JPH04172744A

JPH04172744A - 多周波信号測定装置

Info

Publication number: JPH04172744A
Application number: JP30013090A
Authority: JP
Inventors: Toshihiko Muramatsu; 利彦村松
Original assignee: Yamaha Corp
Current assignee: Yamaha Corp
Priority date: 1990-11-06
Filing date: 1990-11-06
Publication date: 1992-06-19

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】［産業上の利用分野］この発明は、例えば、ブツシュホン信号として利用され
ているＤＴＭＦ　（Ｄｕａｌ　Ｔｏｎｅ　ＭｕｌｔｉＦ
ｒｅｑｕｅｎｃｙ　）波等の多周波信号のファンクショ
ンテスト及びＤＣテストを行うための多周波信号測定装
置に関する。

［従来の技術］ＤＴＭＦ信号を発生させるＤＴＭＦジェネレータの最終
試験工程で行われる機能試験は、ＤＴＭＦ信号に含まれ
る周波数の組合せが適切であるかどうかのファンクショ
ンテストと、ＤＴＭＦ波を構成する各ｓｉｎ波のレベル
及び歪み率が規格値を満足しているかどうかのＤＣテス
トとを含んでいる。

従来、この種のＤＴＭＦ機能試験は、以下のような試験
システムを使用して行われている。

即ち、第１の方法は、被試験デバイスであるＤＴＭＦジ
ェネレータから出力されるＤＴＭＦ波を、ディジタル／
アナログテスタ又はアナログテスタにより直接測定して
、その波形を解析し、周波数の組合せ、各周波数の信号
波の振幅及び歪み率等を測定する方法である。

また、第２の方法は、ディジタルテスタに、ＤＴＭＦト
ーンレシーバ、フィルタ及びＲＭＳ−ＤＣコンバータ（
実効値−直流変換器）等を外付けし、ファンクションテ
スト及びＤＣテストにて測定を行う方法である。

即ち、ＤＴＭＦトーンレシーバは、ＤＴＭＦ信号（ＣＯ
Ｌ波、ＲＯＷ波の混合波）を入力すると、その組合せを
検出する機能を有しているので、その検出結果を試験結
果として得ることがてきる。

この第２の方法では、ＤＴＭＦ　）−ンレシーノくによ
るファンクションテストと、フィルタ及びＲＭＳ−ＤＣ
コンバータによるＤＣテストとを別々に行うようにして
いる。

［発明が解決しようとする課題］しかしながら、上述した２つの試験方法のうち、第１の
方法では、ディジタル／アナログテスタ又はアナログテ
スタ自体が高価であることから、複数の被測定デバイス
を同時測定するためのシステムを構築しようとすると、
システムか非常に高価なものになってしまうという問題
かある。従って、複数同時測定による測定効率の向上を
図ることか困難であるという問題点かある。

また、第２の方法では、ＤＴＭＦレシーバか周波数の組
合せしか検出することができないため、ＤＴＭＦ波の振
幅及び歪み率等を評価するためには、別途ＤＣテストを
行う必要があり、検査工程か２工程になってしまう。

しかも、この方法では、ＤＣテストを行う際に、ＤＴＭ
Ｆジェネレータに単一波の発生機能を付加しておく必要
かあり、一般的なりＴＭＦジェネレータに適用すること
ができない。

更に、この方法では、外付は回路の構成も複雑になるう
え、駆動用の電源も＋５Ｖ、＋１２Ｖ及び＋１５Ｖと多
種類必要になるという問題点もある。

この発明は、このような従来の問題点を解決するために
なされたもので、１つの検査工程でファンクションテス
トとＤＣテストとを同時に行うことができると共に、複
数の被試験デバイスを同時に測定するシステムも安価に
構成することかでき、これにより測定効率の大幅な向上
を図ることかできる多周波信号測定装置を提供すること
を目的とする。

