出信号)か、第7
図に示すようになるが、欠陥部Zの有無、欠陥部Zの大
きさや表面からの深さによって変化するので、検出電圧
波形の解析を行なうことによって、第8図に併記してい
るように、欠陥部Zの判別を行なうこと力へできる。な
お、図中符号Pはプローブで、フェライトコア3に一次
コイル4と二次コイル5とを巻き付けたものを意味して
いる。
かかるパルス渦流探傷試験では、被検査導体Xが強磁性
体である場合に、磁気飽和によって透磁率の不均一によ
る影響を低減することができるが、被検査導体Xの強磁
性に基づいて表皮効果が大きくなり、したがって、渦電
流の浸透深さが小さくなり、被検査導体Xの裏面側の欠
陥の検出が困難なものとなる。
体である場合に、磁気飽和によって透磁率の不均一によ
る影響を低減することができるが、被検査導体Xの強磁
性に基づいて表皮効果が大きくなり、したがって、渦電
流の浸透深さが小さくなり、被検査導体Xの裏面側の欠
陥の検出が困難なものとなる。
次いで、第9図はリモート・フィールド渦流探傷試験(
RF−ECT )の例を示すもので、金属管を検査対象
の被検査導体Xとしており、正弦波発振器(交流電源)
8及び増幅器2による正弦波信号を分配器9を経由して
、金属管Xの中の励磁コイル10に供給して、発生した
正弦波の磁束を被検査導体Xに交差させ、励磁コイル1
0から金属管Xの直径の2倍程度離間した位置に配した
検出コイル11で交番ε場を検出し、該検出信号を増幅
器6を経由して位相比較器12に伝送して前記分配器9
からの信号との比較を行なって、位相変化等の判別信号
を検出器13により表示する等の処理を行なうものであ
り、欠陥の有無により生じる磁場分布の乱れを、第1O
図に示すように、励磁信号と検出信号との位相差Δωを
検出することによって、金属管Xの内面と外面とにある
同一寸法形状の欠陥に対して同程度の検出能力を有し、
かつ、透磁率の不均一性に起因する影響をほとんど受け
ず、プローブPを内部に挿入することによって、金属管
Xが厚内状態である場合にあっても、内外面の欠陥を検
出することが可能であるとされている。
RF−ECT )の例を示すもので、金属管を検査対象
の被検査導体Xとしており、正弦波発振器(交流電源)
8及び増幅器2による正弦波信号を分配器9を経由して
、金属管Xの中の励磁コイル10に供給して、発生した
正弦波の磁束を被検査導体Xに交差させ、励磁コイル1
0から金属管Xの直径の2倍程度離間した位置に配した
検出コイル11で交番ε場を検出し、該検出信号を増幅
器6を経由して位相比較器12に伝送して前記分配器9
からの信号との比較を行なって、位相変化等の判別信号
を検出器13により表示する等の処理を行なうものであ
り、欠陥の有無により生じる磁場分布の乱れを、第1O
図に示すように、励磁信号と検出信号との位相差Δωを
検出することによって、金属管Xの内面と外面とにある
同一寸法形状の欠陥に対して同程度の検出能力を有し、
かつ、透磁率の不均一性に起因する影響をほとんど受け
ず、プローブPを内部に挿入することによって、金属管
Xが厚内状態である場合にあっても、内外面の欠陥を検
出することが可能であるとされている。
しかし、かかるリモート・フィールド渦流探傷試験では
、検出した交番磁場分布の乱れ等から、欠陥が内外面の
どちらに存在するのか判別することができない。
、検出した交番磁場分布の乱れ等から、欠陥が内外面の
どちらに存在するのか判別することができない。
本発明は、これらの課題を鑑みてなされたものであり、
上述した各渦流探傷試験の欠陥を克服し、強磁性体の金
属管の欠陥検出に適用可能とすること、検査機器を金属
管の内部に挿入ことにより内外両面の欠陥を検出するこ
と、その場合に内外面の判別を可能とすること等を目的
としている。
上述した各渦流探傷試験の欠陥を克服し、強磁性体の金
属管の欠陥検出に適用可能とすること、検査機器を金属
管の内部に挿入ことにより内外両面の欠陥を検出するこ
と、その場合に内外面の判別を可能とすること等を目的
としている。
