JPH04158266A - 光応用直流電流変成器 - Google Patents

光応用直流電流変成器

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JPH04158266A
JPH04158266A JP2284083A JP28408390A JPH04158266A JP H04158266 A JPH04158266 A JP H04158266A JP 2284083 A JP2284083 A JP 2284083A JP 28408390 A JP28408390 A JP 28408390A JP H04158266 A JPH04158266 A JP H04158266A
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勝 檜垣
Genji Takahashi
高橋 源治
Etsunori Mori
森 悦紀
Eizo Kita
北 英三
Satoshi Kuzusaka
葛坂 聡
Makoto Shimizu
誠 清水
Hiroto Nakagawa
博人 中川
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は電力用変成器に係り、特に直流電流分を有する
電流を測定するのに好適な光応用直流電流変成器に関す
る。
〔従来の技術〕
近年、オプトエレクトロニクスの進展により、例えば光
学的な手法により電界あるいは電圧や、磁界あるいは電
流が測定できるようになってきた。
このような光学的手法による電圧、電流の測定原理や構
成システムなどについては、久間和生、布下正宏著「光
ファイバセンサ」 (情報調査会発行。
昭和61年1月)110頁から117頁に記載されてい
るが、これらは主として交流電流を測定することを対象
としている。
直流電流の測定原理の一つについては上記文献の238
頁から239頁に記載されており、センサから出た光信
号を二つの直交する偏光成分、すなわちP偏光成分とS
偏光成分とに分け、それらの差をそれらの和で除算する
方法である。しかし、このような方法では、光源の出力
変動や、光信号伝送路での光量変動があると、それがそ
のまま測定誤差として入ってくることになり、精度の良
い直流電流の測定はできないという問題がある。
このため、光源、センサ部、光信号伝送路などでの光量
変動を何らかの手段で補正し、直流電流を測定する方法
がこれまでにもいくつか提案されている。例えば、特開
昭59−190668号公報に記載のごとく、異なる波
長の二つの光波を用い、第1の波長の光波は電流センサ
の光入射端に配した偏光子で直線偏光となり、第2の波
長の光波はこの偏光子をそのまま通過し、センサの光出
射端の検光子では第1の波長の光波は偏光を受け、第2
の波長の光波はそのまま通過させる構成のものが提案さ
れている。
この場合には、センサで受けたファラデイ回転角をΔφ
とすると、直線偏光された第1の波長の光波の検光子か
らの出力信号はsin”Δφに比例することになり、Δ
φと出力信号との間の直線性の領域が狭く、測定できる
直流電流範囲が狭いという問題と、電流の極性が正なの
か負なのかが判らないという問題がある。
Δφと出力信号との直線性を良くし、正極性から負極性
まで測定できるようにするため、前記文献にも記載ある
ごとく、偏光子を光軸に対し相対的に45°傾ける方法
がよくとられる。しかし、この場合には、直線偏光され
た光信号の検光子からの出力信号は Jo・ (l+5in2Δφ) であり、直線偏光を受けない光信号の出力信号J 、 
/ が測定できても、二つの波長の光波を出す光源での
それら光量の比が常に一定でないと、出力信号 J、・ (1+5in2Δφ) のうちのファラデイ回転角分Δφを単独に分離すること
ができず、したがって光源での光量変動があると、それ
は電流の測定誤差に入ってくることになり、精度良い測
定ができないという問題がある。
さらには、特開昭57−141562号公報に記載のご
とく、直流分に高周波分を重畳させた光信号を光源とし
、その光波を電流センサに通し、信号処理回路でそのう
ちの高周波成分を検出し、その高周波成分の変動分を用
いて被測定電流の大きさを補正する方法が提案されてい
る。すなわち、光源での光信号を J o + J x・sinωft としくここで、Jo:直流光量、Jf:高周波分光量、
ωf=高周高周波角速度、t:時間)、センサからの光
信号出力を直流分J0/・(1+5in2Δφ)と高周
波分Ji′  ・sinωftとに分ける。ここで、Δ
φがセンサでのファラデイ回転角である。
そこで、次式のような差分をとる。