「課題を解決するための手段］この発明による多周波信号測定装置は、多周波信号を構
成する相互に周波数が異なる複数の信号波を夫々抽出す
る複数の帯域通過フィルタと、これらの帯域通過フィル
タによって夫々抽出された前記各信号波をその実効値に
対応したレベルの直流信号に夫々変換する複数の第１の
実効値−直流変換器と、前記多周波信号から前記複数の
信号波の成分のみを遮断して前記多周波信号に含まれる
高調波成分を抽出する帯域遮断フィルタと、この帯域遮
断フィルタによって抽出された前記高調波成分をその実
効値に対応したレベルの直流信号に変換する第２の実効
値−直流変換器とを備えたことを特徴とする。

［作用コこの発明によれば、多周波信号に含まれる複数の信号波
が夫々複数の帯域通過フィルタにより抽出され、その実
効値に応じた直流信号に変換される。また、多周波信号
に含まれる高調波成分は、帯域遮断フィルタによって抽
出され、その実効値に応じた直流信号に変換される。

従って、この発明によれば、複数の帯域通過フィルタの
出力の直流変換値を測定することにより、信号波の組合
せとその出力レベルとを判定することができ、また、帯
域遮断フィルタの出力の直流変換値と前記複数の帯域通
過フィルタの出力の直流変換値との比によって波形歪み
率を判定することができる。

このように、この発明によれば、ＤＣレベルの測定だけ
で、必要なファンクションテスト及びＤＣテストの双方
を同時に行うことができる。

また、ＤＣテストは非常に簡易な試験システムを用いて
容易に行うことができるので、被試験デバイスの複数同
時試験システムも安価に構築することができる。このた
め、測定の効率を大幅に向上させることができる。

［実施例］以下、添付の図面を参照しなから、この発明をＤＴＭＦ
波測定装置に適用した実施例について説明する。

第１図は、この実施例によるＤＴＭＦ測定装置の構成を
示すブロック図である。

図示しないロジックテスタから供給されるテストデータ
Ｄｉに基づいて被試験デバイスであるＤＴＭＦジェネレ
ータ１から出力されるＤＴＭＦ波は、結合コンデンサ２
で直流分をカットされ、シールド線３を介してゲイン“
Ｉ”の３つのアンプ４．５．６に入力されている。ここ
で、ＤＴＭＦ波は、下記第１表に示すように、４種類の
周波数を持つＣＯＬ　（高群周波数）波とＲＯＷ（低群
周波数）波とから夫々選択された２種類の周波数の信号
からなっている。

第１表アンプ４の出力は、ＣＯＬ波の周波数成分のみを遮断す
るバンドエリミネーションフィルタ（以下、ＢＥＦと呼
ぶ）７に入力されている。更に、このＢＥＦ７の出力は
、ＲＯＷ波の周波数成分のみを速断するＢＥＦ８に入力
されている。これらのＢＥＦ７．８は、図示しないロジ
ックテスタから与えられるｆｃコントロールデデーＤＩ
、Ｄ２に基づいて、遮断周波数か４段階に切り替えられ
るものでも良いし、上述した４種類の周波数を遮断周波
数とする４種類のフィルタを縦続接続したものでも良い
。また、ＢＥＦ７．８は、夫々１２０９〜１６３３Ｈｚ
及び６９７〜９４１Ｈｚの遮断周波数帯域を有するフィ
ルタにて構成されていても良い。

ＢＥＦ８の出力は、ゲイン“Ａ′のアンプ９を介してＲ
ＭＳ−ＤＣコンバータｌＯに入力されている。ＲＭＳ７
ＤＣコンバータ１０は、アンプ９の出力信号の実効値を
直流信号に変換し、その変換結果を出力データ０１とし
て図示しないロジックテスタに供給する。