「課題を解決するための手段」
これらの課題を解決する手段として、金属管の中に挿入
され一次コイル及び二次コイルを組み合わせてなるプロ
ーブと、該プローブにパルス状励磁電圧を印加するパル
ス信号発生手段と、プローブの二次コイルによって検出
した信号を波形解析し波形の乱れにより金属管の内面の
欠陥の有無を判別する波形解析装置と、二次コイルから
離間した位置に配されプローブで発生させた磁場を検出
する検出コイルと、該検出コイルの検出信号が伝送され
無欠陥時との位相のずれを比較して前記波形解析装置に
よる内面欠陥の非検出時に金属管の外面の欠陥の有無を
判別する内外面欠陥判別手段とを具備する構成の金属管
の渦流探傷装置とじている。
され一次コイル及び二次コイルを組み合わせてなるプロ
ーブと、該プローブにパルス状励磁電圧を印加するパル
ス信号発生手段と、プローブの二次コイルによって検出
した信号を波形解析し波形の乱れにより金属管の内面の
欠陥の有無を判別する波形解析装置と、二次コイルから
離間した位置に配されプローブで発生させた磁場を検出
する検出コイルと、該検出コイルの検出信号が伝送され
無欠陥時との位相のずれを比較して前記波形解析装置に
よる内面欠陥の非検出時に金属管の外面の欠陥の有無を
判別する内外面欠陥判別手段とを具備する構成の金属管
の渦流探傷装置とじている。
[作用J
かかる手段による欠陥の検出理論は、発明者等によって
さらに研究及び実証が進められつつあるが、以下に記述
するような理由によるものと推定される。
さらに研究及び実証が進められつつあるが、以下に記述
するような理由によるものと推定される。
プローブの一部コイルにパルス状励磁電圧を印加すると
、金属管が強磁性体である場合には、プローブの回りに
存在する金属管の管壁がパルス状の強磁場によって部分
的に磁気飽和された状態となるが、プローブから離間し
た位置の検出コイル近傍の管壁は、磁束密度が小さくな
るために、磁気飽和が起こりにくくなる。
、金属管が強磁性体である場合には、プローブの回りに
存在する金属管の管壁がパルス状の強磁場によって部分
的に磁気飽和された状態となるが、プローブから離間し
た位置の検出コイル近傍の管壁は、磁束密度が小さくな
るために、磁気飽和が起こりにくくなる。
このため、磁気飽和状態の管壁近傍における磁場の磁束
を二次コイルによって検出すると、管壁の内面に欠陥が
存在する場合には、波形の乱れの変化量が大きくなり、
この現象により内面欠陥の有無が検出される。
を二次コイルによって検出すると、管壁の内面に欠陥が
存在する場合には、波形の乱れの変化量が大きくなり、
この現象により内面欠陥の有無が検出される。
プローブの一部コイルによって発生させた磁場は、プロ
ーブの回りに導電体が存在するために渦電流が流れて、
磁場の一部を打ち消すように働くものの、金属管か強磁
性体であるために、磁場が金属管の長手方向に導かれ、
かつ、パルス波に多数の周波数成分が含まれて表皮効果
やりアクタンス成分が複雑に絡み合うこと等に起因して
、プローブから離間した検出コイルによる検出信号と、
二次コイルによる検出信号との間には位相差が生じ、そ
して、検出コイルの近傍の管壁の内外面の少なくとも一
方に欠陥が存在すると、欠陥の有無によって磁気特性が
影響を受けることにより位相差が生じ、該位相差に基づ
いて検出コイル近傍の欠陥の有無が検出される。したが
って、二次コイルによる管壁内面の欠陥検出結果と合わ
せて、欠陥が管壁の内外面のいずれかに位置することの
判別が可能となる。
ーブの回りに導電体が存在するために渦電流が流れて、
磁場の一部を打ち消すように働くものの、金属管か強磁
性体であるために、磁場が金属管の長手方向に導かれ、
かつ、パルス波に多数の周波数成分が含まれて表皮効果
やりアクタンス成分が複雑に絡み合うこと等に起因して
、プローブから離間した検出コイルによる検出信号と、
二次コイルによる検出信号との間には位相差が生じ、そ
して、検出コイルの近傍の管壁の内外面の少なくとも一
