JPH04166749A - Defect inspecting method - Google Patents

Defect inspecting method

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JPH04166749A
JPH04166749A JP2290880A JP29088090A JPH04166749A JP H04166749 A JPH04166749 A JP H04166749A JP 2290880 A JP2290880 A JP 2290880A JP 29088090 A JP29088090 A JP 29088090A JP H04166749 A JPH04166749 A JP H04166749A
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JP
Japan
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defect
inspected
image
pattern
frame memory
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JP2290880A
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Masami Nishio
西尾 正巳
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HIYUUTEC KK
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  • Image Analysis (AREA)
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Abstract

PURPOSE:To improve the reliability and the efficiency of defect detection in movement by obtaining the automatic detection of the defect of a material to be inspected and the still image containing the defect by using the image signal of the same TV camera. CONSTITUTION:A material to be inspected 31 such as paper in movement is illuminated with lighting devices 32 and 33. The image of the material to be inspected 31 in the entire width direction is picked up with a defect detecting TV camera 2 wherein a linear image sensor is a light receiving part under the illumination. The image signal is recorded in a frame memory 43 in synchronization with the moving speed of the material to be inspected 31. At the same time, the presence or absence of the defect is judged in first and second defect judging circuits 10 and 12. At every time the defect is detected, the detected defect signal is imparted into the frame memory 43. Writing is stopped with a specified delay time being provided. At this time, the image including the defects accumulated in the memory 43 is displayed on a monitor 46 as the still image.

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野コ 本発明は、紙、フィルム、金属箔、および不織布等のよ
うに検査面が無地の被検材、またはグラビア印刷物等の
ように検査面に印刷が施されている被検材などについて
の欠点を検査する欠点検査方法に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Industrial Application Fields] The present invention is applicable to test materials whose inspection surfaces are plain, such as paper, films, metal foils, and nonwoven fabrics, or to materials whose inspection surfaces are plain, such as gravure printed materials. The present invention relates to a defect inspection method for inspecting defects on printed materials.

[従来の技術] 熟練作業員により被検材を直接目視して実施される欠点
検査に代えて、例えば印刷の良否をパターンマツチング
により判定する技術が知られている。この技術は以下の
ようにして実施されていた。
[Prior Art] Instead of a defect inspection performed by a skilled worker by directly visualizing a material to be inspected, a technique is known in which, for example, the quality of printing is determined by pattern matching. This technique was implemented as follows.

まず、目視等により良品と判定された印刷物を用意して
、それをテレビカメラを用いてモノクロで撮像する。次
に、カメラの映像信号を処理して、印刷の輪郭パターン
を抽出する。そして、この輪郭パターンに対して縦横の
拡大処理を施して得た拡大輪郭パターンをマスクパター
ンとしてメモリに収納する。この拡大処理によって、印
刷のばらつきや印刷物の移動精度に基づく多少の誤差を
許容できる。この後、上記テレビカメラによって検査す
べき印刷物を撮像する。そして、このカメラの映像信号
を処理する輪郭抽出手段で抽出される輪郭パターンと、
上記メモリに収納されたマスクパターンの読み出しを同
期させて、これらをパターンマツチング手段により比較
してパターンマツチングを行う。
First, a printed material determined to be good by visual inspection or the like is prepared, and a monochrome image of the printed material is captured using a television camera. Next, the camera's video signal is processed to extract the print outline pattern. Then, the enlarged outline pattern obtained by subjecting this outline pattern to vertical and horizontal enlarging processing is stored in a memory as a mask pattern. This enlargement process allows some errors based on printing variations and movement accuracy of printed matter to be tolerated. Thereafter, the printed matter to be inspected is imaged by the television camera. Then, a contour pattern extracted by a contour extraction means that processes the video signal of this camera,
The readout of the mask patterns stored in the memory is synchronized, and pattern matching is performed by comparing them by a pattern matching means.

すなわち、このようなパターンマツチング方法により、
印刷の良否を判定する情報を得ることができる。
In other words, by such a pattern matching method,
Information for determining the quality of printing can be obtained.

また、印刷面の一部をカラー静止画としてテレビモニタ
ーに表示するカラー静止画表示装置も従来知られている
。この装置は、移動する印刷物の印刷面に対向して設け
られ、印刷物の幅方向に延びるトラバースレールにカラ
ーテレビカメラを移動自在に取付け、このカメラを任意
位置に移動さス せて印刷面の所定領域をホトツボ発光下で撮像し、上記
カメラに接続されたテレビモニターに、カラー静止画を
表示するものである。したかって、このカラー静止画表
示装置を用いる場合には、印刷物の移動を止めることな
く、その印ill [16の任意位置をサンプリングし
て静止画として監視てきる。
Furthermore, color still image display devices that display part of a printed surface as a color still image on a television monitor are also known. In this device, a color television camera is movably attached to a traverse rail that is installed opposite the printing surface of a moving printed material and extends in the width direction of the printed material, and the camera is moved to an arbitrary position to position the printed surface at a predetermined position. The area is imaged under hotpot emission, and a color still image is displayed on a television monitor connected to the camera. Therefore, when using this color still image display device, arbitrary positions on the printed matter can be sampled and monitored as still images without stopping the movement of the printed matter.

[発明が解決しようとする課8] 上記パターンマツチングによる欠点検出では、マスクパ
ターンとの比較判定により欠点を検出するため、検出し
た欠点がどのような種類や形状であるかということまで
は検出できない。したかって、上記のような欠点検出技
術での検査結果から欠点の発生原因を推測して適正な欠
点回避措置を採ることはてきないという問題かある。
[Issue 8 to be solved by the invention] In the defect detection using pattern matching described above, defects are detected by comparison with a mask pattern, so it is difficult to detect the type or shape of the detected defect. Can not. Therefore, there is a problem in that it is not possible to infer the cause of a defect from the inspection results using the defect detection technique described above and take appropriate measures to avoid the defect.

