JPH04205896A - Sample and hold circuit - Google Patents

Sample and hold circuit

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Publication number
JPH04205896A
JPH04205896A JP2336234A JP33623490A JPH04205896A JP H04205896 A JPH04205896 A JP H04205896A JP 2336234 A JP2336234 A JP 2336234A JP 33623490 A JP33623490 A JP 33623490A JP H04205896 A JPH04205896 A JP H04205896A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sampling
signals
signal
sampled
sample
Prior art date
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Pending
Application number
JP2336234A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Yoshiaki Nagano
好昭 永野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP2336234A priority Critical patent/JPH04205896A/en
Publication of JPH04205896A publication Critical patent/JPH04205896A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

PURPOSE:To obtain highly accurate measurements which do not receive any influence from other signals by sampling a reference voltage and signals to be sampled by turning on/off switches for sampling having the same constitution and differentially outputting the output by means of a differential circuit. CONSTITUTION:When signals to be sampled inputted from an signal input terminal are sampled by inputting a sampling pulse input terminal 2a sampling pulse, the same magnitude of noise is generated at a switch 2b for sampling signals and another switch 2c for sampling reference voltages, since both switches 2b and 2c have the same size and same constitution. Accordingly, the signals to be sampled and a reference voltage affected by the cross talk are held by means of a capacitor 3 for holding signals and capacitor 4 for holding reference voltages and the output is differentially outputted to a differential circuit 8. Therefore, a real value containing no influence of a sampling pulse is removed can be obtained.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野] この発明は、サンプル・ホールド回路の改良に関するも
のである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to improvements in sample-and-hold circuits.

[従来の技術] 第2図は従来のサンプル・ホールド回路の構成の一例の
回路間である。図において(1)は被サンプル信号が入
力される信号入力端子、(2b)は信号入力端子(1)
がその片側に接続されているサンプリング用スイッチ、
 <2alはサンプリング用スイッチ(2b)をON、
OFFする制御信号を入力するためのサンプリングパル
ス入力端子、(3)はサンプリング用スイッチ(2b)
の残りの片側に否接地側が接続されサンプリングした信
号をホールートしておくためのホールドコンデンサ、(
10)はホールドコンデンサ(3)の否接地簡に接続さ
れホールドした信号を出力するための出力端子である。
[Prior Art] FIG. 2 shows an example of the configuration of a conventional sample-and-hold circuit. In the figure, (1) is the signal input terminal into which the sampled signal is input, and (2b) is the signal input terminal (1).
is connected to one side of the sampling switch,
<2al turns on the sampling switch (2b),
Sampling pulse input terminal for inputting a control signal to turn off, (3) is a sampling switch (2b)
A hold capacitor is connected to the other side of the non-grounded side to keep the sampled signal hole-routed (
Reference numeral 10) is an output terminal connected to the ungrounded terminal of the hold capacitor (3) for outputting a held signal.

次に動作について説明する。信号入力端子(1)から被
サンプル信号が入力され、サンプリング用スイッチ(2
b)をサンプリングパルス入力端子にサンプリングパル
スを入力して制御し、サンプリング用スイッチ(2b)
がONした時の被サンプル信号のレベルをホールドコン
デンサ(3)に充電し出力端子(lO)により出力され
る。
Next, the operation will be explained. The sampled signal is input from the signal input terminal (1), and the sampling switch (2
b) is controlled by inputting a sampling pulse to the sampling pulse input terminal, and the sampling switch (2b)
The level of the sampled signal when is turned on is charged to the hold capacitor (3) and outputted from the output terminal (lO).

[発明が解決しようとするLE 従来のサンプル・ホールド回路は以下のように構成され
ているのでサンプリング用スイッチ(2b)がサンプリ
ングパルス:こよりON、OFFする時にノイズ(サン
プリングパルス・クロストーク)を発生し、そのため被
サンプル信号が小信号の場合はこのノイズがホールドコ
ンデンサ(3)にホールドされた信号に影響を与え、真
の値が得られないという間居点があった。
[LE to be solved by the invention Since the conventional sample/hold circuit is configured as shown below, noise (sampling pulse crosstalk) is generated when the sampling switch (2b) turns on and off from the sampling pulse. However, when the sampled signal is a small signal, this noise affects the signal held in the hold capacitor (3), and there is a problem in that the true value cannot be obtained.

この発明は上記のような間屈点を解消するためになされ
たもので、袖サンプル信号が小信号の場合でもサンプリ
ング用スイッチによるノイズの影響を受けずに、真のサ
ンプル値を得ることができるサンプリング・ホールド回
路を目的とする。
This invention was made to eliminate the above-mentioned bending point, and even if the sleeve sample signal is a small signal, it is possible to obtain the true sample value without being affected by noise caused by the sampling switch. Intended as a sampling/hold circuit.

