JPH04278449A - 液体成分濃度測定装置 - Google Patents
液体成分濃度測定装置Info
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- JPH04278449A JPH04278449A JP4159191A JP4159191A JPH04278449A JP H04278449 A JPH04278449 A JP H04278449A JP 4159191 A JP4159191 A JP 4159191A JP 4159191 A JP4159191 A JP 4159191A JP H04278449 A JPH04278449 A JP H04278449A
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- 239000007788 liquid Substances 0.000 title claims abstract description 38
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 44
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims description 15
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 15
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000007774 longterm Effects 0.000 description 2
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 2
- 238000011088 calibration curve Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 239000012085 test solution Substances 0.000 description 1
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- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は高周波誘電率の変化を利
用した液体成分濃度測定装置に関するものである。
用した液体成分濃度測定装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】図６は従来の高周波を利用した液体成分
濃度測定装置の一例を示すもので、同図において１は、
高周波発信回路、２は基準高周波発信回路、３は混合器
、４は増幅器、５は指示記録計、１０は測定セルであっ
て検出素子としては、図７に示すように、パイプ１１内
に介在させたコンデンサ１２が用いられる。
濃度測定装置の一例を示すもので、同図において１は、
高周波発信回路、２は基準高周波発信回路、３は混合器
、４は増幅器、５は指示記録計、１０は測定セルであっ
て検出素子としては、図７に示すように、パイプ１１内
に介在させたコンデンサ１２が用いられる。
【０００３】高周波容量測定法による基本的な構成例を
図６に示したが、測定セルを高周波発信回路内に組込み
、一方に基準高周波発信回路を用意して、両発信器より
の信号を混合器に入れ、ビート信号として取り出す。 測定液の誘電率変化は容量変化として検出され、容量変
化にもとづく測定発信器の周波数変化をビート信号とし
て検出したのち電子管式自動平衡計器で測定する。
図６に示したが、測定セルを高周波発信回路内に組込み
、一方に基準高周波発信回路を用意して、両発信器より
の信号を混合器に入れ、ビート信号として取り出す。 測定液の誘電率変化は容量変化として検出され、容量変
