JPH0424539A - 粒子凝集パターン判定装置 - Google Patents
粒子凝集パターン判定装置Info
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- JPH0424539A JPH0424539A JP2128646A JP12864690A JPH0424539A JP H0424539 A JPH0424539 A JP H0424539A JP 2128646 A JP2128646 A JP 2128646A JP 12864690 A JP12864690 A JP 12864690A JP H0424539 A JPH0424539 A JP H0424539A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野〕
本発明は、粒子凝集パターン判定装置に係り、とくに、
血液型の判定、抗原・抗体の検出用として用いられてい
る所謂マイクロタイター法による血液粒子の凝集パター
ンの判定に好適な粒子凝集パターン判定装置に関する。
血液型の判定、抗原・抗体の検出用として用いられてい
る所謂マイクロタイター法による血液粒子の凝集パター
ンの判定に好適な粒子凝集パターン判定装置に関する。
医療分野においては、従来より、血液粒子やラテックス
粒子さらには炭素粒子等の凝集パターンを判別し、血液
中の種々の成分(例えば、血液型や各種抗体、或いは各
種蛋白質等)やビールス等を検出し分析することが広く
行われている。この凝集ハターンの判定方法としては、
所謂マイクロタイター法による手法が比較的多く行われ
ている。
粒子さらには炭素粒子等の凝集パターンを判別し、血液
中の種々の成分(例えば、血液型や各種抗体、或いは各
種蛋白質等)やビールス等を検出し分析することが広く
行われている。この凝集ハターンの判定方法としては、
所謂マイクロタイター法による手法が比較的多く行われ
ている。
この免疫学的測定におけるマイクロタイター法では、血
液をマイクロプレート上で所定の手法で凝集させ、その
凝集の有無を調べ、或いは凝集パターンの面積等を算定
し、これによって免疫成分の微量測定が行われる。この
凝集の有無の判定は、従来は肉眼による目視判定が行わ
れていたが、近時においては、その判定の自動化も進め
られている。
液をマイクロプレート上で所定の手法で凝集させ、その
凝集の有無を調べ、或いは凝集パターンの面積等を算定
し、これによって免疫成分の微量測定が行われる。この
凝集の有無の判定は、従来は肉眼による目視判定が行わ
れていたが、近時においては、その判定の自動化も進め
られている。
この凝集パターンに関する判定は、凝集の有無をウェル
(反応容器)内の粒子の分布を成る算度以下の部分の面
積としてとらえたり、また、標準パターンや標準非凝集
パターンと比較したり、更には検体試料の連続的段階希
釈系列を作成する等により、総合的に判定される。
(反応容器)内の粒子の分布を成る算度以下の部分の面
積としてとらえたり、また、標準パターンや標準非凝集
パターンと比較したり、更には検体試料の連続的段階希
釈系列を作成する等により、総合的に判定される。
そして、これら凝集パターンに対する判定の自動化は、
光学的手段と、この光学的手段により得られる凝集パタ
ーンを電気的に演算処理する電気的演算処理手段とによ
り行われる。
光学的手段と、この光学的手段により得られる凝集パタ
ーンを電気的に演算処理する電気的演算処理手段とによ
り行われる。
第9図に従来例を示す。この第9図に示す従来例にあっ
ては、マイクロプレート100上に形成されたウェル(
反応容器)IDOA内の凝集パターンPをCCDライン
センサ101上に光学的に投影させ、このラインセンサ
101若しくはマイクロプレート100を相対的に紙面
に直交する方向に順次微小移動させ、これによって凝集
像Pの二次元画像(明暗の)を得ようとするものである
。
ては、マイクロプレート100上に形成されたウェル(
反応容器)IDOA内の凝集パターンPをCCDライン
センサ101上に光学的に投影させ、このラインセンサ
101若しくはマイクロプレート100を相対的に紙面
に直交する方向に順次微小移動させ、これによって凝集
像Pの二次元画像(明暗の)を得ようとするものである
。
この第9図において符号102は光源を示し、符号10
3は結像レンズを、又符号104はレンズホルダを各々
示す。
3は結像レンズを、又符号104はレンズホルダを各々
示す。
〔発明が解決しようとする課題]
しかしながら、上記従来例にあっては、レンズホルダ1
04やレンズ103の収差等によって出力が第10図に
示す如くそのウィンドLの両端部E、Fで著しく暗くな
り、これが広がると、中央部の凝集パターン抽出に支障
をきたすという不都合が生じる。また、得られたデータ
