JPH0423745B2 - - Google Patents
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- JPH0423745B2 JPH0423745B2 JP5162184A JP5162184A JPH0423745B2 JP H0423745 B2 JPH0423745 B2 JP H0423745B2 JP 5162184 A JP5162184 A JP 5162184A JP 5162184 A JP5162184 A JP 5162184A JP H0423745 B2 JPH0423745 B2 JP H0423745B2
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- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 18
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 4
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/90—Investigating the presence of flaws or contamination in a container or its contents
- G01N21/9054—Inspection of sealing surface and container finish
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- Physics & Mathematics (AREA)
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- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
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- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
この発明は、ビン検査装置に係り、特に、コン
ベア上を移動中のガラスビン等のビン口部の割
れ、欠け、汚れ等の各種の欠陥を検出する装置に
関するものである。
ベア上を移動中のガラスビン等のビン口部の割
れ、欠け、汚れ等の各種の欠陥を検出する装置に
関するものである。
〔従来技術〕
従来この種のピン検査装置としては、第１図に
示すものがあつた。第１図は従来のビン検査装置
を示す概略構成図である。
示すものがあつた。第１図は従来のビン検査装置
を示す概略構成図である。
図において、１はガラスビン等のビン、１１は
ビン１の天面部、１２はビン１のビン口部、１ａ
はビン口部１２についた欠陥、２は帯状の光源で
あり、この光源２はビン１の進行方向に沿つて両
側に設けられている。３は光電変換器、３１０は
集光レンズ、３２０は、光電変換器３内に設けら
れ、自己走査機能を有するホトダイオード・アレ
イよりなる光電変換素子、４は二値化回路、５は
良否判定回路、７はビン回転駆動ベルト、８はビ
ン搬送コンベア、７０はビン回転駆動ベルト７と
ビン搬送コンベア８とから構成され、ビン１を回
転させながら搬送するビン搬送手段である。
ビン１の天面部、１２はビン１のビン口部、１ａ
はビン口部１２についた欠陥、２は帯状の光源で
あり、この光源２はビン１の進行方向に沿つて両
側に設けられている。３は光電変換器、３１０は
集光レンズ、３２０は、光電変換器３内に設けら
れ、自己走査機能を有するホトダイオード・アレ
イよりなる光電変換素子、４は二値化回路、５は
良否判定回路、７はビン回転駆動ベルト、８はビ
ン搬送コンベア、７０はビン回転駆動ベルト７と
ビン搬送コンベア８とから構成され、ビン１を回
転させながら搬送するビン搬送手段である。
次に、上記第１図に示す従来のビン検査装置の
動作について説明する。
動作について説明する。
ビン１はビン回転駆動ベルト７により回転され
ながらビン搬送コンベア８上を移動して行く。こ
の時、ビン搬送コンベア８の左右に設置された２
つの帯状の光源２により、ビン１のビン口部１２
及び天面部１１に光が照射される。
ながらビン搬送コンベア８上を移動して行く。こ
の時、ビン搬送コンベア８の左右に設置された２
つの帯状の光源２により、ビン１のビン口部１２
及び天面部１１に光が照射される。
光電変換素子３２０を内蔵した光電変換器３
