JPH04155204A - 光学式3次元位置検出装置 - Google Patents

光学式3次元位置検出装置

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JPH04155204A
JPH04155204A JP28088090A JP28088090A JPH04155204A JP H04155204 A JPH04155204 A JP H04155204A JP 28088090 A JP28088090 A JP 28088090A JP 28088090 A JP28088090 A JP 28088090A JP H04155204 A JPH04155204 A JP H04155204A
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movable body
measuring means
scanning
dimensional
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Kenzaburo Iijima
健三郎 飯島
Katsufumi Kondo
克文 近藤
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Yamaha Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 この発明は光学式3次元位置検出装置に間し、検出対象
である可動体に全方向光反射体を付設し、その間隔が既
知の2つの一11足部で発光走査し、反射光の測定部へ
の入射角相当値およびこの間隔に基づいて可動体の3次
元位置を算出するに際し、最初の走査範囲を広く設定し
、可動体の検出後は、その検出位置を基準に走査範囲を
減少させることにより、可動体の3次元位置く座標)を
簡単な装置構成で、かつ追従性良く検出するものである
〈従来の技術〉 従来より3次元立方物の位置測定を可能にしたものとし
ては、例えば特開昭59−218539゛号公報に示す
3次元スペースデジタイザが知られている。
このものは、ソース(直交コイル)に交流を加え、磁界
を発生させる。この磁界中にセンサ(直交コイル)を置
くとセンサに電流が誘起される。
この電流の大きさをコンピュータで処理して位置、角度
データを出力するものである。
また、従来より撮像デバイスを用いた画像処理方式位置
センサとしては特開平2−232692号公報に示すも
のが知られている。
このものは、撮像デバイスとしてCCD電荷結合デバイ
スによるカメラで光学的に撮像する。そして、この画像
を画像処理回路で処理することにより、測定対象物の運
動を非接触によって検出するものである。
〈発明が解決しようとする課題〉 しかしながら、このような従来の3次元スペースデジタ
イザにあっては、ソース側にもセンサ側にも回路が必要
であり、その構造や用途に制限があった。
また、後者に示す位置センサにあフては、装置が大型で
高価なものとなっていた。球状マーカの動きを2値化画
像処理により判定する複雑な装置構成であったからであ
る。
そこで、本発明は、その構造や用途について自由度が大
きく、小型軽量で安価なシステム構築が得られ、検出側
も比較的簡単な装置構成で、さらに可動体の運動に対す
る検出側の光走査に無駄がなく、この運動に迅速に追従
することができる光学式3次元位置検出装置を提供する
ことを、その目的としている。
〈課題を解決するための手段〉 本発明は、第1図にその構成を例示するように、3次元
空間を移動可能な可動体の3次元位置を検出する光学式
3次元位置検出装置であって、この可動体に付設された
全方向光反射体100と、光を発する発光部、該発光部
による発光で2次元走査する走査部、および、その反射
光を受光する受光部を有し、所定位置ここ配設された第
1の測定手段200と、光を発する発光部、この発光部
からの発光により2次元走査する走査部、および、その
反射光を受光する受光部を有し、この第1の測定手段2
00+こ対して所定間隔離間して配設された第2の測定
手段300と、これらの第1の測定手段200および第
2の測定手段300にそれぞれ入射する上記全方向光反
射体100からの反射光の入射角相当量を検出する検出
手段400と、これらの入射角相当量、および、上記第
1の測定手段200と第2の測定手段300との間の間
隔に基づいて上記全方向光反射体100の3次元位置を
算出する算出手段500と、上記第1の測定手段200
および第2の測定手段300が上記反射光を受光した後
、該受光時の反射光の入射角相当値を基準に上記2次元
走査の走査範囲を減少補正する走査範囲補正手段600
と、を備えた光学式3次元位置検出装置である。
〈作用〉 本発明に係る光学式3次元位置検出装置は、第1および
第2の測定手段200,300のそれぞれは、各発光部
からの発光により可動体を2次元的に走査する。この走
査光が可動体に付設した全方向光反射体100を捕捉す
