JPH04155620A - 磁気ディスクの耐久性評価方法 - Google Patents
磁気ディスクの耐久性評価方法Info
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- JPH04155620A JPH04155620A JP27925090A JP27925090A JPH04155620A JP H04155620 A JPH04155620 A JP H04155620A JP 27925090 A JP27925090 A JP 27925090A JP 27925090 A JP27925090 A JP 27925090A JP H04155620 A JPH04155620 A JP H04155620A
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- Japan
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- magnetic
- magnetic disk
- magnetic head
- durability
- spindle
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- Pending
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- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
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- 230000005389 magnetism Effects 0.000 description 2
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- 238000004904 shortening Methods 0.000 description 1
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- Supporting Of Heads In Record-Carrier Devices (AREA)
- Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概 要〕
磁気記録媒体としての磁気ディスクの耐久性評価方法に
関し、 短時間で磁気ディスクの耐久性の評価を行なうことを目
的とし、 スピンドルの回転を制御し、磁気ディスクに磁気ヘッド
を接離させて磁気記録媒体として機能する磁気ディスク
の耐久性を評価する磁気ディスクの耐久性評価方法にお
いて、スピンドルを回転状態とし、磁気ディスクおよび
磁気ヘッドの周囲の気体の大気圧に対する真空度を上下
に変化させて磁気ヘッドを磁気ディスクに接離させるよ
うに構成する。
関し、 短時間で磁気ディスクの耐久性の評価を行なうことを目
的とし、 スピンドルの回転を制御し、磁気ディスクに磁気ヘッド
を接離させて磁気記録媒体として機能する磁気ディスク
の耐久性を評価する磁気ディスクの耐久性評価方法にお
いて、スピンドルを回転状態とし、磁気ディスクおよび
磁気ヘッドの周囲の気体の大気圧に対する真空度を上下
に変化させて磁気ヘッドを磁気ディスクに接離させるよ
うに構成する。
この発明は、磁気記録媒体としての磁気ディスクの耐久
性評価方法に関する。
性評価方法に関する。
近年、磁気記録の分野においては、記録密度の向上に伴
って耐久性を向上させる必要性が増大している。
って耐久性を向上させる必要性が増大している。
従来、磁気ディスクの耐久性を評価する場合、スピンド
ルの回転、停止を繰り返し、磁気ヘッドの磁気ディスク
への当接、磁気ヘッドの磁気ディスクからの浮上を繰り
返すことにより実際の使用状態を再現させて磁気記録媒
体として機能する磁気ディスクの耐久性を評価していた
。
ルの回転、停止を繰り返し、磁気ヘッドの磁気ディスク
への当接、磁気ヘッドの磁気ディスクからの浮上を繰り
返すことにより実際の使用状態を再現させて磁気記録媒
体として機能する磁気ディスクの耐久性を評価していた
。
このようにして磁気ディスクの耐久性を評価するとき、
スピンドルか停止している間、すなわち磁気ヘッドか磁
気ディスクに当接している間、および磁気ヘットか磁気
ディスクから完全に浮上している間は、磁気ヘッドは磁
気ディスクに損傷を与えない。
スピンドルか停止している間、すなわち磁気ヘッドか磁
気ディスクに当接している間、および磁気ヘットか磁気
ディスクから完全に浮上している間は、磁気ヘッドは磁
気ディスクに損傷を与えない。
このため、従来は、磁気ディスクの耐久性評価を効率よ
く行なうために、磁気ヘットか磁気ディスクに当接およ
び完全に浮上する時間を短くするようにしていた。
く行なうために、磁気ヘットか磁気ディスクに当接およ
び完全に浮上する時間を短くするようにしていた。
従来の磁気ディスクの耐久性の評価は、前述のように、