は、ビン搬送コンベア８の走行方向に沿つて細長
い視野をもつように設置されており、これによ
り、回転されながら移動してくるビン１が1/2回
転する間、光電変換器３はビン１を監視してい
る。このため、ビン１のビン口部１２に欠陥１ａ
があつた場合には、この欠陥１ａにより光が散乱
され、この散乱光の一部はビン搬送コンベア８の
上方向に向つて進み光電変換器３に入る。ここ
で、光は光電変換器３によつて光電変換された後
に、二値化回路４において適当な設定値で二値化
され、この二値化された出力信号は良否判定回路
５に入力される。
は、ビン搬送コンベア８の走行方向に沿つて細長
い視野をもつように設置されており、これによ
り、回転されながら移動してくるビン１が1/2回
転する間、光電変換器３はビン１を監視してい
る。このため、ビン１のビン口部１２に欠陥１ａ
があつた場合には、この欠陥１ａにより光が散乱
され、この散乱光の一部はビン搬送コンベア８の
上方向に向つて進み光電変換器３に入る。ここ
で、光は光電変換器３によつて光電変換された後
に、二値化回路４において適当な設定値で二値化
され、この二値化された出力信号は良否判定回路
５に入力される。
ところがビン１のビン口部１２にネジが切られ
たビンである場合には、ネジの始り部、すなわち
天面部１１に近い方のネジの切り始めの部分から
も上記欠陥１ａと同様に光が散乱され、この散乱
光がビン搬送コンベア８の上方向に向つて進み光
電変換器３に入力することがある。したがつて、
二値化回路４から出力される信号には、欠陥１ａ
からの信号とビン１のネジの始り部からの信号と
が混在している。そして、良否判定回路５では、
異常部分の面積に相当する量を計測し、この量が
ある設定値を超えたものを欠陥であるとしてお
り、これにより、欠陥１ａからの信号とビン１の
ネジの始り部からの信号とを分離するようにして
いる。
たビンである場合には、ネジの始り部、すなわち
天面部１１に近い方のネジの切り始めの部分から
も上記欠陥１ａと同様に光が散乱され、この散乱
光がビン搬送コンベア８の上方向に向つて進み光
電変換器３に入力することがある。したがつて、
二値化回路４から出力される信号には、欠陥１ａ
からの信号とビン１のネジの始り部からの信号と
が混在している。そして、良否判定回路５では、
異常部分の面積に相当する量を計測し、この量が
ある設定値を超えたものを欠陥であるとしてお
り、これにより、欠陥１ａからの信号とビン１の
ネジの始り部からの信号とを分離するようにして
いる。
従来のビン検査装置は以上のように構成されて
いるので、良否判定回路５によつて欠陥１ａから
の信号とビン１のネジの始り部からの信号とを分
離する過程で、小さな欠陥を見逃すことがあり、
特に、ビン１の密閉度に直接密接に関係する天面
部１１についた欠陥に対して、十分に満足できる
欠陥検査能力が得られないという欠点があつた。
いるので、良否判定回路５によつて欠陥１ａから
の信号とビン１のネジの始り部からの信号とを分
離する過程で、小さな欠陥を見逃すことがあり、
特に、ビン１の密閉度に直接密接に関係する天面
部１１についた欠陥に対して、十分に満足できる
欠陥検査能力が得られないという欠点があつた。
この発明は、上記のような従来のものの欠点を
改善する目的でなされたもので、回転させながら
搬送するビンのビン口部に光を照射し、このビン
口部についた欠陥よりの散乱光を光電変換する第
１の光電変換器以外に、ビン口部よりの正反反射
光を光電変換する第２の光電変換器を設け、この
第２の光電変換器によりビンの天面部の位置を割
り出すことによつて、ビン口部に付いた欠陥と天
面部に付いた欠陥とを分離して取り出すようにし
てなる、高い欠陥検査能力を有するビン検査装置
を提供するものである。
改善する目的でなされたもので、回転させながら
搬送するビンのビン口部に光を照射し、このビン
口部についた欠陥よりの散乱光を光電変換する第
１の光電変換器以外に、ビン口部よりの正反反射
光を光電変換する第２の光電変換器を設け、この
第２の光電変換器によりビンの天面部の位置を割
り出すことによつて、ビン口部に付いた欠陥と天
面部に付いた欠陥とを分離して取り出すようにし
てなる、高い欠陥検査能力を有するビン検査装置
を提供するものである。
以下、この発明の実施例を図について説明す
る。
る。
第２図はこの発明の一実施例であるビン検査装
置を示す概略構成図である。図において、１はガ
ラスビン等のビン、１１はビン１の天面部、１２
はビン１のビン口部、１ａはビン口部１２につい
た欠陥、１３はビン１のビン回転方向、２はビン
