JPH04165057A - マスク材の検出方法 - Google Patents
マスク材の検出方法Info
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- JPH04165057A JPH04165057A JP2288589A JP28858990A JPH04165057A JP H04165057 A JPH04165057 A JP H04165057A JP 2288589 A JP2288589 A JP 2288589A JP 28858990 A JP28858990 A JP 28858990A JP H04165057 A JPH04165057 A JP H04165057A
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Landscapes
- Geophysics And Detection Of Objects (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、鍍金による表面処理に際して施工されるマス
ク材の残存の有無を確認するためのマスク材の検出方法
に関する。
ク材の残存の有無を確認するためのマスク材の検出方法
に関する。
従来の鍍金表面処理において、非表面処理部と表面処理
部の境界確認および表面処理部のマスク材残存有無の確
認は、第２図に示すように拡大鏡０１ （５〜２０倍に
拡大できるレンズを有したもので、例えばルーパ、虫め
がね等）を使用して丹念に目視にて実施していた。
部の境界確認および表面処理部のマスク材残存有無の確
認は、第２図に示すように拡大鏡０１ （５〜２０倍に
拡大できるレンズを有したもので、例えばルーパ、虫め
がね等）を使用して丹念に目視にて実施していた。
従来の方法においては、拡大鏡を通して人間の目（目視
）でマスク材の残存有無を確認しているため、個人差が
あり確認の信輔性が低く、表面処理品質にも悪影響を及
ぼしていた。又拡大鏡での確認時間も長くかかっていた
。
）でマスク材の残存有無を確認しているため、個人差が
あり確認の信輔性が低く、表面処理品質にも悪影響を及
ぼしていた。又拡大鏡での確認時間も長くかかっていた
。
本発明は、上記課題を解決するため、マスク材残存有無
の確認可能な方法を提供しようとするものである。
の確認可能な方法を提供しようとするものである。
（課題を解決するための手段）
本発明のマスク材の検出方法は、表面に鍍金表面処理を
施す表面処理施行部とマスク材が設けられた非処理部を
有する被表面処理部品に波長３３０〜３９０ｎｎ＋の紫
外線を照射し、マスク材が発光する蛍光より表面処理施
行部におけるマスク材の有無を検出することを特徴とし
ている。
施す表面処理施行部とマスク材が設けられた非処理部を
有する被表面処理部品に波長３３０〜３９０ｎｎ＋の紫
外線を照射し、マスク材が発光する蛍光より表面処理施
行部におけるマスク材の有無を検出することを特徴とし
ている。
上記において、一部にマスク材が設けられた被表面処理
部品に光を照射した場合、波長が３９０ｎｍ以上の可視
光線の場合には、マスク材が施された部分と他の部分の
コントラストが不鮮明でマスク材の存在の確認を精度よ
く行うことができず、また、波長３３０ｎｍ未溝の短波
長紫外線では、人間の目に有害である。
部品に光を照射した場合、波長が３９０ｎｍ以上の可視
光線の場合には、マスク材が施された部分と他の部分の
コントラストが不鮮明でマスク材の存在の確認を精度よ
く行うことができず、また、波長３３０ｎｍ未溝の短波
長紫外線では、人間の目に有害である。
これに対して、波長が３３０〜３９０ｎｍの紫外線を用
いた場合には、人間の目に無害でありマスク材の有無も
確実に検出できるため、本発明においては、波長３３０
〜３９０ｎｍの紫外線を用いマスク材の有無を確認する
ものとしている。
いた場合には、人間の目に無害でありマスク材の有無も
確実に検出できるため、本発明においては、波長３３０
〜３９０ｎｍの紫外線を用いマスク材の有無を確認する
ものとしている。
上記により、残存マスク材の容易な検出が可能となるた
め、被表面処理部品の表面処理施行部の清浄度向上が可
能となり、良好な表面処理品質の確保が可能となる。
め、被表面処理部品の表面処理施行部の清浄度向上が可
能となり、良好な表面処理品質の確保が可能となる。
本発明に係る平板上への格子縞模様に表面処理する場合
の一実施例を第１図に示す。
の一実施例を第１図に示す。
第１図に示す本実施例は、表面処理施行部２と、 ワッ
クス系のマスク材４が施された非処理部３を表面に有す
る被表面処理部品１の表面の残存するマスク材の検出方
法において、上記被表面処理部品１の表面に紫外線発生
装置６により波長３３０〜３９０ｎｍの紫外線７を照射
し、照射された紫外線７によりマスク材４が発する蛍光
より残存マスク材５を検出している。
クス系のマスク材４が施された非処理部３を表面に有す
る被表面処理部品１の表面の残存するマスク材の検出方
法において、上記被表面処理部品１の表面に紫外線発生
装置６により波長３３０〜３９０ｎｍの紫外線７を照射
し、照射された紫外線７によりマスク材４が発する蛍光
より残存マスク材５を検出している。
上記において、被表面処理部品１の表面に紫外線発生装
置６より光を照射する場合、波長が３９０ｎｍを超える
可視光線の場合にはマスク材が施された部分と他の部分
とのコントラストが不鮮明となり残存マスク材５の確認
精度が劣る。また、波長３３０ｎｍ未満の短波長紫外線
では、人間の目に有害である。
置６より光を照射する場合、波長が３９０ｎｍを超える
可視光線の場合にはマスク材が施された部分と他の部分
とのコントラストが不鮮明となり残存マスク材５の確認
精度が劣る。また、波長３３０ｎｍ未満の短波長紫外線
では、人間の目に有害である。
これに対して、波長が３３０〜３９０ｎｍの紫外線を用
いた場合には、人間の目に無害であり、非処理部３のマ
スク材４と残存マスク材５が蛍光発光し明瞭に確認する
ことができる。
いた場合には、人間の目に無害であり、非処理部３のマ
スク材４と残存マスク材５が蛍光発光し明瞭に確認する
ことができる。
そこで、本実施例においては、確認精度と安全面より波
長３３０〜３９０ｎｍの紫外線７を照射して蛍光発光の
有無により残存マスク材５の有無を識別する。
