JPH04249737A - ガス分析装置における除湿器のチェック方法 - Google Patents
ガス分析装置における除湿器のチェック方法Info
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- JPH04249737A JPH04249737A JP2416955A JP41695590A JPH04249737A JP H04249737 A JPH04249737 A JP H04249737A JP 2416955 A JP2416955 A JP 2416955A JP 41695590 A JP41695590 A JP 41695590A JP H04249737 A JPH04249737 A JP H04249737A
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- Japan
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- gas
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- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、例えば各種の排気また
は大気などに含まれたガスをガス分析装置で分析する場
合に、サンプルガスに含まれた湿気を除去するために使
用される除湿器の除湿能力のチェック方法に関する。
は大気などに含まれたガスをガス分析装置で分析する場
合に、サンプルガスに含まれた湿気を除去するために使
用される除湿器の除湿能力のチェック方法に関する。
【0002】
【従来の技術】この種のガス分析装置においては、ガス
分析計へ供給されるサンプルガスに含まれた湿気を除去
するものとして、電子冷却素子を使用した電子冷却式除
湿器が知られている。
分析計へ供給されるサンプルガスに含まれた湿気を除去
するものとして、電子冷却素子を使用した電子冷却式除
湿器が知られている。
【0003】上記電子冷却式除湿器は、電子冷却素子を
シーリング材などで封入した冷却器の冷却面側にガス供
給管が設けられた熱交換器を固定することにより除湿器
が構成されており、ガス供給管に供給されたサンプルガ
スが、熱交換器を通過する間に、サンプルガスが含む水
分をガス供給管の内面に結露させて除去するのである。
シーリング材などで封入した冷却器の冷却面側にガス供
給管が設けられた熱交換器を固定することにより除湿器
が構成されており、ガス供給管に供給されたサンプルガ
スが、熱交換器を通過する間に、サンプルガスが含む水
分をガス供給管の内面に結露させて除去するのである。
【0004】ところで、前記電子冷却式除湿器の除湿能
力をチェックする方法として、従来、熱交換器の一部に
サーミスタなどの温度センサーを取付けて、熱交換器部
の温度を測定し、その測定温度とあらかじめセットされ
た設定温度との差を求めることによって除湿能力の有無
を判断していた。
力をチェックする方法として、従来、熱交換器の一部に
サーミスタなどの温度センサーを取付けて、熱交換器部
の温度を測定し、その測定温度とあらかじめセットされ
た設定温度との差を求めることによって除湿能力の有無
を判断していた。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、この方
法では、熱交換器へのセンサーの取付け場所やセンサー
の個数などによって測定される温度が異なるため、正確
な除湿能力を判断することが非常に困難であった。又、
サンプルガス流量増加に伴う出口水分量の増加の有無の
判定が不可能であった。
法では、熱交換器へのセンサーの取付け場所やセンサー
の個数などによって測定される温度が異なるため、正確
な除湿能力を判断することが非常に困難であった。又、
サンプルガス流量増加に伴う出口水分量の増加の有無の
判定が不可能であった。
【0004】また、除湿器としては、電子冷却式除湿器
以外に半透膜除湿器があり、この半透膜除湿器は二重構
造よりなり、その外管の内部には半透膜よりなる内管が
もうけてあって、外管と内管との間の流路に乾燥したエ
アーまたは窒素ガスを流すことにより、内管内を流れる
サンプルガスの水分濃度を低下させるようにしてある。
以外に半透膜除湿器があり、この半透膜除湿器は二重構
造よりなり、その外管の内部には半透膜よりなる内管が
もうけてあって、外管と内管との間の流路に乾燥したエ
アーまたは窒素ガスを流すことにより、内管内を流れる