１を搬送するビン搬送コンベア８の左、右両側に
設置された１対の帯状の光源であり、第２図で
は、ビン１の後方側の片方だけが示されており、
ビン１の手前側に設置されている同一構成の光源
２は省略してある。７はビン回転駆動ベルト、８
ａはビン搬送コンベア８によるビン走行方向、９
は、例えば入射光の約50％を透過し、約50％を反
射するハーフミラー、３１は自己走査機能を有す
るホトダイオード・アレイよりなる光電変換素子
３２１を使用した第１の光電変換器、３２は自己
走査機能を有するホトダイオード・アレイよりな
る光電変換素子３２２を使用した第２の光電変換
器、３１１，３１２はそれぞれ集光用レンズ、４
１，４２はそれぞれ二値化回路、５１，５２はそ
れぞれ良否判定回路、７１は遅延回路、８１はビ
ン中央検出回路、８２は天面信号発生回路であ
る。二値化回路４１と遅延回路７１とにより欠陥
検出手段６０を構成し、二値化回路４２、ビン中
央検出回路８１および天面信号発生回路８２とに
より天面割り出し手段８０を構成している。１０
０はAND回路であり、良否判定回路５２とAND
回路１００とにより第２の良否判定手段９０を構
成し、良否判定回路５１は単独で第１の良否判定
手段を構成している。
置を示す概略構成図である。図において、１はガ
ラスビン等のビン、１１はビン１の天面部、１２
はビン１のビン口部、１ａはビン口部１２につい
た欠陥、１３はビン１のビン回転方向、２はビン
１を搬送するビン搬送コンベア８の左、右両側に
設置された１対の帯状の光源であり、第２図で
は、ビン１の後方側の片方だけが示されており、
ビン１の手前側に設置されている同一構成の光源
２は省略してある。７はビン回転駆動ベルト、８
ａはビン搬送コンベア８によるビン走行方向、９
は、例えば入射光の約50％を透過し、約50％を反
射するハーフミラー、３１は自己走査機能を有す
るホトダイオード・アレイよりなる光電変換素子
３２１を使用した第１の光電変換器、３２は自己
走査機能を有するホトダイオード・アレイよりな
る光電変換素子３２２を使用した第２の光電変換
器、３１１，３１２はそれぞれ集光用レンズ、４
１，４２はそれぞれ二値化回路、５１，５２はそ
れぞれ良否判定回路、７１は遅延回路、８１はビ
ン中央検出回路、８２は天面信号発生回路であ
る。二値化回路４１と遅延回路７１とにより欠陥
検出手段６０を構成し、二値化回路４２、ビン中
央検出回路８１および天面信号発生回路８２とに
より天面割り出し手段８０を構成している。１０
０はAND回路であり、良否判定回路５２とAND
回路１００とにより第２の良否判定手段９０を構
成し、良否判定回路５１は単独で第１の良否判定
手段を構成している。
第３図及び第４図は、それぞれ第２図のビン検
査装置において、見る角度を90°変えて示す要部
の部分正面図、及び各光電変換器の視野の位置を
示す図である。第４図において、３３１は第１の
光電変換器３１の視野を、３３２は第２の光電変
換器３２の視野をそれぞれ示している。
査装置において、見る角度を90°変えて示す要部
の部分正面図、及び各光電変換器の視野の位置を
示す図である。第４図において、３３１は第１の
光電変換器３１の視野を、３３２は第２の光電変
換器３２の視野をそれぞれ示している。
ここで、ビン１の天面部１１とビン口部１２の
部分の形状と、この部分で反射される帯状の光源
２からの光の反射光について説明する。
部分の形状と、この部分で反射される帯状の光源
２からの光の反射光について説明する。
平面であるビン１の天面部１１と円筒面である
ビン口部１２とは小さな半径をもつ曲面（以下こ
の局面を接続曲面と呼ぶ）を介して互いに滑らか
に接続されている。このため、帯状の光源２から
ビン口部１２に向けて照射される光はこの接続曲
面でも反射される。この接続曲面で反射された光
の強度は水平方向から上方向にかけて連続的な分
布をもつものとなる。（この連続曲面である接続
曲面からの反射光は、その強度分布が連続的とな
り、上述した欠陥から生じる散乱光とは異なるた
め、以下この接続曲面からの反射光を特に正反射
光と呼ぶ。） 次に、上記第２図に示すこの発明の一実施例で
あるビン検査装置の動作について説明する。
ビン口部１２とは小さな半径をもつ曲面（以下こ
の局面を接続曲面と呼ぶ）を介して互いに滑らか
に接続されている。このため、帯状の光源２から
ビン口部１２に向けて照射される光はこの接続曲
面でも反射される。この接続曲面で反射された光
の強度は水平方向から上方向にかけて連続的な分
布をもつものとなる。（この連続曲面である接続
曲面からの反射光は、その強度分布が連続的とな