ると、この全方向光反射体100からの反射光がこれら
の測定手段200.300の各受光部に入射する。
検出手段400は、これらの反射光の入射角相当量をそ
れぞれ検出する。
算出手段500は、これらの入射角相当量および第1と
第2の測定手段200.30Qの間の間隔に基づいて当
該可動体の3次元位置を算出する。
そして、走査範囲補正手段600は、上記第1の測定手
段200および第2の測定手段300が上記反射光を受
光した後、該受光時の反射光の入射角相当値を基準に上
記2次元走査の走査範囲を減少補正する。この結果、第
1および第2の測定手段200,300は発光による走
査範囲を減少させることができ、その発光走査に無駄が
なく、可動体の移動に対しても、迅速に追従することが
できる。
〈実施例〉 以下、本発明の実施例について図面を参照して説明する
第2図〜第9図は本発明に係る光学式3次元位置検出装
置の一実施例を示している。
第2図は本発明の一実施例に係る光学式3次元位置検出
装置の−#B(第]の測定手段)を示している。
第2図において、1】は第1の測定手段の走査部を構成
する第1のミラーであり、12はこの第1のミラー12
に対向して配設された第2のミラーである。これらのミ
ラー11.12はその回転軸を中心にそれぞれ一定角度
範囲内で回動自在に設けられており、これらの回転軸は
互いに直交する平面にそれぞれ配設されている。また、
これらのミラー11.12は一定の距離だけ離れて配置
されている。
13.14はこれらのミラー13.12をそれぞれ回転
駆動するモータであり、それぞれがエンコーダ15.1
8を付設している。エンコーダ15.16は、第1のミ
ラー1】および第2のミラー12の各回転角Δθ!、△
θ2をそれぞれ検出し、デジタル信号として出力するも
のである。
17.18は上記各モータ13,14の駆動を電圧値に
よりそれぞれ制御するモータ制御回路である。
また、各エンコーダ15,16の出力はそれぞれデータ
ラッチ回路19.20に入力され、さらに制御装置21
に入力されている。データラッチ回路19.20は各エ
ンコーダ15.16の出力である入射角相当値θ1.θ
2をラッチ可能であって、’D/A変換回路26.27
にそれぞれ出力可能に接続されている。
D/A変換回路26.27はスイッチSW1゜SW2の
各切換側端子にそれぞれ接続されている。
これらのスイッチSWI、SW2は、制御装置21から
の切換信号によりモータ制御回路17,18との接続を
、このD/A変換回路26.27の出力または接地端子
と切り換えるものである。すなわち、スイッチSWI、
SW2の他方の切換側端子は接地されており、その固定
側端子はモータ制御回路17.18の入力側端子に接続
されているものである。
この制御装置21は、例えば周知構成のマイクロコンピ
ュータ等により構成されるもので、演算処理、入出力制
御を行うMPU、プログラムを格納するROM、データ
またはプログラムの一時記憶用のRAM、入出力端末と
してのIlo等を有している。
また、反射光を受光する受光素子22の出力は、電流−
電圧変換回路<r−v変換回路)23、アンプ24を介
して比較器25の一方の入力端子に供給されている。ま
た、この比較器25の他方の入力端子には反射光による
出力電圧のスレッショルドレベルを決定する基準電圧V
 refが印加されている。さらに、この比較器25の
出力は、上記データラッチ回路19.20にそれぞれデ
ータラッチのタイミング信号として供給されている。
また、比較器25の出力は制御装置21にも供給されて
いる。この比較器25の出力により制御  ゛装置21
は、上記SW1、SW2を切り換えて、D/A変換器2
6.27の出力をモータ制御回路17.18に接続する
同時に制御装置21は、モータ制御回路17゜18へ、
モータ13,14の回動範囲を縮小する制御信号を出力
して大振幅モードから小振幅モードに切り換える。
D/A変換器26.27の各アナログ出力は、オフセッ
ト値としてモータ制御回路17.18にそれぞれ加えら
れるものである。
第3図は、3次元空間を矢印X方向に移動可能な検出対
象である可動体31と、上記第1およ1第2の測定手段
としてのセンサ32,33との・。
置関係を示している。
この図に示すように、可動体31の一端部に1全方向光
反射体34が付設されている。
可動体31は、空間内を上下左右に動き得る場ので、こ
の全方向光反射体34はその動きが最冨大きな部分に取
り付けられている。この全方向シ反射体34としては、
球形反射体、コーナキューブプリズム等入射光に対して
同じ光軸に反射す;ものを使用している。
また、上記センサ32,33は所定の間隔だ各層れて固
定本体3δに固定されている。各セン凭32.33は、
それぞれ第2図に示すように構互されており、発光、受
光機能を有している。
第4図はこれらのセンサ32,33をスタン)35に固
定した場合を示している。この図は本多明の実際の適用
例を示すものであって、一対の畦ンサ32,33は、指
揮者の振る指揮棒(可動側31の先端に付設した全方向
