JPH04204342A - 双眼鏡の解像力測定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は灰［＃！（単ｌ鏡）の解像力を計数値とし、て
測定する解像力測定装置に係るものである。

（従来技術） 従来、双眼鏡の解像力測定は、熟練技能者が空中像の観
測作業から、像質の良否を主観的に判定している。

その為、像質の良否を判定するには、長年の経験を必要
とし、熟練技能者以外は正確な解像力測定ができず、又
、判定を熟練技能者の主観に依存していたので、判定者
によっては解像力測定に個人差が生じ、客観的な解像力
測定ができなかった。

その上、空中像の観測作業は熟練技能者の目視であるの
で、肉体的疲労を伴なうという問題があった。

そ：で、本発明は斯様な問題を解決するものであり、簡
単に誰でもがＷ、！鏡の解像力測定を客観的に判定する
ことができるｖｉＬａａの解像力測定装置を提供する−
とを目的とするものである。

（８題を解決するための手段） 上記目的を達成するため、本発明に係る双眼鏡の解像力
測定装置は　平行光線束を照射する光源部と、この光源
部からの光線束を反射すると共に透過するハーフミラ−
と、このノＸ−７ミラーからの反射光を受光する照度受
光素子からなる照度受光素子部と、長手方向に等比軟数
的に減少する明暗状パターンを形成して、この明暗状パ
ターンを前記ハーフミラ−からの射出光が通過する回転
式無罎ベルト部と、このベルト部の明暗状パターンを通
過したパターン像を拡大する撮影レンズと、この撮影レ
ン【に対向して設置され、被検双眼鏡の接眼レンズ側を
前記撮影レンズ側に臨ませる双眼鏡載置台と、前記被検
板ＩＩＩ！からの射出光を受光するパターン受光素子部
と、前記照度受光素子からの信号によって箭記光源部の
電圧変動による照度変化を除去して前記パターン受光素
子部の信号を処理して、被検双ｌ鏡の解像力を計数値と
して表示するテ゛−タ処理部とからなるものである。

（作用） 上記構成に係る本発明によれば、光源部からの照射光は
ノ）−７ミラーを介して回転式無罎ベルトに入射する。

ベルトには等比軟数的１こ減少する明暗状パターンが形
成されて、ベルトが回転しているため、ベルトへの入射
光はベルト上を走査し、明暗状パターンのパターン便が
撮影レンズで拡大されて、被検！＠鏡を介し、てパター
ン像はパターン受光素子部が受光する。パターン像は被
検双Ｋｌ鏡を通過し、ているため、輝度レベルに変化が
生じ、この輝度レベル変化をパターン受光素子部が受光
する。

データ処理部は、パターン受光素子部からの輝部レベル
変化を電気信号に変換し、照度受光素子からの信号によ
って光源部の電圧変動による照度変化を除去し、被検双
Ｉ鏡の解像力の計数値を表示し、被検双Ｉ鏡の解像わ測
定を行なう〕とができる。

（実施例） 本発明に係る一実施例を第１図乃至第７図に基づいて説
明する。

第１図は本発明による双眼鏡の解像力測定装置を示し、
この装置は平行光線束を照射する光源部（１）と、この
光源部（１）からの光線束を受光する照度受光素子部（
１０）と、長手方向に等比軟数的に減少する明暗状パタ
ーンを形成した回転式無罎ベル）（２’Ｏ）と、このベ
ル）（２０）を通過したパターン像を拡大する撮影レン
ズ（３０）と、このレンズ（３０）に対向して設置され
、被検双眼ｉ！（４０）を載置する双眼鏡載置台（５０
）と、被検板［鏡（４０）からの射出光を受光するパタ
ーン受光素子部（６０）と、照度受光素子部（１０）の
信号によって光源部（１）の電圧変動による照度変化を
除去してパターン受光素子部（６０）の信号を処理して
、被検双＠鏡（４０）の解像力を計数値と１−で表示す
るデータ処理部（７０）とから構成されている。

光源部（１）は−１０デンランブ（１００ｗ）の様な高
輝度ランプ（２）と、このランプ（２）からの光線を平
行光線束とするレンズ（３）と、フィルター（４）とで
構成され、ランプ（２）からの光線が照度受光素子部（
１０）のハーフミラ−（１１）を照明している。

照度受光素子部（１０）は、光源部（１）からの光線束
を反射すると共に、透過する７％　−７ミラー（１１）
と、このハーフミラ−（１１）からの反射光を受光する
照度受光素子（１２）とで構成され、照度受光素子（１
２）が光源部（１）の照度を受光して電気信号に変換し
ている。

回転式無罎ベルト部（２０）は、上、下に各々設けたロ
ーラ（２１）、（２２）と、このローラ（２１）、（２
２）間に巻回した無端ベルト（２３）と、ローラ（２２
）を回転駆動させるモータ（Ｍ＞とで構成され、無端ベ
ル［２３）がモータ（Ｍ＞の駆動によって上下方向へ定
速回転している。