を集計して第11図に示す立体図を作成し、しかるのち
適当なしきい値で中央部の凝集パターンを抽出しようと
すると、外乱光や電気的ノイズの影響によって例えば、
第12図に示すように暗部L 、 Zz 、 Z3
が面積データ(同図内の実線部分)として大きく表示さ
れてしまうという不都合が、しばしば生じていた。
04やレンズ103の収差等によって出力が第10図に
示す如くそのウィンドLの両端部E、Fで著しく暗くな
り、これが広がると、中央部の凝集パターン抽出に支障
をきたすという不都合が生じる。また、得られたデータ
を集計して第11図に示す立体図を作成し、しかるのち
適当なしきい値で中央部の凝集パターンを抽出しようと
すると、外乱光や電気的ノイズの影響によって例えば、
第12図に示すように暗部L 、 Zz 、 Z3
が面積データ(同図内の実線部分)として大きく表示さ
れてしまうという不都合が、しばしば生じていた。
〔発明の目的]
本発明の目的は、かかる従来例の有する不都合を改善し
、とくに、外乱要因を有効に排除するとともに凝集パタ
ーンデータを有効に抽出することができ、これによって
装置全体の信転性向上を図った粒子凝集パターン判定装
置を提供することにある。
、とくに、外乱要因を有効に排除するとともに凝集パタ
ーンデータを有効に抽出することができ、これによって
装置全体の信転性向上を図った粒子凝集パターン判定装
置を提供することにある。
本発明では、CCDラインセンサがら出力される凝集パ
ターンのラインデータを所定のタイミングで順次記憶す
るデータ用メモリ回路と、このデータようメモリ回路に
記憶されるデータに基づいて一定のしきい値を特定する
しきい値特定手段と、このしきい値特定手段で特定され
たしきい値に基づいてデータ用メモリ回路内の記憶デー
タより凝集パターンを引き出すと共にその形状および面
積を求めるパターン面積演算手段とを備えている。
ターンのラインデータを所定のタイミングで順次記憶す
るデータ用メモリ回路と、このデータようメモリ回路に
記憶されるデータに基づいて一定のしきい値を特定する
しきい値特定手段と、このしきい値特定手段で特定され
たしきい値に基づいてデータ用メモリ回路内の記憶デー
タより凝集パターンを引き出すと共にその形状および面
積を求めるパターン面積演算手段とを備えている。
そして、しきい値特定手段が、データ用メモリ回路内の
各ラインデータの最大値を求める第1の最大値特定機能
と、これにより求められたラインデータ毎の各最大値か
ら更に全体の中の最大値を求める第2の最大値特定機能
と、この第2の最大値特定機能の作動により得られる最
大値に基づいて所定の大きさのしきい値を定めるしきい
値特定機能とを備えている、等の構成を採っている。こ
れによって前述した目的を達成しようとするものである
。
各ラインデータの最大値を求める第1の最大値特定機能
と、これにより求められたラインデータ毎の各最大値か
ら更に全体の中の最大値を求める第2の最大値特定機能
と、この第2の最大値特定機能の作動により得られる最
大値に基づいて所定の大きさのしきい値を定めるしきい
値特定機能とを備えている、等の構成を採っている。こ
れによって前述した目的を達成しようとするものである
。
〔第1実施例〕
以下、本発明の一実施例を第1図ないし第6図に基づい
て説明する。
て説明する。
第1図において、反応容器を備えたマイクロプレー1−
100の下方には、前述した第9図に示す従来例と同様
に光学系を介してCCDラインセンサ101が装備され
ている。マイクロプレート100は、マイクロプレート
移動手段110に付勢されてCCDラインセンサ101
に直交する方向の一方から他方へ又は他方から一方へ順
次微小距離づつ移動されるようになっている。符号11
1は位置検出センサを示す。この位置検出センサ111
は、マイクロプレート100の往復移動距離を定めるも
ので、そのセンサ出力は主制御部1内の第1の制御回路
IAへ送り込まれている。これによって、マイクロプレ
ー)100は、その位置が常に特定され、必要に応して
前進若しくは後退又は停止制御に付されるようになって
いる。
100の下方には、前述した第9図に示す従来例と同様
に光学系を介してCCDラインセンサ101が装備され
ている。マイクロプレート100は、マイクロプレート
移動手段110に付勢されてCCDラインセンサ101
に直交する方向の一方から他方へ又は他方から一方へ順
次微小距離づつ移動されるようになっている。符号11
1は位置検出センサを示す。この位置検出センサ111
は、マイクロプレート100の往復移動距離を定めるも
ので、そのセンサ出力は主制御部1内の第1の制御回路
IAへ送り込まれている。これによって、マイクロプレ
ー)100は、その位置が常に特定され、必要に応して
前進若しくは後退又は停止制御に付されるようになって
いる。
CCDラインセンサ101は、センサ走査駆動回路11
