JPH04170078A - 半導体レーザ装置 - Google Patents

半導体レーザ装置

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JPH04170078A
JPH04170078A JP29545690A JP29545690A JPH04170078A JP H04170078 A JPH04170078 A JP H04170078A JP 29545690 A JP29545690 A JP 29545690A JP 29545690 A JP29545690 A JP 29545690A JP H04170078 A JPH04170078 A JP H04170078A
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JP
Japan
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fabry
light
semiconductor laser
perot resonator
laser device
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JP29545690A
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Inventor
Mitsuko Nakamura
中村 美都子
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Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) この発明は、コヒーレント光通信等の光通信システムに
用いられる半導体レーザ装置に関する。
(従来の技術) 周知のように、コヒーレント光通信にあっては、光源の
波長の安定性が要求されるために、従来より、第3図に
示すような波長安定化半導体レーザ装置が用いられてい
る。第3図において、101は電流もしくは温度で発振
周波数が可変可能な半導、体レーザであり、図中左方に
進行する光は光学レンズ102によって光ファイバ10
3に集光され、該光ファイバを通じて光信号の伝送に供
される。一方、図中右方に信号する光は光学レンズ10
4によって平行光に変換された後、ビームスプリッタ1
05に入射されて2系統に分割される。
ビームスプリッタ105で分割された一方の光は光学レ
ンズ106を通過して第1の光検出器107に入射され
る。すなわち、この第1の光検出器107はその検出出
力を見ることにより、半導体レーザ101の出力光強度
をモニタすることができる。他方の光は反射m108,
109により形成したファブリペロー共振器に入射され
、特定波長の共振を受けた後、光学レンズ1】0を通過
して第2の光検出器111に入射される。この第2の光
検出器111の出力は第4図に示すように、波長に対し
て周期的なピークを有する。
上記構成により、半導体レーザ装置は第1の光検出器1
07の出力レベルを基準にして第2の光検出器111の
発振波長を制御し、これによって発振波長を設定波長に
固定している。
ところが、上記半導体レーザ装置では、そのファブリペ
ロー共振器の波長検出に有効な範囲が第4図中A−8で
示す光強度変化の最も大きい範囲か用いられることによ
り、波長検出範囲が狭く制約を受けるために、その取扱
いが面倒であるという問題を有していた。そこで、ファ
ブリペロ−共振器の波長検出に有効な範囲を広げる手段
として、該ファブリペロー共振器のフィネスを下げる方
法が考えられる。しかし、これによると、光検出感度が
悪化するために、安定した波長検出が困難となるという
問題が起こる。
(発明が解決しようとする課題) 以上述べたように、従来の半導体レーザ装置では、ファ
ブリペロー共振器の波長検出に有効な検出範囲が狭いた
めに、その取扱いが面倒であるという問題を有していた
この発明は上記の事情に鑑みてなされたもので、光検出
感度を悪化させることなく、ファブリペロ−共振器の波
長検出範囲の拡大化を図り得るようにした半導体レーザ
装置を提供することを目的とする。
[発明の構成] (課題を解決するための手段) この発明は発振波長を制御することのできる半導体レー
ザと、この半導体レーザが放射したレーザ光を平行ビー
ムに変換する光学系と、この光学系で変換した平行ビー
ムの検出波長を設定するもので、電気光学効果を有する
物質で形成された光透過媒体で、該光透過媒体の両端面
に反射膜が形成された一対の電極が設けられてなるファ