光反射体34の位澤J  を検出することとなる。
立 第5図に示すように、これらの測定手段(セン、、t 
 サ)は、発光部として、半導体レーザ41、コリメー
トレンズ42を有している。また、走査部とし   し
ては上記ミラー11,12、モーター3,14、b  
モータ制御回路17.18を有している。さらに、管 
 受光部としては、上記ミラー11,12、偏光ビー 
 −ムスブリッタ43、受光素子22を有して構成6 
  されている。
したがって、半導体レーザ41から出たレーザt  光
は、コリメートレンズ42により平行光となり、ト  
偏光ビームスプリッタ(PB’5)43に入射する。
に  入射光に対してPBS43はP波を通過させ、S
波を反射させるように設計されているので、P波′  
成分のみミラー11へ入射する。ミラー11はこ邑  
の入射光に対して所定の角度だけ傾斜して配置ざ′  
れている。
;)   ミラー11で反射した光は、そのミラー11
の4  傾斜角度に対応してミラー12に入射する。ミ
ラー12では入射角に対応して所定の方向に光を照射す
る。
ここで、ミラー1】とミラー12とは、それぞれ定めら
れたスピードで、定められた角度だけ回動される構成で
ある。ミラー11は図中矢印Yで示す方向に所定角度範
囲で回動するよう制御され、ミラー12はこれに対して
軸Zの回りに矢印Wで示すように一定の角速度で回動す
るように制御されている。2次元平面での発光走査を可
能とするものである。なお、ミラー12は例えばポリゴ
ンミラー(回転多面鏡)で構成する。
第6図(A)、(B)はこのミラー11,12の回動に
より2次元平面上で所定の範囲で光を振る走査パターン
を光軸方向およびその平行方向から各々示している。
これらの図に示すように、この2次元走査は、例えばミ
ラー11の回動により矢印X方向に走査するとともに、
ミラー12の回動により矢印X方向(X方向とは直交方
向)にも走査するものであそして、この発明にあっては
、電源投入時または全方向光反射体34位置を未だ検出
していない場合には、これらのミラー11.12の回動
角度範囲(振@)を大きくする大振幅モードと、いつ、
  たん検出した後はミラー11,12の回動角度範囲
をそれよりも小さくする小振幅モードと、をとり得る構
成である。図中実線りは大振幅モードの場合の走査パタ
ーンを、図中破&!Mは小振幅モードのそれをそれぞれ
示すものである。
そして、この走査においてミラー12により反射した光
が全方向光反射体34に入射すると、その反射光は同じ
光軸(軌跡)を戻ってミラー12、ミラー11、そして
、PBS43へ入射する。
このとき、PBS43への入射光はS波になっているか
らPBS43で反射されて角度を変えられて受光素子2
2へ入射する。
受光素子22ではその反射光は光電変換された後、電流
−電圧変換回路23にて電圧値として出力され、この出
力電圧は増幅器24を経て比較器25で基準設定値V 
refと比較される。
この比較の結果により受光素子22からの出力がスレッ
シュホールドレベルを超えた場合には、比較器25はデ
ータラッチ回路19.20に対してデータラッチのタイ
ミングを指定する出力をなす。すなわち、この比較器2
5からのデータラッチタイミング信号により、データラ
ッチ回路19゜20はエンコーダ15,16の各出力(
△θ1.△θ2)をラッチするものである。エンコーダ
15゜16はミラー11.12の回転角を検出し、その
値を2倍にして出力している。この2倍にした値が、出
射光と入射光との間の角度となる。
これによりデータラッチ回路19.20は、センサ32
,33が全方向光反射体34すなわち可動体31を検出
したときのミラー11.12の角度に基づいて入射角θ
1.θ2およびC31OAを得るものである。
これらの入射角θ1.θ2およびθ3.θ1は、制御装
置21に入力され、この制御装置21において当該可動
体31の3次元位置(座標)が演算さ演算される。
また、比較器25の出力は制御装置21にも供給されて
いる。この比較器25の出力により制御装置21は、上
記スイッチSW1、SW2を切り換えて、D/A変換回
路26.27の出力をモータ制御回raI7.18に接
続する。
同時に制御装置21は、モータ制御回路17゜18の駆
動電圧の振幅レベルを下げて大振幅モードから小振幅モ
ードに切り換える。
すなわち、受光素子22により反射光を検出した場合に
は、ミラーII、12による大振幅モードLの走査を、
小振幅モードMの走査に切り換えるものである。この場
合、D/A変換回路26゜27の出力は、受光素子22
の出力により逐次書き換えられてオフセット値としてモ
ータ制御回路17.18に出力されている。
例えば、第7図(A)に示すように、可動体31が運動
した場合、同図(B)に示すように、最初は大振幅モー
ドLにより広い走査範囲で走査し、可動体31を検出す
ると小振幅モードMての走査に切り換えるものである。
そして、この小振幅モードMにおいては、モータ制御回
路17.18への制御信号の指示する回動範囲の輻は大