P=J、’  ・ (1+5in2Δφ)/Jz’−J
o/J□ しかしこの方法では、高周波成分の大きさJz’ がフ
ァラディ回転角Δφ、すなわち被測定直流電流の大きさ
によって変化するという点が配慮されていないために、
補正ができないという問題がある。
〔発明が解決しようとする課題〕
上記したように、従来の光学的な直流電流の測定方法に
おいては、光源、センサ部、光信号伝送部などで光量の
変動があると、その変動分を何らかの方法で補正してや
らないと、直流電流を広い範囲で精度良く測定できない
という問題があるが、これまで有効な方法が提案されて
いない。
本発明の目的は、光源、センサ部、光信号伝送部などで
光量の変動があっても、直流電流を広い範囲で精度良く
測定できる光応用直流電流変成器を提供することにある
〔課題を解決するための手段〕
上記目的を達成するために、異なる波長の二つの光源を
用い、磁気光学効果を有する磁界センサの光出射端でこ
れら二つの光波をそれぞれ直交する二つの偏光成分、す
なわちP偏光とS偏光とに分け、これら四つの光信号成
分を用いて直流電流を計測するようにしたものである。
すなわち、本発明は、磁気光学効果を有するセンサと、
そのセンサの光入射端に配した偏光子と、出射端に配し
た検光子と、光信号を伝える光ファイバと、光を発生す
る光源と、センサからの光信号を読み取り演算する信号
処理回路とから成る光応用電流変成器において、前記光
源として波長が異なる二つの光波を用い、それら二つの
光波を同じ光ファイバ内を伝送させてセンサ部に導き、
二つの光波とも光軸に対し相対的に45°傾けた偏光子
と該センサ中を同じ光路で通して二つの波長の光波のう
ち第1の波長の光波はセンサの光入射端に配した偏光子
により偏光されて直線偏光となり一方第2の波長の光波
はこの偏光子により偏光されずにそのまま通過するよう
になし、その光出射端に配置した検光子により二つの波
長の光波とも直交する偏光成分に分け、偏光方向が同じ
である二つの偏光成分を同じ光ファイバにより前記信号
処理回路にそれぞれ導き、光の強さを測定するように構
成したことを特徴とする光応用直流電流変成器である。
また、本発明は、磁気光学効果を有するセンサと、その
センサの光入射端に配した偏光子と、出射端に配した検
光子と、光信号を伝える光ファイバと、光を発生する光
源と、センサからの光信号を読み取り演算する信号処理
回路とから成る光応用電流変成器において、前記光源と
して波長が異なる二つの光波を用い、それら二つの光波
を同じ光ファイバ内を伝送させてセンサ部に導き、二つ
の光波とも光軸に対し相対的に45°傾けた偏光子を通
して二つの波長の光波とも直線偏光となり、この二つの
波長の光波に対してヴェルデ定数が異なる前記センサ部
を通過させ、その光出射端に配置した検光子により二つ
の波長の光波とも直交する偏光成分に分け、偏光方向が
同じである二つの偏光成分を同じ光ファイバにより前記
信号処理回路にそれぞれ導き、光の強さを測定するよう
に構成したことを特徴とする光応用直流電流変成器であ
る。
上記変成器において、信号処理回路の入力部における二
つの波長の光波のうち第1の波長の光波のP偏光成分の
光強度をJ、p、S偏光成分の光強度をJ、sとし、第
2の波長の光波のP偏光成分の光強度をJ、p、S偏光
成分の光強度をJzsとしたときに、前記信号処理回路
で(J□p/ J 、p −J 2S/ J、s) /
 (J ip/ J2p+ J、s/ J as)を演
算するように構成したものがよい。また、光源での二つ
の光波の強度に比例した信号を出力する装置を有し、か
つ光源からの二つの光波のうち第1の波長の光波はセン
サの光入射端に配した偏光子により偏光されて直線偏光
となり、第2の波長の光波はこの偏光子により偏光され
ずにそのまま通過するように構成したものがよい。ここ
で、光源での第1の波長の光波の強度に比例する出力を
J ox、第2の波長の光波の強度に比例する出力をJ
 azとし、信号処理回路の入力部におけるセンサから
の二つの光波のうち第1の波長の光波のP偏光成分の光
強度をJ1p、 S偏光成分の光強度をJisとし。
第2の波長の光波のP偏光成分の光強度をJ2P。
S偏光成分の光強度をJ2sとしたときに、前記信号処
理回路で(Jlp/ J、p  J1s/ J 2S)
/ (Jo、/J01)を演算するように構成したもの
がよい。
〔作用〕
異なる波長の二つの光源からの光波を、光ファイバを含
む同一の光伝送路で磁界センサまで伝送し、第1の波長
の光波はその磁界センサの光入射端に配された偏光子で
直線偏光され、センサを通過するうちにファラディ回転
を受けるようにし、第2の波長の光波は第1の波長の光
