JPH04263189A - Serial access memory - Google Patents

Serial access memory

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Publication number
JPH04263189A
JPH04263189A JP3016392A JP1639291A JPH04263189A JP H04263189 A JPH04263189 A JP H04263189A JP 3016392 A JP3016392 A JP 3016392A JP 1639291 A JP1639291 A JP 1639291A JP H04263189 A JPH04263189 A JP H04263189A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
bit
word
word line
decoder
serial access
Prior art date
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Pending
Application number
JP3016392A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Yasunori Maeda
前田 安範
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP3016392A priority Critical patent/JPH04263189A/en
Publication of JPH04263189A publication Critical patent/JPH04263189A/en
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Abstract

PURPOSE:To reduce a charging and discharging current which flows between a precharged transistor or a memory cell and a bit line when word lines at a serial access memory are selected. CONSTITUTION:Decoding patterns for an address counter 3, a word decoder 1 and a bit decoder 2 are constituted so that, after all memory cells connected to selected word lines have been accessed, a next word line can be selected. The number of selection operations of the word lines at a serial access memory can be reduced to a minimum, and a power consumption generated at the access operation of the serial access memory can be reduced.

Description

【発明の詳細な説明】[Detailed description of the invention]

【0001】0001

【産業上の利用分野】この発明は、書き込みと読み出し
とをシリアルに行うシリアル・アクセス・メモリに関す
るものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a serial access memory in which writing and reading are performed serially.

【0002】0002

【従来の技術】近年、コンピュータ端末のディスプレイ
装置,VTR,ディジタルTVなどに含まれるディジタ
ル処理回路及びファクシミリなどに含まれる画像処理回
路の分野においてはシリアル・アクセス・メモリ(シリ
アル・アクセス・ライン・メモリとも称する。)が多用
されている。
2. Description of the Related Art In recent years, serial access memory (serial access line memory) has been widely used in the field of digital processing circuits included in computer terminal display devices, VTRs, digital TVs, etc., and image processing circuits included in facsimile machines. ) is often used.

【0003】従来は、例えば電子技術1987−1,1
03ページの「FIFO構成高速ラインメモリ」内の図
3に示されるように、汎用のRAMやROMと周辺回路
(アドレス・カウンタなど)でこの機能を実現したが、
近年の集積能力の向上とともにRAMやROMと周辺回
路を1チップ化した特定用途向けの専用メモリ、さらに
この専用メモリをも内蔵する各種のLSIが出現してき
ている。これにより、高速性,このメモリを含む回路を
設計する際の周辺部品数の削減,設計のしやすさなどの
大きなメリットが生まれる。
Conventionally, for example, electronic technology 1987-1, 1
As shown in Figure 3 in "FIFO configuration high-speed line memory" on page 03, this function was realized using general-purpose RAM and ROM and peripheral circuits (address counters, etc.).
With the recent improvement in integration capabilities, special-purpose memories for specific applications in which RAM, ROM, and peripheral circuits are integrated into one chip, and various LSIs that also incorporate this dedicated memory have appeared. This brings about major benefits such as high speed, reduction in the number of peripheral components when designing a circuit that includes this memory, and ease of design.

【0004】図2は従来のシリアル・アクセス・メモリ
を示すブロック図である。同図に示すように、ワードデ
コーダ1からワード線W1 ないしWn が延設されて
おり、ビットデコーダ2からビット線B1 ないしBm
 が延設されている。また、ワードデコーダ1及びビッ
トデコーダ2には、アドレスクロックACKを入力し、
これに同期してカウントを行ってカウント出力値を順次
更新するアドレスカウンタ3の出力が与えられている。
FIG. 2 is a block diagram showing a conventional serial access memory. As shown in the figure, word lines W1 to Wn extend from the word decoder 1, and bit lines B1 to Bm extend from the bit decoder 2.
has been extended. In addition, address clock ACK is input to word decoder 1 and bit decoder 2,
An output from an address counter 3 which performs counting in synchronization with this and sequentially updates the count output value is provided.

【0005】また、各ワード線W1 ないしWn には
それぞれメモリセルM11ないしM1m,M21ないし
M2m,M(n−1)1ないしM(n−1)m及びMn
1ないしMnmが、各ビット線B1 ないしBm には
それぞれメモリセルM11ないしMn1,M12ないし
Mn2,M1(m−1)ないしMn(m−1)及びM1
mないしMnmが接続されている。
Further, each word line W1 to Wn has memory cells M11 to M1m, M21 to M2m, M(n-1)1 to M(n-1)m and Mn, respectively.
1 to Mnm, and each bit line B1 to Bm has memory cells M11 to Mn1, M12 to Mn2, M1(m-1) to Mn(m-1) and M1, respectively.
m to Mnm are connected.