[課題を解決するための手段] この発明に係るサンプル・ホールド回路は、被サンプル
信号をサンプリングしホールドしておくサンプリング用
スイッチS1と、信号ホールドコンデンサと同じ構成の
基準電圧をサンプリングしホールドしておくサンプリン
グ用スイッチS2と、基準電圧ホールドコンデンサを設
け、そのサンプリング用スイッチS1とS2は同一イコ
号で制御される構成となっており、被サンプル信号をサ
ンプリングした時に生じるサンプリンゲスノツチS】の
ノイズと同じ大きさのノイズがサンプリング用スイッチ
S2にも生じ、そのサンプリングパルスのノイズにより
影響された信号をホールドしている信号ホールドコンデ
ンサと基準電圧ホールにコンデンサの出力を差動アンプ
により差動出力するようにしたものである。
[Means for Solving the Problems] A sample/hold circuit according to the present invention includes a sampling switch S1 that samples and holds a sampled signal, and a reference voltage that samples and holds a reference voltage that has the same configuration as a signal hold capacitor. A sampling switch S2 and a reference voltage hold capacitor are provided, and the sampling switches S1 and S2 are configured to be controlled by the same equal sign, and the noise of the sampling notch S] that occurs when the sampled signal is sampled is Noise of the same magnitude occurs in the sampling switch S2, and the output of the capacitor is differentially outputted to the signal hold capacitor that holds the signal affected by the noise of the sampling pulse and the reference voltage hole by the differential amplifier. This is how it was done.

〔作用〕[Effect]

この発明におけるサンプル・ホールド回路は、同じ構成
のサンプリング用スイッチにより被サンプル信号と基準
電圧をサンプリングし、その後差動アンプを通すことに
よりサンプリング用スイッチのノイズの影響を受けずに
被サンプル信号を正確にサンプル・ホールドする。
The sample-and-hold circuit in this invention samples the sampled signal and the reference voltage using a sampling switch with the same configuration, and then passes the sampled signal through a differential amplifier to accurately accurately measure the sampled signal without being affected by the noise of the sampling switch. sample and hold.

[実施例] 以下この発明の一実施例を図について説明する。[Example] An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings.

第1図において(1)は信号入力端子、(2b)はこの
信号入力端子にその片側が接続されている信号サンプル
・ホールド用スイッチ、(2C)は基準電圧源(5)に
その片側を接続している基準電圧サンプル・ホールド用
スイッチで、この(2b)と(2C)はともにサンプリ
ングパルス入力端子(2a)に接続されている。
In Figure 1, (1) is a signal input terminal, (2b) is a signal sample/hold switch whose one side is connected to this signal input terminal, and (2C) is one side connected to a reference voltage source (5). Both (2b) and (2C) are connected to the sampling pulse input terminal (2a).

前記信号サンプル・ホールド用スイッチ(2b)の残り
の片側は、信号ホールドコンデンサ(3)の否接地側と
バッファ(6)の正相入力端に接続されており、基準電
圧サンプル・ホールド用スイッチ(2C)の残りの片側
は、基準電圧ホールドコンデンサ(4)とバッファ(7
)の正相入力端に接続されている。バッファ(6)の出
力は差動回路(8)の逆相入力側へ接続されており、ま
たバッファ(7)の出力は前記差動回路(8)の正相入
力側に接続されている。遊動回路(8)の出力は信号圧
力端子に接続されている。
The other side of the signal sample and hold switch (2b) is connected to the non-grounded side of the signal hold capacitor (3) and the positive phase input terminal of the buffer (6), and the reference voltage sample and hold switch (2b) The other side of the 2C) is the reference voltage hold capacitor (4) and the buffer (7).
) is connected to the positive phase input terminal of the The output of the buffer (6) is connected to the negative phase input side of the differential circuit (8), and the output of the buffer (7) is connected to the positive phase input side of the differential circuit (8). The output of the idler circuit (8) is connected to the signal pressure terminal.

次に動作について説明する。信号入力端子より入力され
た被サンプル信号をサンプリングパルス入力端子(2a
)サンプリングパルスを入力してサンプリングした場合
、信号サンプリング用スイッチ(2b)と基準電圧サン
プリング用スイッチ(2c)が同じ大きさで同じ構成の
スイッチなので、両方のスイッチに同じ大きさのノイズ
(サンプリングパルス・クロストーク)が発生し、その
クロストークにより影響された被サンプル信号と基準電
圧を信号ホールド用コンデンサと基準電圧ホールド用コ
ンデンサにホールドし、その出力が差動回路に入力され
差動出力されることにより、サンプリングパルスの影響
を取り除いた真の値を得ることができる。
Next, the operation will be explained. The sampled signal input from the signal input terminal is input to the sampling pulse input terminal (2a
) When a sampling pulse is input and sampled, the signal sampling switch (2b) and the reference voltage sampling switch (2c) are the same size and have the same configuration, so both switches have the same amount of noise (sampling pulse).・When crosstalk occurs, the sampled signal and reference voltage affected by the crosstalk are held in the signal hold capacitor and reference voltage hold capacitor, and the output is input to the differential circuit and output as a differential output. By doing this, it is possible to obtain a true value from which the influence of the sampling pulse has been removed.

