JPH0425663Y2 - - Google Patents
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- JPH0425663Y2 JPH0425663Y2 JP567384U JP567384U JPH0425663Y2 JP H0425663 Y2 JPH0425663 Y2 JP H0425663Y2 JP 567384 U JP567384 U JP 567384U JP 567384 U JP567384 U JP 567384U JP H0425663 Y2 JPH0425663 Y2 JP H0425663Y2
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- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims description 6
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Description
【考案の詳細な説明】
(a) 考案の技術分野
本考案は1台の試験器によつて不特定多種類の
プリント板の特性試験を行なうための試験治具に
関する。[Detailed Description of the Invention] (a) Technical Field of the Invention The present invention relates to a test jig for testing the characteristics of an unspecified number of types of printed circuit boards using one tester.
(b) 技術の背景
最近のプリント板は多品種少量化の傾向が著し
く、専用の試験設備を設置することは投資効率面
で問題があり、また段取替えによるオペレータの
時間損失も大きい。このため簡単な切換操作で多
種類のプリント板の特性試験を行なうことができ
長寿命で高性能のプリント板試験治具の開発が強
く要望されている。(b) Background of the technology Recently, there has been a marked trend toward increasing the variety of printed circuit boards in smaller quantities, and installing dedicated testing equipment poses problems in terms of investment efficiency, and the operator's time loss due to setup changes is large. Therefore, there is a strong demand for the development of a long-life, high-performance printed board testing jig that can perform characteristic tests on many types of printed boards with simple switching operations.
(c) 従来技術と問題点
第1図は従来のプリント板試験治具を説明する
ための図である。(c) Prior Art and Problems Figure 1 is a diagram for explaining a conventional printed board testing jig.
同図に示す如く従来のプリント板試験治具はプ
リント板試験部100と、試験部100から入力
される試験情報を回路別に整理して後述のテスタ
部50に送出する接続切替部120と、入力され
た試験情報を分析してデータ化するテスタ部50
とで構成されている。そして試験部100と、接
続切替部120とは仕切板121で区分されたそ
れぞれ独立の減圧槽すなわち試験部減圧槽1およ
び切替部減圧槽26に収められていて、その減圧
動作により試験部100においては被試験プリン
ト板2が吸着されて各測定ポイントが対応する試
験ピン4に接触し、接続切替部120においては
個別ボード27が吸着されて該ボード27に植設
された導電ピン21が対応する入出力コンタクト
ピン22に接触する構造になつている。 As shown in the figure, the conventional printed board testing jig includes a printed board testing section 100, a connection switching section 120 that organizes test information input from the testing section 100 by circuit and sends it to a tester section 50, which will be described later. A tester section 50 that analyzes the test information and converts it into data.
It is made up of. The test section 100 and the connection switching section 120 are housed in independent pressure reduction tanks separated by a partition plate 121, that is, the test section pressure reduction tank 1 and the switching section pressure reduction tank 26. The printed board 2 under test is attracted and each measurement point contacts the corresponding test pin 4, and in the connection switching section 120, the individual board 27 is attracted and the conductive pins 21 planted on the board 27 correspond. It has a structure that makes contact with the input/output contact pin 22.
以下プリント板試験治具による試験手順を具体
的に説明する。 The test procedure using the printed board test jig will be specifically explained below.