【0006】なお、ワード線W2 及びWn−1 間の
ワード線とビット線B2 及びBm−1 間のビット線
及びそれらに付随するメモリセルは省略されている。ま
た、説明を簡単にするため、SRAMにおけるビット線
B1 ないしBm 上の信号のレベルを反転させたビッ
トバー線は省略する。
Note that the word lines between word lines W2 and Wn-1, the bit lines between bit lines B2 and Bm-1, and the memory cells associated therewith are omitted. Further, to simplify the explanation, bit bar lines in which the levels of signals on bit lines B1 to Bm in the SRAM are inverted will be omitted.

【0007】各ビット線B1 ないしBm のビットデ
コーダ2が接続されていない側にはそれぞれプリチャー
ジ・トランジスタT1 ないしTm のソースが接続さ
れており、プリチャージ・トランジスタT1 ないしT
m のドレイン及びゲートには電源端子Vccによって
電源電圧が与えられている。
[0007] The sources of precharge transistors T1 to Tm are connected to the sides of each bit line B1 to Bm to which the bit decoder 2 is not connected, respectively.
A power supply voltage is applied to the drain and gate of m by the power supply terminal Vcc.

【0008】次に動作について説明する。アドレスカウ
ンタ3はアドレスクロックACKをカウントして、その
カウント結果としてカウント出力をワードデコーダ1及
びビットデコーダ2に与える。ワードデコーダ1は、ア
ドレスカウンタ3のアドレスカウントに従って、ワード
線W1 ないしWn のうちの一本のワード線のみを選
択するようにデコードを行い、ビットデコーダ2は、ア
ドレスカウンタ3からのアドレスカウントに従って、ビ
ット線B1 ないしBm のうちの一本のビット線のみ
を選択するようにデコードを行う。このようにしてそれ
ぞれ1本ずつ選択されたワード線とビット線に接続され
た唯一のメモリセルの内容に対して読み出し或いは書き
込みが行われる。
Next, the operation will be explained. Address counter 3 counts address clock ACK and provides a count output to word decoder 1 and bit decoder 2 as the count result. The word decoder 1 performs decoding to select only one of the word lines W1 to Wn according to the address count from the address counter 3, and the bit decoder 2 performs decoding according to the address count from the address counter 3. Decoding is performed to select only one of the bit lines B1 to Bm. In this way, reading or writing is performed on the contents of the only memory cell connected to each selected word line and bit line.

【0009】なお、ビット線B1 ないしBm はビッ
トデコーダ2内の図示しないビット線選択用トランジス
タに接続されており、このトランジスタに接続されたセ
ンスアンプ及びライトドライバによって、それぞれメモ
リセルM11ないしMnmの記憶内容の読み出しや書き
込みが行われる。
Note that the bit lines B1 to Bm are connected to a bit line selection transistor (not shown) in the bit decoder 2, and a sense amplifier and a write driver connected to this transistor select memory cells M11 to Mnm, respectively. Contents are read and written.

【0010】各メモリセルM11ないしMnmには例え
ば図2に示すようにアドレス(11)ないし(nm)が
付与されており、メモリセルはアドレス値の小さいメモ
リセルから大きいメモリセルの順でアクセスされる。ア
ドレスカウンタ3はアドレスクロックACKに同期して
カウント出力を生成し、ワードデコーダ1及びビットデ
コーダ2はこのカウント出力によってデコードを行うの
で、ワードデコーダ1,ビットデコーダ2及びアドレス
カウンタ3によってシリアル・アクセス機能を実現する
場合、アドレスカウンタ3内のカウント出力を発生する
ためのカウント回路及びワードデコーダ1とビットデコ
ーダ2のデコードのデコードパターンを適当に構成する
ことによって、メモリセルM11ないしMnmの物理的
位置と付与されるアドレスとの関係に規則性を持たせる
必要はなく、その関係は考慮されなかった。
Addresses (11) to (nm) are assigned to each memory cell M11 to Mnm, for example, as shown in FIG. 2, and the memory cells are accessed in order from the memory cell with the smallest address value to the memory cell with the largest address value. Ru. Address counter 3 generates a count output in synchronization with address clock ACK, and word decoder 1 and bit decoder 2 perform decoding based on this count output, so word decoder 1, bit decoder 2, and address counter 3 perform serial access function. When realizing this, by appropriately configuring the count circuit for generating the count output in the address counter 3 and the decoding patterns of the word decoder 1 and bit decoder 2, the physical positions of the memory cells M11 to Mnm can be adjusted. There is no need for regularity in the relationship with the assigned addresses, and that relationship was not taken into account.