また、上記カラー静止画表示装置では、印刷面の一部の
みがカラー静止画として視認できるに過ぎないが、印刷
の欠点はランダムに発生するから、テレビモニターの画
面に欠点か含まれているとの保証がない。したがって、
このようなカラー静止画表示装置を用いても、欠点検査
の省力化はさ程期待できず、印刷見当のチエツクに使用
される程度であった。なお、このカラー静止画表示装置
を用いて印刷面の幅方向についての静止画を連続して次
々に得るようにすれば、結果的に全幅のモニタリングが
可能であるが、その場合には、印刷物の移動速度を速く
てき誓ず、検査速度が遅くなるという問題がある。
In addition, with the above-mentioned color still image display device, only a part of the printed surface is visible as a color still image, but since printing defects occur randomly, it is possible that the screen of the TV monitor contains some defects. There is no guarantee. therefore,
Even if such a color still image display device is used, it cannot be expected to save much labor in defect inspection, and it is only used for checking printing register. Note that if this color still image display device is used to continuously obtain still images in the width direction of the printed surface, it is possible to monitor the entire width of the printed surface. There is a problem in that the inspection speed becomes slow without increasing the moving speed of the robot.

本発明の目的は、欠点検査の信頼性と効率を向上できる
欠点検査方法を提供することにある。
An object of the present invention is to provide a defect inspection method that can improve the reliability and efficiency of defect inspection.

[課題を解決するための手段] 上記目的を達成するために、本発明の欠点検査方法にお
いては、移動される被検材を検査位置で照明し、この照
明下において上記被検材をその幅方向全体にわたってリ
ニアアレーイメージセンサを受光部とした欠点検出用テ
レビカメラで撮像し、このテレビカメラからの映像信号
を上記被検材の移動速度と同期してフレームメモリにス
クロール記録し、この記録と並列に上記テレビカメラか
らの映像信号を処理して上記被検材の欠点の有無を判定
し、この欠点判定により欠点が検出されるたびに欠点検
出信号を上記フレームメモリに与えて、欠点の検出時点
から所定の遅れを持たせて上記フレームメモリへの書き
込みを停止させるとともに、この時点て上記フレームメ
モリに蓄積されている欠点を含む画像情報を、テレビモ
ニターに静tf−画表示するようにしたものである。
[Means for Solving the Problems] In order to achieve the above object, in the defect inspection method of the present invention, the inspected material to be moved is illuminated at the inspection position, and under this illumination, the inspected material is A television camera for defect detection uses a linear array image sensor as a light receiving section to capture images in all directions, and the video signal from this television camera is scroll-recorded in a frame memory in synchronization with the moving speed of the material to be inspected. In parallel, the video signal from the television camera is processed to determine the presence or absence of a defect in the material to be inspected, and each time a defect is detected by this defect determination, a defect detection signal is given to the frame memory to detect the defect. Writing to the frame memory is stopped with a predetermined delay from the point in time, and the image information including defects stored in the frame memory at this point is displayed as a static TF-image on the television monitor. It is something.

C作用コ 移動される被検材の検査面は検査位置において照明され
る。この照明は検査面の欠点を強調するために実施され
る。この照明下において欠点検出用テレビカメラで、検
査面をその全幅にわたり撮像する。この撮像により、検
査面の情報を輝度情報として光−電変換できる。
C Effect: The inspection surface of the moved specimen is illuminated at the inspection position. This illumination is performed to highlight defects on the inspection surface. Under this illumination, a defect detection television camera images the entire width of the inspection surface. This imaging enables photo-electrical conversion of information on the inspection surface as luminance information.

この欠点検出用テレビカメラの出力(映像信号)が供給
される欠点検出装置は、映像信号を処理して検査面に欠
点があるかとかを判定する。そして、欠点があると判定
した時には欠点検出信号をフレームメモリに送出する。
A defect detection device to which the output (video signal) of the defect detection television camera is supplied processes the video signal and determines whether or not there is a defect on the inspection surface. When it is determined that there is a defect, a defect detection signal is sent to the frame memory.

一方、以上のような欠点検出と並行してフレームメモリ
には、上記カメラからの映像信号が次々に書き込まれる
。この書き込みは被検材の移動速度と同期して実施され
る。このような書き込みによって被検材の移動方向に所
定面積を占める検査面領域に相当する分の映像信号がフ
レームメモリに蓄積される。このフレームメモリに蓄積
された1画面分の画像情報は、上記映像信号の書き込み
のたびにスクローリングされる。
On the other hand, in parallel with the defect detection as described above, video signals from the camera are sequentially written into the frame memory. This writing is performed in synchronization with the moving speed of the test material. By such writing, video signals corresponding to an area of the inspection surface occupying a predetermined area in the moving direction of the inspected material are stored in the frame memory. The image information for one screen stored in this frame memory is scrolled every time the video signal is written.

既述の欠点検出に基づいて欠点検出信号がフレームメモ
リに入力されると、その時点から所定のの画像情報は静
止される。以上の時間遅れにより欠点を含んだ画像情報
フレームメモリに蓄積される。そして、このようにして
欠点を含んでフレームメモリに蓄えられた1画面分の静
止画像情報を、テレビモニターに静止画として表示する
When a defect detection signal is input to the frame memory based on the above-described defect detection, predetermined image information is frozen from that point on. Due to the above time delay, defective image information is stored in the frame memory. The still image information for one screen thus stored in the frame memory, including the defects, is displayed as a still image on the television monitor.

すなわち、以上のようにして移動される被検材の検査面
の欠点の自動検出するための情報と、検出された欠点を
含んた所定領域の静止画をテレビモニターに表示するた
めの情報とを、同し照明、同じ欠点検出用テレビカメラ
の映像信号を用いて得るから、自動的に検出した欠点を
確実に静止画にして見ることができる。そして、検出さ
れた欠点のモニタリングにより、その欠点がどのような
種類や形状であるのかを知ることかできる。
That is, information for automatically detecting defects on the inspection surface of the specimen being moved as described above, and information for displaying a still image of a predetermined area including the detected defects on a television monitor. Since the images are obtained using the same lighting and the same video signal from the same defect detection television camera, it is possible to reliably view the automatically detected defects as still images. By monitoring the detected defects, the type and shape of the defects can be known.

