JPH04249214A - Production of optical waveguide-type device - Google Patents

Production of optical waveguide-type device

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JPH04249214A
JPH04249214A JP3014501A JP1450191A JPH04249214A JP H04249214 A JPH04249214 A JP H04249214A JP 3014501 A JP3014501 A JP 3014501A JP 1450191 A JP1450191 A JP 1450191A JP H04249214 A JPH04249214 A JP H04249214A
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JP
Japan
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optical waveguide
single crystal
electrode
type device
linbo3
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JP3014501A
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Japanese (ja)
Inventor
Atsushi Onoe
篤 尾上
Satoshi Miyaguchi
敏 宮口
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Pioneer Corp
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Pioneer Electronic Corp
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Abstract

PURPOSE:To prevent the reduction of the surface of an optical waveguide when an electrode is formed and to produce an optical waveguide-type device with the resistance to the damage by light enhanced by forming the electrode while shielding the optical waveguide forming part on the surface of lithium niobate (LiNbO3) single crystal provided with the waveguide. CONSTITUTION:The waveguide pattern of titanium (Ti) film is formed on the surface of the single crystal 1 of lithium niobate (LiNbO3), and then an electrode 3 is formed on the single crystal provided with an optical waveguide 2 by a titanium (Ti) diffusion method while shielding the optical waveguide forming part.

Description

【発明の詳細な説明】[Detailed description of the invention]

【0001】0001

【産業上の利用分野】本発明は、光導波路型デバイスの
製造法に関し、さらに詳しくは、光損傷耐性の高い光偏
向器等の光導波路型デバイスを得ることのできる光導波
路型デバイスの製造法に関する。
[Industrial Application Field] The present invention relates to a method for manufacturing an optical waveguide type device, and more specifically, a method for manufacturing an optical waveguide type device that can obtain an optical waveguide type device such as an optical deflector with high resistance to optical damage. Regarding.

【0002】0002

【従来の技術】各種の光エレクトロニクスシステムを構
成する上で、外部から加える制御信号に従って光波の強
度、位相、進行方向等を変化させることが不可欠となる
場合が多い。このため、たとえば光偏向デバイス等の光
導波路型デバイスに関する研究が進められている。
2. Description of the Related Art In constructing various optoelectronic systems, it is often essential to change the intensity, phase, traveling direction, etc. of light waves in accordance with control signals applied from the outside. For this reason, research on optical waveguide type devices such as optical deflection devices is progressing.

【0003】従来、これらの光導波路型デバイスは、ニ
オブ酸リチウム(LiNbO3 )単結晶の表面にチタ
ン(Ti)膜を成膜し、その後、該LiNbO3 単結
晶の熱処理を行なうTi拡散法により光導波路を形成し
、次いで、該光導波路の形成部を露出させたままの状態
で例えばフォトリソグラフィー法を行なってLiNbO
3 単結晶上に例えばアルミニウム(Al)薄膜からな
る電極を形成することにより製造されていた。
Conventionally, these optical waveguide devices have been fabricated using a Ti diffusion method in which a titanium (Ti) film is formed on the surface of a lithium niobate (LiNbO3) single crystal, and then the LiNbO3 single crystal is heat-treated. Then, with the forming portion of the optical waveguide exposed, for example, photolithography is performed to remove LiNbO.
3. It was manufactured by forming an electrode made of, for example, an aluminum (Al) thin film on a single crystal.

【0004】0004

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記の
方法により製造された光導波路型デバイスにおいては、
可視レーザー光を照射すると、結晶中の不純物(例えば
Fe)準位から電子が伝導帯に励起されて+z方向にド
リフトし、この途中で励起電子がトラップ準位に落ち込
んで結晶中に正に帯電した部分と負に帯電した部分とが
生じて空間電界が発生し、電気光学効果により屈折率が
変化してしまう現象、すなわち、いわゆる光損傷が生じ
てデバイスの特性が著しく劣化してしまうという問題が
あった。
[Problems to be Solved by the Invention] However, in the optical waveguide type device manufactured by the above method,
When visible laser light is irradiated, electrons are excited from the impurity (e.g. Fe) level in the crystal to the conduction band and drift in the +z direction. On the way, the excited electrons fall into the trap level and become positively charged in the crystal. A phenomenon in which a space electric field is generated due to the formation of a negatively charged part and a negatively charged part, and the refractive index changes due to the electro-optic effect.In other words, so-called optical damage occurs, resulting in a significant deterioration of device characteristics. was there.