第1図に示す如く試験部減圧槽1内の空気を矢
印A方向に排気して減圧すると、被試験プリント
板2はガイドピン6に沿つて矢印B方向に吸引さ
れ、該プリント板2に実装された部品のリード3
は前記減圧槽1に付設された試験ピン4に接触す
る。これによつて前記被試験プリント板2の品質
情報が入力線12を介して切替部減圧槽26に付
設された入出力コンタクトピン22に入力され
る。ここで切替部減圧槽26内の空気を矢印C方
向に排気して減圧すると、個別ボード27はガイ
ドピン23に沿つて矢印D方向に吸引され、個別
ボード27に植立された導電ピン21が入出力コ
ンタクトピン22に接触するので、これによつて
個別ボード27に具備された電気回路導体28を
介した入出力コンタクトピン22の入力側から出
力側への導通回路が構成される。そして入出力コ
ンタクトピン22の出力側から出力線11を経由
してテスタ部50へ被試験プリント板2の品質情
報が送られ、そこで品質レベルが判断されること
になる。なお試験部可動板9および切替部可動板
19は、前記被試験プリント板2および前記個別
ボード27が、それぞれ矢印B方向、矢印D方向
に吸引されたとき、これら被試験プリント板2お
よび個別ボード27を支えて歪の発生を防止し、
それに実装された部品リード3および導電ピン2
1と試験ピン4および入出力コンタクトピン22
との接触を安定させるために設置したものであ
り、また復元バネ10は試験が終了した被試験プ
リント板2および個別ボード27をすみやかに試
験前の原位置へ復帰させるために設けたものであ
り、気密パツド7および気密シート8は、試験部
減圧槽1と切替部減圧槽26の気密性を向上させ
るために設けられている。さらに試験部100の
マスク板20は当該試験とは無関係な試験ピン4
をテスタ側と電気的に分離させるとともに該試験
ピン4が被試験プリント板2に接触してこれを損
傷させるのを防止するためのものである。そして
さらに切替部120のガイド板24は入出力コン
タクトピン22を的確に導電ピン21に接触させ
るための案内用に設けたものである。 As shown in FIG. 1, when the air in the test section decompression tank 1 is exhausted in the direction of arrow A to reduce the pressure, the printed board 2 under test is sucked in the direction of arrow B along the guide pins 6, and the printed board 2 is mounted. lead 3 of the parts
contacts the test pin 4 attached to the vacuum tank 1. Thereby, the quality information of the printed board 2 under test is inputted via the input line 12 to the input/output contact pin 22 attached to the switching section decompression tank 26. Here, when the air in the switching part decompression tank 26 is exhausted in the direction of arrow C to reduce the pressure, the individual board 27 is sucked in the direction of arrow D along the guide pin 23, and the conductive pin 21 planted on the individual board 27 is Since it contacts the input/output contact pin 22, a conductive circuit from the input side to the output side of the input/output contact pin 22 via the electric circuit conductor 28 provided on the individual board 27 is constructed. Then, quality information of the printed board 2 under test is sent from the output side of the input/output contact pin 22 via the output line 11 to the tester section 50, where the quality level is determined. Note that the test section movable plate 9 and the switching section movable plate 19 are arranged so that when the printed board 2 under test and the individual board 27 are sucked in the direction of arrow B and the direction of arrow D, respectively, the printed board 2 under test and the individual board 27 are 27 to prevent distortion from occurring,
Component leads 3 and conductive pins 2 mounted on it
1 and test pin 4 and input/output contact pin 22
The restoring spring 10 is provided to quickly return the printed board 2 and individual board 27 to the original position before the test after the test is completed. , the airtight pad 7 and the airtight sheet 8 are provided to improve the airtightness of the test section decompression tank 1 and the switching section decompression tank 26. Furthermore, the mask plate 20 of the test section 100 has test pins 4 unrelated to the test concerned.
This is to electrically isolate the test pin 4 from the tester side and to prevent the test pin 4 from contacting the printed board 2 under test and damaging it. Further, the guide plate 24 of the switching section 120 is provided for guiding the input/output contact pin 22 to accurately contact the conductive pin 21.