化にもとづく測定発信器の周波数変化をビート信号とし
て検出したのち電子管式自動平衡計器で測定する。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】図６と図７に示す液体
成分濃度測定装置によれば、（１）可動部がなく検出部
がシンプルである。（２）連続計測が可能、（３）リア
ルタイム計測が可能、（４）サンプルの色の影響を受け
ない等の特徴がある。
成分濃度測定装置によれば、（１）可動部がなく検出部
がシンプルである。（２）連続計測が可能、（３）リア
ルタイム計測が可能、（４）サンプルの色の影響を受け
ない等の特徴がある。
【０００５】しかし被測定液にスライム、あるいはスケ
ールなどの付着物を接液部に生じる性質のある場合には
測定に誤差を生じる。例えば最も単純化した例を図７に
示す。図の様に電極１２ａ，１２ｂからなる平行板コン
デンサを被測定液に浸漬したとして、電極間距離をｔ、
電極面積をＳ、被測定液のの被誘電率をεｓ、真空の誘
電率をεｏとすると、コンデンサの静電容量はＣ＝εｏ
εｓＳ／ｔ……（１） であり、Ｃの測定から εｓ＝ｔ／εｏＳＣ……（２） によりある成分濃度とεｓの関係から濃度を求める。
ールなどの付着物を接液部に生じる性質のある場合には
測定に誤差を生じる。例えば最も単純化した例を図７に
示す。図の様に電極１２ａ，１２ｂからなる平行板コン
デンサを被測定液に浸漬したとして、電極間距離をｔ、
電極面積をＳ、被測定液のの被誘電率をεｓ、真空の誘
電率をεｏとすると、コンデンサの静電容量はＣ＝εｏ
εｓＳ／ｔ……（１） であり、Ｃの測定から εｓ＝ｔ／εｏＳＣ……（２） によりある成分濃度とεｓの関係から濃度を求める。
【０００６】ここで各電極に厚さｄで誘電率εｄの付着
物が付いたとするとその時の静電容量Ｃ′は Ｃ′＝
Ｃ１Ｃ２Ｃ３／（Ｃ１Ｃ２＋Ｃ２Ｃ３＋Ｃ３Ｃ１）＝ε
ｏｔ／｛１／εｄ−１／εｓ）２ｄ＋１／εｓ｝……（
３） ここで Ｃ１＝εｏεｓＳ／（ｔ−２ｄ）、Ｃ２
＝Ｃ３＝εｏεｄＳ／２ｄである。 従って誘電率に次の誤差を生じる。
物が付いたとするとその時の静電容量Ｃ′は Ｃ′＝
Ｃ１Ｃ２Ｃ３／（Ｃ１Ｃ２＋Ｃ２Ｃ３＋Ｃ３Ｃ１）＝ε
ｏｔ／｛１／εｄ−１／εｓ）２ｄ＋１／εｓ｝……（
３） ここで Ｃ１＝εｏεｓＳ／（ｔ−２ｄ）、Ｃ２
＝Ｃ３＝εｏεｄＳ／２ｄである。 従って誘電率に次の誤差を生じる。
【０００７】
ε’ｓ／εｓ＝１／｛（εｓ／εｄ−１）２ｄ／ｔ
＋１｝……（４）以上の様な付着物による誤差は長期間
の使用でほとんどの液体で生じる問題である。また液体
が不透明であったり、液体は透明でも配管が不透明な材
質の場合にはスケール、スライムの付着を簡単に知るこ
とは困難である。 このことは的確な保守間隔、保守時期の検知が困難であ
り、使いにくい計測器であることを示している。
＋１｝……（４）以上の様な付着物による誤差は長期間
の使用でほとんどの液体で生じる問題である。また液体
が不透明であったり、液体は透明でも配管が不透明な材
質の場合にはスケール、スライムの付着を簡単に知るこ
とは困難である。 このことは的確な保守間隔、保守時期の検知が困難であ
り、使いにくい計測器であることを示している。
【０００８】本発明は上述の問題点に鑑みてなされたも
ので、その目的とするところは、測定が容易にして高性
能な液体成分濃度測定装置を提供することである。
ので、その目的とするところは、測定が容易にして高性
能な液体成分濃度測定装置を提供することである。
【０００９】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記目的を達
成するために、被測定液に浸漬すべき複数のコンデンサ
からなる濃度検出部と、この濃度検出部の濃度検出信号
を高周波電圧に基づいて容量値を算出する容量検出部と