と同じ光路を辿るがその偏光子では直線偏光されないよ
うにする。偏光子は光軸に対し相対的に45°傾けて配
置する。該センサでの光出射端では、二つの光信号とも
それぞれ直交する二つの偏光成分とに分け、四つの光信
号成分を得る。このうち二つのP偏光成分は光ファイバ
を含む同一の光伝送路で、また二つのS偏光成分も他の
同一光伝送路で信号処理回路まで伝送する。いま、第1
の波長に寄る該センサでのファラディ回転角をΔφとす
ると、この四つの信号成分は次のようである。
第1の波長の光波のP偏光成分の強度:J、p=Jp・
 (1−sin2Δφ)第1の波長の光波のS偏光成分
の強度=J、s:Js・ (1+5in2Δφ)第2の
波長の光波のP偏光成分の強度:Jzp=Jp’ 第2の波長の光波のS偏光成分の強度:J2H=Js’ ここで、kx=Jp/Jp’ 、に、’ =Js/Js
’とすると、第1と第2の波長の光波のP偏光成分は同
じ光伝送路を辿り、同じく第1と第2の波長の光波のS
偏光成分は同じ光伝送路を辿るから、その途中で光量変
動があってもに工、に1′は一定である。さらに、信号
処理回路にて、 k1勾に工′ となるように予め設定する。この場合、光源の二つの光
波で出力変動があっても、に□、に工′とも同じ割合で
変動するため、上記の条件は一度設定されると常に成り
立つ。すなわち、光源、センサ部、光信号伝送部で光量
変動がおきても、常にに1=に工′とすることができる
。したがって、J1p/、Lp=に1・ (1−s i
 n 2Δφ)Ji/J2S=J”  (1+5in2
Δφ)となり、これらの和と差をとり、割算すると、(
J、P/J2P−J、s/Jzs)/(J up/ J
 2P + J Is/ J zs)=−2・k、・5
in2Δφ/ (2−k、)=−sin2Δφ となる、Δφ(1ならば、sinΔφ弁Δφであり、上
記のような演算をすることにより、光源、センサ部、光
信号伝送部での光量変動があっても、ファラディ回転角
Δφを求めることができ、被測定量である直流電流を計
測できることになる。
また、光源での第1の光量をJ。、第2の波長の光の光
量をJ 02として、 (Jzp/ J2p  Jxs/ JAS) / (J
ot/ J02)”  [2・kz/ (JO1/ J
02)) X s i n 2Δφとすることもできる
。すなわち、上式で、k工/(J、□/J01)は光源
、センサ部、光信号伝送部での光量変動があっても常に
一定であり、前記と同様に、被測定の直流電流を計測で
きることになる。
さらには、上記では第2の波長の光は偏光子では直線偏
光されないように偏光子を選定したが、この偏光子で第
2の波長の光も直線偏光させ、かつセンサのヴェルデ定
数が第1の波長と第2の波長とで異なるように選定する
ことにより直流電流を測定することもできる。すなわち
、該センサでの第1の波長の光のファラディ回転角をΔ
φ1゜第2の波長の光のファラディ回転角をΔφ2とす
ると、 第1の波長の光のP偏光成分の強度: J1p=J□・ (1−sin2Δφ、)第1の波長の
光のS偏光成分の強度: J工s=J工′ ・ (1+5in2Δφ1)第2の波
長の光のP偏光成分の強度: J、p=Jz・ (1−sin2Δφ2)第2の波長の
光のS偏光成分の強度: J2S=J2′ ・ (1+5in2Δφ2)である。
ここで、前記と同様、k1=J□/J2゜k□’ =J
、’ /J2’  とすると、k工#に1′ となるように設定する。この条件は、前記と同様、光源
、センサ部、光信号伝送部などでの光量変動があっても
成り立つ。したがって。
J1P/J2P=に1・ (1−sin2Δφ□)/(1−sin2Δφ2)J工
s/J2s=に工・ (1+5in2Δφz)/(1+ s i n 2Δφ
2)となり、これらの和と差をとり、次のように割算す
る。
(J xp/ J zP  J −s/ J 28) 
/(J IP/ J 2P+ J 1s/ J zS)
=−(sin2Δφ□−5in 2Δφ2)/(1−s
in2Δφ、・sin 2Δφ2)上式で2Δφ1,2
Δφ2くく1となるようにし、Δφx=m□’ Inc
、Δφ2:m、* Ioc (m□、m2は定数、■D
Cは被測定電流)とすると、(Jip/JzP  J1
s/J2s)/(J 1P / J 2 P + J 
1 s / J z S )=−2° (mt  mz
)  +IDcとなり、被測定直流電流Incを測定で
きることになる。
〔実施例〕
以下、本発明の一実施例を第1図により説明する。第1
図において、光応用電流変成器は二つの波長が異なる光
源1,2、光合波器3、光ファイバ4.偏光子5、磁気
光学効果を有する磁界センサ6、検光子7、光ファイバ