ブリペロー共振器と、このファブリペロ−共振器の透過
光量を検出する光検出手段と、前記ファブリペロ−共振
器の電極に電圧を印加して前記光透過媒体に直流電界を
与え、該ファブリペロー共振器の波長検出範囲を可変設
定する検出範囲設定手段とを備えて半導体レーザ装置を
構成したものである。
(作 用) 上記構成によれば、ファブリペロ−共振器は、電極に検
出範囲設定手段を介して電圧が印加されると、光透過媒
体に直流電界が与えられて波長検出範囲が光強度に影響
を及はすことなく変化されることにより、波長検出に有
効な範囲が変化前と変化後に亘る範囲となる。従って、
光検出感度を悪化させることなく、波長検出範囲が実質
的に広がり、その取扱いの簡便化が図れる。
(実施PI ) 以下、この発明の実施例について、図面を参照して詳細
に説明する。
第1図はこの発明の一実施例に係る半導体レーザ装置を
示すものである。すなわち、図において、1は発振波長
を制御することのできる半導体レーザで、図中左及び右
方にレーザ光を放射する。
このうち左方に放射された光は光学レンズ2によって平
行光に変換された後、ビームスプリッタ3を通過して、
光学レンズ4.6により光ファイバ5、第1の光検出器
7に集光される。光ファイバ5は光伝送路に接続され、
第1の出力モニタとして利用される。他方、半導体レー
ザ1がら右方に放射された光は光学レンズ8により平行
光に変換された後、光透過媒体、例えば物質として柱状
のLI NbO,エタロンを用いた後述するバルク形の
ファブリペロー共振器9に入射される。このファブリペ
ロ−共振器9を通過したL + N b Osエタロン
透過光は光学レンズ10を通過して第2の光検出器11
に導かれる。
上記ファブリペロー共振器9は結晶のX軸方向に光を通
すように、結晶のXカット面に多層膜等による反射鏡1
2.13が形成され、該結晶のZカット面には一対の電
極14,1.5が対向配設される。この電極14.15
には信号発生器16が接続される。この信号発生器16
は電気信号(電圧)を電極14.15間に印加してLI
 NbO3エタロンにZ方向の直流電界を与え、光をZ
方向に直線偏向する。これにより、ファブリペロー共振
器9に導かれた光はLI NbO3エタロンの電気光学
効果r。により、ファブリペロ−共振器長に対応した光
透過特性に変化される。
また、上記第2の光検出器11の出力はフィードバック
制御器17に入力される。フィードバック制御器17に
は上記信号発生器16の出力と上記第1の光検出器7の
出力が入力されており、入力した第2の光検出器11と
第1の光検…器7の検出出力と信号発生器16の出力電
圧に基づいた半導体レーザ1の出力波長を検出して該半
導体レーザ1の印加型流を制御して所定の発振波長に制
御する。
上記構成において、ファブリペロ−共振器9は、その電
極14.15に上述したように信号発生器16を介して
電気信号が印加されると、L、NbO3エタロンにZ方
向の直流電界が与えられて光をZ方向に直線偏向する。
すると、光はLiNbO3エタロンの電気光学効果r3
3により、ファブリペロー共振器長に対応した光透過特
性が第2図中実線で示す特性Cから破線で示す特性りに
変化される。これにより、ファブリペロ−共振器9はそ
の波長検波の有効範囲がA−B、の範囲に設定される。
すなわち、ファブリペロー共振器9は L + N b O3エタロンの電気光学効果による位
相変化特性がL + N b O、エタロンのX軸方向
に光を通すように設定されており、Z軸方向に直線偏向
させると、透過光の光波の電界E (t、x)がE (
t、x)−E+ cos (ωt−φ2)・・・ (1
) φ2− (2π/λ)・g ・ in、−(1/2)n
 、 3r 月Vo / di      −(2)の
式で表わされる。ここで、λ:波長、g:エタロンの厚
み、d:電極間距離、n、:異常光屈折率、r33: 
LI Nb01エタロンの電気光学定数、vo:印加電
圧、VO”Ezである。
一方、LI NbO,エタロンのn*、r33はそれぞ
れ2,18.30.3X10−12m/Vであるから、 例えば1−0.5mm、λ−1,55μm。
d −2m m SV o −400Vとすると、φ2
→π15となる。そして、ファブリペロー共振器は、そ
のフリースペクトラムレンジが約11人であることから
、L、NbO,エタロンにV。/d−200V / m
 mを加えると、約2.2人光透過特性が波長に対して
シフトする。これにより、ファブリペロー共振器9は電
気信号の印加の有無に応じて特性C及び特性りに可変さ
れ、これら特性C及びDによる範囲A−B、が有効な波