方に欠陥が存在すると、欠陥の有無によって磁気特性が
影響を受けることにより位相差が生じ、該位相差に基づ
いて検出コイル近傍の欠陥の有無が検出される。したが
って、二次コイルによる管壁内面の欠陥検出結果と合わ
せて、欠陥が管壁の内外面のいずれかに位置することの
判別が可能となる。
「実施例」
以下、第1図ないし第4図を参照して、本発明に係る金
属管の渦流探傷装置の一実施例について説明する。
属管の渦流探傷装置の一実施例について説明する。
該−実施例における金属管の渦流探傷装置では、前述し
た第6図ないし第10図例の技術、つまり、パルス渦流
探傷試験とリモート・フィールド渦流探傷試験との組み
合わせ技術を一部応用しているので、共通部分に同一符
号を付し、一部の説明を簡略化する。
た第6図ないし第10図例の技術、つまり、パルス渦流
探傷試験とリモート・フィールド渦流探傷試験との組み
合わせ技術を一部応用しているので、共通部分に同一符
号を付し、一部の説明を簡略化する。
かかる金属管の渦流探傷装置にあっては、第1図に示す
ように、プローブPにパルス状励磁電圧を印加するパル
ス信号発生手段(パルス発振器)1と、プローブPの二
次コイル5によって検出した信号を波形解析し波形の乱
れにより金属管Xの内面の欠陥の有無を判別する波形解
析装置7と、二次コイル5から離間した位置に配される
検出コイル11と、該検出コイル11の検出信号が伝送
され無欠陥時との位相のずれを比較して前記波形解析装
置7による内面欠陥の非検出時に金属管Xの外面の欠陥
の有無を判別する内外面欠陥判別手段14とを具備する
構成とされている。
ように、プローブPにパルス状励磁電圧を印加するパル
ス信号発生手段(パルス発振器)1と、プローブPの二
次コイル5によって検出した信号を波形解析し波形の乱
れにより金属管Xの内面の欠陥の有無を判別する波形解
析装置7と、二次コイル5から離間した位置に配される
検出コイル11と、該検出コイル11の検出信号が伝送
され無欠陥時との位相のずれを比較して前記波形解析装
置7による内面欠陥の非検出時に金属管Xの外面の欠陥
の有無を判別する内外面欠陥判別手段14とを具備する
構成とされている。
そして、航記内外面欠陥判別手段14は、第1図に鎖線
で囲んで示すように、波形解析装置7、位相比較器12
、検出器13等と拘わって、第2図ないし第4図に示す
波形の表示機能や分析機能を具備するものとされる。
で囲んで示すように、波形解析装置7、位相比較器12
、検出器13等と拘わって、第2図ないし第4図に示す
波形の表示機能や分析機能を具備するものとされる。
〈実施例の具体的仕様〉
金属管の外径 ・ 19I+++a金属管の内径
: 11.4mm金属管の材質: 9Cr−I
Mo屓(強磁性材)プローブの外径 ・ 10mm プローブの内径 ・ 3mm プローブの長さ :5mm−10mm パルス電圧周波数、 1oOHz〜2000Hz−次コ
イルの巻き数 :100回〜500回−次コイルの最大
励磁電流・約10A 二次コイルの巻き数・ 50回〜300回二次コイルの
検出電圧 数]OmV 検出コイルの外径 : 10mm検出コイルの巻
き数 ・ 1000回〜2000回検出コイルの検出電
圧 :10μV〜100μV二次・検出コイルの離間距
M : 2D〜4D〈無欠陥時の検出波形〉 第2図は金属管に欠陥が無い場合における一部コイルの
励磁電圧波形、二次コイルの検出電圧波形(パルスEC
T検出信号)及び検出コイルの検比電圧波形(RF−E
CT検出信号)の測定例を示すものである。パルスEC
T検出信号とRF・ECT検出信号とを比較すると、R
F−ECT検出信号の方が進んだ状態となっている。
: 11.4mm金属管の材質: 9Cr−I
Mo屓(強磁性材)プローブの外径 ・ 10mm プローブの内径 ・ 3mm プローブの長さ :5mm−10mm パルス電圧周波数、 1oOHz〜2000Hz−次コ
イルの巻き数 :100回〜500回−次コイルの最大
励磁電流・約10A 二次コイルの巻き数・ 50回〜300回二次コイルの