しかしながら、従来の試験治具によればその構
造から明らかなように1台の試験治具によつて不
特定多種類のプリント板を試験するため標準位置
に複数個(一般にその個数は数千個に及び益々増
加の傾向にある)設けられた入出力コンタクトピ
ン22のすべてが被試験プリント板2に対応して
選択的に交換される個別ボード27に加わる。こ
のため入出力コンタクトピン22の各1本のバネ
反発力は約100gであるが、たとえば5000本のコ
ンタクトピンが使用されていると仮定すればこれ
らによるバネ総反発力は500Kgにもなるので、該
ボード27に歪が生じ減圧槽の空気洩れや導電ピ
ン21と入出力コンタクトピン22との接触不良
事故がしばしば発生し、プリント板試験の作業性
と試験信頼性が阻害されていた。 However, as is clear from the structure of conventional test jigs, in order to test various types of unspecified printed boards with one test jig, multiple test jigs are placed at standard positions (generally, the number is several thousand). All of the input/output contact pins 22 provided (of which the number is increasing) are added to an individual board 27 that is selectively replaced in accordance with the printed circuit board 2 under test. Therefore, the spring repulsion force of each input/output contact pin 22 is approximately 100g, but if we assume that 5000 contact pins are used, the total spring repulsion force due to these will be 500Kg. Distortion occurs in the board 27, often causing air leakage from the decompression tank and poor contact between the conductive pins 21 and the input/output contact pins 22, impeding the workability and test reliability of printed board tests.
(d) 考案の目的
本考案の目的は上記従来の欠点を改良するため
になされたもので、当該試験に関係する入出力コ
ンタクトピンのみが作動する構造のプリント板試
験治具の提供を目的とするものである。(d) Purpose of the invention The purpose of the invention was to improve the above-mentioned conventional drawbacks, and the purpose is to provide a printed board testing jig with a structure in which only the input/output contact pins related to the test operate. It is something to do.
(e) 考案の構成
そしてこの目的は本考案によれば、減圧槽内に
プリント板試験部に電気的接続される入出力コン
タクトピン群およびテスタ部に電気的接続される
入出力コンタクトピン群を並列して設け、かつ前
記減圧槽の減圧動作により吸引されて前記2群の
入出力コンタクトピンの各々に対応するピン相互
を選択的に接続する電気回路導体と該導体の入出
力端子として植設された導電ピンとを具備した個
別ボードをそなえ、該個別ボードにより前記プリ
ント板試験部からの試験情報を前記テスタ部に伝
送する治具構成において、前記導電ピンの植立高
さが前記減圧動作によつて移動する前記個別ボー
ドの移動ストロークと同等に設定され該導電ピン
が当該試験に関係を有する前記入出力コンタクト
ピンとのみ限定的に接触し得る構造としたことを
特徴とするプリント板試験治具を提供することに
よつて達成される。(e) Structure of the invention According to the invention, this purpose is to provide a group of input/output contact pins that are electrically connected to the printed circuit board test section and a group of input/output contact pins that are electrically connected to the tester section in a reduced pressure tank. An electrical circuit conductor that is provided in parallel and that is attracted by the decompression operation of the decompression tank and selectively connects pins corresponding to each of the two groups of input/output contact pins, and is implanted as an input/output terminal of the conductor. In the jig configuration, the jig has an individual board equipped with conductive pins, and the individual board transmits test information from the printed board test section to the tester section, and the planting height of the conductive pins is set to the depressurizing operation. A printed board test jig, characterized in that the conductive pin is set to be equal to the movement stroke of the individual board that is moving, and has a structure that allows the conductive pin to make limited contact only with the input/output contact pin that is related to the test. This is achieved by providing
(f) 考案の実施例
以下本考案の1実施例を図面によつて詳述す
る。(f) Embodiment of the invention An embodiment of the invention will be described below in detail with reference to the drawings.
第2図および第3図はかかる実施例によるプリ
ント板試験治具の要部構造を縦切断して示す図で
あつて、第2図が試験前の状態を、第3図が試験
中の状態をそれぞれ示している。なお、これら図
において前記第1図と同等の部分については同一
符号を付して示した。 2 and 3 are vertically cut views showing the structure of the main parts of the printed board test jig according to this embodiment, in which FIG. 2 shows the state before the test, and FIG. 3 shows the state during the test. are shown respectively. In these figures, the same parts as in FIG. 1 are designated by the same reference numerals.