[実施例] 以下、本発明の一実施例を図面を参照して説明する。[Example] Hereinafter, one embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.

第1図中31は例えばグラビア印判装置等により印刷さ
れた枚葉または連続した長い被検材としての印刷物であ
り、これは同第1図が描かれた紙面を表裏方向に移動さ
れる。第1図中1は例えば4台の欠点検出用テレビカメ
ラ2を備えたカメラユニットであり、これは、印刷物3
1に対して任意に定められる検査位置に、印刷物31の
検査面としての印刷面と対向して配置されている。
Reference numeral 31 in FIG. 1 denotes a printed sheet or continuous long object material printed by, for example, a gravure stamping device, which is moved from front to back on the paper surface on which FIG. 1 is drawn. Reference numeral 1 in FIG. 1 is a camera unit equipped with, for example, four television cameras 2 for detecting defects.
It is placed at an arbitrarily determined inspection position with respect to 1, facing the printed surface of the printed material 31 as the inspection surface.

上記検査位置には、印刷物31の表面(印刷面)と対向
する第1照明装置32と、印刷物31の裏面と対向する
第2照明装置33とが配置されている。これら照明装置
32.33は欠点を強調するために用いられ、印刷物1
の材質によっていずれか一方または双方が同時使用され
て、上記カメラユニット1の視野を照明する。
At the inspection position, a first lighting device 32 facing the front surface (printing surface) of the printed material 31 and a second lighting device 33 facing the back surface of the printed material 31 are arranged. These lighting devices 32,33 are used to highlight imperfections and are
Depending on the material, one or both may be used simultaneously to illuminate the field of view of the camera unit 1.

第1図中34は移動される印刷物31の縁部に接して転
接するように設けられたパルスジェネレータであり、こ
れは印刷物31の移動情報を検出する。
Reference numeral 34 in FIG. 1 is a pulse generator provided so as to be in contact with the edge of the printed material 31 being moved, and this pulse generator detects movement information of the printed material 31.

各欠点検出用テレビカメラ2は印Gll物31の幅方向
(移動方向と直交する方向)に沿って並べられていると
ともに、各カメラ2にはCCDリニアアレーイメージセ
ンサを受光部としたものが使用されている。これら各テ
レビカメラ2によって印刷物31の幅方向全体にわたる
印刷面の走査かできる。各テレビカメラ2から出力され
る映像信号は、第1図に示した欠点検出装置5によって
パターンマツチング処理され、それにより欠点の有無が
判定される。
Each defect detection TV camera 2 is arranged along the width direction (direction perpendicular to the moving direction) of the marking object 31, and each camera 2 uses a CCD linear array image sensor as a light receiving part. has been done. Each of these television cameras 2 can scan the entire print surface of the printed matter 31 in the width direction. The video signal output from each television camera 2 is subjected to pattern matching processing by the defect detection device 5 shown in FIG. 1, thereby determining the presence or absence of a defect.

欠点検出装置5は各テレビカメラ2ごとに個別に対応し
て設けられており、AGC装置6、増幅器7、輪郭抽出
回路8、第1欠点認識部9、第1欠点判定回路10、第
2欠点認識部11、第2欠点判定回路12を備えて形成
されている。次に、これらについて説明する。
The defect detection device 5 is provided individually for each television camera 2, and includes an AGC device 6, an amplifier 7, a contour extraction circuit 8, a first defect recognition section 9, a first defect determination circuit 10, and a second defect detection device. It is formed to include a recognition section 11 and a second defect determination circuit 12. Next, these will be explained.

AGC装置6は、上記テレビカメラ2の出力端に接続し
て設けられたもので、欠点検出装置5全体の利得変動に
対して、送信出力の一定化を図るために使用されている
。増幅器7はAGC装置6の出力端に接続され、この装
置6を通ったテレビカメラ2からの映像信号を増幅する
ために使用されている。
The AGC device 6 is connected to the output end of the television camera 2, and is used to stabilize the transmission output against gain fluctuations of the defect detection device 5 as a whole. An amplifier 7 is connected to the output end of the AGC device 6 and is used to amplify the video signal from the television camera 2 that has passed through this device 6.

輪郭抽出手段としての輪郭抽出回路8は増幅器7の出力
端に接続されている。この回路8は微分回路からなり、
テレビカメラ2から出力される信号の全てを取込んで、
この信号の変化を強調し、それにより画像の輪郭パター
ンを抽出する。
A contour extraction circuit 8 serving as contour extraction means is connected to the output terminal of the amplifier 7. This circuit 8 consists of a differential circuit,
Capturing all the signals output from TV camera 2,
Changes in this signal are emphasized to extract the contour pattern of the image.

第1欠点認1部9は、パターン拡大処理手段としての第
1パターン拡大処理回路15、第1記憶手段としての第
1マスクパターンメモリ16、およびパターンマツチン
グ手段としての第1パターンマツチング回路17とから
形成されている。
The first defect detection section 9 includes a first pattern enlargement processing circuit 15 as a pattern enlargement processing means, a first mask pattern memory 16 as a first storage means, and a first pattern matching circuit 17 as a pattern matching means. It is formed from.

第1パターン拡大処理回路15は輪郭抽出回路17の出
力端に接続して設けられている。この回路15は、印判
物31の印刷のばらつきおよび送り精度に基づく誤差を
許容するために、上記輪郭に係る信号を縦方向および横
方向に拡大処理するための回路であって、その拡大寸法
により所期のばらつきや印刷物31の送り精度に基づく
多少の誤差を許容できる。この拡大寸法は所期設定時に
指定される。そして、この回路15により、上記輪郭パ
ターンにパターン拡大処理が施されて被検査パターンが
形成される。
The first pattern enlargement processing circuit 15 is connected to the output end of the contour extraction circuit 17. This circuit 15 is a circuit for enlarging the signal related to the outline in the vertical and horizontal directions in order to allow for variations in printing of the stamp object 31 and errors due to feeding accuracy. Some errors based on expected variations and feeding accuracy of the printed matter 31 can be tolerated. This enlarged dimension is specified during initial setup. Then, this circuit 15 performs pattern enlargement processing on the outline pattern to form a pattern to be inspected.

