JPH042773A - High speed film forming sputtering apparatus - Google Patents

High speed film forming sputtering apparatus

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JPH042773A
JPH042773A JP10299790A JP10299790A JPH042773A JP H042773 A JPH042773 A JP H042773A JP 10299790 A JP10299790 A JP 10299790A JP 10299790 A JP10299790 A JP 10299790A JP H042773 A JPH042773 A JP H042773A
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high speed
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JP10299790A
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Mitsuo Kato
光雄 加藤
Toshio Taguchi
田口 俊夫
Hajime Okita
沖田 肇
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Mitsubishi Heavy Industries Ltd
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Abstract

PURPOSE:To carry out high speed film formation with a compact apparatus when a base plate is disposed in the sideward space of a pair of polygonal targets by arranging the plural pairs of targets side by side and providing specified magnets. CONSTITUTION:A cooling roll 18 is disposed sidewards in the plasma space parts 13-15 of the polygonal target provided with permanent magnets on the rear surfaces in a vacuum vessel 1, and the base plate 16 is transferred along the cooling roll. In the figure, three pairs of polygonal targets 2,2a-4,4a are confronted with each space part 13-15 between, and the permanent magnets 8-11 are disposed between adjacent targets. The pole of magnet is directed to the target, and the magnetic lines B of force perpendicular to the surface of target to be sputtered as shown with arrow are formed. The inside of the vessel 1 is evacuated, sputtering gas is introduced, voltage is impressed making the target as cathode to form the magnetic lines B of force, and the plasma is formed which is made of atoms, etc., flying out of the sputtered target. These atoms, etc., are deposited on the base plate 16, and the film 17 is formed in high speed.

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、プラスチックフィルム、紙、鋼板等の表面に
機能性薄膜を形成するためのスパッタリング装置に関す
る。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (Industrial Application Field) The present invention relates to a sputtering apparatus for forming a functional thin film on the surface of a plastic film, paper, steel plate, etc.

(従来の技術) 第3図〜第5図は特開昭60−46369号公報に記載
の対向ターゲット式スパッタリング装置の概念図てあり
、第3図はターゲットと基板との配置状態を示す斜視図
であり、第4図は対向ターゲy)式スパッタリング装置
の全体の断面図であり、第5図は第4図の^−A矢視平
面図である。
(Prior Art) FIGS. 3 to 5 are conceptual diagrams of a facing target type sputtering apparatus described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 60-46369, and FIG. 3 is a perspective view showing the arrangement of targets and substrates. FIG. 4 is a cross-sectional view of the entire facing target sputtering apparatus, and FIG. 5 is a plan view taken along the arrow ^-A in FIG. 4.

第3図においては、ホルダー22.22aに保持された
一対の角形ターゲット21.21aの空間部の側方に、
冷却ロール20を平行に配置し、該冷却ロール2oに巻
装させた連続テープ状の基板19を移送させながら、上
記空間部からのプラズマ流により基板19上に成膜する
ものである。
In FIG. 3, on the sides of the space of a pair of rectangular targets 21.21a held by a holder 22.22a,
Cooling rolls 20 are arranged in parallel, and a continuous tape-shaped substrate 19 wound around the cooling roll 2o is transferred while a film is formed on the substrate 19 by a plasma flow from the space.

