JPH04225171A - 周波数測定装置 - Google Patents

周波数測定装置

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Publication number
JPH04225171A
JPH04225171A JP2414810A JP41481090A JPH04225171A JP H04225171 A JPH04225171 A JP H04225171A JP 2414810 A JP2414810 A JP 2414810A JP 41481090 A JP41481090 A JP 41481090A JP H04225171 A JPH04225171 A JP H04225171A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
circuit
signal
frequency
gate
unit time
Prior art date
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Pending
Application number
JP2414810A
Other languages
English (en)
Inventor
Kazuto Kitakubo
和人 北久保
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Sony Corp filed Critical Sony Corp
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Publication of JPH04225171A publication Critical patent/JPH04225171A/ja
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  • Measuring Frequencies, Analyzing Spectra (AREA)
  • Monitoring And Testing Of Transmission In General (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、MCA(マルチ  
チャンネル  アクセス)通信等で使われるバースト信
号の周波数を測定するのに用いて好適な周波数測定装置
に関する。
【0002】
【従来の技術】無線電話器等から出力される高周波信号
の周波数を測定するのに、周波数カウンタ方式の周波数
測定装置が用いられる。
【0003】図3は、従来のこの種の周波数測定装置の
一例である。図3において、入力端子51に被測定信号
が供給される。この被測定信号が波形整形回路52に供
給されると共に、信号検出回路53に供給される。波形
整形回路52で、被測定信号が波形整形される。
【0004】信号検出回路53で、入力端子51からの
信号のうち所定レベル以上の信号が検出される。信号検
出回路53の出力がトリガー発生回路54に供給される
。信号検出回路53で所定レベル以上の信号が検出され
ると、トリガー発生回路54からトリガー信号が出力さ
れる。このトリガー信号が基準信号発生回路55に供給
される。基準信号発生回路55は、トリガー発生回路5
4からトリガー信号が与えられると、単位時間TG1の
ゲート信号を発生する。この単位時間TG1は、端子5
6からの単位時間設定信号に基づいて設定される。基準
信号発生回路56からのゲート信号がゲート回路58に
供給される。
【0005】入力端子51からの入力信号は、波形整形
回路52で波形整形される。波形整形回路52の出力が
分周器57に供給される。分周器57には、端子59か
ら分周比Nが供給される。分周器57で、波形整形回路
52の出力が1/N分周される。分周器57の出力がゲ
ート回路58に供給される。
【0006】ゲート回路58に基準信号発生回路55か
らゲート信号が供給されると、ゲート回路58が開かれ
、分周器57の出力がゲート回路58を介してカウンタ
60に供給される。カウンタ60で、分周器57で1/
N分周され、ゲート回路58を介された入力信号の波数
がカウントされる。このカウンタ60の出力が周波数演
算回路61に供給される。
【0007】周波数演算回路61で、カウンタ60のカ
ウント値と、基準信号発生回路55で設定される単位時
間TG1と、分周比Nとから、周波数Fが求められる。 この周波数データがディスプレイ62に供給され、ディ
スプレイ62に表示される。
【0008】つまり、入力端子51に図4Aに示すよう
な被測定信号が供給される。この被測定信号が波形整形
回路52を介して、図4Bに示すように波形整形される
【0009】一方、入力端子51に被測定信号が供給さ
れると、図2Cに示すように、トリガー発生回路54か
らトリガー信号が出力される。このトリガー信号にトリ
ガーされて、基準信号発生回路55から、図4Dに示す
ように、単位時間TG1のゲート信号が出力される。
【0010】単位時間TG1の間、ゲート回路58が開
かれ、カウンタ60で、この単位時間TG1の間の分周
器57の出力がカウントされる。これにより、入力被測
定信号の周波数が求められる。
【0011】すなわち、カウンタ60のカウント値をa
、分周器57の分周比をNとすると、分周器57を介さ
れた信号の周波数F/Nは、 F/N=a/TG1 で求められる。したがって、入力被測定信号の周波数F
は、 F=(N×a)/TG1 で求められる。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】上述の従来の周波数測
定装置の測定精度は、入力される被測定信号が図4Aに
示したような連続信号である時には、単位時間TG1を
長くとることができ、精度の高い周波数測定を行うこと
ができる。
【0013】ところが、従来の周波数測定装置では、被
測定信号がMCA通信で用いられるような短時間のバー
スト信号の連続である場合には、単位時間TG1を長く
とることができず、周波数測定精度が低くなるという問
題が生じる。つまり、図5Aに示すようなバースト信号
B11、B12、B13  、…の周波数を測定するた
めには、図5Bに示すように、単位時間TG1をバース
ト信号B11、B12、B13  、…より短い時間に
設定する必要がある。 単位時間TG1が短ければ、高い精度で周波数を測定す
るのは困難である。
【0014】したがって、この発明の目的は、バースト
信号の周波数を測定する場合にも、高い精度で周波数を
測定できる周波数測定装置を提供することにある。
【0015】
【作用】複数のバースト信号B1 、B2 、B3 、
…、Bm の夫々の間でゲート信号G1 、G2 、G
3 、…、Gm が出力され、このゲート信号G1 、
G2 、G3 、…、Gm の夫々の間で入力信号の波