、この容量検出部の検出容量値を基に演算して前記被測
定液の誘電率を算出すると共に、この誘電率を基に前記
被測定液の成分濃度を算出する演算部によって液体成分
濃度測定装置を得る。
成するために、被測定液に浸漬すべき複数のコンデンサ
からなる濃度検出部と、この濃度検出部の濃度検出信号
を高周波電圧に基づいて容量値を算出する容量検出部と
、この容量検出部の検出容量値を基に演算して前記被測
定液の誘電率を算出すると共に、この誘電率を基に前記
被測定液の成分濃度を算出する演算部によって液体成分
濃度測定装置を得る。
【００１０】
【作用】被測定液中に浸漬された複数のコンデンサによ
る濃度検出信号を基に容量検出回路によって高周波電圧
に基づく容量値を検出し、この容量値検出信号を基に演
算部によって被測定液の誘電率を算出するとともに濃度
を算出する。
る濃度検出信号を基に容量検出回路によって高周波電圧
に基づく容量値を検出し、この容量値検出信号を基に演
算部によって被測定液の誘電率を算出するとともに濃度
を算出する。
【００１１】
【実施例】以下に本発明の実施例を図１から図５を参照
しながら説明する。
しながら説明する。
【００１２】図１は本発明の実施例による液体成分濃度
測定装置を示すもので、図１において１３は濃度検出部
で、図３に示すように、第１のコンデンサ１３ａと第２
のコンデンサ１３ｂからなる。１４ａは第１のコンデン
サ１３ａの容量値を検出する第１の容量検出回路、１４
ｂは第２のコンデンサ１３ｂの容量値を検出する第２の
容量検出回路、１５ａは第１の演算回路、１５ｂは第２
の演算回路で、これらの演算回路はそれぞれ第１の容量
検出回路１４ａの検出容量ＣＡと第２の容量検出回路１
４ｂの検出容量ＣＢを入力として演算を行う。１６は第
１の演算回路１５ａの演算出力εｓを入力として濃度を
算出する出力回路である。第２の演算回路１５ｂは、図
４に示すように、コンデンサ電極に付着した付着物２１
の厚さ２ｄを算出する。
測定装置を示すもので、図１において１３は濃度検出部
で、図３に示すように、第１のコンデンサ１３ａと第２
のコンデンサ１３ｂからなる。１４ａは第１のコンデン
サ１３ａの容量値を検出する第１の容量検出回路、１４
ｂは第２のコンデンサ１３ｂの容量値を検出する第２の
容量検出回路、１５ａは第１の演算回路、１５ｂは第２
の演算回路で、これらの演算回路はそれぞれ第１の容量
検出回路１４ａの検出容量ＣＡと第２の容量検出回路１
４ｂの検出容量ＣＢを入力として演算を行う。１６は第
１の演算回路１５ａの演算出力εｓを入力として濃度を
算出する出力回路である。第２の演算回路１５ｂは、図
４に示すように、コンデンサ電極に付着した付着物２１
の厚さ２ｄを算出する。
【００１３】図２は上記第１，第２の容量検出部１４ａ
，１４ｂの詳細な構成を示すもので、１７は高周波交流
電源、１８は濃度検出部１３に直列接続された基準抵抗
、１９ａは容量検出部１３の分担電圧を入力する第１の
絶対値回路、１９ｂは基準抵抗１８の分担電圧Ｅ３を入
力とする第２の絶対値回路、２０は第１，第２の絶対値
回路１９ａ，１９ｂの出力｜Ｅ２｜，｜Ｅ３｜を入力と
する割算回路である。
，１４ｂの詳細な構成を示すもので、１７は高周波交流
電源、１８は濃度検出部１３に直列接続された基準抵抗
、１９ａは容量検出部１３の分担電圧を入力する第１の
絶対値回路、１９ｂは基準抵抗１８の分担電圧Ｅ３を入
力とする第２の絶対値回路、２０は第１，第２の絶対値
回路１９ａ，１９ｂの出力｜Ｅ２｜，｜Ｅ３｜を入力と
する割算回路である。
【００１４】上記構成の液体成分濃度測定装置において
、説明を簡単にするために図３に示すように被検液の流
通するパイプ１１に２つの平行板コンデンサ１３ａ，１
３ｂを設置したと考える。それぞれの検出電極を１３ｃ
，１３ｄ，１３ｅ，１３ｆとする。各電極板の距離をｔ
Ａ，ｔＢ、電極板の面積をＳとすると前出の様にそれぞ