2に付勢されて作動し、前述したマイクロプレート10
o上の粒子凝集パターンを、微小距離できざんだ状態の
ライン情報として、順次出力し得るようになっている。
2に付勢されて作動し、前述したマイクロプレート10
o上の粒子凝集パターンを、微小距離できざんだ状態の
ライン情報として、順次出力し得るようになっている。
さらに、この第1図に示す実施例は、CCDラインセン
サ101がら出力される凝集パターンのラインデータを
所定のタイミングで順次記憶するデータ用メモリ回路3
を備えている。また、このデータ用メモリ回路3に記憶
されるデータGこ基づいて一定のしきい値を特定するし
きい値特定手段4と、このしきい値特定手段4で特定さ
れたしきい値に基づいてデータ用メモリ回路3内の記憶
データから粒子凝集パターンを引き出すと共にその形状
および面積を求めるパターン面積演算手段5とを備えて
いる。符号6は判定回路を示し、符号7は記録手段を示
す。
サ101がら出力される凝集パターンのラインデータを
所定のタイミングで順次記憶するデータ用メモリ回路3
を備えている。また、このデータ用メモリ回路3に記憶
されるデータGこ基づいて一定のしきい値を特定するし
きい値特定手段4と、このしきい値特定手段4で特定さ
れたしきい値に基づいてデータ用メモリ回路3内の記憶
データから粒子凝集パターンを引き出すと共にその形状
および面積を求めるパターン面積演算手段5とを備えて
いる。符号6は判定回路を示し、符号7は記録手段を示
す。
しきい値特定手段4は、各ラインデータの最大値を求め
る最大値特定回路4Aと、この最大値特定回路4Aで特
定される最大値を記憶する最大値記憶回路4Bと、最大
値特定回路4Aで最終的に定められる最大値に基づいて
所定のしきい値(例えば最大値の1/2の値)を定める
しきい値設定回路4Cとを備えている。
る最大値特定回路4Aと、この最大値特定回路4Aで特
定される最大値を記憶する最大値記憶回路4Bと、最大
値特定回路4Aで最終的に定められる最大値に基づいて
所定のしきい値(例えば最大値の1/2の値)を定める
しきい値設定回路4Cとを備えている。
この内、最大値特定回路4Aは、データ用メモリ回路3
内の各ラインデータの最大値を求める第1の最大値特定
機能と、これにより求められたラインデータ毎の各最大
値から更に全体の中の最大値を求める第2の最大値特定
機能とを備えている。
内の各ラインデータの最大値を求める第1の最大値特定
機能と、これにより求められたラインデータ毎の各最大
値から更に全体の中の最大値を求める第2の最大値特定
機能とを備えている。
各ラインデータの最大値は、例えば第2図に示すように
して特定される。すなわち、CCDラインセンサ101
から送られてくるライン情報Aは、その線分がウィンド
幅しで区切られている。この第2図におけるしの範囲内
において最大値らしき情報Xは、X+ 、X2.X:l
の3点ある。この場合直ちに第1の最大値特定機能が作
用して、当該ラインデータの最大値Xの前後に位置する
二つのデータa、bを選出すると共に、これらが、X>
a x>b を同時に満足した場合のXを、当該ラインデータの最大
値として特定する。
して特定される。すなわち、CCDラインセンサ101
から送られてくるライン情報Aは、その線分がウィンド
幅しで区切られている。この第2図におけるしの範囲内
において最大値らしき情報Xは、X+ 、X2.X:l
の3点ある。この場合直ちに第1の最大値特定機能が作
用して、当該ラインデータの最大値Xの前後に位置する
二つのデータa、bを選出すると共に、これらが、X>
a x>b を同時に満足した場合のXを、当該ラインデータの最大
値として特定する。
この第2図の場合にあっては、rX、<a、X>b J
、 「X2 >a、 X2 >b J 、 ’
X:l <a。
、 「X2 >a、 X2 >b J 、 ’
X:l <a。
X3>bJとなっている。このため、この第2図の場合
はX2がこのラインデータの内の最大値すなわちX=χ
2として特定される。
はX2がこのラインデータの内の最大値すなわちX=χ
2として特定される。
このため、この第1実施例によると、明らかに中央部分
の位置するライン情報のみが粒子凝集パターンに係る情
報として特定される。すなわち、この最大値特定作業の
過程においてラインデータに対する要因が有効に排除さ
れるようになっている。
の位置するライン情報のみが粒子凝集パターンに係る情
報として特定される。すなわち、この最大値特定作業の
過程においてラインデータに対する要因が有効に排除さ
れるようになっている。
また、装置全体の動作を示すフローチャートを、第3図
に示す。全体的には第1ステツプS1のデータ取り込み
から第5ステツプS5の判定に至る5段階のステップに
より、粒子凝集パターンの判定動作が行われるようにな
っている。