【0005】そこで、本発明者が光導波路型デバイスに
おける光損傷について検討を重ねたところ、この光損傷
はLiNbO3 単結晶の表面に電極を形成する際に電
極材料により光導波路の表面が還元されてしまうことに
起因することが判明した。本発明はかかる事情に基づい
てなされたものであり、本発明の目的は、光損傷耐性が
向上していて所期の特性が劣化することのない光導波路
型のデバイスを得ることのできる光導波路型デバイス、
特に光導波路形成部と電極形成部とが明確に区別されて
いる例えば光偏向器等の光導波路型デバイスの製造法を
提供することにある。
[0005] Therefore, the inventor of the present invention repeatedly investigated optical damage in optical waveguide type devices, and found that this optical damage is caused by the reduction of the optical waveguide surface by the electrode material when forming an electrode on the surface of the LiNbO3 single crystal. It turned out that this was caused by putting it away. The present invention has been made based on such circumstances, and an object of the present invention is to provide an optical waveguide capable of obtaining an optical waveguide type device with improved resistance to optical damage and without deterioration of desired characteristics. type device,
In particular, it is an object of the present invention to provide a method for manufacturing an optical waveguide type device, such as an optical deflector, in which an optical waveguide forming part and an electrode forming part are clearly distinguished.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
の本発明の要旨は、ニオブ酸リチウム(LiNbO3 
)単結晶の表面にチタン(Ti)膜の導波路パターンを
形成し、その後、該ニオブ酸リチウム(LiNbO3 
)単結晶の熱処理を行なうチタン(Ti)拡散法により
光導波路を形成し、次いで、該ニオブ酸リチウム(Li
NbO3 )単結晶上に電極を形成する光導波路型デバ
イスの製造法において、前記電極の形成を、光導波路部
を遮蔽して行なうことを特徴とする光導波路型デバイス
の製造法である。
[Means for Solving the Problems] The gist of the present invention for achieving the above object is to use lithium niobate (LiNbO3).
) A waveguide pattern of titanium (Ti) film is formed on the surface of the single crystal, and then the lithium niobate (LiNbO3
) An optical waveguide is formed by a titanium (Ti) diffusion method that heat-treats a single crystal, and then the lithium niobate (Li
A method of manufacturing an optical waveguide type device in which an electrode is formed on a single crystal (NbO3), characterized in that the electrode is formed with the optical waveguide portion shielded.

【0007】図1は本発明の製造方法を工程順に示す流
れ図である。図1に示すように、本発明の光導波路型デ
バイスの製造法においては、先ず、LiNbO3 単結
晶の表面にTi膜の導波路パターンを形成する。このT
i膜の導波路パターンの形成方法には、たとえば、Li
NbO3 単結晶の表面にTi膜を成膜してから通常の
フォトリソグラフィーによりレジストパターンを形成し
、その後、Tiをエッチングしてパターン化する方法を
採用することもできるし、あるいはレジストなどの反転
パターンを形成してからTi膜を成膜し、続いて有機溶
剤に浸すことによりレジストを溶解・除去するいわゆる
リフトオフ法を採用することもできる。なお、Ti膜は
、たとえば真空蒸着法、スパッタリング法を好適に採用
して形成することが可能であり、Ti膜の膜厚は、通常
、100〜1000Å程度である。なお、たとえば光偏
向器等の場合には、この導波路パターンを、LiNbO
3 単結晶表面の全面が導波路となるように形成しても
良い。
FIG. 1 is a flowchart showing the manufacturing method of the present invention in order of steps. As shown in FIG. 1, in the method of manufacturing an optical waveguide type device of the present invention, first, a waveguide pattern of a Ti film is formed on the surface of a LiNbO3 single crystal. This T
The method for forming the waveguide pattern of the i-film includes, for example, Li
It is also possible to adopt a method in which a Ti film is formed on the surface of the NbO3 single crystal, a resist pattern is formed by ordinary photolithography, and then the Ti is etched to form a pattern, or an inverted pattern of resist etc. It is also possible to adopt a so-called lift-off method in which a Ti film is formed after the resist is formed, and then the resist is dissolved and removed by immersion in an organic solvent. Note that the Ti film can be formed by suitably employing, for example, a vacuum evaporation method or a sputtering method, and the thickness of the Ti film is usually about 100 to 1000 Å. Note that, for example, in the case of an optical deflector, etc., this waveguide pattern is made of LiNbO
3. The entire surface of the single crystal may be formed as a waveguide.