スピンドルにより磁気ディスクを回転、停止させて、磁
気ヘッドを磁気ディスクに接離させるのを繰り返して行
なっていた。
スピンドルにより磁気ディスクを回転、停止させて、磁
気ヘッドを磁気ディスクに接離させるのを繰り返して行
なっていた。
この従来法では、磁気ディスクなどの慣性により、スピ
ンドルを回転させてからスピンドルを完全に停止させる
までの時間か長くなるため、磁気ディスクの耐久性を評
価するのに長時間を要するという不都合があった。
ンドルを回転させてからスピンドルを完全に停止させる
までの時間か長くなるため、磁気ディスクの耐久性を評
価するのに長時間を要するという不都合があった。
さらに、磁気ヘッドか磁気ディスクから完全に浮上して
いる間および停止した磁気ディスクに当接している間は
、磁気ヘッドは磁気ディスクに何らの損傷を与えないた
めに耐久性の評価に関与しないことから、評価に一層時
間を要するという不都合かあった。
いる間および停止した磁気ディスクに当接している間は
、磁気ヘッドは磁気ディスクに何らの損傷を与えないた
めに耐久性の評価に関与しないことから、評価に一層時
間を要するという不都合かあった。
この発明は、上記したような不都合を解消するためにな
されたもので、短時間で磁気ディスクの耐久性の評価を
行なうことのできる磁気ディスクの耐久性評価方法を提
供することを目的とする。
されたもので、短時間で磁気ディスクの耐久性の評価を
行なうことのできる磁気ディスクの耐久性評価方法を提
供することを目的とする。
前述の課題を解決するために、スピンドルの回転を制御
し、磁気ディスクに磁気ヘッドを接離させて磁気記録媒
体として機能する磁気ディスクの耐久性を評価する磁気
ディスクの耐久性評価方法において、スピンドルを回転
状態とし、磁気ディスクおよび磁気ヘッドの周囲の気体
の大気圧に対する真空度を上下に変化させて磁気ヘッド
を磁気ディスクに接離させることを特徴とする。
し、磁気ディスクに磁気ヘッドを接離させて磁気記録媒
体として機能する磁気ディスクの耐久性を評価する磁気
ディスクの耐久性評価方法において、スピンドルを回転
状態とし、磁気ディスクおよび磁気ヘッドの周囲の気体
の大気圧に対する真空度を上下に変化させて磁気ヘッド
を磁気ディスクに接離させることを特徴とする。
磁気ディスク装置では、スピンドルを回転させて磁気デ
ィスクを回転させると、磁気ディスクの回転によって磁
気ディスクと磁気ヘッドの間に気体（空気）の流れか発
生し、この気体の流れにより磁気ヘッドに浮力が発生す
るので、磁気ヘッドは磁気ディスクから浮上する。
ィスクを回転させると、磁気ディスクの回転によって磁
気ディスクと磁気ヘッドの間に気体（空気）の流れか発
生し、この気体の流れにより磁気ヘッドに浮力が発生す
るので、磁気ヘッドは磁気ディスクから浮上する。
そこで、この発明のように、磁気ディスクおよび磁気ヘ
ッドの周囲の気体の真空度を上げると、磁気ディスクと
磁気ヘッドの間に介在する気体かなくなるので、気体の
流れによる磁気ヘッドへの浮力が発生せず、磁気ヘッド
を磁気ディスクに当接させることかできる。
ッドの周囲の気体の真空度を上げると、磁気ディスクと
磁気ヘッドの間に介在する気体かなくなるので、気体の
流れによる磁気ヘッドへの浮力が発生せず、磁気ヘッド
を磁気ディスクに当接させることかできる。
逆に、磁気ディスクおよび磁気ヘッドの周囲の気体の真
空度を下げると、磁気ディスクと磁気ヘッドの間に気体
が介在（流入）するようになるので、磁気ヘッドは再び
浮上するようになる。
空度を下げると、磁気ディスクと磁気ヘッドの間に気体
が介在（流入）するようになるので、磁気ヘッドは再び
浮上するようになる。
したがって、磁気ディスクを回転させた状態で、磁気デ
ィスクおよび磁気ヘッドの周囲の気体の真空度を大気圧
に対して上下に変化させて、磁気ヘッドを磁気ディスク
に接離させることにより、磁気記録媒体として機能する
磁気ディスクの耐久性の評価を行なうことかできる。
ィスクおよび磁気ヘッドの周囲の気体の真空度を大気圧
に対して上下に変化させて、磁気ヘッドを磁気ディスク
に接離させることにより、磁気記録媒体として機能する
磁気ディスクの耐久性の評価を行なうことかできる。
以下、この発明の一実施例を第１図および第２図を参照
して説明する。
して説明する。
第１図はこの発明の一実施例に使用する磁気ディスクの
耐久性評価装置の構成を示す概略図である。
耐久性評価装置の構成を示す概略図である。
第１図において、■は槽を示し、内部に気体を供給スる
ためのリークバルブ２と、内部の気体を抜くためのバル
ブ３か設けられている。
ためのリークバルブ２と、内部の気体を抜くためのバル
ブ３か設けられている。
なお、槽１の上部は、後述する磁気ディスク７のチャッ
キング、磁気ヘッド８の交換なとか行なえるように、開
閉できる構成とされている。
キング、磁気ヘッド８の交換なとか行なえるように、開
閉できる構成とされている。
４はバルブ３に接続されているポンプを示し、槽１内を
真空度を上げるためのものである。
真空度を上げるためのものである。
