JPH0429031A - レンズ検査装置 - Google Patents

レンズ検査装置

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JPH0429031A
JPH0429031A JP13652790A JP13652790A JPH0429031A JP H0429031 A JPH0429031 A JP H0429031A JP 13652790 A JP13652790 A JP 13652790A JP 13652790 A JP13652790 A JP 13652790A JP H0429031 A JPH0429031 A JP H0429031A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
lens
inspected
chart
reference value
image
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP13652790A
Other languages
English (en)
Inventor
Yamaji Nakabayashi
中林 山治
Akihiro Tsukitani
明博 月谷
Kiyotaka Hasegawa
清孝 長谷川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Omron Corp
Original Assignee
Omron Corp
Omron Tateisi Electronics Co
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Publication date
Application filed by Omron Corp, Omron Tateisi Electronics Co filed Critical Omron Corp
Priority to JP13652790A priority Critical patent/JPH0429031A/ja
Publication of JPH0429031A publication Critical patent/JPH0429031A/ja
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  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、例えばCCD等のラインセンサに適用される
光学式レンズを検査する場合に用いて好適なレンズ検査
装置に関する。
[従来の技術] 従来、光学式レンズの検査は、次のように行なわれてい
た。すなわち、検査用の像が形成されているチャートに
光を照射し、その像を被検査レンズを介してスクリーン
に投影し、像が正しく投影されているか否かを、目視に
より検査することにより、レンズの解像度を検査するよ
うにしていた。
[発明が解決しようとする課題] しかしながら、このように、人の目視による検査を行な
うと、客観性が失われるばかりでなく、検査に時間がか
かる問題点がある。
また、例えば、ラインセンサ等に用いるレンズの場合、
光軸に対して垂直な面内における所定の方向の特性が良
好であれば、実用的には同等問題がないにも拘らず、目
視検査の場合、レンズの全体を検査するため、ラインセ
ンサに用いる場合においては、実質的に問題とならない
方向に欠点があるレンズも不合格とされてしまい、歩留
まりが悪化する問題点がある。
本発明はこのような状況に鑑みてなされたもので、レン
ズを短時間かつ自動的に検査することができるようにす
るとともに、レンズの歩留まりを向上するものである。
[課題を解決するための手段] 本発明のレンズ検査装置は、被検査レンズが、少なくと
もその光軸を中心として回転可能に設置される設置台と
、被検査レンズを検査するための像が形成されているチ
ャートと、チャートに直線状の光を照射する光源と、レ
ンズを介してチャートの像が結像される受光素子部と、
被検査レンズを回転制御し、受光素子部の出力から、複
数の回転位置におけるMTFを演算し、演算結果を所定
の基準値と比較する制御部と、制御部における比較結果
を表示する表示部とを備えることを特徴とする。
[作用] 上記構成のレンズ検査装置においては、被検査レンズが
光軸を中心として回転きれ、各回転位置におけるMTF
が演算される。所定の回転位置における演算値が所定の
基準値を満足するとき、そのレンズは合格とされる。
従って、レンズの方向毎の検査を自動的に行なうことが
できる。
[実施例] 第2図および第3図は、本発明のレンズ検査装置の一実
施例の構成を示す正面図と側面図、第1図はその主要部
の電気的構成を示すブロック図である。
略直線状(棒状)に形成された光源2より発生された光
は、チャート1に照射される。光源2は冷却ファン12
により冷却されている。チャート1により反射された光
は、暗箱11中を案内され、設置台4に設置された被検
査レンズ3に入射される。被検査レンズ3はチャート1
に予め形成されている(Iを、例えばCCD等の受光素
子部5に結像きせる。
受光素子部5に入力された像は、そこで光電変換された
後、メモリ6に供給され、書込まれる。
タイミングコントロール部7は、例えばマイクロコンユ
ータ等よりなる制御部8や、受光素子部5の出力を基準
にして、種々のタイミング信号を生成し、メモリ6等に
供給する。操作入力部10は操作に対応する信号を制御
部8に出力する。制御部8は、メモリ6に記憶されたデ
ータを処理し、必要な情報を表示部9に表示する。
次に、第4図のフローチャートを参照して、その動作を
説明する。
操作入力部10の操作により、電源がオンされたとき、
制御部8はシステムをイニシャライズする(ステップS
L)。操作者は次に、設置台4に被検査レンズ3を設置
する(ステップS2)。制御wJ部8は操作入力部10
の操作により、検査のスタートが指令されると、メモリ
6をイニシャライズする(ステップ゛S3.S4)。
次に、制御部8は、設置台4を駆動し、被検査レンズ3
を、その光軸方向(第1図中左右方向)に移動きせる(
ステップS5)。制御部8は、被検査レンズ3を介して
受光素子部5に入力されているチャート1の像を、被検
査レンズ3が、例えば、10μm移動する毎に、メモリ
6に書込み、書込んだデータからMTFを計算する(ス
テップS6)。
この処理が最大のMTFが求められる士で繰返される(
ステップS7)。最大のMTFが求められたとぎ、被検
査レンズ3はその位置に停止される。
すなわち、このようにして、ピント調整が行なわれる。
ピントの調整が完了した後、制御部8は設置台4を、光
軸を中心として時計方向または反時計方向に回転し、3
0度回転する毎にMTFを計算する(ステップS8.S
9)。この処理は、被検査レンズ3が合計180度回転
されるまで行なわれる(ステップ510)。
次に、制御卸部8は、被検査レンズ3を最大のM’[’
Fが求められる回転位置に回転するとともに、その最大
のMTFを表示部9に表示きせる(ステップSll、 
 512)。ざらに、制御部8は、この最大のMTFを
、予め設定しである基準値(規格値)と比較し、基準値
以上であるとき合格の表示を、また、未満であるとき不
合格の表示を、表示部9に表示させる(ステップS13
乃至515)。
被検査レンズ3は、ラインセンサ等の直線状の受光素子
アレイに光を集光するのに用いられる。
従って、最大のMTFが得られる方向を、ラインセンν
の方向に対応きせることにより、充分な品質を有するラ
インセンサを実現することかできる。
このため、被検査レンズ3には、最大のMTFが得られ
る方向に目印等が付され、ラインセンサに組込むとき、
その方向が一致づるように調整される。
以上のようにして、検査が終了したとぎ、被検査レンズ
3か交換され、新たな被検査レンズについて同様の処理
が行なわれる(ステップ516)。
次に、第5図を参照して、MTFと被検査レンズ3の解
19/度の関係について説明する。
チャート1の像が、第5図Bに示すように、比較的広い
間隔の黒と白の像であるとぎ、受光素子部5からの出力
は、第5図Aに示す、L:うに、それぞれ黒および白の
レベルに一致する。
しかしながら、第5図りに示すように、黒と白の像の間
隔か狭くなると、受光素子部5の出力は、第5図Cに示
すように、黒と白の中間のレベルになる。受光素子部5
の出力の、白と黒の像に対応Jるレベルの差をA、黒レ
ベルと黒の像に対応づるレベルとの差をBとすると、M
TFは次式より演算される。
MTF=A/ ((A十B)+B) =A/(八+2B) 一ヒ式より明らかなように、解像度か良好な程、M T
Fは大きくなる。従って、MTFを計算することにより
、実質的に被検査レンズ3の解像度を検査することがで
きる。
し発明の効果] 以上のように、本発明のレンズ検査装置によれば、被検
査レンズを光軸を中心として回転し、複数の回転位置に
おけるMTFを演算し、演算結果を所定の基準値と比較
するようにしたので、所定の回転位置における演箆値が
所定の基準値を満足づるとき、そのレンズを合125と
することができる。
従って、レンズの検査を短時間かつ自動的に行なうこと
ができる。また、1つの方向におけるMTFか基準を満
足しなくとも、他の方向におけるMT Fか基準を満足
すれば、そのレンズを合格とJることかてきるので、し
ンズの歩留まりを向上きせることかできる。
【図面の簡単な説明】
第1図は第2図および第3図の実施例の電気的構成を示
すブロック図、第2図は本発明のレンズ検M装置の一実
施例の構成を示す正面図、第3図は本発明のレンズ検査
装置の一実施例の構成を示す側面図、第4図は第1図に
示す実施例の動作を説明するフローチャート、第5図は
MTFと解像度の関係を説明する図である。 1 チャート 2°−光源 3°被検査レンズ 4・・・設置台 5・・・受光素子部 6− メモリ 7−タイミングコントロール部 8・制御部 9°表示部 10−操作入力部 11 暗箱 12 冷却ファン 持許畠願人オムロン株式会社