れの静電容量ＣＡ，ＣＢは、 ＣＡ＝εｏεｓＳ／ｔＡ……（５） ＣＢ＝εｏεｓＳ／ｔＢ……（６） しかし前述の様に長期間使用検液の濃度とεｓの関係が
分かっていれば測定が行える。すると管内及び検出電極
に汚れが付着し測定誤差を生じるようになる。今、図４
の様に各部に等しく厚さｄのスケール、スライムなどの
付着があったと仮定すると、 Ｃ’Ａ＝εｏＳ／｛（１／εｄ−１／εｓ）２ｄ＋
ｔＡ／εｓ｝……（７） Ｃ’Ｂ＝εｏＳ／｛（１／
εｄ−１／εｓ）２ｄ＋ｔＢ／εｓ｝……（８）（７）
，（８）式より εｓ＝（ｔＡ−ｔＢ）／εｏ（１／Ｃ’Ａ−１／Ｃ
’Ｂ）Ｓ……（９）ここでｔＡ，ｔＢＳは検出部形状の
定数、εｏ＝８．８５４×１０−１２〔Ｆ／ｍ〕である
。従ってＣ’Ａ，Ｃ’Ｂの計測によりεｓを決定でき、
成分濃度を演算できる。しかもこの方法は電極表面の汚
れ付着の影響を受けない。
、説明を簡単にするために図３に示すように被検液の流
通するパイプ１１に２つの平行板コンデンサ１３ａ，１
３ｂを設置したと考える。それぞれの検出電極を１３ｃ
，１３ｄ，１３ｅ，１３ｆとする。各電極板の距離をｔ
Ａ，ｔＢ、電極板の面積をＳとすると前出の様にそれぞ
れの静電容量ＣＡ，ＣＢは、 ＣＡ＝εｏεｓＳ／ｔＡ……（５） ＣＢ＝εｏεｓＳ／ｔＢ……（６） しかし前述の様に長期間使用検液の濃度とεｓの関係が
分かっていれば測定が行える。すると管内及び検出電極
に汚れが付着し測定誤差を生じるようになる。今、図４
の様に各部に等しく厚さｄのスケール、スライムなどの
付着があったと仮定すると、 Ｃ’Ａ＝εｏＳ／｛（１／εｄ−１／εｓ）２ｄ＋
ｔＡ／εｓ｝……（７） Ｃ’Ｂ＝εｏＳ／｛（１／
εｄ−１／εｓ）２ｄ＋ｔＢ／εｓ｝……（８）（７）
，（８）式より εｓ＝（ｔＡ−ｔＢ）／εｏ（１／Ｃ’Ａ−１／Ｃ
’Ｂ）Ｓ……（９）ここでｔＡ，ｔＢＳは検出部形状の
定数、εｏ＝８．８５４×１０−１２〔Ｆ／ｍ〕である
。従ってＣ’Ａ，Ｃ’Ｂの計測によりεｓを決定でき、
成分濃度を演算できる。しかもこの方法は電極表面の汚
れ付着の影響を受けない。
【００１５】また（７），（８）式より ２ｄ＝Ｓε
ｏ（ｔＢ／ＣＡ−ｔＡ／ＣＢ）／（ｔＢ−ｔＡ）（１／
εｄ−１／εｓ）……（１０） 従って、管内に付着するスケール、スライムなどのεｄ
の値があらかじめ分かっていれば汚れ付着の厚さｄを（
１０）式より推定することができる。
ｏ（ｔＢ／ＣＡ−ｔＡ／ＣＢ）／（ｔＢ−ｔＡ）（１／
εｄ−１／εｓ）……（１０） 従って、管内に付着するスケール、スライムなどのεｄ
の値があらかじめ分かっていれば汚れ付着の厚さｄを（
１０）式より推定することができる。
【００１６】図２に示すように、濃度検出部１３のイン
ピーダンスをＺ、基準抵抗１８の抵抗値をＲＳとし、被
検液の成分測定に適した周波数の交流電圧Ｅ１が濃度検
出部１３と基準抵抗１８に印加されると、それぞれの分
担電圧Ｅ２，Ｅ３は第１，第２の絶対値回路１９ａ，１
９ｂで全波整流され｜Ｅ２｜，｜Ｅ３｜となる。割算回
路２０で割算を行い｜Ｅ２｜／｜Ｅ３｜として容量値Ｃ
（ＣＡ，ＣＢ）を次のようにして出力する。
ピーダンスをＺ、基準抵抗１８の抵抗値をＲＳとし、被
検液の成分測定に適した周波数の交流電圧Ｅ１が濃度検
出部１３と基準抵抗１８に印加されると、それぞれの分
担電圧Ｅ２，Ｅ３は第１，第２の絶対値回路１９ａ，１
９ｂで全波整流され｜Ｅ２｜，｜Ｅ３｜となる。割算回
路２０で割算を行い｜Ｅ２｜／｜Ｅ３｜として容量値Ｃ
（ＣＡ，ＣＢ）を次のようにして出力する。
【００１７】
Ｅ２＝Ｅ１｛Ｚ／（ＲＳ＋Ｚ）｝＝Ｅ１｛１／ｊω
Ｃ／（ＲＳ＋１／ｊωＣ）｝＝Ｅ１｛１／（１＋ω２Ｃ
２Ｒ２Ｓ）−ｊωＣＲＳ／（１＋ω２Ｃ２Ｒ２Ｓ）｝…
…（１１） ｜Ｅ２｜＝｜Ｅ１｜＝１／（１＋ω２Ｃ
２Ｒ２Ｓ）１／２……（１２） Ｅ３＝Ｅ１ＲＳ／（
ＲＳ＋Ｚ）＝Ｅ１ＲＳ／（ＲＳ＋１／ｊωＣ）＝Ｅ１｛