り、上述した欠陥から生じる散乱光とは異なるた
め、以下この接続曲面からの反射光を特に正反射
光と呼ぶ。） 次に、上記第２図に示すこの発明の一実施例で
あるビン検査装置の動作について説明する。
ビン搬送コンベア８により検査ステージまで搬
送されてきたビン１は、ここで、ビン回転駆動ベ
ルト７により回転されながらビン搬送コンベア８
上を移動して行く。この時、第３図に示されてい
るように、ビン搬送コンベア８の左、右の両側に
設置された１対の帯状の光源２により、ビン１の
ビン口部１２及び天面部１１に光が照射される。
ビン１のビン口部１２に付いた欠陥１ａにより散
乱されて上方向に向つた光の一部は、ハーフミラ
ー９を透過し、集光レンズ３１１により第１の光
電変換器３１の光電変換素子３２１上に結像され
る。
送されてきたビン１は、ここで、ビン回転駆動ベ
ルト７により回転されながらビン搬送コンベア８
上を移動して行く。この時、第３図に示されてい
るように、ビン搬送コンベア８の左、右の両側に
設置された１対の帯状の光源２により、ビン１の
ビン口部１２及び天面部１１に光が照射される。
ビン１のビン口部１２に付いた欠陥１ａにより散
乱されて上方向に向つた光の一部は、ハーフミラ
ー９を透過し、集光レンズ３１１により第１の光
電変換器３１の光電変換素子３２１上に結像され
る。
ここで、第１の光電変換器３１の出力信号は、
二値化回路４１において適当な設定値で二値化さ
れ、この二値化された出力信号は遅延回路７１に
より光電変換素子３２１の一走査分の時間だけ遅
延される。この遅延された信号は良否判定回路５
１に送られ、ここでは、異常部分の面積に相当す
る量を計測し、この面積がある設定値以上になつ
たことを認識すると同時に不良検出信号を出力す
る。
二値化回路４１において適当な設定値で二値化さ
れ、この二値化された出力信号は遅延回路７１に
より光電変換素子３２１の一走査分の時間だけ遅
延される。この遅延された信号は良否判定回路５
１に送られ、ここでは、異常部分の面積に相当す
る量を計測し、この面積がある設定値以上になつ
たことを認識すると同時に不良検出信号を出力す
る。
一方、第４図に示されているように、第１の光
電変換器３１の視野３３１が、ビン搬送コンベア
８によるビン走方向８ａと一致したビン１の直径
軸上にとられているのに対して、第２の光電変換
器３２の視野３３２は、第１の光電変換器３１の
視野３３１を平行移動させたビン口部１２の周辺
部にとられている。このため、ビン１のビン口部
１２で正反射されて上方向に向う光の一部はハー
フミラー９で反射され、集光レンズ３１２により
光電変換素子３２２上に結像される。
電変換器３１の視野３３１が、ビン搬送コンベア
８によるビン走方向８ａと一致したビン１の直径
軸上にとられているのに対して、第２の光電変換
器３２の視野３３２は、第１の光電変換器３１の
視野３３１を平行移動させたビン口部１２の周辺
部にとられている。このため、ビン１のビン口部
１２で正反射されて上方向に向う光の一部はハー
フミラー９で反射され、集光レンズ３１２により
光電変換素子３２２上に結像される。
ここで、第２の光電変換器３２の出力信号は、
二値化回路４２において適当な設定値で二値化さ
れ、この二値化された出力信号はビン中央検出回
路８１に入力され、ここで、信号の立ち上り及び
立ち下りのセンターを求めることにより、ビン口
部１２の中心がビン搬送コンベア８上のどの位置
にあるかを検出する。（この信号の立ち上り及び
立ち下りのセンターを求める手段は上述した第４
図に示されていないが、第２の光電変換器３２の
ある走査周期において信号の立ち上り及び立ち下
り時間の中間値を演算によつて求め、この中間値
から遅延回路７１の動作と同様に第２の光電変換
器３２の走査周期に相当する時間だけ遅延された
信号を発生させれば、この信号は次の走査周期に
おけるビン口部１２の中心に相当するから、ビン
搬送コンベア８上のどの位置にビン口部１２の中
心があるかを搬出することができる。もちろん、
ビン搬送コンベア８によるビン１の移動速度も予
め分つているから第２の光電変換器３２の走査周
期におけるビン１の移動量を補正することも容易
にできることは云うまでもない。）天面信号発生
回路８２では、ビン中央検出回路８１の出力信号
を受けて、予めこのビンウ中央検出回路８１に与
えられているビン１に固有な幅の値に従つて、天
面部１１の存在する範囲を示すゲート信号を発生
する。このゲート信号の中心がビン口部１２の中
心位置と一致していることは云うまでもない。
二値化回路４２において適当な設定値で二値化さ