第4図においては、ホルダー22.22aに保持された
ターゲラ) 22.22aは、空間部23を隔てて対向
させた長方形平板状の強磁性体よりなる角形ターゲット
であり、該ターゲット22.22aのスパッタ面25゜
25aと僅かな間隔を隔ててその周辺部外方にシールド
リング24.24aを覆設し、該シールドリング242
4aは上記ターゲットホルダー22.22aと絶縁体2
6゜26aにより絶縁して接地させている。第5図に示
すシールドチップ27.27aは、角形ターゲット21
゜21aの周辺部に設けたシールドリング24.24a
の略中央部6カ所に適宜間隔て配置し、上方に突出する
ように相対峙させる。該ンールドチップ27.27aは
シールドリング24.24aを介して接地される。また
、角形ターゲラ) 21.21aの背面には永久磁石2
828aが配置され、角形ターゲラ) 21.21aの
スパッタ面25.25aに垂直方向の磁界を発生するよ
うにそれぞれ対向配置する。真空槽29は角形ターゲッ
ト2]、 21a及び空間部23を包囲する。
In FIG. 4, the target 22.22a held by a holder 22.22a is a rectangular target made of a ferromagnetic material in the shape of a rectangular plate facing each other with a space 23 in between. A shield ring 24.24a is provided outside the periphery of the sputtering surface 25°25a with a slight distance therebetween, and the shield ring 242
4a is the target holder 22.22a and the insulator 2
It is insulated and grounded by 6°26a. The shield chip 27.27a shown in FIG.
Shield ring 24.24a provided around the periphery of ゜21a
They are arranged at appropriate intervals at six locations approximately in the center of the screen, and are opposed to each other so as to protrude upward. The rolled chip 27.27a is grounded via a shield ring 24.24a. In addition, there is a permanent magnet 2 on the back of 21.21a.
828a are disposed and are arranged opposite to each other so as to generate a magnetic field perpendicular to the sputtering surface 25.25a of the square targetera 21.21a. The vacuum chamber 29 surrounds the rectangular targets 2], 21a, and the space 23.

第4図の装置による成膜の手順を説明すると、まず、真
空槽29内部を真空排気し、アルゴン等のスパッタガス
を導入し、その後角形ターゲット21゜21aを陰極と
するように電圧を印加し、接地されたシールドリング2
4.24aとの間にグロー放電を発生させ、永久磁石2
8.28aによる角形ターゲット2424aに対して垂
直方向の磁界により、空間部23内に上記角形ターゲッ
ト21.21aの金属原子、二次電子及びアルゴンガス
イオン等の飛散したプラズマ状態が形成される。空間部
23内に突出して配置されたシールトチ・ノブ27.2
7aがプラズマ空間部内の二次電子を吸収してアルゴン
ガスのイオン化を制御してプラズマ密度の均一化をする
。このように均一化されたプラズマ空間部内の金属原子
は衝突を繰り返しなからエネルギーを失いつつ拡散によ
って、空間部23の側方の基板19に被着し、成膜され
る。
To explain the procedure for film formation using the apparatus shown in FIG. 4, first, the inside of the vacuum chamber 29 is evacuated, a sputtering gas such as argon is introduced, and then a voltage is applied so that the rectangular target 21° 21a serves as a cathode. , grounded shield ring 2
4.24a, generate a glow discharge between the permanent magnet 2
8.28a in a direction perpendicular to the rectangular target 2424a, a plasma state is formed in the space 23 in which metal atoms of the rectangular target 21.21a, secondary electrons, argon gas ions, etc. are scattered. A seal knob 27.2 protruding into the space 23
7a absorbs secondary electrons in the plasma space and controls the ionization of argon gas to make the plasma density uniform. The metal atoms in the plasma space thus homogenized repeatedly collide and lose energy while being diffused and adhere to the substrate 19 on the side of the space 23 to form a film.

(発明が解決しようとする課題) 上記の対向ターゲット式スパッタリング装置は、二極ス
パッタリング装置やマグ不トロンスバ、タリング装置等
に比べて薄膜形成速度が大きいが、工業上幅広く利用さ
れている真空蒸着装置に比べると、10分の1以下の薄
膜形成速度しか得らていない。
(Problem to be Solved by the Invention) The above-mentioned facing target type sputtering device has a higher thin film formation speed than a bipolar sputtering device, a magnetic sputtering device, a tarring device, etc., but it is a vacuum evaporation device that is widely used in industry. The thin film formation rate is less than one-tenth that of the previous method.

