JPH04198776A - Burn-in device - Google Patents

Burn-in device

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Publication number
JPH04198776A
JPH04198776A JP2335374A JP33537490A JPH04198776A JP H04198776 A JPH04198776 A JP H04198776A JP 2335374 A JP2335374 A JP 2335374A JP 33537490 A JP33537490 A JP 33537490A JP H04198776 A JPH04198776 A JP H04198776A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
burn
driver
board
monitored
divided
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2335374A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Iwao Sakai
巌 酒井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
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Abstract

PURPOSE:To use a burn-in board in common by split-inputting the signal wave from a driver to multiple connector pins corresponding to individual groups. CONSTITUTION:A splitting signal line 1 is provided to split-input the signal wave generated by a driver 2 to connector pins 3 corresponding to individual groups. A burn-in board can be used in common for both dynamic burn-in and monitored burn-in, the number of drivers of a burn-in device can be reduced economically.

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) この発明は半導体チップをバーンインするバーンイン装
置に関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (Field of Industrial Application) The present invention relates to a burn-in device for burning-in semiconductor chips.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

第2図は従来のバーンイン装置におけるバーンイン方法
を示す図であり、図において、(2)はドライバー、(
3ンはコネクターピン、(4)はバーンインボード上の
信号ライン、(5)はバーンインボード、(6)はDU
Tである。
FIG. 2 is a diagram showing a burn-in method in a conventional burn-in device. In the figure, (2) is a driver, (
3 is the connector pin, (4) is the signal line on the burn-in board, (5) is the burn-in board, (6) is the DU
It is T.

次に動作について説明する。バーンインボードをダイナ
ミックバーンイン装置にもモニタードバーンイン装置に
も使用できる様に構成した場合、ダイナミックバーンイ
ン時にもモニタードバーンイン時に、DUT (6)の
負荷を軽くして波形品質を向上させる為、1つの信号を
複数のドライバー(2)に分割してそれぞれ独立したコ
ネクターピン(3)と、信号ライン(4)を介して分割
されたDUT (6)を駆動する。
Next, the operation will be explained. When the burn-in board is configured so that it can be used for both dynamic burn-in equipment and monitored burn-in equipment, one The signal is divided into a plurality of drivers (2) to drive the divided DUT (6) via independent connector pins (3) and signal lines (4).

〔発明が解決しようとする課題〕[Problem to be solved by the invention]

バーンインボードなダイナミックバーンイン装置にもモ
ニタードバーンイン装置にも使用できるように構成した
場合の従来のバーンイン装置は以上のように構成されて
いるので、過剰のドライバーを必要としドライバーコス
トが高くなるという問題点があった。
Since the conventional burn-in device is configured as described above when configured to be used for both a burn-in board dynamic burn-in device and a monitored burn-in device, there is a problem that an excessive number of drivers are required and the driver cost increases. There was a point.

この発明は上記のような問題点を解消するためになされ
たもので、ドライバーコストを下げるとともに、ダイナ
ミックバーンインとモニタードバーンインの双方におい
て、バーンインボードの共用化ができるバーンイン装置
を得ることを目的とする。
This invention was made in order to solve the above-mentioned problems, and aims to provide a burn-in device that can reduce driver costs and allow the use of a burn-in board in both dynamic burn-in and monitored burn-in. do.

〔課題を解決−するための手段〕[Means for solving problems]

この発明に係るバーンイン装置は、ノ(−フィンボード
上のDLITを数個づつ複数のグループに分け、1ドラ
イバーから発生する1つの信号波形を各グループに対応
する複数のコネクタービン入分割して入力するように構
成したものである。
The burn-in device according to the present invention divides the DLITs on the fin board into a plurality of groups, and divides and inputs one signal waveform generated from one driver into a plurality of connector bins corresponding to each group. It is configured to do so.

(作用) この発明におけるバーンイン装置は、1ドライバーから
発生する1つの信号波形を各グループに対応する複数の
コネクタービンへ分割して入力するように構成すること
により、装置のドライノチー数を最小にする。
(Operation) The burn-in device of the present invention minimizes the number of dry notches in the device by configuring one signal waveform generated from one driver to be divided and input to a plurality of connector bins corresponding to each group. .