無端ベル）（２３）は透明な帯状からなり、第２図に示
す様に、長平方向に明部（２４）と暗部（２５）からな
る明暗状パターン（２６）が形成されている。こめ明暗
状パターン（２６）はベルト（２３）の回転方向（図示
矢印方向）とは逆方向へ明部（２４）と暗部（２５）と
がその幅を等比軟数的に減少している。明暗状パターン
（２６）の明部（２４）へは、ハーフミラ−（１１）か
らの射出光が通過し、明部（２４）のパターン像が撮影
レンズ（３０）、被検ＩＩ鏡（４０）へ入射して、パタ
ーン受光素子部（６０）がパターン像を受光している。

（２’？）はタイミング・マークで、このタイミング・
マーク（２７）は明暗状パターン（２６）７＞最初の暗
部（２５ａ）よりも回転方向側のベルト（２３）に形成
され、ベル）（２３）の−回転毎にスタート・ストップ
の基準パルスを生じるようになっている。

撮ルンズ（３０）は、ベル）（２３）を通過したパター
ン像を拡大するためのもので、ベルト（２３）と双Ｉ１
１！を載置台（５０）間に設けられている。

このレンズ（３０）はピント調整ができる様に光軸（８
０）方向へ移動可能に構成されている。

灰ｌ鏡載置台（５０）は撮影レンズ（３０）に対向して
設置され、被検ｉｆ、眼鏡（′４ｏ）の接眼レンｒ（４
１）側を撮影レンｒ（３０＞側に臨ませる様に成ってい
る。

パターン受光素子部（６０）は光軸（８０）上に設°け
られ、被検ＩＩ鏡（４０）からの射出光をスリブ）＜１
００）を介して受光している。パターン受光素子部（６
０）はパターン受光素子（６１）とタイミング・マーク
受光素子（６２）からなり、パターン受光素子（６１）
が被検双［競（４０）を通過したベル）（２３）の明暗
状パターン（２６）を走査されたパターン像の像信号を
受光して電気信号に変換し、タイミング・マーク受光素
子（６２）がベル）（２３）のタイミング・マーク（２
５ａ）を受光して電気信号に変換している。

スリ・ソ）（１（１０）の幅は、最終的には、解像力が
最も大きい、：とが空中像観測により確認された双＠鏡
を用いて、実際のスリット像を観測し、それが鮮明に見
える様な最小ピッチのスリ・ノド幅を採用している。明
暗状パターン（２６）の最小と・・・チは前記の様なス
リット幅の半分程度に設定する。

データ処理部（７０）は、第３図に示す様に、タイミン
グ・マーク受光素子（６２）からの信号をスタート・ス
トップの基準パルスとするパイプ回路（７１）と、パタ
ーン受光素子（６２）からの出力と照度受光素子（１２
）からの出力が印加する差動アンプ（７２）と、この差
動７ンブ（７２）からの出力をクリップ回路（７８）を
経て矩形波とするパルス回路（７４）と、このパルス回
路（７４）の矩形波をカウントするカウンター（７５）
と、このカウンター（７５）のカウントを表示する表示
器（７６）とで構成され、照度受光素子（１２）からの
信号によつて光源部（１）の電圧変動による照度変化を
除去して、パターン受光素子（６２）の信号を処理し、
被検双ｌ鏡（４０）の解像力を計数値として表示してい
る。

尚、（９０）は外乱光をしやへいする暗箱である。

上記構成に係る双ｌ鏡の解像力測定装置は、被検双＠鏡
（４０）を灰＠ａｔ置台（５ｏ）に載置し、モータ（Ｍ
）が駆動すると、無端ベルト（２３）が回（する。光源
部（１）からの照射光はベル［２３）の明暗状パターン
（２６）を走査する。

明暗状パターン（２６）の明部（２４）のパターン像は
、撮影レンズ（３０）、被検′ｇ、Ｉｉ！！！（４０）
を経てパターン受光素子部（６０）が受光する。パター
ン像は被検双眼鏡の解像力が良い場合には、輝度レベル
を維持しているが、解像力が劣化している場合には、ａ
分ボケだ像となる。この輝度レベルの変化をパターン受
光素子（６１）が受光し、解像力が良い場合には第４図
に示す様に、パターン受光素子（６１）の受光信号は山
形となり、解像力が劣化している場合には、第５図に示
す様に、パターン受光素子（６１）の受光信号は乎担と
なる。ベル）（２３）は定速回（しているので、被検板
Ｉｌｉ鏡（４０）の解像わが良い場合には、幅の狭い明
部（２４）のパターン像が輝度レベルを維持しているが
、解像力が劣化しでいる場合には、＠狭の明部（２４）
のパターン像となるに伴なって、幾分ポケた像となる。