５はスピンドル、６はスピンドル５に設けられているチ
ャッキング機構を示し、このチャッキング機構６は、ス
ピンドル５に磁気ディスク７を装着するためのものであ
る。
ャッキング機構を示し、このチャッキング機構６は、ス
ピンドル５に磁気ディスク７を装着するためのものであ
る。
８は磁気ヘッドを示し、磁気ディスク７に所定の加圧力
て付勢するアーム９を介してスタンド１０の所定位置に
支持されている。
て付勢するアーム９を介してスタンド１０の所定位置に
支持されている。
なお、スピンドル５〜スタンド１０は槽１内に設けられ
ている。
ている。
第２図（ａ）は槽の気圧状態を示す説明図、第２図（ｂ
）は磁気ヘッドの磁気ディスクからの浮上状態を示す説
明図である。
）は磁気ヘッドの磁気ディスクからの浮上状態を示す説
明図である。
次に、動作について説明する。
まず、スピンドル５に情報か記録されている磁気ディス
ク７を、チャッキング機構６を介して装着した後、スピ
ンドル５を所定の回転数、すなわち磁気ディスク７に磁
気ヘッド８て情報を記録したり、磁気ディスク７に記録
されている情報を磁気ヘッド８て読み取るための回転数
で回転させる。
ク７を、チャッキング機構６を介して装着した後、スピ
ンドル５を所定の回転数、すなわち磁気ディスク７に磁
気ヘッド８て情報を記録したり、磁気ディスク７に記録
されている情報を磁気ヘッド８て読み取るための回転数
で回転させる。
次に、第２図（ａ）に示すように、リークバルブ２を閉
め、バルブ３を開放してポンプ４によって槽１内を真空
状態にしたり、バルブ３を閉め、リークバルブ２を開放
して槽１内に大気を供給して大気圧とするのを順次繰り
返す。
め、バルブ３を開放してポンプ４によって槽１内を真空
状態にしたり、バルブ３を閉め、リークバルブ２を開放
して槽１内に大気を供給して大気圧とするのを順次繰り
返す。
このように、槽１内の真空度を下げて大気圧にすると、
磁気ディスク７と磁気ヘッド８の間に気体か介在するの
で、気体の流れによる磁気ヘット８への浮力か発生し、
磁気ヘッド８は磁気ディスク７から浮上する。
磁気ディスク７と磁気ヘッド８の間に気体か介在するの
で、気体の流れによる磁気ヘット８への浮力か発生し、
磁気ヘッド８は磁気ディスク７から浮上する。
そして、槽１内の真空度を上げると、磁気ディスク７と
磁気ヘッド８の間に介在する気体かなくなるので、気体
の流れによる磁気ヘッド８への浮力か発生せず、磁気ヘ
ッド８は磁気ディスク７に当接する。
磁気ヘッド８の間に介在する気体かなくなるので、気体
の流れによる磁気ヘッド８への浮力か発生せず、磁気ヘ
ッド８は磁気ディスク７に当接する。
したかって、槽１内の気体の大気圧に対する真空度を上
下に変化させることにより、第２図（ｂ）に示すように
、スピンドル５を回転させなから磁気ヘッド８を磁気デ
ィスク７に当接させたり、磁気ヘッド８を磁気ディスク
７から浮上させるのを繰り返すことができるので、スピ
ンドル５を停止させることなく、実際の使用状態におけ
る磁気ディスク７の耐久性を短時間で評価することかで
きる。
下に変化させることにより、第２図（ｂ）に示すように
、スピンドル５を回転させなから磁気ヘッド８を磁気デ
ィスク７に当接させたり、磁気ヘッド８を磁気ディスク
７から浮上させるのを繰り返すことができるので、スピ
ンドル５を停止させることなく、実際の使用状態におけ
る磁気ディスク７の耐久性を短時間で評価することかで
きる。
なお、上記した実施例では、槽１内に供給する気体を大
気（空気）とした例て説明したが、大気と異なる粘性を
有する気体、例えばヘリュームなどの粘性の小さい気体
を使用することにより、磁気ヘッド８の浮上量を少なく
して応答性を速くすることができ、−層の時間短縮を図
ることかできる。
気（空気）とした例て説明したが、大気と異なる粘性を
有する気体、例えばヘリュームなどの粘性の小さい気体
を使用することにより、磁気ヘッド８の浮上量を少なく
して応答性を速くすることができ、−層の時間短縮を図
ることかできる。
また、耐久性の評価は磁気ディスク７から情報を再生し
ながら行なうので、スピンドル５、チャッキング機構６
、磁気ヘッド８〜スタンド１０に代え、磁気ディスク７
に情報を記録したり、磁気ディスク７から情報を再生す
る磁気記録再生装置であってもよい。
ながら行なうので、スピンドル５、チャッキング機構６
、磁気ヘッド８〜スタンド１０に代え、磁気ディスク７
に情報を記録したり、磁気ディスク７から情報を再生す
る磁気記録再生装置であってもよい。
以上のように、この発明によれば、磁気ディスクを回転
させた状態で、磁気ディスクおよび磁気ヘッドの周囲の
気体の真空度を大気圧に対して上下に変化させ、磁気ヘ
ッドを磁気ディスクに接離させるようにしたので、実際
の使用状態における磁気ディスクの耐久性を短時間で評
価することかできるという効果がある。
させた状態で、磁気ディスクおよび磁気ヘッドの周囲の
気体の真空度を大気圧に対して上下に変化させ、磁気ヘ
ッドを磁気ディスクに接離させるようにしたので、実際
の使用状態における磁気ディスクの耐久性を短時間で評