【0011】[0011]

【発明が解決しようとする課題】従来のシリアル・アク
セス・メモリは、以上のように構成されており、あるメ
モリセルをアクセスするためにはこのメモリセルが接続
されているワード線とビット線がそれぞれ1本ずつ選択
される。また、あるワード線が選択されるとこの選択さ
れたワード線に接続されているすべてのメモリセル内の
トランスファゲート(図示せず)がオンする。
[Problems to be Solved by the Invention] Conventional serial access memories are configured as described above, and in order to access a certain memory cell, the word line and bit line to which this memory cell is connected must be connected. One of each is selected. Furthermore, when a certain word line is selected, transfer gates (not shown) in all memory cells connected to the selected word line are turned on.

【0012】メモリセル内のトランスファゲートがオン
すると、このメモリセルが接続されているビット線の電
位がメモリセルの記憶内容と同じレベルになる。
When a transfer gate in a memory cell is turned on, the potential of the bit line to which this memory cell is connected becomes the same level as the content stored in the memory cell.

【0013】次に別のワード線が選択されたとき、同じ
ようにこのワード線に接続されたメモリセル内のトラン
スファゲートがオンする。このとき、直前に選択された
ワード線(例えばワード線W1  )とこの新たに選択
されたワード線(例えばワード線W2 )にそれぞれ接
続されているメモリセルのうち、同一ビット線に接続さ
れているメモリセル同士、すなわちメモリセルM11と
M21,M12とM22,M1(m−1)とM2(m−
1)及びM1mとM2mそれぞれの記憶内容が異なる場
合が発生する。
Next, when another word line is selected, the transfer gates in the memory cells connected to this word line are similarly turned on. At this time, among the memory cells connected to the previously selected word line (for example, word line W1) and this newly selected word line (for example, word line W2), the memory cells that are connected to the same bit line are connected to the same bit line. Memory cells, that is, memory cells M11 and M21, M12 and M22, M1 (m-1) and M2 (m-
1) A case may occur in which the storage contents of M1m and M2m are different.

【0014】この場合、例えばメモリセルM11の記憶
内容が“0”,メモリセルM21の記憶内容が“1”の
とき、ビット線B1 上の電位を“L”から“H”に充
電するために、ビット線B1 上の電位が“H”に確定
するまでの期間プリチャージトランジスタT1 からビ
ット線B1 に対して過渡電流が流れる。
In this case, for example, when the memory content of the memory cell M11 is "0" and the memory content of the memory cell M21 is "1", in order to charge the potential on the bit line B1 from "L" to "H", , a transient current flows from the precharge transistor T1 to the bit line B1 until the potential on the bit line B1 is determined to be "H".

【0015】逆に、メモリセルM11の記憶内容が“1
”,メモリセルM21の記憶内容が“0”のときは、ビ
ット線B1 上の電位を“H”から“L”に放電するた
めに、ビット線B1 上の電位が“L”に確定するまで
の期間ビット線B1 からメモリセルM21に対して過
渡電流が流れる。
Conversely, the memory content of memory cell M11 is “1”.
”, when the memory content of memory cell M21 is “0”, in order to discharge the potential on bit line B1 from “H” to “L”, the voltage on bit line B1 is set to “L”. A transient current flows from the bit line B1 to the memory cell M21 during the period .

【0016】したがって、このシリアル・アクセス・メ
モリ内のすべてのメモリセルをアクセスする上で、(シ
リアル・アクセス・メモリは1サイクルですべてのメモ
リセルが1回ずつアクセスされる。)ワード線が非選択
状態から選択状態になる回数が多ければ多いほど過渡電
流が流れる可能性が高くなり、消費電力が大きくなる。
[0016] Therefore, in order to access all the memory cells in this serial access memory (in serial access memory, all memory cells are accessed once in one cycle), the word line must be The more times the selected state changes from one selected state to the selected state, the higher the possibility that a transient current will flow, and the greater the power consumption.