サンプルガスの水分濃度を低下させるようにしてある。
【0005】この半透膜除湿器は、その構造上、温度セ
ンサーなどによる温度測定ができないため、従来、除湿
能力の判定方法は皆無であった。
ンサーなどによる温度測定ができないため、従来、除湿
能力の判定方法は皆無であった。
【0006】本発明は、上述の事柄に留意してなされた
もので、その目的とするところは、除湿器の除湿能力を
簡便に、且つ、高精度にチェックすることができるガス
分析装置における除湿器のチェック方法を提供すること
にある。
もので、その目的とするところは、除湿器の除湿能力を
簡便に、且つ、高精度にチェックすることができるガス
分析装置における除湿器のチェック方法を提供すること
にある。
【0007】
【課題を解決するための手段】上述の目的を達成するた
め、本発明に係るガス分析装置における除湿器のチェッ
ク方法は、既知濃度の乾燥ガスをガス分析計に供給する
2つのガス供給ラインを設けると共に、一方のガス供給
ラインを除湿器の上流側に接続し、該除湿器を経た乾燥
ガスと他方のガス供給ラインを経た乾燥ガスの濃度値を
前記ガス分析計において比較するようにした点に特徴が
ある。
め、本発明に係るガス分析装置における除湿器のチェッ
ク方法は、既知濃度の乾燥ガスをガス分析計に供給する
2つのガス供給ラインを設けると共に、一方のガス供給
ラインを除湿器の上流側に接続し、該除湿器を経た乾燥
ガスと他方のガス供給ラインを経た乾燥ガスの濃度値を
前記ガス分析計において比較するようにした点に特徴が
ある。
【0008】
【作用】上記特徴構成によれば、ガス分析計において除
湿器を経た乾燥ガスと他方のガス供給ラインを経た乾燥
ガスの濃度値を測定、比較するため、除湿器単体のみな
らず、装置全体としての性能をチェックすることができ
る。また、熱交換器の温度測定の必要がなくなるので、
温度センサーの取付けなどが不要となる。
湿器を経た乾燥ガスと他方のガス供給ラインを経た乾燥
ガスの濃度値を測定、比較するため、除湿器単体のみな
らず、装置全体としての性能をチェックすることができ
る。また、熱交換器の温度測定の必要がなくなるので、
温度センサーの取付けなどが不要となる。
【0009】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明
する。
する。
【0010】図1は本発明の一実施例を示し、図におい
て、1は例えばサンプルガスSが供給されるように構成
してあるガス分析計であり、上記サンプルガスSはサン
プルガス供給ライン2に介装した電子冷却式除湿器3a
を経て、ガス分析計1に供給される。なお、4はドレン
トラップである。
て、1は例えばサンプルガスSが供給されるように構成
してあるガス分析計であり、上記サンプルガスSはサン
プルガス供給ライン2に介装した電子冷却式除湿器3a
を経て、ガス分析計1に供給される。なお、4はドレン
トラップである。
【0011】5,6はガスボンベ(図示せず)からの既
知濃度の乾燥ガスDをガス分析計1に供給するするため
のガス供給ラインであり、ガス供給ライン5の一部はサ
ンプルガス供給ライン2と共用しており、電子冷却式除
湿器3aの上流側に接続されている。
知濃度の乾燥ガスDをガス分析計1に供給するするため
のガス供給ラインであり、ガス供給ライン5の一部はサ
ンプルガス供給ライン2と共用しており、電子冷却式除
湿器3aの上流側に接続されている。
【0012】7はサンプルガス供給用バルブ、8,9,
10は乾燥ガス供給用バルブである。
10は乾燥ガス供給用バルブである。
【0013】而して、上記構成における除湿器のチェッ
ク方法を説明すると、まず、サンプルガス供給用バルブ
7と乾燥ガス供給用バルブ9を閉じた状態で、乾燥ガス
供給用バルブ8,10を開いて、乾燥ガスDをガス供給
ライン6から直接ガス分析計1に供給する。
ク方法を説明すると、まず、サンプルガス供給用バルブ
7と乾燥ガス供給用バルブ9を閉じた状態で、乾燥ガス
供給用バルブ8,10を開いて、乾燥ガスDをガス供給
ライン6から直接ガス分析計1に供給する。
【0014】そして、上記ガス分析計1に供給された乾
燥ガスDの濃度値は、ガス分析計1内の検出器(図示せ
ず)によって検出され、その濃度値はガス分析計1に内
蔵したCPU(図示せず)などによってメモリーされる
。
燥ガスDの濃度値は、ガス分析計1内の検出器(図示せ
ず)によって検出され、その濃度値はガス分析計1に内
蔵したCPU(図示せず)などによってメモリーされる
。
【0015】次に、サンプルガス供給用バルブ7と乾燥