れ、この二値化された出力信号はビン中央検出回
路８１に入力され、ここで、信号の立ち上り及び
立ち下りのセンターを求めることにより、ビン口
部１２の中心がビン搬送コンベア８上のどの位置
にあるかを検出する。（この信号の立ち上り及び
立ち下りのセンターを求める手段は上述した第４
図に示されていないが、第２の光電変換器３２の
ある走査周期において信号の立ち上り及び立ち下
り時間の中間値を演算によつて求め、この中間値
から遅延回路７１の動作と同様に第２の光電変換
器３２の走査周期に相当する時間だけ遅延された
信号を発生させれば、この信号は次の走査周期に
おけるビン口部１２の中心に相当するから、ビン
搬送コンベア８上のどの位置にビン口部１２の中
心があるかを搬出することができる。もちろん、
ビン搬送コンベア８によるビン１の移動速度も予
め分つているから第２の光電変換器３２の走査周
期におけるビン１の移動量を補正することも容易
にできることは云うまでもない。）天面信号発生
回路８２では、ビン中央検出回路８１の出力信号
を受けて、予めこのビンウ中央検出回路８１に与
えられているビン１に固有な幅の値に従つて、天
面部１１の存在する範囲を示すゲート信号を発生
する。このゲート信号の中心がビン口部１２の中
心位置と一致していることは云うまでもない。
天面信号発生回路８２の出力信号とビン口部１
２の欠陥１ａによる二値化信号を遅延回路７１で
遅延した信号とを、AND回路１００に入力する。
このAND回路１００の出力信号は良否判定回路
５２に送られ、ここで、異常部分の面積に相当す
る量を計測し、この面積がある設定値以上になつ
たことを認識すると同時に不良検出信号を出力す
る。
２の欠陥１ａによる二値化信号を遅延回路７１で
遅延した信号とを、AND回路１００に入力する。
このAND回路１００の出力信号は良否判定回路
５２に送られ、ここで、異常部分の面積に相当す
る量を計測し、この面積がある設定値以上になつ
たことを認識すると同時に不良検出信号を出力す
る。
第５図は、第２図のビン検出装置のおける各部
の出力信号を示す波形図である。
の出力信号を示す波形図である。
第５図ａは第１の光電変換器３１の出力信号で
あり、ビン口部についた欠陥を天面部についた欠
陥とが隣接しており、ホトダイオード・アレイ３
１が天面部についた欠陥からの散乱光を受光した
走査周期と、それと続く走査周期にビン口部につ
いた欠陥からの散乱光のみを受光した状態を示し
ており、この２つの走査周期と隣接する走査周期
の信号は省略している。また、信号はホトダイオ
ード・アレイ３１の各セルよりの信号の包絡線で
表わされている。なお、後述の同図ｄも同様であ
る。
あり、ビン口部についた欠陥を天面部についた欠
陥とが隣接しており、ホトダイオード・アレイ３
１が天面部についた欠陥からの散乱光を受光した
走査周期と、それと続く走査周期にビン口部につ
いた欠陥からの散乱光のみを受光した状態を示し
ており、この２つの走査周期と隣接する走査周期
の信号は省略している。また、信号はホトダイオ
ード・アレイ３１の各セルよりの信号の包絡線で
表わされている。なお、後述の同図ｄも同様であ
る。
同図ｂは二値化回路４１の出力信号を、同図ｃ
は遅延回路７１の出力信号をそれぞれ示してい
る。
は遅延回路７１の出力信号をそれぞれ示してい
る。
また、同図ｄは第２の光電変換器３２の出力信
号を、同図ｅは二値化回路４２の出力信号を、同
図ｆは天面信号発生回路８２の出力信号を、同図
ｇはAND回路１００の出力信号をそれぞれ示し
ている。
号を、同図ｅは二値化回路４２の出力信号を、同
図ｆは天面信号発生回路８２の出力信号を、同図
ｇはAND回路１００の出力信号をそれぞれ示し
ている。
そして、上記第５図ｃの出力信号には、ビン口
部１２及び天面部１１の両方についた欠陥からの
信号が含まれているが、第５図ｇの出力信号で
は、同図ｃの出力信号と天面部１１の存在位置を
示す天面信号発生回路８２の出力信号である同図
ｆの出力信号とのAND回路１００によるAND
（理論積）により、天面部１１についた欠陥から
の信号だけであり、この信号が外部に取り出され
ることになる。
部１２及び天面部１１の両方についた欠陥からの
信号が含まれているが、第５図ｇの出力信号で
は、同図ｃの出力信号と天面部１１の存在位置を
示す天面信号発生回路８２の出力信号である同図
ｆの出力信号とのAND回路１００によるAND
（理論積）により、天面部１１についた欠陥から
の信号だけであり、この信号が外部に取り出され
ることになる。
これは、天面部の直径がビン口部の直径より小