【0008】本発明の方法においては、このようにして
LiNbO3 単結晶の表面にTi膜の導波路パターン
を形成した後、Ti拡散法により該結晶中に光導波路を
形成する。ここで、Tiの拡散条件は、一般に次の通り
である。すなわち、拡散温度は結晶の分極状態を保持す
るためにキュリー温度以下に設定する。具体的には、9
00〜1100℃である。なお、基板(LiNbO3単
結晶)を1000℃以上に加熱した場合には、LiO2
 の外拡散が生じるのを防止するために水蒸気を含ませ
た酸素ガス、空気等の酸化雰囲気中で拡散させる。ここ
で、酸化雰囲気を用いるのは、作製される導波路が光損
傷を起しにくい状態とするためである。拡散時間は、通
常、数時間〜10時間程度である。拡散時間が10時間
を超えると、LiNbO3 単結晶の欠陥が生じて光伝
送損失が増加することがある。また、拡散は通常炉心管
内で行なうが、レーザーアニールによる加熱も可能であ
る。
In the method of the present invention, after a Ti film waveguide pattern is formed on the surface of a LiNbO3 single crystal in this way, an optical waveguide is formed in the crystal by a Ti diffusion method. Here, the Ti diffusion conditions are generally as follows. That is, the diffusion temperature is set below the Curie temperature in order to maintain the polarized state of the crystal. Specifically, 9
00-1100°C. Note that when the substrate (LiNbO3 single crystal) is heated to 1000°C or higher, LiO2
In order to prevent external diffusion of the gas, it is diffused in an oxidizing atmosphere such as oxygen gas or air containing water vapor. The reason why an oxidizing atmosphere is used here is to make the waveguide to be manufactured less susceptible to optical damage. Diffusion time is usually about several hours to 10 hours. If the diffusion time exceeds 10 hours, defects may occur in the LiNbO3 single crystal and optical transmission loss may increase. Furthermore, although diffusion is normally performed within the reactor core tube, heating by laser annealing is also possible.

【0009】このようにしてLiNbO3 単結晶中に
Tiを拡散させて光導波路を形成した後、このLiNb
O3 単結晶1上の光導波路形成部を遮蔽した状態で電
極材料膜を形成する。ここで、電極材料としては、たと
えばアルミニウム(Al)等が挙げられる。電極は、電
極材料を使用したリフトオフ法により形成する。具体的
には、LiNbO3 単結晶1の表面にレジスト20を
塗布してから露光・現像処理を行なって所望の電極パタ
ーンを形成した後、たとえば図2に示すように、LiN
bO3 単結晶1の表面の光導波路形成部上に遮蔽板1
0を載置し、Al等の電極材料の薄膜を形成する。その
後、不要なレジストおよびAl等の電極材料の薄膜をア
セトン等の有機溶剤によって除去し、電極を形成すれば
よい。 ここで、前記遮蔽板はLiNbO3 単結晶表面の光導
波路形成部を覆い尽くすことのできる形状および大きさ
を具備しているとともに所定の電極形成部を露出させる
形状および大きさを具備していることが必要である。こ
のような遮蔽板には、たとえばステンレス板、PTFE
樹脂板等を好適に使用することができる。また、前記電
極材料の薄膜は、たとえば真空蒸着法、スパッタリング
法等の薄膜形成法を好適に採用して形成することができ
る。このようにして形成される電極の膜厚は、たとえば
SAW電極の場合2,000〜3,000Å程度である
。なお、本発明の方法においては、LiNbO3 単結
晶に対する電極の密着性を補償するために電極とLiN
bO3 単結晶との間に、たとえばTi膜を形成するこ
とが好ましい。このTi膜の膜厚は、200〜300Å
程度である。
After forming an optical waveguide by diffusing Ti into the LiNbO3 single crystal in this way, the LiNbO3
An electrode material film is formed while shielding the optical waveguide formation portion on the O3 single crystal 1. Here, examples of the electrode material include aluminum (Al). The electrode is formed by a lift-off method using an electrode material. Specifically, a resist 20 is applied to the surface of the LiNbO3 single crystal 1, exposed and developed to form a desired electrode pattern, and then, as shown in FIG.
A shielding plate 1 is placed on the optical waveguide forming part on the surface of the bO3 single crystal 1.
0 is placed thereon, and a thin film of electrode material such as Al is formed. Thereafter, unnecessary resist and a thin film of electrode material such as Al may be removed using an organic solvent such as acetone to form an electrode. Here, the shielding plate has a shape and size that can completely cover the optical waveguide forming portion on the surface of the LiNbO3 single crystal, and a shape and size that exposes a predetermined electrode forming portion. is necessary. Such a shielding plate is made of, for example, a stainless steel plate or a PTFE plate.
A resin plate or the like can be suitably used. Further, the thin film of the electrode material can be formed by suitably employing a thin film forming method such as a vacuum evaporation method or a sputtering method. The film thickness of the electrode thus formed is, for example, about 2,000 to 3,000 Å in the case of a SAW electrode. In addition, in the method of the present invention, in order to compensate for the adhesion of the electrode to the LiNbO3 single crystal, the electrode and LiN
For example, it is preferable to form a Ti film between the bO3 single crystal and the bO3 single crystal. The thickness of this Ti film is 200 to 300 Å.
That's about it.