長検出範囲として供される。
このように、上記半導体レーザ装置はファブリペロ−共
振器9に電極14.15を設け、この電極14.15に
対して電圧を選択的に印加して、L、NbO,エタロン
に直流電界を与え、波長検出範囲が光強度に影響を及は
すことなく変化させるように構成した。これによれば、
ファブリペロ−共振器9の波長検出に有効な範囲を電極
14゜15に印加する電圧を変化させることにより、光
感度を悪化することなく、実質的に波長検出範囲を広げ
ることができるため、その取扱いの簡便化が図れる。
なお、上記実施例では、L + N b 03エタロン
のX軸方向にZ軸方向に偏波した光を通し、Z軸方向に
電圧を印加した場合で説明したが、これに限ることなく
、L、NbO3エタロンの電気光学効果を引出せる光の
透過方向、偏波方向、電圧を印加する方向を任意に組合
わせ設定することが可能である。
また、上記実施例では、光透過媒体の物質として、LI
 NbO,系のLiNbO3エタロンを用いて構成した
場合で説明したが、これに限ることなく、電気光学効果
を有する他の物質を用いて構成することが可能である。
さらに、上記実施例では、ファブリペロ−共振器9の電
極14.15に一種類の電圧を印加した場合で説明した
が、これに限ることなく、複数種類の電圧を印加するよ
うに構成することも可能である。この場合には、波長検
波に有効な波長検波範囲がさらに広範囲に設定すること
が可能となることにより、さらに有効な効果が期待され
る。
また、さらに、上記実施例では、バルク形のファブリペ
ロ−共振器9を用いて構成したが、これに限ることなく
、例えば導波路形のものに適用するすることも可能であ
る。この場合には、電圧印加用の電極の間隔を比較的狭
く配設することが可能となることにより、駆動電圧が低
減されて省電力化が図れるという効用も有する。
さらに、上記実施例では、半導体レーザ1より放射され
る光のうち第1図中右方に放射されたものを用いて波長
制御を行うように構成した場合で説明したが、これに限
ることなく、半導体レーザの左方より放射される光を利
用して波長制御を行うように構成することも可能である
よって、この発明は上記実施例に限ることなく、その他
、この発明の要旨を逸脱しない範囲で種々の変形を実施
し得ることは勿論のことである。
[発明の効果] 以上詳述したように、この発明によれば、光検出感度を
低下させることなく、ファブリペロー共振器の波長検出
範囲の拡大化を図り得るようにした半導体レーザ装置を
提供することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例に係る半導体レーザ装置の
構成を示す図、第2図は第1図の動作特性を示す図、第
3図は従来の半導体レーザ装置の構成を示す図、第4図
は第3図の動作特性を示す図である。 1・・・半導体レーザ、2.4.6.8.10・・・光
学レンズ、3・・・ビームスプリッタ、5・・・光ファ
イバ、7・・・第1の光検出器、9・・・ファブリペロ
ー共振器、11・・・第2の光検出器、12.13−・
・反射鏡、14.15・・・電極、16・・・信号発生
器、17・・・フィードバック制御器。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 イ摺〈

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)発振波長をが制御することができる半導体レーザ
    と、 この半導体レーザが放射したレーザ光を平行ビームに変
    換する光学系と、 電気光学効果を有する物質で形成された光透過媒体で、
    該光透過媒体の両端面に反射膜が形成された一対の電極
    が設けられてなるファブリペロー共振器と、 このファブリペロー共振器の透過光量を検出する光検出
    手段と、 前記ファブリペロー共振器の電極に電圧を印加して前記
    光透過媒体に直流電界を与え、該ファブリペロー共振器
    の波長に対する光透過特性を可変設定する光透過特性設
    定手段と を具備したことを特徴とする半導体レーザ装置。
  2. (2)前記ファブリペロー共振器の光透過媒体はL_i
    NbO_3系の物質で形成されてなることを特徴とする
    請求項1記載の半導体レーザ装置。
JP29545690A 1990-11-02 1990-11-02 半導体レーザ装置 Pending JPH04170078A (ja)

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