第1マスクパターンメモリ16は輪郭抽出回路8の出力
端に接続して設けられている。このメモリ16は書込み
および読み出しができるものであって、これには、目視
または他の適当な検査により良品と判断された印刷物に
ついて上記輪郭抽出回路8が抽出したマスク輪郭パター
ンが収納される。そして、上記メモリ16はそれに収納
されたマスク輪郭パターンを、同種の印刷物31につい
ての検査をしている間は、変更されないように保持する
ものである。
The first mask pattern memory 16 is connected to the output end of the contour extraction circuit 8. This memory 16 is capable of being written to and read from, and stores mask contour patterns extracted by the contour extraction circuit 8 from printed matter determined to be good by visual inspection or other appropriate inspection. The memory 16 retains the mask outline pattern stored therein so as not to be changed while the same type of printed matter 31 is being inspected.

第1パターンマツチング回路17は、第1パターン拡大
処理回路15の出力端と第1マスクパターンメモリ16
の出力端に夫々接続して設けられている。このマツチン
グ回路17は、第1マスクパターンメモリ16から読み
出された上記マスク輪郭パターンに対して、第1パター
ン拡大処理回路15で得た被検査パターンとを比較照合
して、これらのパターンが一致しているかどうかを比較
するものである。
The first pattern matching circuit 17 connects the output terminal of the first pattern enlargement processing circuit 15 and the first mask pattern memory 16.
are connected to the output ends of the respective output terminals. This matching circuit 17 compares and matches the mask outline pattern read out from the first mask pattern memory 16 with the pattern to be inspected obtained by the first pattern enlargement processing circuit 15, and matches these patterns. This is a comparison to see if they match.

上記第1欠点判定回路10は第1パターンマツチング回
路17の出力端に接続して設けられている。この回路1
1は、上記第1欠点認識部って認志した欠点情報に係る
サイズを見極めて、それが欠は性の欠点であるかどうか
を判定するものである。なお、ここに欠は性の欠点とは
、印判の一部が欠落していたり、掠れている欠点を指す
。この欠点の判定基準サイズは初期設定時において上記
判定回路10に指定される。
The first defect determination circuit 10 is connected to the output terminal of the first pattern matching circuit 17. This circuit 1
1, the first defect recognition section ascertains the size of the recognized defect information and determines whether or not it is a sexual defect. Furthermore, here, the term ``missing defect'' refers to a defect in which a part of the seal is missing or is blurred. The criterion size for determining this defect is designated to the determination circuit 10 at the time of initial setting.

上記第2欠点認識部11は、パターン拡大処理手段とし
ての第2パターン拡大処理回路21、第2記憶手段とし
ての第2マスクパターンメモリ22、および第2パター
ンマツチング手段としての第2パターンマツチング回路
23とから形成されている。
The second defect recognition unit 11 includes a second pattern enlargement processing circuit 21 as a pattern enlargement processing means, a second mask pattern memory 22 as a second storage means, and a second pattern matching circuit as a second pattern matching means. It is formed from the circuit 23.

第2パターン拡大処理回路21は輪郭抽出回路8の出力
端に接続して設けられている。この回路21は、上記第
1パターン拡大処理回路15と同シW4成であって、上
記輪郭パターンにパターン拡大処理を施してマスク拡大
パターンを形成するものである。
The second pattern enlargement processing circuit 21 is connected to the output end of the contour extraction circuit 8. This circuit 21 has the same W4 configuration as the first pattern enlargement processing circuit 15, and performs pattern enlargement processing on the outline pattern to form a mask enlargement pattern.

第2マスクパターンメモリ22は第2パターン拡大処理
回路21の出力端に接続して設けられている。このメモ
リ22も書込みおよび読み出しができるものであって、
これには、目視または他の適当な検査により良品と判断
された印刷物の印刷について上記処理回路21で処理さ
れた上記マスク拡大パターンが収納される。このメモリ
22に収納されたマスク拡大パターンも、同種の印刷物
についての検査をしている間は、変更されないように保
持される。
The second mask pattern memory 22 is connected to the output end of the second pattern enlargement processing circuit 21. This memory 22 is also capable of writing and reading,
This stores the mask enlarged pattern processed by the processing circuit 21 for printed matter that is determined to be good by visual inspection or other appropriate inspection. The enlarged mask pattern stored in the memory 22 is also held unchanged while the same type of printed matter is being inspected.

第2パターンマツチング回路23は、輪郭抽出回路8の
出力端と第2マスクパターンメモリ22の出力端に夫々
接続して設けられている。このマツチング回路23は、
第2マスクパターンメモリ22から読み出された上記マ
スク拡大パターンと、輪郭抽出回路8て得た印刷物31
の印判に係る輪郭パターンとを比較照合して、これらの
パターンか一致しているかどうかを比較するものである
The second pattern matching circuit 23 is connected to the output end of the contour extraction circuit 8 and the output end of the second mask pattern memory 22, respectively. This matching circuit 23 is
The mask enlarged pattern read from the second mask pattern memory 22 and the printed matter 31 obtained by the contour extraction circuit 8
This method compares and matches the outline patterns of the stamps to determine whether these patterns match.