11,12、光分波器13.14、フォトダイオード2
1,22゜23.24.演算処理回路30、および信号
処理回路50などからなっている。波長の異なる二つの
光波は光源1,2により発生され、光合波器3により光
ファイバ4に入射される。偏光子5は。
二つの光波のうち第1の波長の光波を偏向させて直線偏
光となし、第2の波長の光に対して偏光させず、そのま
ま通過させるものである。これは光波の波長を選択する
ことにより行なわれる。検光子7は、二つの波長の光波
とも二つの直交する偏光成分、P偏光とS偏光成分とに
分ける。このように分けられた偏光成分のうち、二つの
光波のP偏光成分は光ファイバ11により、また二つの
光波のS偏光成分は光ファイバ12により信号処理回路
50まで伝送される。信号処理回路50では、光分波器
13.14で二つの光波の波長の違いにより第1の波長
の光信号と第2の波長の光信号とに分けられ、フォトダ
イオード21,22,23゜24により電気信号に変換
され、演算処理回路30に入る。
第2図は、第1図のように構成した変成器での演算処理
回路30の実施例を示す、第1の波長の光波のP偏光成
分はフォトダイオード21により。
第1の波長の光波のS偏光成分はフォトダイオード23
により、第2の波長の光波のP偏光成分はフォトダイオ
ード22により、第2の波長の光波のS偏光成分はフォ
トダイオード24により、それぞれ電気信号に変換され
、増幅器31,32゜33.34により増幅され、除算
器35.36により出力Jx P / Jz P r 
Jl s / Jz sを得る。被測定電流がOの場合
に、J z p / J 2 P = J is /J
2gとなるようにしておく。さらに、差分器37、和算
器38、除算器39により、出力として次のものを得る
(Jzp/Jzp  Jxs/Jzs)/(J x p
 / J z p + J 1s / J z s )
これにより、前記したごとく、出力信号としてセンサで
のファラディ回転角に比例した信号を得ることができ、
直流電流を測定できる。
なお、第1図において、磁界センサ6として二つの波長
の光波に対してそのヴェルデ定数が異なるものを用い、
偏光子5として二つの波長の光波とも直線偏向させるよ
うにし、それら以外は第1図と同じ構成とし、信号処理
回路50での演算処理回路30として第2図の回路を用
いることにより、前記したごとく、直流電流を測定でき
る。
第3図は、本発明の他の実施例である。二つの波長の異
なる光源1,2からの光量J 01とJ 02と検出し
、その信号を信号処理回路50に導いて演算させる以外
は、第1図と同じ構成である。第4図は、そのときの信
号処理回路の例である。第1の波長の光波のP偏光成分
はフォトダイオード21により、第1の波長の光波のS
偏光成分はフォトダイオード23により、第2の波長の
光波のP偏光成分はフォトダイオード22により、第2
の波長の光波のS偏光成分はフォトダイオード24によ
り、それぞれ電気信号に変換され、増幅器31,32,
33,34により増幅され、除算器35.36により出
力J工p/Jzpt Jxs/J2sを得る。被測定電
流が0の場合に、J 1p /J2P=JIS/Jzs
となるようにしておく。さらに、差分器37により、出
力 Ji=J1P/J2P−Jig/J2Sを得る。また、
光源での出力光量に比例した信号の比J。1/J01を
求め、Jlをこれで除算する。
これにより、前記したごとく、出力信号としてセンサで
のファラディ回転角に比例した信号を得ることができ、
直流電流を測定できる。
〔発明の効果〕
本発明によれば、上記したごとく、光源、センサ部、光
信号伝送部などで光量変動があっても。
それらの影響が入らないように測定系と信号処理回路を
構成することができ、精度良く直流電流を測定すること
が可能であるという効果がある。
なお、電気光学効果を有するセンサを用い、センサの光
入射端に偏光子と174波長板を配する光応用電圧変成
器においても、本発明と同じ構成とすることにより、直
流成分を有する電圧を測定する際にも同様な効果がある
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示す構成図、第2図は第1
図の実施例での信号処理回路の実施例を示す図、第3図
は本発明の他の実施例を示す構成図、第4図は第3図の
実施例での信号処理回路の実施例を示す図である。 1.2・・・光源、3・・・光合波器、4,11.12
・・・光ファイバ、5・・・偏光子、6・・・センサ、
7・・・検光子、13,14・・・光分波器、21,2
2,23゜24・・・フォトダイオード、30・・・演