振幅モードLの場合に比較して小さい。ミラー11,1
20回動角度は小さいものとなっている。また、この小
ff1UモードMにあっては、上記のようにオフセット
値が、可動体31の運動に伴って逐次変化する。このオ
フセット値が変更される結果、可動体31の運動にとも
なって走査範囲も変動し、可動体31の位置を常に捕捉
しながら追従することができる。また、その場合レーザ
光の無駄な動きはなくなり、その追従の速度も向上して
いるものである。
第8図は3次元座標の演算処理の原理を説明するための
概念図である。
この図において、Oはセンサ32の位置、Qはセンサ3
3の位置とする。これらのセンサ32゜33の間隔はa
だけ離れて設置されている。そして、これらのセンサ3
2,33の位置を結ぶ線をX軸、このX軸に垂直な線を
y軸、さらにこのXy平面に垂直な軸を2軸としている
。また、Pはこの3次元座標軸での可動体3】(正確に
は全方向光反射体34)の位置である。
また、Pからy軸に下ろした垂線の交点をA、PからX
Z平面に下ろした垂線の交点はC2このCから2軸、X
軸への垂線の交点はB、  Dとしている。
したがフて、可動体3103次元空間での座標は(OD
、OA、OB) で表される。
ここで、上記入射角度θ1.θ2および角度θ3゜C4
は図示のようにxy両軸との間の角度で表される。
以下、この実施例のMPtJ21での可動体3103次
元位置算出の手IImについて第9図のフローチャート
を参照して説明する。
まず、電源投入後、光R(センサ32,33の各半導体
レーザ41)を点灯する(S901)。
そして、スイッチSW1.SW2.SW3.SW4 (
これらのスイッチSW3.SW4は第2に図示していな
いがスイッチSWI、SW2と−の構成である)を接地
側に切り換える指令をている。
次に、センサ32のミラー11,12、およセンサ33
のミラー11.12をともに大振幅−ドで定められた角
度範囲内で、所定の角速度回動させる指令をモータ制御
回路17.18に査を行うものである。
そして、受光票子22から比較器25を介し受光信号が
入力されるのを確認しく5904.905)、受光信号
の入力後、上記スイッチS゛1、SW2.SW3.SW
4をD/A変換回路6.27側の端子に切り換える指令
を出力する5906)。受光時のエンコーダ15.16
か・の入射角相当値をオフセット値とするものてあ。
これにより検出目標とする可動体31の運動に5図  
しての追従を開始するものである。
同   そして、各センサ32,33のミラー11,1
出  2を小振幅モードMで定められた所定角度範囲内
で、所定角速度回動させる指令をモータ制御回路17.
18に出力する(5907)。
び、   その結果、レーザ光が可動体31の全方向光
反モ  射体34を検出すると、センサ32,33の番
受で  光素子22はデータラッチタイミング信号を出
力圧  し、データラッチ回路19.20からその検出
した位置におけるミラーの角度データ△θ1.△θ2゜
△θ3.Δθ1が人力される(590 B)。この場合
の可動体31の位置は第8図のPで示されるもて   
のとする。
S    そして、これらの角度データの入力がすべて
完W  了したか否かを判断する(5909)。
2   人力完了後、可動体31のX座標ODの算出外
(理を行う(S910)。これは、以下の計算式にろ 
   よる。
る。    0D=a t anθa/(tanθ、+
tanθ3)吋   次に、同じく可動体31のY座標
OAの算出処理を以下の式により行う(S911)。
0A=(cosθ2/CO9θ+) −(atarθg
/(tanθ++tanθ3)) 更に、そのZ座標OBの算出処理を次式によ化行う(S
912)。
OB=<(sinθ2/ c o sθ+) 2−1 
) ”・atanθ3/(tanθ1+t a nθ3
)そして、以上により、算出した座標値(OD。
OA、OB)を出力する(S9] 3)。出力は例えば
CR7表示、プリント出力とすることもできる。
次いて、算出処理が終了したか否かを判断する(591
4)。終了しない場合は、走査、検出を続行すべく、再
び上記ステップ(S908)に戻る。
一方、終了したら、光源を消灯し、センサ3233の各
ミラー11.12の回動停止の指令をモータ制御回路1
7.18に出力する(!; 915)そして、このプロ
グラムを終了する。
以上のようにして可動体3103次元位置は算出される
こととなる。そして、可動体31の運動l   にした
がってその3次元座標も変化するがこの変化した座標に
ついても順次算出することができ、)   これらの座
標に基づいて可動体31の運動パターン、運動速度等も
算出することが可能となる。
2   なお、各ミラー11.12の回転角速度、回転
角加速度も、例えば、積分等の演算処理を施すこj  
  きる。
〈発明の効果〉 以上説明してきたように、本発明に係る光学式3次元位
置検出装置によれば、検出の対象である物体側には反射
体以外のもの(回路等)を備える必要がなく、検出対象