に示す。全体的には第1ステツプS1のデータ取り込み
から第5ステツプS5の判定に至る5段階のステップに
より、粒子凝集パターンの判定動作が行われるようにな
っている。
更に、パターン面積演算手段5は、前述した各ラインデ
ータの内の最大値からしきい値に至る範囲の線分をパタ
ーン面積算定用のデータとする面積算定データ特定機能
と、この面積算定データ特定機能により特定される全ラ
インデータのパターン面積算定用のデータに基づいて当
該凝集パターンの面積を算定するパターン面積演算機能
とを備えでいる。これを更に詳述すると、パターン面積
演算手段5は、前述したしきい値特定回路4Cから出力
される所定レベルのしきい値に基づいてデータ用メモリ
回路内の記憶データより粒子既築パターン用のライン要
素を抽出する凝集パターン抽出回路5Aと、この凝集パ
ターン抽出回路5Aで抽出されたライン要素を加算して
凝集パターンの面積を算定する面積演算回路5Bとによ
り構成されている。
ータの内の最大値からしきい値に至る範囲の線分をパタ
ーン面積算定用のデータとする面積算定データ特定機能
と、この面積算定データ特定機能により特定される全ラ
インデータのパターン面積算定用のデータに基づいて当
該凝集パターンの面積を算定するパターン面積演算機能
とを備えでいる。これを更に詳述すると、パターン面積
演算手段5は、前述したしきい値特定回路4Cから出力
される所定レベルのしきい値に基づいてデータ用メモリ
回路内の記憶データより粒子既築パターン用のライン要
素を抽出する凝集パターン抽出回路5Aと、この凝集パ
ターン抽出回路5Aで抽出されたライン要素を加算して
凝集パターンの面積を算定する面積演算回路5Bとによ
り構成されている。
ここで、パターン抽出回路5Aは、第4図に示すように
、最大値Xとしきい値Sとの間に位置する線分データの
みを面積算定用データとして取り込むようになっている
。このため、第4図に示すように外乱要因の一つとして
送られてくる符号EFの領域は面積算定データから積極
的に除外される。
、最大値Xとしきい値Sとの間に位置する線分データの
みを面積算定用データとして取り込むようになっている
。このため、第4図に示すように外乱要因の一つとして
送られてくる符号EFの領域は面積算定データから積極
的に除外される。
このように、本実施例にあっては、外乱光やノイズによ
る影響を無くし、粒子凝集パターンのみによる面積デー
タの算出を行えるという利点がある。
る影響を無くし、粒子凝集パターンのみによる面積デー
タの算出を行えるという利点がある。
尚、上記実施例において、パターン抽出回路5Aにより
最大値Xとしきい値Sとの間に位置する線分データのみ
を面積算定用として取り込む場合について説明したが、
同等に機能するものであれば他の手法、例えば第5図に
示すように、ウィンド幅りの両端に連なるデータ部分E
’、F’ の線分データについては、これを面積値の対
象としない、という手法を取り入れたものであってもよ
い。
最大値Xとしきい値Sとの間に位置する線分データのみ
を面積算定用として取り込む場合について説明したが、
同等に機能するものであれば他の手法、例えば第5図に
示すように、ウィンド幅りの両端に連なるデータ部分E
’、F’ の線分データについては、これを面積値の対
象としない、という手法を取り入れたものであってもよ
い。
また、上記実施例において外乱要素が不規則に生じ、各
ラインデータの最大値Xが第6図に示す如くちらばった
場合については、前述した第1の最大値特定機能として
、前述した第1の最大値特定機能により特定される各ラ
インデータの最大値の内、ほぼ中央部に位置し且つ複数
の最大値がほぼ同一の線上に存在する場合の当該複数の
最大値から全うインデータの最大値を選定し特定するよ
うにしたものを採用してもよい。
ラインデータの最大値Xが第6図に示す如くちらばった
場合については、前述した第1の最大値特定機能として
、前述した第1の最大値特定機能により特定される各ラ
インデータの最大値の内、ほぼ中央部に位置し且つ複数
の最大値がほぼ同一の線上に存在する場合の当該複数の
最大値から全うインデータの最大値を選定し特定するよ
うにしたものを採用してもよい。
このようにすると、中央部の最大値ラインY(第6図参
照)からずれた最大値(外乱要素)を完全に排除し得る
という利点がある。
照)からずれた最大値(外乱要素)を完全に排除し得る
という利点がある。
〔第2実施例〕
次に、第2実施例を第7図に基づいて説明する。
ここで前述した第1図の実施例と同一の構成要素につい
ては同一の符号を用いることとする。
ては同一の符号を用いることとする。
この第7図に示す実施例は、前述した第1図に示す実施
例のしきい値特定回路4に最小値抽出回路40Aを併設
したもので、この最小値抽出回路40Aの出力に基づい
ても、しきい値を決定することができるようにした点に