算処理回路、50・・・信号処理回路。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、磁気光学効果を有するセンサと、そのセンサの光入
    射端に配した偏光子と、出射端に配した検光子と、光信
    号を伝える光ファイバと、光を発生する光源とセンサか
    らの光信号を読み取り演算する信号処理回路とから成る
    光応用電流変成器において、前記光源として波長が異な
    る二つの光波を用い、それら二つの光波を同じ光ファイ
    バ内を伝送させてセンサ部に導き、二つの光波とも光軸
    に対し相対的に45゜傾けた偏光子と該センサ中を同じ
    光路で通して二つの波長の光波のうち第1の波長の光波
    はセンサの光入射端に配した偏光子により偏光されて直
    線偏光となり一方第2の波長の光波はこの偏光子により
    偏光されずにそのまま通過するようになし、その光出射
    端に配置した検光子により二つの波長の光波とも直交す
    る偏光成分に分け、偏光方向が同じである二つの偏光成
    分を同じ光ファイバにより前記信号処理回路にそれぞれ
    導き、光の強さを測定するように構成したことを特徴と
    する光応用直流電流変成器。 2、磁気光学効果を有するセンサと、そのセンサの光入
    射端に配した偏光子と、出射端に配した検光子と、光信
    号を伝える光ファイバと、光を発生する光源と、センサ
    からの光信号を読み取り演算する信号処理回路とから成
    る光応用電流変成器において、前記光源として波長が異
    なる二つの光波を用い、それら二つの光波を同じ光ファ
    イバ内を伝送させてセンサ部に導き、二つの光波とも光
    軸に対し相対的に45゜傾けた偏光子を通して二つの波
    長の光波とも直線偏光となり、この二つの波長の光波に
    対してヴェルデ定数が異なる前記センサ部を通過させ、
    その光出射端に配置した検光子により二つの波長の光波
    とも直交する偏光成分に分け、偏光方向が同じである二
    つの偏光成分を同じ光ファイバにより前記信号処理回路
    にそれぞれ導き、光の強さを測定するように構成したこ
    とを特徴とする光応用直流電流変成器。 3、請求項1又は2において、信号処理回路の入力部に
    おける二つの波長の光波のうち第1の波長の光波のP偏
    光成分の光強度をJ_1p、S偏光成分の光強度をJ_
    1sとし、第2の波長の光波のP偏光成分の光強度をJ
    _2p、S偏光成分の光強度をJ_2sとしたときに、
    前記信号処理回路で(J_1p/J_2p−J_2s/
    J_2s)/(J_1p/J_2p+J_1s/J_2
    s)を演算するように構成した光応用直流電流変成器。 4、請求項1〜3のいずれかにおいて、光源での二つの
    光波の強度に比例した信号を出力する装置を有し、かつ
    光源からの二つの光波のうち第1の波長の光波はセンサ
    の光入射端に配した偏光子により偏光されて直線偏光と
    なり、第2の波長の光波はこの偏光子により偏光されず
    にそのまま通過するように構成した光応用直流電流変成
    器。 5、請求項4において、光源での第1の波長の光波の強
    度に比例する出力をJ_0_1、第2の波長の光波の強
    度に比例する出力をJ_0_2とし、信号処理回路の入
    力部におけるセンサからの二つの光波のうち第1の波長
    の光波のP偏光成分の光強度をJ_1p、S偏光成分の
    光強度をJ_1sとし、第2の波長の光波のP偏光成分
    の光強度をJ_2p、S偏光成分の光強度をJ_2sと
    したときに、前記信号処理回路で(J_1p/J_2p
    −J_1s/J_2s)/(J_0_1/J_0_2)
    を演算するように構成した光応用直流電流変成器。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0615356A1 (en) * 1993-03-08 1994-09-14 AT&T Corp. Technique for reducing nonlinear signal degradation and fading in a long optical transmission system

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JP3041637B2 (ja) 2000-05-15

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