(実施例) 以下、この発明の実施例を図について説明する。第1図
において、(1)は1ドライバーから発生する1つの信
号波形を各グループに対応する複数のコネクタビンへ分
割°して入力する為の信号ラインである。
(Example) Hereinafter, an example of the present invention will be described with reference to the drawings. In FIG. 1, (1) is a signal line for dividing and inputting one signal waveform generated from one driver to a plurality of connector bins corresponding to each group.

バーンインボードをダイナミックバーンイン装置にもモ
ニタードバーンイン装置にも使用できるように構成した
場合、1ドライバーから発生する1つの信号波形を各グ
ループに対応する複数のコネクタビンへ分割して入力で
きる構成とし、バーンイン装置のドライバー数を少なく
してコストを下げる。
When the burn-in board is configured so that it can be used for both a dynamic burn-in device and a monitored burn-in device, it is configured so that one signal waveform generated from one driver can be divided and input to multiple connector bins corresponding to each group, To reduce costs by reducing the number of drivers in a burn-in device.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上のように、この発明によれば、1ドライバーから発
生する1つの信号波形を各グループに対応する複数のコ
ネクタビンへ分割して入力するように構成したので、ド
ライバーのコストを下げるとともにダイナミックバーン
インとモニタートバーンインの双方においてバーンイン
ボートの共用化ができるという効果がある。
As described above, according to the present invention, one signal waveform generated from one driver is divided and inputted to a plurality of connector bins corresponding to each group, thereby reducing the cost of the driver and dynamic burn-in. This has the effect that the burn-in boat can be shared in both the monitored burn-in and the monitored burn-in.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は、この発明の一実施例によるバーンイン装置に
おけるバーンイン方法を示す図、第2図は従来のバーン
イン装置におけるバーンイン方法を示す図である。 図において、(1)は分割用信号ラインである。 なお1図中、同一符号は同−又は相当部分を示す。
FIG. 1 is a diagram showing a burn-in method in a burn-in device according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a diagram showing a burn-in method in a conventional burn-in device. In the figure, (1) is a dividing signal line. In addition, in FIG. 1, the same reference numerals indicate the same or corresponding parts.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] バーンインボード上のDUTを数個ずつ複数のグループ
に分け、1ドライバーから発生する1つの信号波形を各
グループに対応する複数のコネクターピンへ分割して入
力するように構成したことを特徴とするバーンイン装置
A burn-in system characterized in that the DUTs on the burn-in board are divided into multiple groups, and one signal waveform generated from one driver is divided and input to multiple connector pins corresponding to each group. Device.
JP2335374A 1990-11-28 1990-11-28 Burn-in device Pending JPH04198776A (en)

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JP2335374A JPH04198776A (en) 1990-11-28 1990-11-28 Burn-in device

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JP2335374A JPH04198776A (en) 1990-11-28 1990-11-28 Burn-in device

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JPH04198776A true JPH04198776A (en) 1992-07-20

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ID=18287826

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JP2335374A Pending JPH04198776A (en) 1990-11-28 1990-11-28 Burn-in device

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Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS55146938A (en) * 1979-05-02 1980-11-15 Chiyou Lsi Gijutsu Kenkyu Kumiai Aging device for semiconductor element
JPS5692474A (en) * 1979-12-25 1981-07-27 Usac Electronics Ind Co Ltd Aging tester of ic
JPS5817694A (en) * 1981-07-10 1983-02-01 トムソン−セ−・エス・エフ Device for supporting integrated circuit
JPS6189570A (en) * 1984-10-08 1986-05-07 Toshiba Corp Burn-in device for semiconductor apparatus

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS55146938A (en) * 1979-05-02 1980-11-15 Chiyou Lsi Gijutsu Kenkyu Kumiai Aging device for semiconductor element
JPS5692474A (en) * 1979-12-25 1981-07-27 Usac Electronics Ind Co Ltd Aging tester of ic
JPS5817694A (en) * 1981-07-10 1983-02-01 トムソン−セ−・エス・エフ Device for supporting integrated circuit
JPS6189570A (en) * 1984-10-08 1986-05-07 Toshiba Corp Burn-in device for semiconductor apparatus

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