上記第2欠点判定回路12は第2パターンマツチング回
路23の出力端に接続して設けられている。この回路2
3は、上記第2欠点認識部11て認識した欠点情報に係
るサイズを見極めて、それが飛び性の欠点であるかどう
かを判定するものである。なお、ここに飛び性の欠点と
は、飛び散ったインクや汚れ、異物などが所定の印刷箇
所以外の場所に付着してできた欠点を指す。この欠点の
判定基準サイズは初期設定時において上記判定回路12
に指定される。
The second defect determination circuit 12 is connected to the output terminal of the second pattern matching circuit 23. This circuit 2
3 determines the size of the defect information recognized by the second defect recognition unit 11 and determines whether it is a flying defect or not. Note that the term "flying defects" here refers to defects caused by scattered ink, dirt, foreign matter, etc. adhering to areas other than predetermined printing areas. The determination standard size for this defect is determined by the determination circuit 12 at the time of initial setting.
specified.

以上の構成の欠点検出装置5の各マスクパターンメモリ
16.22、および各欠点判定回路10゜12には、上
記パルスジェネレータ34からのパルス出力が夫々供給
され、この出力を受けて欠点検出装置5は印刷物31の
移動速度に同期して動作されるようになっている。
The pulse output from the pulse generator 34 is supplied to each mask pattern memory 16, 22 and each defect determination circuit 10, 12 of the defect detection device 5 having the above configuration, and in response to this output, the defect detection device 5 is operated in synchronization with the moving speed of the printed matter 31.

また、第1図中41は欠点検出装置5と並列に上記テレ
ビカメラ2からの映像信号を処理する画像形成手段であ
る。この手段41は、A/D変換器42と、フレームメ
モリ43と、CPU44と、D/A変換器45とを備え
ている。この画像形成手段41は、上記パルスジェネレ
ータ34のパルス出力を受けることによって、印刷物3
1の移動速度に同期して、上記映像信号から画像を形成
するものである。
Further, numeral 41 in FIG. 1 is an image forming means that processes the video signal from the television camera 2 in parallel with the defect detection device 5. This means 41 includes an A/D converter 42, a frame memory 43, a CPU 44, and a D/A converter 45. This image forming means 41 receives the pulse output from the pulse generator 34 to form a printed matter 3.
An image is formed from the video signal in synchronization with the moving speed of 1.

A/D変換器41は上記増幅器7の出力端に接続されて
おり、この変換器41にはフレームメモリ43が接続さ
れている。このメモリ43は上記映像情報を記録して1
画面分の画像情報を蓄積するものである。すなわち、フ
レームメモリ43は、パルスジェネレータ34からのパ
ルス出力をトリガー信号として動作し、このトリガー信
号が入力するたびに、次々にメモリアドレスを移しなが
ら上記テレビカメラ2の1走査に係わる映像信号を書き
込んで、印刷物31の移動方向に沿う所定領域について
の上記映像信号を蓄積する。そして、1画面相当分のモ
ノクロームの画像情報が記憶された後には、最初のメモ
リアドレスに位置する記憶素子に対し、上記テレビカメ
ラ2の1走査に係わる映像信号を再び記憶する書き込み
動作を実行し、いわゆるスクロール記録をする構成であ
る。
An A/D converter 41 is connected to the output terminal of the amplifier 7, and a frame memory 43 is connected to the converter 41. This memory 43 records the above video information and
It stores image information for a screen. That is, the frame memory 43 operates using the pulse output from the pulse generator 34 as a trigger signal, and each time this trigger signal is input, the frame memory 43 writes the video signal related to one scan of the television camera 2 while moving memory addresses one after another. Then, the video signals for a predetermined area along the moving direction of the printed matter 31 are accumulated. After the monochrome image information equivalent to one screen is stored, a write operation is performed to again store the video signal related to one scan of the television camera 2 in the storage element located at the first memory address. This is a configuration that performs so-called scroll recording.

このフレームメモリ43と上記各欠点判定回路10.1
2とは接続されており、欠点検出回路10.12から出
力された欠点検出信号がフレームメモリ43に供給され
ると、このメモリ43は上記欠点検出信号の入力時点か
ら所定の遅れを持って書き込み動作を停止するように構
成されている。なお、A/D変換器42およびフレーム
メモリ43は、各テレビカメラ2ごとに個別に対応して
設けられている。
This frame memory 43 and each of the above defect determination circuits 10.1
When the defect detection signal output from the defect detection circuit 10.12 is supplied to the frame memory 43, this memory 43 writes data with a predetermined delay from the input point of the defect detection signal. Configured to stop working. Note that the A/D converter 42 and the frame memory 43 are provided individually for each television camera 2.

上記書き込み停止の制御は、フレームメモリ43の夫々
が接続されたCPU (中央演算装置)44によってな
される。CPU44は、表示バッファメモリを有してい
るとともに、上記書き込み停止時点で上記フレームメモ
リ43に蓄積されている画像情報を、このメモリ43か
ら転送して上記表示バッファメモリに格納する構成であ
る。しかも、各テレビカメラ2の夫々視野には同時に欠
点が別々に含まれる場合があるので、CPU44は欠点
検出装置5からの欠点検出信号を受けるタイミングを判
定して、最も早いタイミングで欠点検出信号を受けたフ
レームメモリ43の画像情報を、表示バッファメモリに
転送するようになっている。このC、P U 44には
D/A変換器45が接続されている。
The above writing stop control is performed by a CPU (central processing unit) 44 connected to each of the frame memories 43. The CPU 44 has a display buffer memory, and is configured to transfer the image information stored in the frame memory 43 at the time of stopping the writing from this memory 43 and store it in the display buffer memory. Furthermore, since the field of view of each television camera 2 may include different defects at the same time, the CPU 44 determines the timing of receiving the defect detection signal from the defect detection device 5 and outputs the defect detection signal at the earliest timing. The received image information in the frame memory 43 is transferred to the display buffer memory. A D/A converter 45 is connected to this C, PU 44.