検出電圧 数]OmV 検出コイルの外径 : 10mm検出コイルの巻
き数 ・ 1000回〜2000回検出コイルの検出電
圧 :10μV〜100μV二次・検出コイルの離間距
M : 2D〜4D〈無欠陥時の検出波形〉 第2図は金属管に欠陥が無い場合における一部コイルの
励磁電圧波形、二次コイルの検出電圧波形(パルスEC
T検出信号)及び検出コイルの検比電圧波形(RF−E
CT検出信号)の測定例を示すものである。パルスEC
T検出信号とRF・ECT検出信号とを比較すると、R
F−ECT検出信号の方が進んだ状態となっている。
〈内面欠陥検出時の検出波形〉
第3図は金属管の内面に欠陥が有る場合における各信号
波形を示すもので、この場合の欠陥部の検出位置は、二
次コイルにあってはその長さの中間位置、検出コイルに
あっては二次コイルより離間したその長さの中間位置で
ある。
波形を示すもので、この場合の欠陥部の検出位置は、二
次コイルにあってはその長さの中間位置、検出コイルに
あっては二次コイルより離間したその長さの中間位置で
ある。
そして、二次コイルの検出信号は、欠陥の存在によって
破線から実線で示すように乱れが生じ、検出コイルの検
出信号も、破線から実線で示すように、ずれが生じてい
る。
破線から実線で示すように乱れが生じ、検出コイルの検
出信号も、破線から実線で示すように、ずれが生じてい
る。
〈外面欠陥検出時の検出波形〉
第4図は金属管の外面に欠陥が有る場合における各信号
波形を示すもので、この場合の欠陥部の検出位置は、二
次コイル及び検出コイルとも長さの中間位置とされるが
、二次コイルにあっては欠陥部が外面に存在するために
、検出できない状態であるが、この場合において検出コ
イルの検出信号が、破線から実線で示すようにずれるこ
とが確認されると(内面欠陥がない条件で検出コイルに
よる欠陥の検出がなされると)、金属管の外面近傍に欠
陥が存在するとの判定がなされるものである。
波形を示すもので、この場合の欠陥部の検出位置は、二
次コイル及び検出コイルとも長さの中間位置とされるが
、二次コイルにあっては欠陥部が外面に存在するために
、検出できない状態であるが、この場合において検出コ
イルの検出信号が、破線から実線で示すようにずれるこ
とが確認されると(内面欠陥がない条件で検出コイルに
よる欠陥の検出がなされると)、金属管の外面近傍に欠
陥が存在するとの判定がなされるものである。
なお、ここまで説明した一実施例では、金属管が強磁性
体であるとしたが、非磁性体であるステンレス鋼管等に
対して適用可能であることを確認した。被検査導体Xが
非磁性体である場合は、例えば、励磁周波数を5KHz
〜20KHz程度とすればよく、また、プローブにおけ
る一次・二次コイルの巻き数や大きさ等は、被検査金属
管の仕様によって、好ましい条件が得られるように適宜
変更されることは勿論である。
体であるとしたが、非磁性体であるステンレス鋼管等に
対して適用可能であることを確認した。被検査導体Xが
非磁性体である場合は、例えば、励磁周波数を5KHz
〜20KHz程度とすればよく、また、プローブにおけ
る一次・二次コイルの巻き数や大きさ等は、被検査金属
管の仕様によって、好ましい条件が得られるように適宜
変更されることは勿論である。
「発明の効果」
以上説明したように、本発明に係る金属管の渦流探傷装
置によれば、 (1)金属管の中にプローブと検出コイルとを離間させ
た状態に挿入し、パルス発生手段によりノくルス状励@
電圧を印加した場合に、プローブの二次コイルの検出信
号を波形解析装置で波形解析して、金属管内面近傍の欠
陥の有無を判別するとともに、プローブで発生させた磁
場を検出フィルで検出して、内外面欠陥判別手段によっ
て、内面欠陥の非検出時に金属管の外面の欠陥の有無を
判別するようにしているので、検査機器を金属管の内部
に挿入して、内部から内外両面のいずれかに発生した欠
陥を検出することかできる。
置によれば、 (1)金属管の中にプローブと検出コイルとを離間させ