また、アンプ５の出力は、ＣＯＬ波の周波数成分のみを
通過させるプログラマブル−バンドパスフィルタ（以下
、Ｐ−ＢＰＦと呼ぶ）１１に入力されている。このＰ−
ＢＰＦ　１１は、ロジックテスタビンから出力されるｆ
ｃコントロールデデーＤ１に基づいて、上述したＣＯＬ
波の４種類の周波数のうちの一つを通過帯域として選択
するフィルタである。このＰ−ＢＰＦＩＩの出力は、Ｒ
ＭＳ−ＤＣコンバータ１２に人力されている。ＲＭＳ−
ＤＣコンバータ１２は、Ｐ−ＢＰＦ　Ｉ　１の出力信号
の実効値を直流信号に変換し、出力データ０２として図
示しないロジックテスタに供給する。

更に、アンプ６の出力は、ＲＯＷ波の周波数成分のみを
通過させるＰ−ＢＰＦ　１３に入力されている。このＰ
−ＢＰＦ　ｌ　３は、ロジックテスタピンから出力され
るｆｃコントロールデデーＤ２に基づいて、上述したＲ
ＯＷ波の４種類の周波数のうちの一つを通過帯域として
選択するフィルタである。このＰ−ＢＰＦ　１３の出力
は、ＲＭＳ−ＤＣコンバータ１４に入力されている。Ｒ
ＭＳ−ＤＣコンバータ１４は、Ｐ−ＢＰＦ　ｌ　３の出
力信号の実効値を直流信号に変換し、出力データ０３と
して図示しないロジックテスタに供給する。

次に、第２図に示す波形図を参照しながら、上記のよう
に構成されたＤＴＭＦ波測定装置の動作を説明する。

テストデータＤｉとして、ＣＯＬ波とＲＯＷ波の組合せ
を示すテストパターンｍ、ｎが被試験デバイスであるＤ
ＴＭＦジェネレータ１に与えられると、ＤＴＭＦジェネ
レータｌからは、上記テストパターンｍ、ｎに基づき、
第２図（ａ）に示すようなりＴＭＦ信号を出力する。こ
こで、テストパターンｍ、ｎか夫々１，２であるとする
と、このＤＴＭＦ波は、１２０９Ｈｚと７７０Ｈｚのｓ
ｉｎ波の合成波となる。

一方、このときｆｃコントロールデデーＤＩ。

Ｄ２も、上記テストパターンｍ、ｎに合わせて、夫々１
，２に設定される。このため、Ｐ−ＢＰＦｌｌ、１３の
通過中心周波数は夫々１２０９Ｈｚ及び７７０Ｈ２に設
定される。

従って、ＤＴＭＦ波かアンプ６を介してＲＯＷ波用のＰ
−ＢＰＦ　１３を通過すると、第２図（ｂ）に示すよう
に、ＤＴＭＦ波から７７０ＨｚのＲＯＷ２波成分のみか
抽出される。抽出されたＲＯＷ２波は、同図（ｃ）に示
すように、ＲＭＳ−ＤＣコンバータ１２によって、実効
値ＲＭＳｒに応じた直流信号に変換され、出力データ０
３となる。

また、ＤＴＭＦ波かアンプ５を介してＣＯＬ波用のＰ−
ＢＰＦ　１１を通過すると、第２図（ｄ）に示すように
、ＤＴＭＦ波から１２０９ＨｚのＣ０ＬＩ波成分のみか
抽出される。抽出されたＣ０Ｌｌ波は、同ｒＥＪ　（ｅ
）に示すように、ＲＭＳ−ＤＣコンバータ１４によって
、実効値ＲＭＳｃに応じた直流信号に変換され、出力デ
ータ０２となる。