特徴を有している。
例のしきい値特定回路4に最小値抽出回路40Aを併設
したもので、この最小値抽出回路40Aの出力に基づい
ても、しきい値を決定することができるようにした点に
特徴を有している。
すなわち、データ用メモリ回路3の出力段には、切換ス
イッチ14を介してしきい値特定手段40に入力される
ようになっている。このしきい値特定手段40には、最
小値抽出回路40Aと最大値特定回路4Aとが併設され
ている。この最小値抽出回路40Aと最大値特定回路4
Aの各出力は、いづれもその出力側に設けられたしきい
値設定回路40Cに入力される。
イッチ14を介してしきい値特定手段40に入力される
ようになっている。このしきい値特定手段40には、最
小値抽出回路40Aと最大値特定回路4Aとが併設され
ている。この最小値抽出回路40Aと最大値特定回路4
Aの各出力は、いづれもその出力側に設けられたしきい
値設定回路40Cに入力される。
符号4B、40Bは最大値特定回路4A、最小値抽出回
路40Aにそれぞれ併設されたメモリを示す。
路40Aにそれぞれ併設されたメモリを示す。
この内、最小抽出回路40Aは、メモリ40Bの助けを
受けて、前述したデータ用メモリ回路3内の各ラインデ
ータの最小値を求める第1の最小特定機能と、これによ
り求められたラインデータ毎の各最小値から更に全体の
中の最小値を求める第2の最小値特定機能とを備えてい
る。そして、しきい値設定回路40Cは、前述した第1
図の実施例におけるしきい値設定回路4Cと同等の機能
を有するほか、さらに前述した第2の最小値特定機能の
作動により得られる最小値に基づいて所定の大きさのし
きい値を定めるという別の手法によるしきい値特定機能
を備えている。
受けて、前述したデータ用メモリ回路3内の各ラインデ
ータの最小値を求める第1の最小特定機能と、これによ
り求められたラインデータ毎の各最小値から更に全体の
中の最小値を求める第2の最小値特定機能とを備えてい
る。そして、しきい値設定回路40Cは、前述した第1
図の実施例におけるしきい値設定回路4Cと同等の機能
を有するほか、さらに前述した第2の最小値特定機能の
作動により得られる最小値に基づいて所定の大きさのし
きい値を定めるという別の手法によるしきい値特定機能
を備えている。
ここで、このラインデータの最小値に基づくしきい値決
定方法について更に詳述する。
定方法について更に詳述する。
まず、送られてくる各ラインデータに対して最小値抽出
回路40Aの第1の最小値特定機能が作用し、各ライン
データの最大値の左右に位置する最小のデータをそれぞ
れ第1最小値、第2最小値として特定する。次に、第2
の最小値特定機能が作用し、前述した第1の最小値特定
機能により特定された全ラインデータの第1最小値およ
び第2最小値の内の最大値を、当該凝集パターンデータ
に係る最小値として特定する。
回路40Aの第1の最小値特定機能が作用し、各ライン
データの最大値の左右に位置する最小のデータをそれぞ
れ第1最小値、第2最小値として特定する。次に、第2
の最小値特定機能が作用し、前述した第1の最小値特定
機能により特定された全ラインデータの第1最小値およ
び第2最小値の内の最大値を、当該凝集パターンデータ
に係る最小値として特定する。
その他の構成及び作用については前述した第1図の実施
例と同一となっている。
例と同一となっている。
このため、この第2実施例における最小値抽出回路40
Aを利用したしきい値の設定にあっては、例えば第8図
に示すようにしきい値Sを設定しても最大値を特定でき
ない、という不都合を完全に排除することができ、装置
全体の測定精度及び信軽度を著しく向上させることがで
きる。
Aを利用したしきい値の設定にあっては、例えば第8図
に示すようにしきい値Sを設定しても最大値を特定でき
ない、という不都合を完全に排除することができ、装置
全体の測定精度及び信軽度を著しく向上させることがで
きる。
以上のように、本発明によると、粒子凝集パターンデー
タの最大値を(又必要な場合は最小値を)外乱に影響さ
れることなく高精度に求めることができ、これに基づい
てしきい値を外乱にまどわされることなく任意にしかも
正確に設定することができ、これがため粒子凝集パター
ンの判定に必要な形状及び面積を高精度に検知し特定す
ることができ、従って外乱による悪影響を排除し装置全
体の信頬性を著しく向上させることができるという従来
にない優れた粒子凝集パターン判定装置を提供すること
ができる。
タの最大値を(又必要な場合は最小値を)外乱に影響さ
れることなく高精度に求めることができ、これに基づい
てしきい値を外乱にまどわされることなく任意にしかも
正確に設定することができ、これがため粒子凝集パター
ンの判定に必要な形状及び面積を高精度に検知し特定す
ることができ、従って外乱による悪影響を排除し装置全