また上記実施例では、サンプリングパルスのノイズ(ク
ロストーク)の場合について説明したが、サンプル・ホ
ールド回路においてホールド状懸でのドループなどの影
響を取り除く場合においても上記実施例と同様の効果を
奏する。
Further, in the above embodiment, the case of sampling pulse noise (crosstalk) has been explained, but the same effects as in the above embodiment can be obtained even when removing the influence of droop or the like in a hold state in a sample/hold circuit.

[発明の効果] 以上の様に、この発明によれば基準電圧と被サンプル信
号を同じ構成のサンプリング用スイッチのON、OFF
でサンプリングし、その出力を差動回路により差動出力
する様な構成としたので、他の信号の影響の無い精度の
高い測定値が得られる効果がある。
[Effects of the Invention] As described above, according to the present invention, the reference voltage and the sampled signal can be turned on and off by the sampling switch having the same configuration.
Since the configuration is such that sampling is performed and the output is differentially outputted by a differential circuit, highly accurate measurement values can be obtained without being influenced by other signals.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図はこの発明の一実施例によるサンプル・ホールド
回路の回路図、第2図は従来のサンプル・ホールド回路
図である。図において、(1)は信号入力端子、(2a
)はサンプリングパルス入力端子、 (2b)は信号サ
ンプリング用スイッチ、(2C)は基準電圧サンプリン
グ用スイッチ、(3)は信号ホールドコンデンサ、(4
)は基準電圧ホールドコンデンサ、(5)は基準電圧電
源1、(6)はバッファ1、(7)はバッファ2、(8
)は差動回路、(9)は基準電圧電源2、(lO)は信
号出力端子である。 なお、図中、同一符号は同一、叉は相当部分を示す。 代理人  大  岩  増  雄 第1図 第2図
FIG. 1 is a circuit diagram of a sample and hold circuit according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a circuit diagram of a conventional sample and hold circuit. In the figure, (1) is a signal input terminal, (2a
) is the sampling pulse input terminal, (2b) is the signal sampling switch, (2C) is the reference voltage sampling switch, (3) is the signal hold capacitor, (4
) is the reference voltage hold capacitor, (5) is the reference voltage power supply 1, (6) is the buffer 1, (7) is the buffer 2, (8
) is a differential circuit, (9) is a reference voltage power supply 2, and (lO) is a signal output terminal. In addition, in the figures, the same reference numerals indicate the same or corresponding parts. Agent Masuo Oiwa Figure 1 Figure 2

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 信号入力端子よりサンプリング用スイッチS1を介し、
信号ホールドコンデンサの否接地側と、バッファ1の正
相入力側に接続されているサンプル・ホールド回路と、
信号入力端子より前記サンプリング用スイッチS1と制
御部が接続されているサンプリング用スイッチS2を介
し、基準電圧ホールドコンデンサの否接地側と、バッフ
ァ2の正相入力側に接続されたサンプル・ホールド回路
と、上記バッファ1とバッファ2の出力がその逆相入力
と正相入力に接続され、その出力を出力端子と接続した
ことを特徴とするサンプル・ホールド回路。
From the signal input terminal via the sampling switch S1,
a sample/hold circuit connected to the non-grounded side of the signal hold capacitor and the positive phase input side of buffer 1;
A sample/hold circuit is connected from the signal input terminal to the ungrounded side of the reference voltage hold capacitor and the positive phase input side of the buffer 2 via the sampling switch S2 to which the sampling switch S1 and the control section are connected. , A sample and hold circuit characterized in that the outputs of the buffers 1 and 2 are connected to their negative phase inputs and positive phase inputs, and their outputs are connected to their output terminals.
JP2336234A 1990-11-29 1990-11-29 Sample and hold circuit Pending JPH04205896A (en)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5317203A (en) * 1991-04-25 1994-05-31 Sharp Kabushiki Kaisha Sample-and-hold circuit
JPH0845298A (en) * 1994-07-29 1996-02-16 Nec Corp Differential sample-and-hold circuit
JP2006302977A (en) * 2005-04-15 2006-11-02 Fuji Electric Device Technology Co Ltd Temperature measurement apparatus for power semiconductor device

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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