（ω２Ｃ２Ｒ２Ｓ／（１＋ω２Ｃ２Ｒ２Ｓ）＋ｊωＣＲ
Ｓ／（１＋ω２Ｃ２Ｒ２Ｓ）｝……（１３） ｜Ｅ２
｜＝｜Ｅ１｜ωＣＲＳ／（１＋ω２Ｃ２Ｒ２Ｓ）……（
１４） ∴Ｃ＝（１／ωＲＳ）（｜Ｅ３｜／｜Ｅ２｜
）……（１５）ω、ＲＳは定数であるので、前波整流後
の出力を演算する事によりＣ値を決定することができる
。もちろん（１２）式から演算することもできるが、（
１５）式の方法の方が簡単であり交流電源の電圧変動の
影響を受けない利点がある。
Ｃ／（ＲＳ＋１／ｊωＣ）｝＝Ｅ１｛１／（１＋ω２Ｃ
２Ｒ２Ｓ）−ｊωＣＲＳ／（１＋ω２Ｃ２Ｒ２Ｓ）｝…
…（１１） ｜Ｅ２｜＝｜Ｅ１｜＝１／（１＋ω２Ｃ
２Ｒ２Ｓ）１／２……（１２） Ｅ３＝Ｅ１ＲＳ／（
ＲＳ＋Ｚ）＝Ｅ１ＲＳ／（ＲＳ＋１／ｊωＣ）＝Ｅ１｛
（ω２Ｃ２Ｒ２Ｓ／（１＋ω２Ｃ２Ｒ２Ｓ）＋ｊωＣＲ
Ｓ／（１＋ω２Ｃ２Ｒ２Ｓ）｝……（１３） ｜Ｅ２
｜＝｜Ｅ１｜ωＣＲＳ／（１＋ω２Ｃ２Ｒ２Ｓ）……（
１４） ∴Ｃ＝（１／ωＲＳ）（｜Ｅ３｜／｜Ｅ２｜
）……（１５）ω、ＲＳは定数であるので、前波整流後
の出力を演算する事によりＣ値を決定することができる
。もちろん（１２）式から演算することもできるが、（
１５）式の方法の方が簡単であり交流電源の電圧変動の
影響を受けない利点がある。
【００１８】前述のように図１は濃度測定の全体構成を
示す。ＺＡ，ＺＢは図３の検出電極１３ｃ，１３ｄ，１
３ｅ，１３ｆのインピーダンスを表す。それぞれの静電
容量は図２の静電容量計測回路により検出されＣＡ，Ｃ
Ｂとなり、次の演算回路では（９）式に従ってεｓを算
出し、図５の校正曲線により成分濃度を検出する。
示す。ＺＡ，ＺＢは図３の検出電極１３ｃ，１３ｄ，１
３ｅ，１３ｆのインピーダンスを表す。それぞれの静電
容量は図２の静電容量計測回路により検出されＣＡ，Ｃ
Ｂとなり、次の演算回路では（９）式に従ってεｓを算
出し、図５の校正曲線により成分濃度を検出する。
【００１９】また演算回路１５ｂでは（１０）式の演算
を行い電極表面への汚れ付着状況の推定を行う。
を行い電極表面への汚れ付着状況の推定を行う。
【００２０】以上の演算、検出は被測定液の直流抵抗値
が比較的高異場合に有効である。また測定周波数は被測
定液の測定対象成分の濃度変化が敏感に比誘電率の変化
に現れる領域を選ぶ。
が比較的高異場合に有効である。また測定周波数は被測
定液の測定対象成分の濃度変化が敏感に比誘電率の変化
に現れる領域を選ぶ。
【００２１】高周波誘電率を利用した液体濃度測定法は
連続的に、オンラインで計測できる有用な方法であるが
、本検討による手段を適用することにより安定した使い
やすい計測方法とすることができる。
連続的に、オンラインで計測できる有用な方法であるが
、本検討による手段を適用することにより安定した使い
やすい計測方法とすることができる。
【００２２】図３の電極構成、図２の回路、図１の構成
をとることにより、また式（９），（１０），（１５）
を用いることにより、（１）電極表面の汚れ付着による
検出差を生じない、（２）汚れ付着状況（厚さ）の推定
ができる、（３）簡単な回路構成で検出用の高周波電源
電圧の変動の影響を受けない。
をとることにより、また式（９），（１０），（１５）
を用いることにより、（１）電極表面の汚れ付着による
検出差を生じない、（２）汚れ付着状況（厚さ）の推定
ができる、（３）簡単な回路構成で検出用の高周波電源
電圧の変動の影響を受けない。
【００２３】等の効果を得ることができる。
【００２４】
【発明の効果】本考案は、上記の如くであって、被測定
液の濃度を検出する濃度検出部として複数のコンデンサ
を用い、これらのコンデンサの容量を基に高周波電圧に
基づく誘電率を算出し、この算出された誘電率から被測
定液の成分濃度を求めるものであるから、高性能にして
測定容易な液体成分濃度測定装置が得られる。