【0017】この発明は上記のような問題点を解決する
ためになされたもので、シリアル・アクセス・メモリ内
のメモリセルM11ないしMnmを1回ずつアクセスす
る際に発生するビット線充放電電流を低減できるシリア
ル・アクセス・メモリを得ることを目的としている。
The present invention was made in order to solve the above-mentioned problems, and it reduces the bit line charging/discharging current that occurs when each memory cell M11 to Mnm in a serial access memory is accessed one by one. The purpose is to obtain serial access memory that can be reduced.

【0018】[0018]

【課題を解決するための手段】この発明に係るシリアル
・アクセス・メモリは、選択されたワード線に接続され
たすべてのメモリセルがアクセスされた後にこの選択さ
れたワード線とは異なるワード線を選択するように構成
されている。
[Means for Solving the Problems] A serial access memory according to the present invention connects a word line different from the selected word line after all memory cells connected to the selected word line are accessed. Configured to select.

【0019】[0019]

【作用】この発明におけるシリアル・アクセス・メモリ
は、選択されたワード線に接続されたすべてのメモリセ
ルがアクセスされた後にこの選択されたワード線とは異
なるワード線を選択しているので、このシリアル・アク
セス・メモリ内のすべてのメモリセルを1回ずつアクセ
スするときに、ワード線を選択する回数を最小にするこ
とができる。
[Operation] The serial access memory of the present invention selects a word line different from the selected word line after all memory cells connected to the selected word line are accessed. The number of word line selections can be minimized when all memory cells in the serial access memory are accessed once.

【0020】[0020]

【実施例】図1はこの発明によるシリアル・アクセス・
メモリの一実施例を示すブロック図である。同図に示す
ように、ワードデコーダ1からワード線W1ないしWn
 が延設されており、ビットデコーダ2からビット線B
1 ないしBm が延設されている。また、ワードデコ
ーダ1及びビットデコーダ2には、アドレスクロックA
CKを入力し、これに同期してカウントを行い、カウン
ト出力値を順次更新するアドレスカウンタ3の出力が与
えられている。
[Embodiment] Figure 1 shows a serial access system according to the present invention.
FIG. 2 is a block diagram illustrating an example of a memory. As shown in the figure, from word decoder 1 to word lines W1 to Wn
is extended from bit decoder 2 to bit line B
1 to Bm have been extended. Further, the word decoder 1 and the bit decoder 2 have an address clock A.
An output from an address counter 3 is provided which inputs CK, performs counting in synchronization with this, and sequentially updates the count output value.

【0021】また、各ワード線W1 ないしWn には
それぞれメモリセルM11ないしM1m,M21ないし
M2m,M(n−1)1ないしM(n−1)m及びMn
1ないしMnmが、各ビット線B1 ないしBm には
それぞれメモリセルM11ないしMn1,M12ないし
Mn2,M1(m−1)ないしMn(m−1)及びM1
mないしMnmが接続されている。
Further, each word line W1 to Wn has memory cells M11 to M1m, M21 to M2m, M(n-1)1 to M(n-1)m and Mn, respectively.
1 to Mnm, and each bit line B1 to Bm has memory cells M11 to Mn1, M12 to Mn2, M1(m-1) to Mn(m-1) and M1, respectively.
m to Mnm are connected.

【0022】各ビット線B1 ないしBm のビットデ
コーダ2が接続されていない側にはそれぞれプリチャー
ジ・トランジスタT1 ないしTm のソースが接続さ
れており、プリチャージ・トランジスタT1 ないしT
m のドレイン及びゲートには電源端子Vccによって
電源電圧が与えられている。
The sources of precharge transistors T1 to Tm are connected to the sides of each bit line B1 to Bm to which the bit decoder 2 is not connected, respectively, and the sources of precharge transistors T1 to Tm are connected to the sides of each bit line B1 to Bm to which the bit decoder 2 is not connected.
A power supply voltage is applied to the drain and gate of m by the power supply terminal Vcc.

【0023】次に動作について説明する。アドレスカウ
ンタ3はアドレスクロックACKをカウントして、その
カウント結果としてカウント出力をワードデコーダ1及
びビットデコーダ2に与える。ワードデコード1は、ア
ドレスカウンタ3のアドレスカウントに従って、ワード
線W1 ないしWn のうちの一本のワード線のみを選
択するようにデコードを行い、ビットデコーダ2は、ア
ドレスカウンタ3からのアドレスカウントに従って、ビ
ット線B1 ないしBm のうちの一本のビット線のみ
を選択するようにデコードを行う。
Next, the operation will be explained. Address counter 3 counts address clock ACK and provides a count output to word decoder 1 and bit decoder 2 as the count result. The word decoder 1 performs decoding to select only one of the word lines W1 to Wn according to the address count from the address counter 3, and the bit decoder 2 performs decoding according to the address count from the address counter 3. Decoding is performed to select only one of the bit lines B1 to Bm.