上記構成の画像形成手段41のD/A変換器45の出力
端にはテレビモニター46が接続されている。このモニ
ター46は上記表示バッフ7メモリに転送された画像情
報を表示するものである。この画像表示は欠点をモニタ
ー画面の中央に位置させてなされる。そのために、図示
しないがCPU44に連なるシステムパスラインには、
欠点位置X座標カウンタと欠点位置Y座標カウンタとが
接続されている。欠点位置X座標カウンタは上記テレビ
カメラ2のスタート信号によりリセットし、CPU44
の基準クロックによってカウントし、また欠点位置Y座
標カウンタはパルスジェネレータ34のパルス出力によ
ってカウントするものであり、これらの両カウントの停
止は、上記欠点検出信号の入力に基づいてCPU44に
より実行される。この後、CPU44は、X、Yの座標
値を夫々読みとってメモリ空間内での欠点の位置を判定
し、それに基づいて欠点が画面の中央に表示されるよう
に表示メモリバッファへの静止画の転送を制御するもの
である。また、テレビモニター46はその画像の一部を
ズームアツプできる機能を備えており、そのズーミング
はオペレータによる欠点位置のX、Y座標の指定で実行
されるようになっている。
A television monitor 46 is connected to the output end of the D/A converter 45 of the image forming means 41 having the above configuration. This monitor 46 displays the image information transferred to the display buffer 7 memory. This image display is performed with the defect positioned at the center of the monitor screen. For this reason, although not shown, the system path line connected to the CPU 44 has
A defect position X coordinate counter and a defect position Y coordinate counter are connected. The defect position X coordinate counter is reset by the start signal of the television camera 2, and the CPU 44
The defect position Y coordinate counter counts according to the pulse output of the pulse generator 34, and both of these counts are stopped by the CPU 44 based on the input of the defect detection signal. Thereafter, the CPU 44 reads the X and Y coordinate values to determine the position of the defect in the memory space, and based on this determines the position of the defect in the display memory buffer so that the defect is displayed in the center of the screen. It controls the transfer. Further, the television monitor 46 has a function of zooming up a part of the image, and the zooming is performed by specifying the X and Y coordinates of the defect position by the operator.

上記CPU44にはブザーやチャイムなどの報知装置4
7が接続されており、これは上記転送と同時に動作され
るようになっている。
The CPU 44 has a notification device 4 such as a buzzer or a chime.
7 is connected, and is operated simultaneously with the above transfer.

次に、上記構成の欠点検査装置を用いて印刷物31の印
刷面を検査をする場合を説明する。
Next, a case will be described in which the printed surface of the printed matter 31 is inspected using the defect inspection apparatus having the above configuration.

まず、必要な初期設定操作をした後に、目視または他の
適当な検査により良品と判断された印刷を、照明装ff
132.33の少なくとも一方による照明下において欠
点検出用テレビカメラ2で撮像して、この良品(マスク
)に係る画像について輪郭抽出回路8で輪郭パターンを
抽出をした後に、抽出された輪郭パターンを第1欠点認
識部9および第2欠点認識部11の夫々に収納する。
First, after performing the necessary initial setting operations, prints that have been determined to be good by visual inspection or other appropriate inspection are placed on the illumination device.
132 or 33 with the defect detection television camera 2, and the contour extraction circuit 8 extracts the contour pattern from the image of the good product (mask). 1 defect recognition section 9 and second defect recognition section 11, respectively.

第1欠点認識部9においては、輪郭抽出回路8から出力
されたマスク画像の輪郭パターンが、マスク輪郭パター
ンとして第1マスクパターンメモリ16に収納されて、
このメモリ16に記録される。また、第2欠点認識部1
1においては、輪郭抽出回路8から出力されたマスク画
像の輪郭パターンが、第2パターン処理回路21て拡大
処理され、その結果得られたマスク拡大パターンが、第
2マスクパターンメモリ22に収納されて、このメモリ
22に記録される。
In the first defect recognition unit 9, the contour pattern of the mask image output from the contour extraction circuit 8 is stored as a mask contour pattern in the first mask pattern memory 16,
It is recorded in this memory 16. In addition, the second defect recognition unit 1
1, the contour pattern of the mask image output from the contour extraction circuit 8 is enlarged by the second pattern processing circuit 21, and the resulting mask enlarged pattern is stored in the second mask pattern memory 22. , are recorded in this memory 22.

このようなマスク画像に係るパターン設定の後に、移動
中の印刷物31の印刷面が、照明装置32.33の少な
くとも一方による照明下において次々に欠点検出用テレ
ビカメラ2の視野に送込まれて、このカメラ2て撮像さ
れる。テレビカメラ2から出力される映像信号は、すべ
てAGC装置6および増幅器7を経由して輪郭抽出回路
8を通るから、この回路8において検査されるべき輪郭
パターンか抽出され、このパターンは第1欠点認識部9
および第2欠点認識部11に夫々供給される。
After setting the pattern related to such a mask image, the printed surface of the moving printed matter 31 is sent one after another into the field of view of the defect detection television camera 2 under illumination by at least one of the illumination devices 32 and 33, An image is taken by this camera 2. The video signal output from the television camera 2 passes through the AGC device 6 and the amplifier 7 and then passes through the contour extraction circuit 8. In this circuit 8, the contour pattern to be inspected is extracted, and this pattern is identified as the first defect. Recognition part 9
and the second defect recognition unit 11, respectively.

第1欠点認識部9では、輪郭抽出回路8から出力された
検査すべき輪郭パターンを、第1パターン拡大処理回路
15て拡大処理する。その結果得られた検査すべきパタ
ーンは第1パターンマツチング回路17に供給される。
In the first defect recognition section 9, the contour pattern to be inspected outputted from the contour extraction circuit 8 is enlarged by a first pattern enlargement processing circuit 15. The resulting pattern to be inspected is supplied to a first pattern matching circuit 17.

この回路17へのパターンの入力と、第1マスクパター
ンメモリ16から第1パターンマツチング回路17への
上記マスク画像に係るマスク輪郭パターンの読み出しと
は、タイミングを一致させて実施され、それによって両
パターンの比較照合を行う。
The inputting of the pattern to this circuit 17 and the reading of the mask contour pattern related to the mask image from the first mask pattern memory 16 to the first pattern matching circuit 17 are performed at the same timing, so that both Compare and match patterns.