体の信頬性を著しく向上させることができるという従来
にない優れた粒子凝集パターン判定装置を提供すること
ができる。
第1図は本発明の第1実施例を示すブロック図、第2図
は第1図中のしきい値特定手段の機能の一部を示す説明
図、第3図は第1図の動作を示すフローチャート、第4
図は第1図中のパターン面積演算手段の機能の一部を示
す説明図、第5図は第1図中のパターン面積演算手段の
他の機能の例を示す説明図、第6図は第1図中のしきい
値特定手段の他の機能の例を示す説明図、第7図は第2
実施例を示す説明図、第8図は第7図の作用を示す説明
図、第9図ないし第12図は各々従来例を示す説明図で
ある。 3・・・データ用メモリ回路、4.40・・・しきい値
特定手段、4A・・・最大値特定回路、4C,40C・
・・しきい値設定回路、5・・・パターン面積演算手段
、5A・・・パターン抽出回路、5B・・・面積演算回
路、6・・・判定回路、40A・・・最小値抽出回路、
100・・・マイクロプレート、 ■ ■・・・CCDラインセン サ。
は第1図中のしきい値特定手段の機能の一部を示す説明
図、第3図は第1図の動作を示すフローチャート、第4
図は第1図中のパターン面積演算手段の機能の一部を示
す説明図、第5図は第1図中のパターン面積演算手段の
他の機能の例を示す説明図、第6図は第1図中のしきい
値特定手段の他の機能の例を示す説明図、第7図は第2
実施例を示す説明図、第8図は第7図の作用を示す説明
図、第9図ないし第12図は各々従来例を示す説明図で
ある。 3・・・データ用メモリ回路、4.40・・・しきい値
特定手段、4A・・・最大値特定回路、4C,40C・
・・しきい値設定回路、5・・・パターン面積演算手段
、5A・・・パターン抽出回路、5B・・・面積演算回
路、6・・・判定回路、40A・・・最小値抽出回路、
100・・・マイクロプレート、 ■ ■・・・CCDラインセン サ。
Claims (6)
- (1)、CCDラインセンサから出力される凝集パター
ンのラインデータを所定のタイミングで順次記憶するデ
ータ用メモリ回路と、このデータようメモリ回路に記憶
されるデータに基づいて一定のしきい値を特定するしき
い値特定手段と、このしきい値特定手段で特定されたし
きい値に基づいて前記データ用メモリ回路内の記憶デー
タより凝集パターンを引き出すと共にその形状および面
積を求めるパターン面積演算手段とを備えた粒子凝集パ
ターン判定装置において、 前記しきい値特定手段が、前記データ用メモリ回路内の
各ラインデータの最大値を求める第1の最大値特定機能
と、これにより求められたラインデータ毎の各最大値か
ら更に全体の中の最大値を求める第2の最大値特定機能
と、この第2の最大値特定機能の作動により得られる最
大値に基づいて所定の大きさのしきい値を定めるしきい
値特定機能とを備えていることを特徴とした粒子凝集パ
ターン判定装置。 - (2)、前記しきい値特定手段の第1の最大値特定機能
が、前記ラインデータ内の最大値の特定に際し、当該ラ
インデータの最大値Xの前後に位置する二つのデータa
、bを選出すると共に、これらが、 X>a X>b を同時に満足した場合のXを、当該ラインデータの最大
値として特定するように機能することを特徴とした請求
項1記載の粒子凝集パターン判定装置。 - (3)、前記しきい値特定手段の第2の最大値特定機能
が、前記第1の最大値特定機能により特定された各ライ
ンデータの最大値の内、ほぼ中央部に位置し且つ複数の
最大値がほぼ同一の線上に存在する場合の当該複数の最
大値から全ラインデータの最大値を選定し特定するよう
に機能することを特徴とした請求項1記載の粒子凝集パ
ターン判定装置。 - (4)、CCDラインセンサから出力される凝集パター
ンのラインデータを所定のタイミングで順次記憶するデ
ータ用メモリ回路と、このデータようメモリ回路に記憶
されるデータに基づいて一定のしきい値を特定するしき
い値特定手段と、このしきい値特定手段で特定されたし
きい値に基づいて前記データ用メモリ回路内の記憶デー
タより凝集パターンを引き出すと共にその形状および面
積を求めるパターン面積演算手段とを備えた粒子凝集パ
ターン判定装置において、 前記しきい値特定手段が、前記データ用メモリ回路内の
各ラインデータの最小値を求める第1の最小値特定機能
と、これにより求められたラインデータ毎の各最小値か
ら更に全体の中の最小値を求める第2の最小値特定機能
と、この第2の最小値特定機能の作動により得られる最
小値に基づいて所定の大きさのしきい値を定めるしきい
値特定機能とを備えていることを特徴とした粒子凝集パ
ターン判定装置。 - (5)、前記しきい値特定手段の第1の最小値特定機能
が、各ラインデータの最大値の左右に位置する最小のデ
ータをそれぞれ第1最小値、第2最小値とすると共に、
前記第2の最小値特定機能が、前記第1の最小値特定機