の選択等の自由度が大きく、かつ、小型軽量で安価なシ
ステム構築が得られる。
また、検出側も比較的簡単な装置構成で、物体の3次元
位置を検出することができる。また、検出・  対象で
ある可動体の運動に対する検出側の光走査できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係る光学式3次元位置検出装置の構成
を示すブロック図、 第2図は本発明の一実施例に係る光学式3次元位置検出
装置の一方の測定部の構成を示すそのブロック図、 第3図は一実施例に係る可動体とセンサとの空間での位
置間係を示す概念図、 第4図は同じく一実施例に係る光学式3次元位置検出装
置の具体的適用例を説明するための側面図、 第5図は一実施例に係るセンサの構成を示す概念図、 第6図(A)、  (B)は一実施例に係る走査パター
ンを説明するための概念図、 第7図(A)は一実施例に係る可動体の運動を時間と1
次元位置との関係で示すグラフ、第7図(B)は一実施
例に係る走査部による発光走査の範囲を説明するための
モータ駆動電圧と時間との関係を示すグラフ、 第8図は一実施例に係る演算処理の原理を説明するため
の概念図、 第9図は一実施例に係る制御装置(MPU)でのプログ
ラムを示すフローチャートである。 11.12・・・・・・・ミラー(走査部)、13.1
4−・・◆・・・モータ(走査部)、15.16・争・
・・・争エンコーダ (検出手段)、 17.1B・・・・・・・モータ制御回路(走査部)、 19.20・・・・・・・データラッチ回路(検出手段
)、 21・・・・・・・・・・制御装置 (算出手段、走査範囲補正手段)、 22・・・・・・・・・・受光素子(受光部)、31・
・・・・・・・・・可動体、 32・・・・・・・・・・センサ (第1の測定手段)、 33・・・・・・・・・・センサ (第2の測定手段)、 34・・・・・・・・・・全方向光反射体、4】・・・
・・・・・・・半導体レーザ(発光部)、 5W1−SW4・・・・・スイッチ (走査範囲補正手段)、 100・・・・・・・・・全方向光反射体、200・・
・・・・・・・第1の測定手段、300・・・・・・・
・・第2の測定手段、400・・・・・・・・・検出手
段、 500・・・・・・・・・算出手段、 600・・・・・・・・・走査範囲補正手段。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 3次元空間を移動可能な可動体の3次元位置を検出する
    光学式3次元位置検出装置であって、この可動体に付設
    された全方向光反射体と、光を発する発光部、該発光部
    による発光で2次元走査する走査部、および、その反射
    光を受光する受光部を有し、所定位置に配設された第1
    の測定手段と、 光を発する発光部、この発光部からの発光により2次元
    走査する走査部、および、その反射光を受光する受光部
    を有し、この第1の測定手段に対して所定間隔離間して
    配設された第2の測定手段と、 これらの第1の測定手段および第2の測定手段にそれぞ
    れ入射する上記全方向光反射体からの反射光の入射角相
    当量を検出する検出手段と、これらの入射角相当量、お
    よび、上記第1の測定手段と第2の測定手段との間の間
    隔に基づいて上記全方向光反射体の3次元位置を算出す
    る算出手段と、 上記第1の測定手段および第2の測定手段が上記反射光
    を受光した後、該受光時の反射光の入射角相当値を基準
    に上記2次元走査の走査範囲を減少補正する走査範囲補
    正手段と、を備えたことを特徴とする光学式3次元位置
    検出装置。
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JP (1) JPH04155204A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005084049A (ja) * 2003-09-04 2005-03-31 Agilent Technol Inc ターゲットを光学的に追跡する方法及びシステム
KR102314424B1 (ko) * 2020-04-20 2021-10-18 건설기계부품연구원 곡가공 작업 자동화를 위한 작업 정보 수집 및 분석 시스템과 그 방법

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JP2005084049A (ja) * 2003-09-04 2005-03-31 Agilent Technol Inc ターゲットを光学的に追跡する方法及びシステム
KR102314424B1 (ko) * 2020-04-20 2021-10-18 건설기계부품연구원 곡가공 작업 자동화를 위한 작업 정보 수집 및 분석 시스템과 그 방법

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