これは安定したグロー放電を維持するためのプラズマ空
間部におけるプラズマ密度に制約があるからである。上
記第4図に示した例では、スパッタ面に垂直な磁界を印
加することにより、プラズマ密度を向上させているが、
一対の角形ターゲットを使用する構造であるため、基板
への薄膜形成速度が不十分である。また、上記のスパッ
タリング装置を複数設置することも考えられるが、装置
全体が大きくなり、高価になるという問題がある。
This is because there are restrictions on the plasma density in the plasma space for maintaining stable glow discharge. In the example shown in FIG. 4 above, the plasma density is improved by applying a magnetic field perpendicular to the sputtering surface.
Since the structure uses a pair of rectangular targets, the thin film formation speed on the substrate is insufficient. It is also conceivable to install a plurality of the above sputtering apparatuses, but there is a problem that the entire apparatus becomes large and expensive.

そこで、本発明は、上記の問題点を解消し、コンパクト
で安価な高速成膜スパッタリング装置を提供しようとす
るものである。
Therefore, the present invention aims to solve the above-mentioned problems and provide a compact and inexpensive high-speed film forming sputtering apparatus.

(課題を解決するための手段) 本発明は、陰極となる一対の角形ターゲットのスパッタ
面を対向させ、該スパッタ面の間のプラズマ空間部の側
方に基板を配置した高速成膜スパッタリング装置におい
て、上記一対の角形ターゲットを複数組み併設し、隣接
する組みの角形ターゲットの背面にターゲット面に略垂
直な磁界を印加するように、磁石を配置したことを特徴
とする高速成膜スパッタリング装置である。
(Means for Solving the Problems) The present invention provides a high-speed film-forming sputtering apparatus in which the sputtering surfaces of a pair of rectangular targets serving as cathodes are opposed to each other, and a substrate is placed on the side of a plasma space between the sputtering surfaces. , a high-speed film-forming sputtering apparatus characterized in that a plurality of the above-mentioned pairs of rectangular targets are installed side by side, and magnets are arranged on the back surfaces of adjacent pairs of rectangular targets so as to apply a magnetic field substantially perpendicular to the target surfaces. .

(作用) 本発明による対向ターゲットの放電の原理は、対をなす
ターゲットの背面に永久磁石の両極をそれぞれ配置する
ことにより、磁力線が複数のターゲットのスパッタ面に
対して垂直に貫くように形成される。そして、該ターゲ
ットを陰極としてDC又はRFの高電圧を印加してター
ゲットの間で放電を発生させ、ターゲット間のガスを電
離させてプラズマを生成する。ファラデーの法則により
、ターゲットに直交する磁力線のまわりの電子が螺旋運
動を開始して他の原子と衝突して電離を促進するため、
プラズマ密度が増加し、イオン化領域が広くなり、薄膜
形成速度を増加させることができる。そして、従来の対
向ターゲット式スパッタリング装置が、ターゲット毎に
永久磁石を配置するのに対して、本発明では、ターゲッ
トの背面に設ける1つの永久磁石が、隣接する2つのタ
ーゲットに作用するため、使用する永久磁石の数を大幅
に減少させることができ、限られた容積の真空槽内に複
数対のターゲットを容易に組み込むことができるととも
に、複数対のターゲットにより同時に成膜することがで
きるところから、薄膜形成速度を飛躍的に増大させるこ
とができる。
(Function) The principle of electric discharge of opposing targets according to the present invention is that by arranging both poles of permanent magnets on the back surfaces of a pair of targets, lines of magnetic force are formed to perpendicularly penetrate the sputtering surfaces of multiple targets. Ru. Then, a DC or RF high voltage is applied using the target as a cathode to generate a discharge between the targets, ionizing the gas between the targets and generating plasma. According to Faraday's law, electrons around the magnetic field lines perpendicular to the target start a spiral motion and collide with other atoms, promoting ionization.
The plasma density is increased, the ionization region becomes wider, and the thin film formation rate can be increased. In addition, while conventional facing target sputtering equipment places a permanent magnet for each target, in the present invention, one permanent magnet provided on the back side of the target acts on two adjacent targets. The number of permanent magnets used can be significantly reduced, multiple pairs of targets can be easily incorporated into a vacuum chamber with limited volume, and films can be formed simultaneously using multiple pairs of targets. , the thin film formation rate can be dramatically increased.