長３３０〜３９０ｎｍの紫外線７を照射して蛍光発光の
有無により残存マスク材５の有無を識別する。
なお、マスク作業時における不要マスク材の除去につい
ては、母材より軟質の金属製ナイフ又はプラスチック製
ナイフにより不要部を削り取り、アルカリ性脱脂液で拭
いた後、上記紫外線を照射してマスク材の残存状況を確
認し、残存マスク材５があれば上記作業を繰返して仕上
げるものである。また、表面処理作業完了後は、約９０
″Ｃ以上の沸とう水によりマスク材を溶がし落すが、あ
るいは、有機溶剤系脱脂剤を用い蒸気脱脂により溶かし
落す。
ては、母材より軟質の金属製ナイフ又はプラスチック製
ナイフにより不要部を削り取り、アルカリ性脱脂液で拭
いた後、上記紫外線を照射してマスク材の残存状況を確
認し、残存マスク材５があれば上記作業を繰返して仕上
げるものである。また、表面処理作業完了後は、約９０
″Ｃ以上の沸とう水によりマスク材を溶がし落すが、あ
るいは、有機溶剤系脱脂剤を用い蒸気脱脂により溶かし
落す。
上記により、残存マスク材の容易な検出が可能とな、っ
たため、被表面処理部品の表面処理施行部の清浄度向上
が可能となり、良好な表面処理品質の確保が可能となっ
た。
たため、被表面処理部品の表面処理施行部の清浄度向上
が可能となり、良好な表面処理品質の確保が可能となっ
た。
なお、上記マスク材はミシガンクローム＆ケミカル社（
米国）製のマイクロワックス又はカンニング社（米国）
製のクロヮン力ワックスを用いている。
米国）製のマイクロワックス又はカンニング社（米国）
製のクロヮン力ワックスを用いている。
本発明のマスク材の検出方法は、表面の非処理部にマス
ク材が設けられた被表面処理部品に波長３３０〜３９０
ｎｍの紫外線を照射することによって、表面処理施行部
に残存するマスク材の容易な検出が可能となるため、表
面処理施行部の清浄度向上が可能となり良好な表面処理
品質の確保が可能となる。
ク材が設けられた被表面処理部品に波長３３０〜３９０
ｎｍの紫外線を照射することによって、表面処理施行部
に残存するマスク材の容易な検出が可能となるため、表
面処理施行部の清浄度向上が可能となり良好な表面処理
品質の確保が可能となる。
第１図は本発明の一実施例の説明図、第２図は従来の方
法の説明図である。 １・・・被表面処理部品、 ２・・・表面処理施行部、
３・・・非処理部、 ４・・・マスク材、５・・・残存
マスク材、 ６・・・紫外線発生器、７・・・紫外線。 代理人 弁理士 坂 間 暁 外２名月１図 １核承顧だ埋団■ ８２国
法の説明図である。 １・・・被表面処理部品、 ２・・・表面処理施行部、
３・・・非処理部、 ４・・・マスク材、５・・・残存
マスク材、 ６・・・紫外線発生器、７・・・紫外線。 代理人 弁理士 坂 間 暁 外２名月１図 １核承顧だ埋団■ ８２国
Claims (1)
- 表面に鍍金表面処理を施す表面処理施行部とマスク材
が設けられた非処理部を有する被表面処理部品に波長３
３０〜３９０ｎｍの紫外線を照射し、マスク材が発光す
る蛍光より表面処理施行部におけるマスク材の有無を検
出することを特徴とするマスク材の検出方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2288589A JPH04165057A (ja) | 1990-10-29 | 1990-10-29 | マスク材の検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2288589A JPH04165057A (ja) | 1990-10-29 | 1990-10-29 | マスク材の検出方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04165057A true JPH04165057A (ja) | 1992-06-10 |
Family
ID=17732215
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2288589A Pending JPH04165057A (ja) | 1990-10-29 | 1990-10-29 | マスク材の検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04165057A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5773790A (en) * | 1997-01-21 | 1998-06-30 | General Electric Company | Beam blocking material and method for beam drilling and inspecting cooling holes |
| WO2013011824A1 (ja) * | 2011-07-20 | 2013-01-24 | 新日鐵住金株式会社 | パネル |
| CN104638054A (zh) * | 2013-11-12 | 2015-05-20 | 浙江鸿禧能源股份有限公司 | 一种改善选择性发射极太阳能电池片喷蜡断线的方法 |
-
1990
- 1990-10-29 JP JP2288589A patent/JPH04165057A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5773790A (en) * | 1997-01-21 | 1998-06-30 | General Electric Company | Beam blocking material and method for beam drilling and inspecting cooling holes |
| WO2013011824A1 (ja) * | 2011-07-20 | 2013-01-24 | 新日鐵住金株式会社 | パネル |
| JP5454706B2 (ja) * | 2011-07-20 | 2014-03-26 | 新日鐵住金株式会社 | パネル |
| CN104638054A (zh) * | 2013-11-12 | 2015-05-20 | 浙江鸿禧能源股份有限公司 | 一种改善选择性发射极太阳能电池片喷蜡断线的方法 |
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