価することかできるという効果がある。
また、気体として空気よりも粘性の小さな気体を使用す
ることにより、磁気ヘッドの浮上量を少なくして応答性
を速くすることができ、−層の時間短縮を図ることがで
きるという効果がある。
ることにより、磁気ヘッドの浮上量を少なくして応答性
を速くすることができ、−層の時間短縮を図ることがで
きるという効果がある。
第１図はこの発明の一実施例に使用する磁気ディスクの
耐久性評価装置の構成を示す概略図、 第２図（ａ）は槽の気圧状態を示す説明図、第２図（ｂ
ｌは磁気へ・ソドの磁気ディスク力＼らの浮上状態を示
す説明図である。 １・・・槽、２・・・リークノ大ルプ、３・・・）くル
ブ、４・・・ポンプ、５・・・スピンドル、６・・・チ
ャ・ノキング機構、７・・・磁気ディスク、８・・・磁
気へ・ソト′、９・・・アーム、ｌＯ・・・スタンド。 特許出願人 富士通株式会社
耐久性評価装置の構成を示す概略図、 第２図（ａ）は槽の気圧状態を示す説明図、第２図（ｂ
ｌは磁気へ・ソドの磁気ディスク力＼らの浮上状態を示
す説明図である。 １・・・槽、２・・・リークノ大ルプ、３・・・）くル
ブ、４・・・ポンプ、５・・・スピンドル、６・・・チ
ャ・ノキング機構、７・・・磁気ディスク、８・・・磁
気へ・ソト′、９・・・アーム、ｌＯ・・・スタンド。 特許出願人 富士通株式会社
Claims (2)
- （１）スピンドル（５）の回転を制御し、磁気ディスク
（７）に磁気ヘッド（８）を接離させて磁気記録媒体と
して機能する前記磁気ディスク（７）の耐久性を評価す
る磁気ディスクの耐久性評価方法において、 （ａ）前記スピンドル（５）を回転状態とし、（ｂ）前
記磁気ディスク（７）および前記磁気ヘッド（８）の周
囲の気体の大気圧に対する真空度を上下に変化させて前
記磁気ヘッド（８）を前記磁気ディスク（７）に接離さ
せる、ことを特徴とする磁気記録媒体の耐久性評価方法
。 - （２）前記気体として空気よりも粘性の小さな気体を使
用する、 ことを特徴とする磁気記録媒体の耐久性評価方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27925090A JPH04155620A (ja) | 1990-10-19 | 1990-10-19 | 磁気ディスクの耐久性評価方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27925090A JPH04155620A (ja) | 1990-10-19 | 1990-10-19 | 磁気ディスクの耐久性評価方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04155620A true JPH04155620A (ja) | 1992-05-28 |
Family
ID=17608533
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP27925090A Pending JPH04155620A (ja) | 1990-10-19 | 1990-10-19 | 磁気ディスクの耐久性評価方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04155620A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5993982A (en) * | 1997-03-18 | 1999-11-30 | Fujitsu Limited | Method and apparatus for evaluating durability of magnetic disk |
| US6419551B1 (en) | 2001-06-21 | 2002-07-16 | International Business Machines Corporation | High speed burnishing of asperities in a disk drive |
-
1990
- 1990-10-19 JP JP27925090A patent/JPH04155620A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5993982A (en) * | 1997-03-18 | 1999-11-30 | Fujitsu Limited | Method and apparatus for evaluating durability of magnetic disk |
| US6419551B1 (en) | 2001-06-21 | 2002-07-16 | International Business Machines Corporation | High speed burnishing of asperities in a disk drive |
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