JPH0420239U - - Google Patents

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JPH0420239U
JPH0420239U JP6046690U JP6046690U JPH0420239U JP H0420239 U JPH0420239 U JP H0420239U JP 6046690 U JP6046690 U JP 6046690U JP 6046690 U JP6046690 U JP 6046690U JP H0420239 U JPH0420239 U JP H0420239U
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JP
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prober
contact portion
lsi tester
relay ring
test head
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JP6046690U
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  • Measuring Leads Or Probes (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Description

【図面の簡単な説明】
第1図は本考案のLSIテスタのテストヘツド
側の構成断面図、第2図は本考案に係るテストヘ
ツドの中継リング側から構成斜視図、第3図は中
継リングの要部の分解斜視図、第4図は従来のL
SIテスタの分解構成斜視図である。 22……コンタクト部、22……ガイド部、2
2d……係止穴、24……取り付けボード、24
b……スリツト溝、24c……抜け止め金具。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 テストヘツドのテスト信号を中継リングを介し
    てプローバが設けられたパフオーマンスボードと
    授受し、プローバのステージ上に載置されたウエ
    ハーを検査するLSIテスタにおいて、 前記中継リングは、 前記パフオーマンスボードとテスト信号を授受
    する複数のコンタクトピンが固定されたコンタク
    ト部と、 前記コンタクトピンと前記テストヘツド内のピ
    ンエレクトロニクスカードを電気的に接続するケ
    ーブルと、 前記テストヘツドの中心に配置され、中心から
    放射状に形成された複数のスリツトに前記コンタ
    クト部が係合される取り付けボードと、 を有したことを特徴したLSIテスタ。
JP6046690U 1990-06-07 1990-06-07 Pending JPH0420239U (ja)

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JP6046690U JPH0420239U (ja) 1990-06-07 1990-06-07

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JPH0420239U true JPH0420239U (ja) 1992-02-20

Family

ID=31587855

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JP6046690U Pending JPH0420239U (ja) 1990-06-07 1990-06-07

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JP (1) JPH0420239U (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6398570B1 (en) 1998-07-09 2002-06-04 Advantest Corporation Semiconductor component mounting apparatus

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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US6398570B1 (en) 1998-07-09 2002-06-04 Advantest Corporation Semiconductor component mounting apparatus

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