第2図および第3図に示す如く本実施例のプリ
ント板試験治具は、被試験プリント板2に対応し
て選択され、かつ接続切替部120に装着される
個別ボード27に植設された導電ピン21の植立
高さを切替部減圧槽26の減圧動作により矢印D
方向に吸着される個別ボード27の運動ストロー
クSと同等にした点が特徴である。すなわち、こ
うすることによつて不特定多種類の被試験プリン
ト板2に対応すべく標準的位置に複数個設けられ
ている入出力コンタクトピン22が当該試験に必
要な前記導電ピン21とのみ接触し得ることにな
るわけである。なお個別ボード27は専用ボード
であるから不必要な導電ピン21が植立されてい
ないことはいうまでもない。ところで減圧動作に
伴なう前記個別ボード27の移動ストロークSは
入出力コンタクトピン22が導電ピン21により
矢印D方向へ押下げられる距離Hと、押下げられ
た個別ボード27の導電ピン21植設面と、自然
状態にある入出力コンタクトピン22の接触端と
の間隙Gとの合計距離になつている。従つて、当
該試験に無関係な入出力コンタクトピン22と減
圧によつて押下げられた個別ボード27との間に
は、常に安全間隙Gが維持されることになる。な
お導電ピン21によつて矢印D方向に押下げられ
る入出力コンタクトピン22の動作ストロークは
個別ボード27の移動ストロークSよりも大きく
設定してこれらが破損しないようにする。したが
つて本考案のプリント板試験治具構造によれば、
従来個々の被試験プリント板2についてはせいぜ
い40〜50%程度しか使用されない入出力コンタク
トピン22がすべて作動して個別ボードに必要以
上の外力を加えていた現象が回避される。 As shown in FIGS. 2 and 3, the printed board test jig of this embodiment is selected according to the printed board 2 to be tested, and is installed on an individual board 27 attached to the connection switching section 120. The planting height of the conductive pin 21 is set to arrow D by the pressure reduction operation of the switching section pressure reduction tank 26.
The feature is that it is made equal to the movement stroke S of the individual board 27 that is attracted in the direction. That is, by doing this, the input/output contact pins 22, which are provided in a plurality of standard positions to accommodate various types of unspecified printed boards 2 under test, can contact only the conductive pins 21 necessary for the test. This means that it can be done. Note that since the individual board 27 is a dedicated board, it goes without saying that unnecessary conductive pins 21 are not installed. Incidentally, the movement stroke S of the individual board 27 accompanying the pressure reduction operation is determined by the distance H in which the input/output contact pin 22 is pushed down in the direction of arrow D by the conductive pin 21, and the position of the conductive pin 21 on the pushed down individual board 27. This is the total distance of the gap G between the surface and the contact end of the input/output contact pin 22 in its natural state. Therefore, a safety gap G is always maintained between the input/output contact pins 22 unrelated to the test and the individual board 27 pushed down by the reduced pressure. Note that the operating stroke of the input/output contact pin 22 pushed down in the direction of arrow D by the conductive pin 21 is set larger than the movement stroke S of the individual board 27 to prevent them from being damaged. Therefore, according to the printed board test jig structure of the present invention,
This avoids the phenomenon in which conventionally all the input/output contact pins 22, which are used at most 40 to 50% of each printed board 2 under test, are activated and apply more external force than necessary to the individual board.
(g) 考案の効果
以上詳細に説明したように本考案のプリント板
試験治具は、被試験プリント板の試験情報をテス
タ部に伝える接続切替部の構造を改良することに
よつて試験治具の長寿命化と試験の高信頼性化と
を併せて可能にするといつた効果大なるものであ
る。(g) Effects of the invention As explained in detail above, the printed board testing jig of the present invention has been improved by improving the structure of the connection switching section that transmits test information of the printed board under test to the tester section. This has the great effect of making it possible to extend the service life of the device and increase the reliability of the test.