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 被検査レンズが、少なくともその光軸を中心として回転
    可能に設置される設置台と、 前記被検査レンズを検査するための像が形成されている
    チャートと、 前記チャートに直線状の光を照射する光源と、前記レン
    ズを介して前記チャートの像が結像される受光素子部と
    、 前記被検査レンズを回転制御し、前記受光素子部の出力
    から、複数の回転位置におけるMTFを演算し、演算結
    果を所定の基準値と比較する制御部と、 前記制御部における比較結果を表示する表示部とを備え
    ることを特徴とするレンズ検査装置。
JP13652790A 1990-05-25 1990-05-25 レンズ検査装置 Pending JPH0429031A (ja)

Priority Applications (1)

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JP13652790A JPH0429031A (ja) 1990-05-25 1990-05-25 レンズ検査装置

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JP13652790A JPH0429031A (ja) 1990-05-25 1990-05-25 レンズ検査装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0429031A true JPH0429031A (ja) 1992-01-31

Family

ID=15177270

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JP13652790A Pending JPH0429031A (ja) 1990-05-25 1990-05-25 レンズ検査装置

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JP (1) JPH0429031A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008256395A (ja) * 2007-04-02 2008-10-23 Nisca Corp 画像読取装置用のレンズ検査方法及びレンズ検査装置
CN105093480A (zh) * 2015-04-17 2015-11-25 江苏正桥影像科技股份有限公司 一种提高光学镜头对焦精确度的方法

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008256395A (ja) * 2007-04-02 2008-10-23 Nisca Corp 画像読取装置用のレンズ検査方法及びレンズ検査装置
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