数がカウントされ、このカンウト値の累積値と、ゲート
時間の総和(m×TG )から、入力被測定信号の周波
数が求められる。この場合には、各ゲート時間TG が
短くても、測定精度を上げることができる。
【0016】
【実施例】以下、この発明の一実施例について、図面を
参照して説明する。図1はこの発明の一実施例を示すも
のである。図1において、入力端子1に被測定信号が供
給される。この被測定信号は、例えばMCA通信で用い
られるような短い期間のバースト信号が連続する高周波
信号である。この被測定信号が波形整形回路2に供給さ
れると共に、信号検出回路3に供給される。
【0017】信号検出回路3で、入力端子1からの信号
のうち所定レベル以上の信号が検出される。信号検出回
路3の出力がトリガー発生回路4に供給される。信号検
出回路3で所定レベル以上の信号が検出されると、トリ
ガー発生回路4からトリガー信号が出力される。このト
リガー信号が基準信号発生回路5に供給される。基準信
号発生回路5は、トリガー発生回路4からトリガー信号
が与えられると、単位時間TG のゲート信号を発生す
る。この単位時間TGは、端子6からの単位時間設定信
号に基づいて設定される。基準信号発生回路5からの単
位時間TG のゲート信号がゲート回路8に供給される
【0018】入力端子1からの入力信号は、波形整形回
路2で波形整形される。波形整形回路2の出力が分周器
7に供給される。分周器7には、端子9から分周比Nが
供給される。分周器7で、波形整形回路2の出力が1/
N分周される。分周器7の出力がゲート回路8に供給さ
れる。
【0019】ゲート回路8に基準信号発生回路5からゲ
ート信号が供給されると、ゲート回路8が開かれ、分周
器7の出力がゲート回路8を介してカウンタ10に供給
される。カウンタ10で、分周器7で1/N分周され、
ゲート回路8を介されたに入力信号の波数がカウントさ
れる。このカウンタ10の出力が破線で囲んで示す演算
部11の加算回路12に供給される。なお、この演算部
11は、CPUを用いて構成できる。
【0020】加算回路12の出力がアキュムレータ13
に供給され、アキュムレータ13の出力が加算回路12
に帰還される。加算回路12及びアキュムレータ13か
ら累積回路が構成される。この加算回路12及びアキュ
ムレータ13からなる累積回路の出力が周波数演算回路
14に供給される。カンウタ10の出力は、加算回路1
2、アキュムレータ13からなる累積回路で累積される
。この累積出力が周波数演算回路14に供給される。
【0021】端子6からの単位時間TG が乗算回路1
5に供給される。乗算回路15で、単位時間TG がm
倍(mは測定期間の間にゲート回路8が開かれた回数)
される。このm倍の単位時間TG が周波数演算回路1
4に供給される。
【0022】周波数演算回路14で、カンウタ10の累
積出力と、乗算回路15からのm倍の単位時間(m×T
G )と、端子9からの分周比Nとから、入力信号の周
波数Fが演算される。求められた周波数データがディス
プレイ16に供給され、ディスプレイ16に周波数が表
示される。
【0023】つまり、入力端子1から、図2Aに示すよ
うなm個のバースト信号B1 、B2 、B3 、…、
Bm が被測定信号として供給される。このバースト信
号B1 、B2 、B3 、…、Bm は、波形整形回
路2で、図2Bに示すように波形整形される。そして、
分周器7を介して、ゲート回路8に供給される。
【0024】バースト信号B1 、B2 、B3 、…
、Bm が信号検出回路3で検出されると、図2Cに示
すように、トリガー信号P1 、P2 、P3 、…、
Pm がトリガー発生回路4から出力される。このトリ
ガー信号P1 、P2 、P3 、…、Pm が基準時
間発生回路5に供給されると、図2Dに示すような単位
時間TG のゲート信号G1 、G2 、G3 、…、
Gm が基準信号発生回路5から出力される。なお、こ
のゲート信号G1 、G2 、G3 、…、Gm は、
図2Eに示すように、トリガー信号P1 、P2 、P
3 、…、Pm から所定時間τだけ遅延させて出力さ
せるようにしても良い。このようにすると、各バースト
信号B1 、B2 、B3 、…、Bmの安定した部分
をゲートすることができる。
【0025】基準信号発生回路5からゲート信号G1 
、G2 、G3 、…、Gm が出力されると、このゲ
ート信号G1 、G2 、G3 、…、Gm の夫々の
間で、カンウタ10により分周器7の出力がカウントさ
れる。そして、各ゲート信号G1 、G2 、G3 、
…、Gm の間のカウント値a1 、a2 、a3 、
…は、加算回路12及びアキュムレータ13からなる累
積回路で、測定期間の間累積される。すなわち、加算回
路12及びアキュムレータ13で、カウント値の累積値
AA=a1 +a2 +a3 …+am が求められる
【0026】分周器7を介された信号の周波数F/Nは
、カウント値の累積値A(A=a1 +a2 +a3 
…+am )と、ゲート時間の総和(m×TG )とか
ら、F/N=A/(m×TG ) として求められる。そして、入力端子1からの被測定信
号の周波数Fは、 F=(N×A)/(m×TG ) として求められる。
【0027】
【発明の効果】この発明によれば、複数のバースト信号
B1 、B2 、B3 、…、Bm の夫々の間でゲー
ト信号G1 、G2 、G3 、…、Gm が出力され
、このゲート信号G1 、G2 、G3 、…、Gm 
の夫々の間で入力信号の波数がカウントされ、このカン
ウト値の累積値と、ゲート時間の総和(m×TG )か
ら、入力被測定信号の周波数が求められる。この場合に
は、ゲートを開く単位時間TG が短くても、周波数精
度を上げることができる。すなわち、従来の周波数測定
装置では、1回のゲート時間の間の入力信号の波数をカ
ウントして周波数を求めていたので、バースト信号の周
波数を測定する場合には、ゲート時間が長くとれず、周
波数測定精度が低くなる。これに対して、この発明では
、m回のゲート時間の間の入力信号の波数をカウントし
て周波数を求めているので、周波数測定精度が上げられ
る。
【0028】また、この発明によれば、バースト信号の
周波数の平均値が出力される。したがって、被測定信号
が変調された信号であり、各バースト信号の周波数に多
少の周波数変動があっても、対応できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の一実施例のブロック図である。
【図2】この発明の一実施例の説明に用いる波形図であ
る。
【図3】従来の周波数測定装置の一例のブロック図であ
る。
【図4】従来の周波数測定装置の説明に用いる波形図で
ある。
【図5】従来の周波数測定装置の説明に用いる波形図で
ある。
【符号の説明】
1  入力端子 3  信号検出回路 5  基準信号発生回路 8  ゲート回路 10  カウンタ 12  加算回路 13  アキュムレータ 14  周波数演算回路