ガス供給用バルブ10を閉じた状態で、乾燥ガス供給用
バルブ8,9を開いて、ガス供給ライン5を通って電子
冷却式除湿器3aを経た乾燥ガスDをガス分析計1に供
給し、同様にガス分析計1内の検出器(図示せず)によ
ってガス濃度が検出される。
ガス供給用バルブ10を閉じた状態で、乾燥ガス供給用
バルブ8,9を開いて、ガス供給ライン5を通って電子
冷却式除湿器3aを経た乾燥ガスDをガス分析計1に供
給し、同様にガス分析計1内の検出器(図示せず)によ
ってガス濃度が検出される。
【0016】例えば赤外線ガス分析計の場合、電子冷却
式除湿器3aを経た乾燥ガスDは、ガス供給ライン6を
経た乾燥ガスDに比べて、除湿器の除湿能力に相当する
水分の分圧だけ濃度値が低下する。
式除湿器3aを経た乾燥ガスDは、ガス供給ライン6を
経た乾燥ガスDに比べて、除湿器の除湿能力に相当する
水分の分圧だけ濃度値が低下する。
【0017】したがって、上記測定されたガス濃度値は
、CPUにおいて、先ほどメモリーされたガス濃度値か
ら除算あるいは引算処理されることにより、予め設定さ
れた許容値を越えると表示装置などによってアラームを
発生させるようにしておき、除湿器の能力低下を知るこ
とができる。
、CPUにおいて、先ほどメモリーされたガス濃度値か
ら除算あるいは引算処理されることにより、予め設定さ
れた許容値を越えると表示装置などによってアラームを
発生させるようにしておき、除湿器の能力低下を知るこ
とができる。
【0018】なお、乾燥ガスDは、例えばガス分析計1
がCO分析計であれば乾燥COガス、NOx分析計であ
れば乾燥NOガスを用いるようにし、ガス分析計の種類
に応じた乾燥ガスを用いればよい。
がCO分析計であれば乾燥COガス、NOx分析計であ
れば乾燥NOガスを用いるようにし、ガス分析計の種類
に応じた乾燥ガスを用いればよい。
【0019】図2は本発明の別実施例を示し、このもの
は、除湿器として電子冷却式除湿器3aの代わりに半透
膜除湿器3bを介装してある。なお、この半透膜除湿器
3bとは、例えばナフィオン(デュポン社の商標)等の
半透膜材料で構成された主流路の周囲にパージガス(乾
燥ガス)Pを連続的に流動させるように構成されたもの
である。
は、除湿器として電子冷却式除湿器3aの代わりに半透
膜除湿器3bを介装してある。なお、この半透膜除湿器
3bとは、例えばナフィオン(デュポン社の商標)等の
半透膜材料で構成された主流路の周囲にパージガス(乾
燥ガス)Pを連続的に流動させるように構成されたもの
である。
【0020】なお、その他の構成および作用は先の実施
例と同じであり、その説明は省略する。
例と同じであり、その説明は省略する。
【0021】
【発明の効果】以上詳述したところから明らかなように
、本発明によれば、ガス分析計において除湿器を経た乾
燥ガスと他方のガス供給ラインを経た乾燥ガスの濃度値
を測定、比較するため、除湿器単体のみならず、装置全
体としての性能をチェックすることができる。
、本発明によれば、ガス分析計において除湿器を経た乾
燥ガスと他方のガス供給ラインを経た乾燥ガスの濃度値
を測定、比較するため、除湿器単体のみならず、装置全
体としての性能をチェックすることができる。
【0022】また、熱交換器の温度測定の必要がなくな
るので、温度センサーの取付けなどが不要となり、従来
よりも安価に構成でき、しかも、優れた測定精度を発揮
させることができる。
るので、温度センサーの取付けなどが不要となり、従来
よりも安価に構成でき、しかも、優れた測定精度を発揮
させることができる。
【図1】本発明の一実施例を示す電子冷却式除湿器を用
いたガス分析装置の概略構成図である。
いたガス分析装置の概略構成図である。
【図2】本発明の別実施例を示す半透膜除湿器を用いた
ガス分析装置の概略構成図である。
ガス分析装置の概略構成図である。
1 ガス分析計
3a, 3b 除湿器
5,6 ガス供給ライン
S サンプルガス
D 乾燥ガス
Claims (1)
- 【請求項1】 サンプルガスを除湿器を経てガス分析
計へ供給するように構成してあるガス分析装置において
、既知濃度の乾燥ガスを前記ガス分析計に供給する2つ
のガス供給ラインを設けると共に、一方のガス供給ライ
ンを前記除湿器の上流側に接続し、該除湿器を経た乾燥
ガスと他方のガス供給ラインを経た乾燥ガスの濃度値を
前記ガス分析計において比較するようにしたことを特徴