【0010】本発明の方法においては、以上のようにし
て光導波路部を遮蔽した状態で電極を形成して得られる
光導波路型デバイスの導波路の表面状態をより安定なも
のとするために光導波路型デバイスの表面に、たとえば
SiO2 膜、Al2 O膜等の酸化物膜を形成しても
良い。このような酸化物膜は、たとえばスパッタリング
法、CVD法等の方法により形成することが可能であり
、その膜厚は、通常、200〜300Å程度である。
In the method of the present invention, in order to make the surface state of the waveguide of the optical waveguide device obtained by forming the electrode with the optical waveguide portion shielded as described above more stable, the optical waveguide portion is shielded. For example, an oxide film such as a SiO2 film or an Al2O film may be formed on the surface of the wave path type device. Such an oxide film can be formed, for example, by a method such as a sputtering method or a CVD method, and its film thickness is usually about 200 to 300 Å.

【0011】以上のようにして得られる光導波路型デバ
イスは光損傷耐性が著しく向上したものである。
The optical waveguide type device obtained as described above has significantly improved resistance to optical damage.

【0012】0012

【作用】本発明の光導波路型デバイスの製造法において
は、チタン(Ti)拡散法によりニオブ酸リチウム(L
iNbO3 )単結晶中に光導波路を形成した後、該ニ
オブ酸リチウム(LiNbO3 )単結晶上の光導波路
形成部を遮蔽した状態で該ニオブ酸リチウム(LiNb
O3 )単結晶に電極を形成する。該ニオブ酸リチウム
(LiNbO3 )単結晶上の光導波路形成部を遮蔽し
た状態で電極を形成することにより、電極形成の際に電
極材料により光導波路の表面が還元されるのを防止する
ことができる。したがって、本発明の方法により製造さ
れる光導波路型デバイスは、光導波路表面が還元状態に
ならないため光損傷耐性が著しく向上したものとなる。
[Function] In the method for manufacturing an optical waveguide device of the present invention, lithium niobate (L) is
After forming an optical waveguide in the lithium niobate (LiNbO3) single crystal, the lithium niobate (LiNbO3) is
O3) Form an electrode on the single crystal. By forming an electrode while shielding the optical waveguide forming portion on the lithium niobate (LiNbO3) single crystal, it is possible to prevent the surface of the optical waveguide from being reduced by the electrode material during electrode formation. . Therefore, the optical waveguide type device manufactured by the method of the present invention has significantly improved optical damage resistance because the optical waveguide surface does not become reduced.