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】複数の同一周波数成分のバースト信号が連
    続する入力信号の周波数を測定する周波数測定装置にお
    いて、上記入力信号中の上記バースト信号を取り出すた
    めに、上記バースト信号の期間内に、上記バースト信号
    の期間より短い単位時間のゲート信号を発生するゲート
    信号発生手段と、上記ゲート信号により取り出された上
    記各単位時間中のバースト信号の波数をカウントするカ
    ウンタと、上記各単位時間中の上記バースト信号の波数
    のカウント値を測定期間の間累積する手段と、上記各単
    位時間中の上記バースト信号の波数のカウント値の上記
    測定期間の間の累積値と、上記測定期間の間の上記各単
    位時間の総和とに基づいて、上記入力信号の周波数を測
    定するようにした周波数測定装置。
JP2414810A 1990-12-27 1990-12-27 周波数測定装置 Pending JPH04225171A (ja)

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JP2414810A JPH04225171A (ja) 1990-12-27 1990-12-27 周波数測定装置

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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003534702A (ja) * 2000-05-24 2003-11-18 インフィネオン テヒノロギーズ アーゲー 所定周波数の信号の受信を確認する装置と方法
CN101819231A (zh) * 2010-03-18 2010-09-01 天津农学院 连续计数间隔标记的高分辨率频率测量方法
CN101893657A (zh) * 2009-05-22 2010-11-24 精工爱普生株式会社 频率测量装置
CN101968510A (zh) * 2010-09-21 2011-02-09 天津农学院 谐振式传感器输出信号频率的高分辨率测量电路及其方法
CN105675981A (zh) * 2016-03-18 2016-06-15 中国科学技术大学 一种基于fpga的频率计及频率测量方法

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