た状態に挿入し、パルス発生手段によりノくルス状励@
電圧を印加した場合に、プローブの二次コイルの検出信
号を波形解析装置で波形解析して、金属管内面近傍の欠
陥の有無を判別するとともに、プローブで発生させた磁
場を検出フィルで検出して、内外面欠陥判別手段によっ
て、内面欠陥の非検出時に金属管の外面の欠陥の有無を
判別するようにしているので、検査機器を金属管の内部
に挿入して、内部から内外両面のいずれかに発生した欠
陥を検出することかできる。
(2)欠陥の発生が認められた場合には、二次コイルに
よる波形の乱れと、検出コイルによる検出波形の位相差
と(こより、内外面のいずれで発生しているかを判別す
ることができる。
よる波形の乱れと、検出コイルによる検出波形の位相差
と(こより、内外面のいずれで発生しているかを判別す
ることができる。
(3)そして、強磁性金属管と非磁性金属管の両方の欠
陥検出を行なうことができる。
陥検出を行なうことができる。
等の優れた効果を奏するものである。
第1図ないし第4図は本発明に係る金属管の渦流探傷装
置の一実施例を示すもので、第1図は結線状態を示すブ
ロック図、第2図は金属管が無欠陥である場合の各信号
波形図、第3図は金属管の内面欠陥検出時の各信号波形
図、第4図は金属管の外面欠陥検出時の各信号波形図、
第5図ないし第10図は従来技術例を示すもので、第5
図は基本的な渦流探傷試験のモデル図、第6図はパルス
渦流探傷試験の結線状態を示すブロック図、第7図は第
6図例による信号波形図、第8図は第6図例による欠陥
部検出状態の説明図、第9図はりモト・フィールド渦流
探傷試験の結線状態を示すブロック図、第1O図は第9
図例の信号波形による欠陥部検出状態の説明図である。 X・・・・被検査導体(金属管)、 C・・・・コイル、 φ・・・・磁束、 i・・・・渦電流、 A・・・電流計、 Z・・・・欠陥、 P・−・・プローブ、 1・・・・パルス信号発生手段(パルス発振器)、2・
・・・増幅器、 3・・・・フェライトコア、 4・・・・−次コイル、 5・・・・・二次コイル、 6・・・・増幅器、 7・・・・波形解析装置、 8・・・・・正弦波発振器( 9・・・・・分配器、 10・・・・・励磁コイル、 11・・・・・・検出コイル、 12・・・・・・位相比較器、 13・・・・・・検出器、 14・・・・・・内外面欠陥判別手段。 交流電源
置の一実施例を示すもので、第1図は結線状態を示すブ
ロック図、第2図は金属管が無欠陥である場合の各信号
波形図、第3図は金属管の内面欠陥検出時の各信号波形
図、第4図は金属管の外面欠陥検出時の各信号波形図、
第5図ないし第10図は従来技術例を示すもので、第5
図は基本的な渦流探傷試験のモデル図、第6図はパルス
渦流探傷試験の結線状態を示すブロック図、第7図は第
6図例による信号波形図、第8図は第6図例による欠陥
部検出状態の説明図、第9図はりモト・フィールド渦流
探傷試験の結線状態を示すブロック図、第1O図は第9
図例の信号波形による欠陥部検出状態の説明図である。 X・・・・被検査導体(金属管)、 C・・・・コイル、 φ・・・・磁束、 i・・・・渦電流、 A・・・電流計、 Z・・・・欠陥、 P・−・・プローブ、 1・・・・パルス信号発生手段(パルス発振器)、2・
・・・増幅器、 3・・・・フェライトコア、 4・・・・−次コイル、 5・・・・・二次コイル、 6・・・・増幅器、 7・・・・波形解析装置、 8・・・・・正弦波発振器( 9・・・・・分配器、 10・・・・・励磁コイル、 11・・・・・・検出コイル、 12・・・・・・位相比較器、 13・・・・・・検出器、 14・・・・・・内外面欠陥判別手段。 交流電源
Claims (1)
- 金属管の中に挿入され一次コイル及び二次コイルを組み
合わせてなるプローブと、該プローブにパルス状励磁電
圧を印加するパルス信号発生手段と、プローブの二次コ
イルによって検出した信号を波形解析し波形の乱れによ
り金属管の内面の欠陥の有無を判別する波形解析装置と
、二次コイルから離間した位置に配されプローブで発生