【0013】[0013]

【実施例】以下、本発明の実施例として2次元導波路を
用いた光偏向器を示し、本発明についてさらに具体的に
説明する。y方向にカットしたニオブ酸リチウム単結晶
(y−カットLiNbO3 )を充分に洗浄してから該
結晶上に全面にわたって厚さ200Åのチタン(Ti)
膜をスパッタリングにより形成した。なお、スパッタリ
ングは、マグネトロン型RFスパッタ装置を使用し、T
iターゲット径10cm、RFパワー100w、Arガ
ス圧2×10−2Torrの条件下で行なった。
[Embodiments] Hereinafter, an optical deflector using a two-dimensional waveguide will be shown as an embodiment of the present invention, and the present invention will be explained in more detail. After thoroughly cleaning a lithium niobate single crystal (y-cut LiNbO3) cut in the y direction, titanium (Ti) with a thickness of 200 Å is deposited on the entire surface of the crystal.
The film was formed by sputtering. Note that sputtering uses a magnetron type RF sputtering device, and T
The experiment was conducted under the following conditions: i target diameter 10 cm, RF power 100 W, and Ar gas pressure 2 x 10-2 Torr.

【0014】次いで、拡散温度1,000℃、拡散時間
7時間、酸素ガスおよび水蒸気の混合ガス雰囲気中でT
i拡散を行なって光導波路を形成した。次に、このLi
NbO3 単結晶表面の全面にわたってレジストを1μ
mの厚さで塗布し、露光処理及び現像処理を行なってレ
ジストパターンを形成した後、光が導波する部分にステ
ンレス製の遮蔽板を載置してから全面にわたって膜厚2
000Aのアルミニウム(Al)膜を真空蒸着法により
形成した。なお、このとき遮蔽板の作用により該遮蔽板
の下にはAl膜は形成されていない。さらに、有機溶剤
(アセトン)によってレジストおよび不要なAl膜を除
去するリフトオフ法によりSAW電極を形成して導波長
40mmの光導波路型デバイスを作製した。なお、真空
蒸着は、到達真空度5×10−6Torr、レート10
Å/秒の条件で行なった。図3はこの光導波路型デバイ
スを模式的に示す説明図である。この光導波路型デバイ
スは、図3に示すように、y−カットLiNbO3 単
結晶1中にx方向を長手方向(光の導波方向)として光
導波路2が形成されているとともにLiNbO3 単結
晶1上に電極3が形成されたものである。
Next, T was heated at a diffusion temperature of 1,000°C and a diffusion time of 7 hours in a mixed gas atmosphere of oxygen gas and water vapor.
An optical waveguide was formed by i-diffusion. Next, this Li
A resist layer of 1 μm is applied over the entire surface of the NbO3 single crystal.
After applying the film to a thickness of 2 m and performing exposure and development to form a resist pattern, a stainless steel shielding plate is placed on the part where light is guided, and then a film thickness of 2 m is applied over the entire surface.
A 000A aluminum (Al) film was formed by vacuum evaporation. Note that at this time, due to the action of the shielding plate, no Al film was formed under the shielding plate. Further, a SAW electrode was formed by a lift-off method in which the resist and unnecessary Al film were removed using an organic solvent (acetone), and an optical waveguide type device with a guided wavelength of 40 mm was fabricated. In addition, vacuum evaporation is performed at an ultimate vacuum of 5 x 10-6 Torr and a rate of 10
The test was carried out under the conditions of Å/sec. FIG. 3 is an explanatory diagram schematically showing this optical waveguide type device. As shown in FIG. 3, in this optical waveguide type device, an optical waveguide 2 is formed in a y-cut LiNbO3 single crystal 1 with the x direction as the longitudinal direction (light waveguide direction), and an optical waveguide 2 is formed on the LiNbO3 single crystal 1. An electrode 3 is formed on the surface.

【0015】この光導波路型デバイスにHe−Neレー
ザー光(TE0 モード)を導波させ、各インプットパ
ワーで5分間導波させた後のアウトプットパワーを測定
した。結果を図4に示す。なお、アウトプット光は1.
5mmφの絞りを通して検出した。一方、上記光導波路
型デバイスの作製において、LiNbO3 単結晶表面
の光導波路形成部上を遮蔽することなく光導波路形成部
表面を露出させたまま電極を形成した以外は上記光導波
路型デバイスの作製と同様にして比較サンプルを作製し
、この比較サンプルについて上記と同様にしてインプッ
トパワーとアウトプットパワーとの関係を求めた。結果
を図5に示す。
[0015] A He-Ne laser beam (TE0 mode) was guided through this optical waveguide type device, and the output power was measured after the light was guided for 5 minutes at each input power. The results are shown in Figure 4. Note that the output light is 1.
Detection was made through a 5 mmφ aperture. On the other hand, in the production of the optical waveguide type device, the electrodes were formed with the surface of the optical waveguide formation part exposed without shielding the surface of the LiNbO3 single crystal surface. A comparative sample was prepared in the same manner, and the relationship between input power and output power was determined for this comparative sample in the same manner as above. The results are shown in Figure 5.