【0024】このようにしてそれぞれ1本ずつ選択され
たワード線とビット線に接続された唯一のメモリセルの
内容に対して読み出し或いは書き込みが行われる。
In this way, reading or writing is performed on the contents of the only memory cell connected to each selected word line and bit line.

【0025】各メモリセルM11ないしMnmには図1
に示すようにそれぞれアドレス(11)ないし(nm)
が付与されており、メモリセルはこの順でアクセスされ
る。
Each memory cell M11 to Mnm is shown in FIG.
Addresses (11) to (nm) as shown in
are assigned, and the memory cells are accessed in this order.

【0026】すなわち、まず、ワード線W1 及びビッ
ト線B1 が選択されて、アドレス(11)が付与され
たメモリセルM11がアクセスされる。次にワード線W
1 の選択はそのままでビット線B2 が選択されてア
ドレス(12)が付与されたメモリセルM12がアクセ
スされる。このようにして、以後ワード線W1 は選択
状態にしたままビット線Bm−1 及びBm が選択さ
れて、それぞれアドレス(1(m−1)) 及び(1m
)が付与されたメモリセルM1(m−1)及びM1mが
アクセスされる。
That is, first, word line W1 and bit line B1 are selected, and memory cell M11 assigned address (11) is accessed. Next, the word line W
Bit line B2 is selected while bit line B2 remains selected, and memory cell M12 to which address (12) is assigned is accessed. In this way, the bit lines Bm-1 and Bm are selected while the word line W1 is kept in the selected state, and the addresses (1(m-1)) and (1m
) are accessed to memory cells M1 (m-1) and M1m.

【0027】次にワード線W1 を非選択状態に、ワー
ド線W2 を選択状態にして、アドレス(21)ないし
(2m)が付与されたメモリセルM21ないしM2mが
順にアクセスされる。次にワード線W2 を非選択状態
に、ワード線Wn−1 を選択状態にして、アドレス(
(n−1)1)ないし((n−1)m)が付与されたメ
モリセルM(n−1)1ないしM(n−1)mが順にア
クセスされる。最後にワード線Wn−1 を非選択状態
に、ワード線Wn を選択状態にして、アドレス(n1
)ないし(nm)が付与されたメモリセルMn1ないし
Mnm順にアクセスされて1サイクルが完了し、次に再
びワード線W1.が選択される。
Next, word line W1 is set to a non-selected state and word line W2 is set to a selected state, and memory cells M21 to M2m assigned addresses (21) to (2m) are sequentially accessed. Next, the word line W2 is made unselected, the word line Wn-1 is made selected, and the address (
Memory cells M(n-1)1 to M(n-1)m to which (n-1)1) to ((n-1)m) are assigned are sequentially accessed. Finally, the word line Wn-1 is made unselected, the word line Wn is made selected, and the address (n1
) to (nm) are accessed in the order of memory cells Mn1 to Mnm to complete one cycle, and then the word lines W1 . is selected.

【0028】このようにアクセスすることで、1サイク
ル中にワード線が非選択状態から選択状態に変化する回
数はワード線の本数であるnになる。
By accessing in this manner, the number of times a word line changes from a non-selected state to a selected state during one cycle becomes n, which is the number of word lines.

【0029】アドレスカウンタ3は簡単なバイナリ・カ
ウンタで構成することができ、このバイナリ・カウンタ
の複数のカウント出力のうち例えば、カウント出力aを
ワードデコーダ1に、カウント出力bをビットデコーダ
2に与え、カウント出力aの値が1度変化する期間にカ
ウント出力bがビット線の本数であるm回変化するよう
に、またカウント出力bの値がワード線の本数であるn
回変化した後に元の値に戻るように構成すればよい。ま
た、ワードデコーダ1はアドレスカウンタ3からのカウ
ント出力aの値の変化によって順次ワード線W1 から
Wn を選択するようにデコーダ回路を構成し、ビット
デコーダ2はアドレスカウンタ3からのカウント出力b
の値の変化によって順次ビット線B1 ないしBm を
選択するようにデコーダ回路を構成すれば良い。
The address counter 3 can be constituted by a simple binary counter, and among the plurality of count outputs of this binary counter, for example, the count output a is given to the word decoder 1, and the count output b is given to the bit decoder 2. , so that the count output b changes m times, which is the number of bit lines, during the period in which the value of the count output a changes once, and the value of the count output b changes n times, which is the number of word lines.
It may be configured to return to the original value after changing twice. Further, the word decoder 1 has a decoder circuit configured to sequentially select word lines W1 to Wn according to changes in the value of the count output a from the address counter 3, and the bit decoder 2 has a decoder circuit configured to sequentially select word lines W1 to Wn according to changes in the value of the count output a from the address counter 3.
The decoder circuit may be configured to sequentially select bit lines B1 to Bm according to changes in the value of .