とするガス分析装置における除湿器のチェック方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP41695590A JP2799998B2 (ja) | 1990-12-30 | 1990-12-30 | ガス分析装置における除湿器のチェック方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP41695590A JP2799998B2 (ja) | 1990-12-30 | 1990-12-30 | ガス分析装置における除湿器のチェック方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04249737A true JPH04249737A (ja) | 1992-09-04 |
JP2799998B2 JP2799998B2 (ja) | 1998-09-21 |
Family
ID=18525122
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP41695590A Expired - Lifetime JP2799998B2 (ja) | 1990-12-30 | 1990-12-30 | ガス分析装置における除湿器のチェック方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2799998B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2020505218A (ja) * | 2017-01-26 | 2020-02-20 | スカイヤ インコーポレイテッドSkyre,Inc. | 高純度水素同位体二原子分子を提供する方法および装置 |
US11649165B2 (en) | 2017-03-09 | 2023-05-16 | Sustainable Innovations, Inc. | In situ apparatus and method for providing deuterium oxide or tritium oxide in an industrial apparatus or method |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61108951A (ja) * | 1984-10-31 | 1986-05-27 | Shimadzu Corp | X線ゴニオメ−タ |
JPS63179235A (ja) * | 1987-01-19 | 1988-07-23 | Shimadzu Corp | 水晶発振式水分計 |
-
1990
- 1990-12-30 JP JP41695590A patent/JP2799998B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61108951A (ja) * | 1984-10-31 | 1986-05-27 | Shimadzu Corp | X線ゴニオメ−タ |
JPS63179235A (ja) * | 1987-01-19 | 1988-07-23 | Shimadzu Corp | 水晶発振式水分計 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2020505218A (ja) * | 2017-01-26 | 2020-02-20 | スカイヤ インコーポレイテッドSkyre,Inc. | 高純度水素同位体二原子分子を提供する方法および装置 |
US11649165B2 (en) | 2017-03-09 | 2023-05-16 | Sustainable Innovations, Inc. | In situ apparatus and method for providing deuterium oxide or tritium oxide in an industrial apparatus or method |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2799998B2 (ja) | 1998-09-21 |
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Legal Events
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---|---|---|---|
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