させた磁場を検出する検出コイルと、該検出コイルの検
出信号が伝送され無欠陥時との位相のずれを比較して前
記波形解析装置による内面欠陥の非検出時に金属管の外
面の欠陥の有無を判別する内外面欠陥判別手段とを具備
することを特徴とする金属管の渦流探傷装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13491690A JPH0429054A (ja) | 1990-05-24 | 1990-05-24 | 金属管の渦流探傷装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13491690A JPH0429054A (ja) | 1990-05-24 | 1990-05-24 | 金属管の渦流探傷装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0429054A true JPH0429054A (ja) | 1992-01-31 |
Family
ID=15139533
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP13491690A Pending JPH0429054A (ja) | 1990-05-24 | 1990-05-24 | 金属管の渦流探傷装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0429054A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003294712A (ja) * | 2002-03-29 | 2003-10-15 | Non-Destructive Inspection Co Ltd | 橋梁用伸縮継手の検査装置及び検査方法 |
JP2005208061A (ja) * | 2004-01-21 | 2005-08-04 | General Electric Co <Ge> | 溶射被覆した基体を作製しかつ検査する方法 |
JP2012002633A (ja) * | 2010-06-16 | 2012-01-05 | Hitachi Ltd | 渦電流検査装置および検査方法 |
JP2015504166A (ja) * | 2012-01-09 | 2015-02-05 | アイシス イノベーション リミテッド | エンジン構成要素の監視 |
-
1990
- 1990-05-24 JP JP13491690A patent/JPH0429054A/ja active Pending
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003294712A (ja) * | 2002-03-29 | 2003-10-15 | Non-Destructive Inspection Co Ltd | 橋梁用伸縮継手の検査装置及び検査方法 |
JP2005208061A (ja) * | 2004-01-21 | 2005-08-04 | General Electric Co <Ge> | 溶射被覆した基体を作製しかつ検査する方法 |
JP4652065B2 (ja) * | 2004-01-21 | 2011-03-16 | ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ | 溶射被覆した基体を作製しかつ検査する方法 |
JP2012002633A (ja) * | 2010-06-16 | 2012-01-05 | Hitachi Ltd | 渦電流検査装置および検査方法 |
JP2015504166A (ja) * | 2012-01-09 | 2015-02-05 | アイシス イノベーション リミテッド | エンジン構成要素の監視 |
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