第1図は従来のプリント板試験治具を説明する
ための図、第2図および第3図は本考案の1実施
例によるプリント板試験治具の要部構造を示す縦
断面図である。
図面において、1は試験部減圧槽、2は被試験
プリント板、3は部品リード、4は試験ピン、6
および23はガイドピン、7は気密パツド、8は
気密シート、9および19は可動板、10は復元
バネ、11は出力線、12は入力線、20はマス
ク板、21は導電ピン、22は入出力コンタクト
ピン、24はガイド板、26は切替部減圧槽、2
7は個別ボード、28は電気回路導体、50はテ
スタ部、100はプリント板試験部、120は接
続切替部をそれぞれ示す。
FIG. 1 is a diagram for explaining a conventional printed board testing jig, and FIGS. 2 and 3 are longitudinal sectional views showing the main structure of a printed board testing jig according to an embodiment of the present invention. In the drawing, 1 is a test section decompression tank, 2 is a printed board to be tested, 3 is a component lead, 4 is a test pin, 6
23 is a guide pin, 7 is an airtight pad, 8 is an airtight sheet, 9 and 19 are movable plates, 10 is a restoring spring, 11 is an output line, 12 is an input line, 20 is a mask plate, 21 is a conductive pin, 22 is Input/output contact pin, 24 is a guide plate, 26 is a switching part decompression tank, 2
7 is an individual board, 28 is an electric circuit conductor, 50 is a tester section, 100 is a printed board test section, and 120 is a connection switching section.
Claims (1)
れる入出力コンタクトピン群およびテスタ部に電
気的接続される入出力コンタクトピン群を並列し
て設け、かつ前記減圧槽の減圧動作により吸引さ
れて前記2群の入出力コンタクトピンの各々対応
するピン相互を選択的に接続する電気回路導体と
該導体の入出力端子として植設された導電ピンと
を具備した個別ボードをそなえ、該個別ボードに
より前記プリント板試験部からの試験情報を前記
テスタ部に伝送する治具構成において、前記導電
ピンの植立高さが前記減圧動作によつて移動する
前記個別ボードの移動ストロークと同等に設定さ
れ、該導電ピンが当該試験に関係を有する前記入
出力コンタクトピンとのみ限定的に接触し得る構
造としたことを特徴とするプリント板試験治具。 A group of input/output contact pins that are electrically connected to the printed circuit board testing section and a group of input/output contact pins that are electrically connected to the tester section are provided in parallel in the vacuum tank, and the pressure is sucked by the pressure reduction operation of the vacuum tank. The individual board is provided with an electric circuit conductor that selectively connects the corresponding pins of the two groups of input/output contact pins, and conductive pins implanted as input/output terminals of the conductor, and the individual board In the jig configuration for transmitting test information from the printed board testing section to the tester section, the planting height of the conductive pin is set to be equal to the movement stroke of the individual board moved by the decompression operation, A printed board testing jig, characterized in that the conductive pin has a structure that allows limited contact only with the input/output contact pins related to the test.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP567384U JPS60118975U (en) | 1984-01-17 | 1984-01-17 | Printed board test jig |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP567384U JPS60118975U (en) | 1984-01-17 | 1984-01-17 | Printed board test jig |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS60118975U JPS60118975U (en) | 1985-08-12 |
JPH0425663Y2 true JPH0425663Y2 (en) | 1992-06-19 |
Family
ID=30482392
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP567384U Granted JPS60118975U (en) | 1984-01-17 | 1984-01-17 | Printed board test jig |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS60118975U (en) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US10976660B2 (en) | 2016-09-13 | 2021-04-13 | Changzhou Tronly Advanced Electronic Materials Co , Ltd. | Fluorene photoinitiator, preparation method therefor, photocurable composition having same, and use of same in photocuring field |
US11118065B2 (en) | 2017-02-17 | 2021-09-14 | Changzhou Tronly Advanced Electronic Materials Co., Ltd. | Fluorenylaminoketone photoinitiator, preparation method thereof, and UV photocurable composition containing same |
-
1984
- 1984-01-17 JP JP567384U patent/JPS60118975U/en active Granted
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US10976660B2 (en) | 2016-09-13 | 2021-04-13 | Changzhou Tronly Advanced Electronic Materials Co , Ltd. | Fluorene photoinitiator, preparation method therefor, photocurable composition having same, and use of same in photocuring field |
US11118065B2 (en) | 2017-02-17 | 2021-09-14 | Changzhou Tronly Advanced Electronic Materials Co., Ltd. | Fluorenylaminoketone photoinitiator, preparation method thereof, and UV photocurable composition containing same |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS60118975U (en) | 1985-08-12 |
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