さいため、ビン口部についた欠陥からの散乱光を
受光した信号は天面信号発生回路８２の出力信号
と同時には存在しないからである。
さいため、ビン口部についた欠陥からの散乱光を
受光した信号は天面信号発生回路８２の出力信号
と同時には存在しないからである。
以上述べたように構成することにより、ビン１
を1/2回転する間にモニタすることによつて、ビ
ン１の全周にわたつて、良否判定回路５１では、
ビン口部１２及び天面部１１を合わせた部分に対
する欠陥検出基準に基いて欠陥を検出すると同時
に、良否判定回路５２では、天面部１１のみに限
定した欠陥検出基準に基き、上記良否判定回路５
１とは異なる判断基準にて欠陥を検出することが
できる。
を1/2回転する間にモニタすることによつて、ビ
ン１の全周にわたつて、良否判定回路５１では、
ビン口部１２及び天面部１１を合わせた部分に対
する欠陥検出基準に基いて欠陥を検出すると同時
に、良否判定回路５２では、天面部１１のみに限
定した欠陥検出基準に基き、上記良否判定回路５
１とは異なる判断基準にて欠陥を検出することが
できる。
なお、上記実施例では、第１及び第２の２つの
光電変換器３１，３２に光を分けるフイルタとし
て、ハーフミラー９を使用した場合について説明
したが、これは、コールド・ミラーやダイクロミ
ツク・ミラー等で置き換えることも可能である。
光電変換器３１，３２に光を分けるフイルタとし
て、ハーフミラー９を使用した場合について説明
したが、これは、コールド・ミラーやダイクロミ
ツク・ミラー等で置き換えることも可能である。
また、上記実施例では、各光電変換器３１，３
２に自己走査機能を有するホトダイオード・アレ
イよりなる光電変換素子３２１，３２２を使用し
た場合について説明したが、これには、イメー
ジ・デイセクタ管等の１次元走査が可能な撮像素
子を用いても良い。
２に自己走査機能を有するホトダイオード・アレ
イよりなる光電変換素子３２１，３２２を使用し
た場合について説明したが、これには、イメー
ジ・デイセクタ管等の１次元走査が可能な撮像素
子を用いても良い。
この発明は以上説明したように、ビン検査装置
において、回転させながら搬送するビンのビン口
部に光を照射し、このビン口部についた欠陥より
の散乱光を光電変換する第１の光電変換器以外
に、ビン口部よりの正反射光を光電変換する第２
の光電変換器を設け、この第２の光電変換器によ
りビンの天面部の位置を割り出すことによつて、
ビン口部についた欠陥と天面部についた欠陥とを
分離して取り出すように構成したので、この種の
従来例のものに比べて、ビンにキヤツプをした時
に、そのビンに密閉度に直接密接に関係する天面
部についた欠陥に対する厳しい判断基準にも容易
に適合できて、より一層欠陥検出能力が高いビン
検査装置が得られるという優れた効果を奏するも
のである。
において、回転させながら搬送するビンのビン口
部に光を照射し、このビン口部についた欠陥より
の散乱光を光電変換する第１の光電変換器以外
に、ビン口部よりの正反射光を光電変換する第２
の光電変換器を設け、この第２の光電変換器によ
りビンの天面部の位置を割り出すことによつて、
ビン口部についた欠陥と天面部についた欠陥とを
分離して取り出すように構成したので、この種の
従来例のものに比べて、ビンにキヤツプをした時
に、そのビンに密閉度に直接密接に関係する天面
部についた欠陥に対する厳しい判断基準にも容易
に適合できて、より一層欠陥検出能力が高いビン
検査装置が得られるという優れた効果を奏するも
のである。
第１図は従来のビン検査装置を示す概略構成
図、第２図はこの発明の一実施例であるビン検査
装置を示す概略構成図、第３図及び第４図は、そ
れぞれ第２図のビン検査装置において、見る角度
を90°変えて示す要部の部分正面図、及び各光電
変換器の視野の位置を示す図、第５図は、第２図
のビン検査装置における各部の出力信号を示す波
形図である。 図において、１……ビン、１ａ……欠陥、２…
…光源、３，３１，３２……光電変換器、４，４
１，４２……二値化回路、５，５１，５２……良
否判定回路、７……ビン回転駆動ベルト、８……
ビン搬送コンベア、８ａ……ビン走行方向、９…
…ハーフミラー、１１……天面部、１２……ビン
口部、１３……ビン回転方向、６０……欠陥検出
手段、７０……ビン搬送手段、７１……遅延回
路、８０……天面割り出し手段、８１……ビン中
央検出回路、８２……天面信号発生回路、９０…
…良否判定手段、１００……AND回路、３１０，
３１１，３１２……集光レンズ、３２０，３２
１，３２２……光電変換素子、３３１，３３２…