そうすると、検査すべきパターンが欠点を有している場
合には、拡大処理された検査すべきパターンに対して、
マスク画像に係る輪郭パターンの一部が食み出す。この
食み出し部分は欠は性の欠点情報として認識される。
Then, if the pattern to be inspected has a defect, the enlarged pattern to be inspected will be
A part of the outline pattern related to the mask image protrudes. This protruding part is recognized as information about sexual flaws.

次に、この欠点情報は第1欠点判定回路10に供給され
るから、この回路10により上記欠点情報が欠点である
かどうかの判定が下される。
Next, this defect information is supplied to the first defect determination circuit 10, so that this circuit 10 determines whether or not the defect information is a defect.

また、第2欠点認識部11に供給された上記カメラ2か
らの映像信号についての検査すべき輪郭パターンは、拡
大処理を施されることなく、そのまま第2パターンマツ
チング回路23に供給される。そして、この回路23へ
の検査すべき輪郭パターンの入力と、第2マスクパター
ンメモリ22から第2パターンマツチング回路23への
上記マスク画像に係るマスク拡大パターンの読み出しと
は、タイミングを一致させて実施され、それによって両
パターンの比較照合を行う。
Further, the contour pattern to be inspected of the video signal from the camera 2 supplied to the second defect recognition section 11 is supplied as it is to the second pattern matching circuit 23 without being subjected to enlargement processing. The input of the contour pattern to be inspected to this circuit 23 and the readout of the mask enlarged pattern related to the mask image from the second mask pattern memory 22 to the second pattern matching circuit 23 are performed at the same timing. is executed, thereby comparing and matching both patterns.

そのため、検査すべきパターンが欠点を裔している場合
には、マスク拡大パターンに対して、検査すべき輪郭パ
ターンの一部が食み出す。この食み出し部分は飛び性の
欠点情報とじてか4エされる。そして、この欠点情報は
第2欠点判定回路12に供給されるから、この回路12
により上記欠点情報が欠点であるかどうかの判定か下さ
れる。
Therefore, if the pattern to be inspected has a defect, part of the contour pattern to be inspected protrudes from the mask enlarged pattern. This protruding part is treated as 4E, including information on flight defects. Since this defect information is supplied to the second defect determination circuit 12, this circuit 12
A determination is made as to whether the above defect information is a defect.

そして、欠点であるとの判定をすると、各欠点判定回路
10.12は欠点検出信号を画像形成手段41に送り出
す。
When determining that there is a defect, each defect determination circuit 10.12 sends a defect detection signal to the image forming means 41.

一方、上記テレビカメラ2からの映像信号は、AGC装
置6および増幅器7を介して画像形成手段41にも同時
に供給されて、この手段41により、上記欠点検出装置
5の欠点検圧動作と並列に信号処理される。
On the other hand, the video signal from the television camera 2 is simultaneously supplied to the image forming means 41 via the AGC device 6 and the amplifier 7, and this means 41 performs the defect pressure detection operation of the defect detection device 5 in parallel. Signal processed.

すなわち、増幅された映像信号は、A/D変換器42で
A/D変換されてからフレームメモリ43に書き込まれ
る。このメモリ42への書キ込みは上記パルスジェネレ
ータ34からのパルス出力をトリガ信号として、この信
号が画像形成手段41に入力されるたびに次々に実行さ
れる。このような印刷物の移動速度に同期したフレーム
メモリ43へのスクロール記録により、このメモリ43
には印刷面の映像信号が移動方向に蓄積されるから、上
記映像信号がモノクローム画像に変換される。
That is, the amplified video signal is A/D converted by the A/D converter 42 and then written to the frame memory 43. This writing to the memory 42 is executed one after another each time this signal is input to the image forming means 41 using the pulse output from the pulse generator 34 as a trigger signal. By scrolling recording to the frame memory 43 in synchronization with the moving speed of the printed matter, this memory 43
Since the video signal of the printing surface is accumulated in the moving direction, the video signal is converted into a monochrome image.

そして、既述の欠点検出に基づいて欠点検出信号が画像
形成手段41に入力されると、その時点される。このよ
うな時間遅れにより欠点を含んだ映像信号がフレームメ
モリ43に記録される。そして、書き込み停止により欠
点を含んでフレームメモリ43に蓄えられた1画面分の
静止画像情報は、CPU44によりその表示バッファメ
モリに転送される。この転送された画像情報は、D/A
変換器45によりD/A変換されビデオ信号としてテレ
ビモニター46に送り出されるから、モノター46には
欠点を含んだ静止画が表示される。
Then, when a defect detection signal is input to the image forming means 41 based on the defect detection described above, it is output at that point. A video signal containing defects due to such a time delay is recorded in the frame memory 43. Then, one screen worth of still image information, including defects, stored in the frame memory 43 due to the writing stop is transferred by the CPU 44 to the display buffer memory. This transferred image information is
Since the signal is D/A converted by the converter 45 and sent to the television monitor 46 as a video signal, the monoter 46 displays a still image including defects.

また、上記転送と同時にCPU44は報知装置47を動
作させるから、検出された欠点の画像表示か報知される
Further, since the CPU 44 operates the notification device 47 at the same time as the above transfer, the image display of the detected defect is notified.

静止画としてモニター画面に表示された欠点のモニタリ
ングにより、その欠点がどのような種類であるのか等の
欠点の形状症状を知ることかできる。したがって、オペ
レータは適正な欠点回避措置を講しることができる。な
お、上記モニタリングにおいて必要により指示されるズ
ームアツプ操作により、欠点をモニター画面上で拡大表
示して詳しく見ることができる。また、上記欠点検査に
おいてオペレータは、報知装置47による報知の都度、
テレビモニター46をモニタリングすれば良いから、テ
レビモニター46を連続注視する必要かなく、作業負担
が少ない。
By monitoring the defects displayed as still images on the monitor screen, it is possible to know the shape and symptoms of the defects, such as the type of the defect. Therefore, the operator can take appropriate measures to avoid the defects. It should be noted that by performing a zoom-up operation instructed as necessary during the above-mentioned monitoring, defects can be enlarged and displayed on the monitor screen for detailed viewing. In addition, in the above defect inspection, the operator, each time the notification device 47 makes a notification,
Since it is only necessary to monitor the television monitor 46, there is no need to continuously watch the television monitor 46, which reduces the workload.