【0016】図4および図5から明らかなように、比較
サンプルではアウトプットパワーの低下が見られること
から光損傷が発生しているものと推測されるのに対し、
本発明の方法により作製された光導波路型デバイスにお
いてはアウトプットパワーとインプットパワーとは比例
関係を示し、光損傷が生じていないことが確認された。
As is clear from FIGS. 4 and 5, the comparative sample shows a decrease in output power, which suggests that optical damage has occurred.
In the optical waveguide type device manufactured by the method of the present invention, output power and input power showed a proportional relationship, and it was confirmed that no optical damage occurred.

【0017】[0017]

【発明の効果】本発明によれば、以上の構成としたので
、光損傷耐性の著しく向上した光導波路型デバイスを効
率良く得ることのできる光導波路型デバイス、特に光導
波路形成部と電極形成部とが明確に区別されている例え
ば光偏向器等の光導波路型デバイスの製造法を提供する
ことができる。
According to the present invention, with the above structure, an optical waveguide type device, in particular an optical waveguide forming part and an electrode forming part, can efficiently obtain an optical waveguide type device with significantly improved resistance to optical damage. For example, it is possible to provide a method for manufacturing an optical waveguide type device such as an optical deflector, in which the two are clearly distinguished.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

【図1】本発明の光導波路型デバイスの製造法の工程の
流れを示すフローチャートである。
FIG. 1 is a flowchart showing the process flow of a method for manufacturing an optical waveguide type device of the present invention.

【図2】本発明の光導波路型デバイスの製造法における
電極形成の一例を示す説明図である。
FIG. 2 is an explanatory diagram showing an example of electrode formation in the method for manufacturing an optical waveguide type device of the present invention.

【図3】本実施例で製造された光導波路型デバイスを模
式的に示す平面図である。
FIG. 3 is a plan view schematically showing an optical waveguide type device manufactured in this example.

【図4】本実施例で製造された光導波路型デバイスにH
e−Neレーザー光を導波させた場合のインプットパワ
ーとアウトプットパワーとの関係を示すグラフである。
[Figure 4] H
It is a graph showing the relationship between input power and output power when e-Ne laser light is guided.

【図5】比較サンプルにHe−Neレーザー光を導波さ
せた場合のインプットパワーとアウトプットパワーとの
関係を示すグラフである。
FIG. 5 is a graph showing the relationship between input power and output power when He--Ne laser light is guided in a comparative sample.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1  LiNbO3 単結晶 2  光導波路 3  電極 1 LiNbO3 single crystal 2 Optical waveguide 3 Electrode

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】  ニオブ酸リチウム(LiNbO3 )
単結晶の表面にチタン(Ti)膜の導波路パターンを形
成し、その後、該ニオブ酸リチウム(LiNbO3 )
単結晶の熱処理を行なうチタン(Ti)拡散法により光
導波路を形成し、次いで、該ニオブ酸リチウム(LiN
bO3 )単結晶上に電極を形成する光導波路型デバイ
スの製造法において、前記電極の形成を、光導波路形成
部を遮蔽して行なうことを特徴とする光導波路型デバイ
スの製造法。
[Claim 1] Lithium niobate (LiNbO3)
A waveguide pattern of titanium (Ti) film is formed on the surface of the single crystal, and then the lithium niobate (LiNbO3)
An optical waveguide is formed by a titanium (Ti) diffusion method that heat-treats a single crystal, and then the lithium niobate (LiN)
bO3) A method for manufacturing an optical waveguide type device in which an electrode is formed on a single crystal, characterized in that the electrode is formed while shielding the optical waveguide forming part.
JP3014501A 1991-02-05 1991-02-05 Production of optical waveguide-type device Pending JPH04249214A (en)

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