【0030】以上のように、この発明によれば、選択さ
れたワード線に接続されているすべてのメモリセルをア
クセスしてから次にアクセスするメモリセルが接続され
たワード線を選択しているので、ワード線を選択する回
数がワード線の本数に等しくなり、ワード線を選択する
際に流れる過渡電流を最小にすることができる。
As described above, according to the present invention, all the memory cells connected to the selected word line are accessed, and then the word line connected to the memory cell to be accessed next is selected. Therefore, the number of times a word line is selected is equal to the number of word lines, and the transient current that flows when selecting a word line can be minimized.

【0031】なお、この実施例ではワード線W1 ない
しWn をW1 からWn の順で、ビット線B1 な
いしBm をB1 からBm の順で選択しているが、
この順序は1サイクルですべてのワード線を1回ずつ選
択し、あるワード線が選択状態のときにビット線をすべ
て1回ずつ選択しさえすれば、どのような順序で行って
もよい。
In this embodiment, the word lines W1 to Wn are selected in the order of W1 to Wn, and the bit lines B1 to Bm are selected in the order of B1 to Bm.
This order may be performed in any order as long as all word lines are selected once in one cycle and all bit lines are selected once when a certain word line is in the selected state.

【0032】また、この発明は単体のシリアル・アクセ
ス・メモリ以外に、半導体集積回路に含まれるシリアル
・アクセス・メモリにも適用可能である。
Further, the present invention is applicable not only to a standalone serial access memory but also to a serial access memory included in a semiconductor integrated circuit.

【0033】[0033]

【発明の効果】以上のように、この発明によれば、選択
されたワード線に接続されたすべてのメモリセルがアク
セスされた後にこの選択されたワード線とは異なるワー
ド線を選択しているので、シリアル・アクセス・メモリ
内の全メモリセルをアクセスするときにワード線を選択
する回数を最小にすることができ、ワード線選択時にビ
ット線のレベルを確定するために流れる過渡電流を最小
にして消費電力を低減することができるという効果があ
る。
[Effects of the Invention] As described above, according to the present invention, a word line different from the selected word line is selected after all memory cells connected to the selected word line are accessed. This minimizes the number of times a word line is selected when accessing all memory cells in a serial access memory, and minimizes the transient current that flows to determine the bit line level when selecting a word line. This has the effect of reducing power consumption.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

【図1】この発明によるシリアル・アクセス・メモリを
示すブロック図である。
FIG. 1 is a block diagram illustrating a serial access memory according to the invention.

【図2】従来のシリアル・アクセス・メモリを示すブロ
ック図である。
FIG. 2 is a block diagram illustrating a conventional serial access memory.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1  ワードデコーダ 2  ビットデコーダ 3  アドレスカウンタ W1 〜Wn   ワード線 B1 〜Bm   ビット線 M11〜Mnm  メモリセル 1 Word decoder 2 Bit decoder 3 Address counter W1 ~ Wn Word line B1 ~ Bm Bit line M11~Mnm memory cell

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】  書き込みと読み出しをシリアルに行う
シリアル・アクセス・メモリであって、選択されたワー
ド線に接続されたすべてのメモリセルをアクセスした後
に前記選択されたワード線とは異なるワード線を選択す
るようにしたことを特徴とするシリアル・アクセス・メ
モリ。
1. A serial access memory that performs writing and reading serially, wherein after all memory cells connected to a selected word line are accessed, a word line different from the selected word line is accessed. A serial access memory characterized by being selective.
JP3016392A 1991-02-07 1991-02-07 Serial access memory Pending JPH04263189A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3016392A JPH04263189A (en) 1991-02-07 1991-02-07 Serial access memory

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3016392A JPH04263189A (en) 1991-02-07 1991-02-07 Serial access memory

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH04263189A true JPH04263189A (en) 1992-09-18

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ID=11914977

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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS579372B2 (en) * 1973-06-22 1982-02-20

Patent Citations (1)

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