能により特定された全ラインデータの第1最小値および
第2最小値の内の最大値を、当該凝集パターンデータに
係る最小値として特定することを特徴とした請求項4記
載の粒子凝集パターン判定装置。 - (6)、パターン面積演算手段が、前記各ラインデータ
の内の最大値からしきい値に至る範囲の線分をパターン
面積算定用のデータとする面積算定データ特定機能と、
この面積算定データ特定機能により特定される全ライン
データのパターン面積算定用のデータに基づいて当該凝
集パターンの面積を算定するパターン面積演算機能とを
備えていることを特徴とした請求項1、2、3、4、お
よび5記載の粒子凝集パターン判定装置。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2128646A JP2874008B2 (ja) | 1990-05-18 | 1990-05-18 | 粒子凝集パターン判定装置 |
US07/700,618 US5230026A (en) | 1990-05-18 | 1991-05-15 | Apparatus for discriminating particle aggregation pattern |
DE4116054A DE4116054C2 (de) | 1990-05-18 | 1991-05-16 | Vorrichtung zum Wahrnehmen einer Teilchenaggregation |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2128646A JP2874008B2 (ja) | 1990-05-18 | 1990-05-18 | 粒子凝集パターン判定装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0424539A true JPH0424539A (ja) | 1992-01-28 |
JP2874008B2 JP2874008B2 (ja) | 1999-03-24 |
Family
ID=14989965
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2128646A Expired - Fee Related JP2874008B2 (ja) | 1990-05-18 | 1990-05-18 | 粒子凝集パターン判定装置 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5230026A (ja) |
JP (1) | JP2874008B2 (ja) |
DE (1) | DE4116054C2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH11337479A (ja) * | 1998-04-17 | 1999-12-10 | Labsystems Oy | 光学濃度の測定装置 |
JP2006226703A (ja) * | 2005-02-15 | 2006-08-31 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 光ファイバーを利用した屈折率の異なる光透過性流体の混相流動状態の計測方法および装置 |
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KR100203995B1 (ko) * | 1995-02-16 | 1999-06-15 | 나가시마 카쭈시게, 노미야마 아키히코 | 입자충전방법 및 장치 |
US5703784A (en) * | 1995-10-30 | 1997-12-30 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of Agriculture | Machine vision apparatus and method for sorting objects |
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DE19858456A1 (de) * | 1998-12-18 | 2000-07-06 | Leica Microsystems | Verfahren zum Auffinden, zur Aufnahme und gegebenenfalls zur Auswertung von Objektstrukturen |
US7996188B2 (en) | 2005-08-22 | 2011-08-09 | Accuri Cytometers, Inc. | User interface for a flow cytometer system |