そして、既述のように移動される印刷物31のと 印刷面の欠点中自動検出するための情報と、検出された
欠点を含んだ所定領域の静止画をテレビモニター46に
表示するための情報とを、同じ照明、同じ欠点検出用テ
レビカメラ(したがってセンサーの解像度が同し)2の
映像信号を用いて得るから、欠点とその静止画像との整
合性を確保できる。
Information for automatically detecting defects on the print surface of the printed matter 31 being moved as described above, and information for displaying a still image of a predetermined area including the detected defects on the television monitor 46. are obtained using the same illumination and the same video signal from the same defect detection television camera (therefore, the resolution of the sensor is the same) 2, so consistency between the defect and its still image can be ensured.

したがって、自動的に検出した欠点を確実に静止画にし
て見ることができる。
Therefore, automatically detected defects can be reliably viewed as still images.

なお、欠点検出のための照明装置32.33は欠点を極
力強調するために使用されるが、その照明が多少でも異
なると欠点の強調が困難となって欠点の検出ができなく
なることがあるとともに、欠点を画像表示する場合にお
いても欠点を極力強調しないと、画像に欠点が表示され
ないことは知られている。そのため、欠点検出と画像表
示とに照明装置が共用されていない場合には、欠点検出
装置で検出した欠点か画像上に鮮明に表示されないこと
かある。また、照明装置が共用されている場合であって
も、欠点検出用カメラと画像取込み用カメラとか別々で
あって、それらのセンサー解像度が異なる場合にも、同
様に欠点が画像上に鮮明に表示されないことがある。し
かし、この検出装置は以上のように欠点とその静止画と
の整合性が確保されているから、以上のような問題を生
しることなく、検出した欠点を必ずテレビモニター46
に静止して表示できる。
Note that the illumination devices 32 and 33 for detecting defects are used to emphasize defects as much as possible, but if the illumination is even slightly different, it may become difficult to emphasize the defects and it may become impossible to detect the defects. It is known that even when displaying defects in images, the defects will not be displayed in the image unless the defects are emphasized as much as possible. Therefore, if a lighting device is not shared for defect detection and image display, the defects detected by the defect detection device may not be clearly displayed on the image. In addition, even if the lighting device is shared, the defect detection camera and the image capture camera are separate and their sensor resolutions are different, the defects will be clearly displayed on the image as well. It may not be done. However, since this detection device ensures consistency between the defect and its still image as described above, the detected defect is always displayed on the TV monitor 46 without causing the above problem.
It can be displayed stationary.

[発明の効果〕 以上説明したように構成された本発明の欠点検査方法に
よれば、移動中の被検材についての欠点を自動的に検出
てきるたけてはなく、検出の都度その欠点を確実に静止
画にして、検出された欠点の形状症状を知るモニタリン
グができるから、上記被検材についての欠点検査の信頼
性と効率を向上できる。
[Effects of the Invention] According to the defect inspection method of the present invention configured as described above, it is not possible to automatically detect defects in moving specimens, but to detect the defects each time they are detected. Since it is possible to reliably monitor the shape and symptoms of detected defects using still images, it is possible to improve the reliability and efficiency of defect inspection for the above-mentioned materials.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明方法を実施する欠点検査装置の構成を説
明するための図である。 2・・欠点検出用テレビカメラ、5・欠点検出装置、3
1 印刷物(被検材)、32.33・・照明装置、41
・画像形成手段、43・フレームメモリ、46・・テレ
ビモニター 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦
FIG. 1 is a diagram for explaining the configuration of a defect inspection device that implements the method of the present invention. 2. Television camera for defect detection, 5. Defect detection device, 3
1 Printed matter (test material), 32.33...Lighting device, 41
・Image forming means, 43・Frame memory, 46...Takehiko Suzue, patent attorney and representative for TV monitor applicant

Claims (1)

【特許請求の範囲】 移動される被検材を検査位置で照明し、この照明下にお
いて上記被検材をその幅方向全体にわたってリニアアレ
ーイメージセンサを受光部とした欠点検出用テレビカメ
ラで撮像し、 このテレビカメラからの映像信号を上記被検材の移動速
度と同期してフレームメモリにスクロール記録し、 この記録と並列に上記テレビカメラからの映像信号を処
理して上記被検材の欠点の有無を判定し、この欠点判定
により欠点が検出されるたびに欠点検出信号を上記フレ
ームメモリに与えて、欠点の検出時点から所定の遅れを
持たせて上記フレームメモリへの書き込みを停止させる
とともに、この時点で上記フレームメモリに蓄積されて
いる欠点を含む画像情報を、テレビモニターに静止画表
示することを特徴とする欠点検査方法。
[Claims] A moving object to be inspected is illuminated at an inspection position, and under this illumination, an image of the object to be inspected is imaged over the entire width thereof with a defect detection television camera having a linear array image sensor as a light receiving section. , The video signal from this TV camera is scroll-recorded in the frame memory in synchronization with the moving speed of the material to be inspected, and in parallel with this recording, the video signal from the TV camera is processed to identify the defects of the material to be inspected. Determining the presence or absence of the defect, and providing a defect detection signal to the frame memory each time a defect is detected by this defect determination, and stopping writing to the frame memory with a predetermined delay from the time of detection of the defect, A defect inspection method characterized in that image information including defects stored in the frame memory at this point is displayed as a still image on a television monitor.
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPH06201611A (en) * 1993-01-08 1994-07-22 Datsuku Eng Kk Method for detecting defect of sheetlike printed matter
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