…視野である。なお、各図中、同一符号は同一、
又は相当部分を示す。
図、第２図はこの発明の一実施例であるビン検査
装置を示す概略構成図、第３図及び第４図は、そ
れぞれ第２図のビン検査装置において、見る角度
を90°変えて示す要部の部分正面図、及び各光電
変換器の視野の位置を示す図、第５図は、第２図
のビン検査装置における各部の出力信号を示す波
形図である。 図において、１……ビン、１ａ……欠陥、２…
…光源、３，３１，３２……光電変換器、４，４
１，４２……二値化回路、５，５１，５２……良
否判定回路、７……ビン回転駆動ベルト、８……
ビン搬送コンベア、８ａ……ビン走行方向、９…
…ハーフミラー、１１……天面部、１２……ビン
口部、１３……ビン回転方向、６０……欠陥検出
手段、７０……ビン搬送手段、７１……遅延回
路、８０……天面割り出し手段、８１……ビン中
央検出回路、８２……天面信号発生回路、９０…
…良否判定手段、１００……AND回路、３１０，
３１１，３１２……集光レンズ、３２０，３２
１，３２２……光電変換素子、３３１，３３２…
…視野である。なお、各図中、同一符号は同一、
又は相当部分を示す。
Claims (1)
- １ ビンを回転させながら搬送するビン搬送手段
と、ビン口部に光を照射する光源と、この光源か
らの光の照射によつて前記ビン口部に付いた欠陥
よりの散乱光を光電変換する第１の光電変換器
と、前記光源からの光の照射によつて前記ビン口
部よりの正反射光を光電変換する第２の光電変換
器と、前記第１の光電変換器の出力信号により前
記ビン口部の欠陥を検出する欠陥検出手段と、前
記第２の光電変換器の出力信号により前記ビンの
天面部の位置を割り出す天面割り出し手段と、前
記欠陥検出手段の出力信号により良否判定する第
１の良否判定手段と、前記欠陥検出手段の出力信
号と前記天面割り出し手段の出力信号との両方よ
り良否判定する第２の良否判定手段とを備えてい
ることを特徴とするビン検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5162184A JPS60194337A (ja) | 1984-03-15 | 1984-03-15 | ビン検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5162184A JPS60194337A (ja) | 1984-03-15 | 1984-03-15 | ビン検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60194337A JPS60194337A (ja) | 1985-10-02 |
| JPH0423745B2 true JPH0423745B2 (ja) | 1992-04-23 |
Family
ID=12891942
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5162184A Granted JPS60194337A (ja) | 1984-03-15 | 1984-03-15 | ビン検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60194337A (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2533708B2 (ja) * | 1991-12-13 | 1996-09-11 | 新日本製鐵株式会社 | 熱間圧延鋼板の巻取り装置 |
| JP4848448B2 (ja) * | 2009-08-06 | 2011-12-28 | 東洋ガラス株式会社 | ガラスびん口部検査方法及び装置 |
| CN112881289B (zh) * | 2021-01-20 | 2022-11-29 | 成都泓睿科技有限责任公司 | 输液瓶瓶口破裂的检测装置及方法 |
| CN117007000B (zh) * | 2023-10-07 | 2023-12-08 | 聊城好佳一生物乳业有限公司 | 一种饮料瓶瓶口平整度检测装置 |
-
1984
- 1984-03-15 JP JP5162184A patent/JPS60194337A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS60194337A (ja) | 1985-10-02 |
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