液の濃度を検出する濃度検出部として複数のコンデンサ
を用い、これらのコンデンサの容量を基に高周波電圧に
基づく誘電率を算出し、この算出された誘電率から被測
定液の成分濃度を求めるものであるから、高性能にして
測定容易な液体成分濃度測定装置が得られる。
【図１】本発明の実施例による液体成分濃度測定装置の
ブロック図。
ブロック図。
【図２】図１の装置の容量検出部のブロック図。
【図３】図１の装置の濃度検出部の構成図。
【図４】濃度検出部の動作説明図。
【図５】図１の装置の演算特性図。
【図６】従来の液体成分濃度測定装置のブロック図。
【図７】図６の装置の測定セルの構成図。
１３…濃度検出部、１３ａ…第１のコンデンサ、１３ｂ
…第２のコンデンサ、１４ａ…第１の容量検出回路、１
４ｂ…第２の容量検出回路、１５ａ…第１の演算回路、
１５ｂ…第２の演算回路、１６…出力回路。
…第２のコンデンサ、１４ａ…第１の容量検出回路、１
４ｂ…第２の容量検出回路、１５ａ…第１の演算回路、
１５ｂ…第２の演算回路、１６…出力回路。
Claims (1)
- 【請求項１】 被測定液に浸漬すべき複数のコンデン
サからなる濃度検出部と、この濃度検出部の濃度検出信
号を高周波電圧に基づいて容量値を算出する容量検出部
と、この容量検出部の検出容量値を基に演算して前記被
測定液の誘電率を算出すると共に、この誘電率を基に前
記被測定液の成分濃度を算出する演算部によって構成し
たことを特徴とする液体成分濃度測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4159191A JPH04278449A (ja) | 1991-03-07 | 1991-03-07 | 液体成分濃度測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4159191A JPH04278449A (ja) | 1991-03-07 | 1991-03-07 | 液体成分濃度測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04278449A true JPH04278449A (ja) | 1992-10-05 |
Family
ID=12612662
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4159191A Pending JPH04278449A (ja) | 1991-03-07 | 1991-03-07 | 液体成分濃度測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04278449A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006138737A (ja) * | 2004-11-12 | 2006-06-01 | Fanuc Ltd | 比抵抗検出器及び比抵抗検出装置 |
| JP5278601B2 (ja) * | 2010-04-15 | 2013-09-04 | トヨタ自動車株式会社 | 燃料性状検出装置の異常検出装置 |
-
1991
- 1991-03-07 JP JP4159191A patent/JPH04278449A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006138737A (ja) * | 2004-11-12 | 2006-06-01 | Fanuc Ltd | 比抵抗検出器及び比抵抗検出装置 |
| JP5278601B2 (ja) * | 2010-04-15 | 2013-09-04 | トヨタ自動車株式会社 | 燃料性状検出装置の異常検出装置 |
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