(実施例) 第1図は本発明の1実施例である高速成膜スバ・ツタリ
ング装置の断面を示した概念図であり、第2図は第1図
の斜視図である。
(Example) FIG. 1 is a conceptual diagram showing a cross-section of a high-speed film-forming sputtering apparatus according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a perspective view of FIG. 1.

真空槽1内に、背面に永久磁石を備えた角形ターゲット
のプラズマ空間部+3.14.15の側方に冷却ロール
18を配置して、該冷却ロールに沿って移送する基板1
6上に成M17を形成するものである。図には3組の角
形ターゲット2.2a、 3.3a、4,4aをホルダ
ー5,5a、6,6a、7,7aで背面より保持しく第
2図参照)、空間部13.14.15をそれぞれ介して
対向させ、隣接するターゲットの間に永久磁石8.9.
10゜11を配置したもので、磁石の極は図のようにタ
ーゲットに向けることにより、ターゲットのスパッタ面
に垂直な磁力線Bが矢印のように形成される。
A cooling roll 18 is placed in the vacuum chamber 1 on the side of the plasma space +3.14.15 of a rectangular target equipped with a permanent magnet on the back, and the substrate 1 is transferred along the cooling roll.
A formation M17 is formed on 6. In the figure, three sets of rectangular targets 2.2a, 3.3a, 4, 4a are held from the back with holders 5, 5a, 6, 6a, 7, 7a (see Figure 2), and a space 13, 14, 15. Permanent magnets 8, 9, .
By directing the magnet pole toward the target as shown in the figure, lines of magnetic force B perpendicular to the sputtering surface of the target are formed as shown by the arrows.

なお、永久磁石は基板16に向かってターゲ・y)の前
後の端部に設けてもよいし、ターゲ・ノドの背面全体に
設けてもよい。図面の装置では、冷却ロール18の上の
基板16に向けてプラズマ空間部を形成するために、角
形ターゲ・、l−のホルダー及び永久磁石の両端を円弧
状の架台12.12aで保持するが、平面上を移送する
基板については、略平行に角形ターゲットを配列しても
よい。
Note that the permanent magnets may be provided at the front and rear ends of the target y) facing the substrate 16, or may be provided on the entire back surface of the target throat. In the apparatus shown in the drawings, in order to form a plasma space toward the substrate 16 on the cooling roll 18, both ends of the square target holder and the permanent magnet are held by arc-shaped mounts 12.12a. For substrates to be transferred on a flat surface, rectangular targets may be arranged substantially parallel.