一方、ＢＰＦ７．８を含むラインでは、ＤＴＭＦ波に含
まれる高調波か抽出され、その実効値か直流信号として
求められる。即ち、ＤＴＭＦ信号かアンプ４及びＣＯＬ
波成分のみを減衰させるＢＰＦ７を通過すると、第２図
（ｆ）に示すように、高調波を含むＲＯＷ波成分が抽出
される。続いて、ＢＰＦ７の出力がＲＯＷ波成分のみを
減衰させるＢＰＦ８を通過すると、第２図（ｇ）に示す
ように、ＣＯＬ波及びＲＯＷ波に含まれる高調波成分が
抽出される。そして、この高調波成分かアンプ９によっ
て例えば１０倍に増幅され、ＲＭＳ−ＤＣコンバータ１
０でその実効値ＲＭＳ　ｔ　ｈか直流信号に変換され、
出力データ０１となる。

二のような、データ０１〜０３が生成されると、ロジッ
クテスタでは、例えば、データ０２．　０３と、ＣＯＬ
波及びＲＯＷ波の出力レベルの規格値の最小値及び最大
値との２回の比較を行うことにより、ＣＯＬ波及びＲＯ
Ｗ波の出力レベルが適正であるかどうかを判定すること
ができる。

これを第３図に基づき説明すると、例えば、ＣＯＬ波の
実効値の規格値の最小値か６００ｍＶ、最大値が９００
ｍＶである場合、出力データ０２のレベルか６００ｍＶ
以上のとき、１”、同じ＜　９００ｍＶ以下のとき“０
”となるようにテスタを設定すれば、２回の比較動作で
、テストパターンの期待値“１″、“０”が得られたか
どうかを判定基準とすることができる。

また、基本波レベル（ＲＭＳｃ、ＲＭＳｒ）対高調波レ
ベル（ＲＭＳ　ｔ　ｈ）の比と、その規格値との比較結
果を、“０”、“１′のデータで得ることにより、ＤＴ
ＭＦ波の波形歪み率の判定を行うことかできる。

このように、この実施例のＤＴＭＦ波測定回路によれば
、ＣＯＬ波及びＲＯＷ波の組合せ、出力レベル並びにＤ
ＴＭＦ波の歪み率の判定を、“０′、“１″のテストパ
ターンによるファンクションテストにて行うことかでき
る。従って、既存のロジックテスタを使用して、従来の
ファンクションテストとＤＣテストとを同時に行うこと
かできる。また、複数同時試験システムも安価に構成か
可能で、測定効率の向上を図ることができる。

なお、以上は多周波信号測定装置の一例として、ＤＴＭ
Ｆ波測定装置を説明したが、この発明は、他の多周波信
号測定装置にも応用可能であることはいうまでもない。

［発明の効果コ以上述べたように、この発明によれば、ＤＣレベルの測
定だけで、必要なファンクションテスト及びＤＣテスト
の双方を同時に行うことができるので、簡易な試験シス
テムを構成することができ、被試験デバイスの複数同時
試験システムも安価に提供することができる。このため
、測定の効率を大幅に向上させることができる。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明をＤＴＭＦ波測定装置に適用した実施
例を示すブロック図、第２図は同装置の各部の波形図、
第３図は同装置の出力データから出力レベルの判定を行
う手順を説明するための模式図である。１・・・ＤＴＭＦジェネレータ、２・・・結合コンデン
サ、３・・・シールド線、４〜６，９・・・アンプ、７
゜８・・・バンドエリミネーションフィルタ、１０，１
２．１４・・・ＲＭＳ−ＤＣコンバータ、１１．１３・
・・バンドパスフィルタ。

Claims

【特許請求の範囲】

（１）多周波信号を構成する相互に周波数が異なる複数
の信号波を夫々抽出する複数の帯域通過フィルタと、これらの帯域通過フィルタによって夫々抽出された前記
各信号波をその実効値に対応したレベルの直流信号に夫
々変換する複数の第１の実効値−直流変換器と、前記多周波信号から前記複数の信号波の成分のみを遮断
して前記多周波信号に含まれる高調波成分を抽出する帯
域遮断フィルタと、この帯域遮断フィルタによって抽出された前記高調波成
分をその実効値に対応したレベルの直流信号に変換する
第２の実効値−直流変換器とを備えたことを特徴とする
多周波信号測定装置。