差動アンプ（７２）は、パターン受光素子（６１）の出
力から照度受光素子（１２）の出力を除き、パターン受
光素子（６１）の出力から光源部（１）の電源電圧の変
動による照度変化を除去し、第６図に示す棟に、ゼロレ
ベルから立上がる信号を出力する。同図中、（１６２）
はタイミング・マーク受光素子（６２）からのタイミン
グ・パルスである。

そして、パルス回路（７４）では、第７図に示す様に、
パルス出力（１７４）となり、タイミング・パルス（１
６２）ｌ’ｌｌ’ｌに生じたｎ個のパルスが分解能力が
ある範囲となる。、：のｎ［Ｈのパルスがカウンター（
７５）によってカウントされ、表示器（７６）に表示さ
れると、被検反ｌｌｌ鏡（４０）の解像力を計数値とし
て測定する〕とができる。

前記実施例では被検収＠Ｗｔ（Ａ　ｏ　）の垂直入射光
束に関する解像力測定について説明したか、被検双＠鏡
（４０）へ入射する入射光束を光軸（８０）に灯してθ
だけ傾けると、斜入射光に関しても解像力の測定をする
ことができる。

被検収Ｗｉ競（４０）の接眼レンｒ（４１）の焦点（４
２）を中心とする円周上に円弧状の溝を設け、光ｍ５（
１）、照度受光素子！ｌ５（１０）、ヘルド部（２０＞
、Ｉ影しンズ（３０）を操作レバーによって円弧状の溝
に沿って移動可能に取付けると、垂直入射光と共に斜入
射光の解像力をも測定することができる。

（発明の効果） 本発明によれば、被検ｉａ眼鏡を双眼鏡載置台に載置し
、ベルト分のベルトを回転させつつ光源部から被検ｇ、
ｌ鏡へ照射すると、ベルトの明暗状パターンのパターン
像は撮影レンズ、被検収ＩＩｔを通過してパターン受光
素子部が受光する。データ処理部は照度受光素子部から
の信号による光源部の照度変化を除去して、パターン受
光素子部の信号を処理して計数値を表示する。

−力表示によって被検双眼鏡の解像力が表わさねるため
、熟練技術者でなくとも、簡単■こ′ｇ１．ｌ双眼鏡の
解像力測定をする、―とができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明装置内断面図、第２図はベルト部のベル
トめ一部正面図、第３図はデータ処理部の千畢−ト図、
第４．５図はパターン受光素子の受光信号、第６図は差
動７ンブの出υ＄７図はパルス回路の出力である９ 図中、１は光源部、１０（を照度受光素子部、２０はベ
ルト部、３０は撮影レンズ、４０は被検双＠鏡、５０は
灰ｍｌ鏡載置台、６０はパターン受光素子部　７０はデ
ータ処理部である。 特許出願人　　株式会社　　明竪光器 代理＾、　　　　　曽我部　久 □ 単λＩＩＩ友　　　τ □ ■ 手続補正書 平成３年１月ｌＯ日 １、事件の表示 平成２年特許願第３３８８５４号　　　　　　　　・＝
゛、］− ３補正をする者 事件との関係　　　　特許出願人 住　所　　　　東京都板橋区熊野町４４番１号名　祢　
　　　株式会社　　明瞭光器 代表者　　吉村　健正 ４　代理人 住　所　　　　東京都中央区日本橋兜町１８−５平成３
年３月１２日 ６　補正の対象 ６８先ＩＯ’ｔＭ’釦命慣帖託叱内復」■（￥１１１楕
　　正　　書 （１）明細書第１３頁第７行〜同頁第９行の記載を次の
通り補正する。 「第４．５図はパターン受光素子の受光信号の説明図、
第６図は差動アンプの出力の説明図、第７図はパルス回
路の出力の説明図である。 （２）図面を別紙のとおり補正する。 以　　上

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 平行光線束を照射する光源部と、この光源部からの光線
   束を反射すると共に透過するハーフミラーと、このハー
   フミラーからの反射光を受光する照度受光素子からなる
   照度受光素子部と、長手方向に等比級数的に減少する明
   暗状パターンを形成して、この明暗状パターンを前記ハ
   ーフミラーからの射出光が通過する回転式無罎ベルト部
   と、このベルト部の明暗状パターンを通過したパターン
   像を拡大する撮影レンズと、この撮影レンズに対向して
   設置され、被検双眼鏡の接眼レンズ側を前記撮影レンズ
   側に臨ませる双眼鏡載置台と、前記被検双眼鏡からの射
   出光を受光するパターン受光素子部と、前記照度受光素
   子からの信号によって前記光源部の電圧変動による照度
   変化を除去して前記パターン受光素子部の信号を処理し
   て、被検双眼鏡の解像力を計数値として表示するデータ
   処理部とからなることを特徴とする双眼鏡の解像力測定
   装置。