次に、この装置を用いた成膜スフで・ツタリング操作を
説明する。まず、ホルダーに所定のターゲットを装着す
る。真空槽1の内部を真空排気してから、アルゴン等の
スバ、タガスを導入し、角形ターゲy)を陰極として電
圧を印加してスパッタ面に垂直な磁力線Bを形成し、タ
ーゲットからスパッタリングされて飛び出した原子、二
次電子及びアルゴンガスイオン等の飛散したプラズマが
形成される。プラズマ空間部内のターゲット材の原子は
、磁力線Bのまわりに螺旋運動する電子γなどと衝突を
繰り返しなからエネルギーを失いつつ拡散し、イオン化
領域βを広げ、高速で空間部の側方の基板16に付着し
て成膜17を形成する。図の装置では、角形ターゲ7)
2,2aの原子が付着して形成された成膜の上に、角形
ターゲット3.3aの原子が付着し、さらに、角形ター
ゲソ)4,4aの原子が付着して成膜の厚さを増してゆ
く。3対の角形ターゲット材料が同じ場合は、一対のも
のに比べて3倍の成膜速度を得ることができる。また、
異なる角形ターゲット材料を使用するときには、ターゲ
ットとは異なる組成比の成膜が得られる。
Next, the film-forming step and tumbling operation using this apparatus will be explained. First, a predetermined target is attached to the holder. After evacuating the inside of the vacuum chamber 1, a gas such as argon is introduced, and a voltage is applied using the rectangular target y) as a cathode to form magnetic lines of force B perpendicular to the sputtering surface. A plasma containing ejected atoms, secondary electrons, argon gas ions, etc. is formed. Atoms of the target material in the plasma space repeatedly collide with electrons γ, etc. spirally moving around the magnetic field lines B, and thus diffuse while losing energy, expanding the ionization region β, and moving at high speed to the substrate 16 on the side of the space. A film 17 is formed by adhering to the surface. In the device shown, the square target 7)
Atoms of square target 3.3a adhere to the film formed by atoms of 2,2a, and then atoms of square target 4,4a adhere, increasing the thickness of the film. I'm going to go. When three pairs of rectangular target materials are the same, it is possible to obtain a deposition rate three times as high as when using one pair. Also,
When using different rectangular target materials, a film with a different composition ratio than the target can be obtained.

なお、対向する角形ターゲットの使用組み数は、上記の
3組に限定されるものではなく、その目的に応じて選択
される。
Note that the number of sets of opposing square targets to be used is not limited to the above three sets, but is selected depending on the purpose.

(発明の効果) 本発明は、上記の構成を採用することにより、複数対の
対向ターゲットを限られた容積の真空槽に容易に組み込
むことができ、比較的小さな冷却ロールの上を移送する
基板に対してもプラズマ空間部を対面させることができ
、全体としてコンパクトに装置を構成することができる
。また、プラズマ密度も増大させることができるため、
高速成膜機能を容易に確保することができる。
(Effects of the Invention) By employing the above configuration, the present invention allows a plurality of pairs of opposing targets to be easily incorporated into a vacuum chamber with a limited volume, and a substrate that is transferred on a relatively small cooling roll. The plasma space can also be made to face the plasma space, making it possible to configure the apparatus compactly as a whole. In addition, since the plasma density can also be increased,
High-speed film formation capability can be easily ensured.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の1実施例である高速成膜スパッタリン
グ装置の断面を示した概念図、第2図は第1図の斜視図
、第3図は従来の対向ターゲット式スパッタリング装置
における、ターゲットと基板との配置状態を示す斜視図
であり、第4図は従来の対向ターゲット式スパッタリン
グ装置の全体の断面図であり、第5図は第4図のA−A
矢視平面図である。 第2図 第3図
FIG. 1 is a conceptual diagram showing a cross section of a high-speed film-forming sputtering apparatus that is an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a perspective view of FIG. 1, and FIG. FIG. 4 is a cross-sectional view of the entire conventional facing target type sputtering apparatus, and FIG.
FIG. Figure 2 Figure 3

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 陰極となる一対の角形ターゲットのスパッタ面を対向さ
せ、該スパッタ面の間のプラズマ空間部の側方に基板を
配置した高速成膜スパッタリング装置において、上記一
対の角形ターゲットを複数組み併設し、隣接する組みの
角形ターゲットの背面にターゲット面に略垂直な磁界を
印加するように、磁石を配置したことを特徴とする高速
成膜スパッタリング装置。
In a high-speed film-forming sputtering apparatus in which the sputtering surfaces of a pair of rectangular targets serving as cathodes are opposed to each other and a substrate is placed on the side of the plasma space between the sputtering surfaces, a plurality of pairs of the above-mentioned rectangular targets are installed side by side and adjacent A high-speed film-forming sputtering apparatus characterized in that a magnet is arranged on the back side of a set of rectangular targets so as to apply a magnetic field substantially perpendicular to the target surface.
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