US8303894B2 (en) | 2005-10-13 | 2012-11-06 | Accuri Cytometers, Inc. | Detection and fluidic system of a flow cytometer |
US8017402B2 (en) | 2006-03-08 | 2011-09-13 | Accuri Cytometers, Inc. | Fluidic system for a flow cytometer |
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US7780916B2 (en) * | 2006-03-08 | 2010-08-24 | Accuri Cytometers, Inc. | Flow cytometer system with unclogging feature |
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US8715573B2 (en) | 2006-10-13 | 2014-05-06 | Accuri Cytometers, Inc. | Fluidic system for a flow cytometer with temporal processing |
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US20110061471A1 (en) * | 2009-06-02 | 2011-03-17 | Rich Collin A | System and method of verification of a sample for a flow cytometer |
US8507279B2 (en) | 2009-06-02 | 2013-08-13 | Accuri Cytometers, Inc. | System and method of verification of a prepared sample for a flow cytometer |
US8779387B2 (en) * | 2010-02-23 | 2014-07-15 | Accuri Cytometers, Inc. | Method and system for detecting fluorochromes in a flow cytometer |
US9551600B2 (en) | 2010-06-14 | 2017-01-24 | Accuri Cytometers, Inc. | System and method for creating a flow cytometer network |
ES2897531T3 (es) | 2010-10-25 | 2022-03-01 | Accuri Cytometers Inc | Sistemas e interfaz de usuario para la recopilación de un conjunto de datos en un citómetro de flujo |
WO2019059936A1 (en) * | 2017-09-23 | 2019-03-28 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | ELECTROPORATION |
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-
1990
- 1990-05-18 JP JP2128646A patent/JP2874008B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1991
- 1991-05-15 US US07/700,618 patent/US5230026A/en not_active Expired - Fee Related
- 1991-05-16 DE DE4116054A patent/DE4116054C2/de not_active Expired - Fee Related
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Also Published As
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---|---|
DE4116054C2 (de) | 1994-07-07 |
JP2874008B2 (ja) | 1999-03-24 |
US5230026A (en) | 1993-07-20 |
DE4116054A1 (de) | 1991-11-21 |
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