JPH04154618A - 酸化物超電導体の製造方法 - Google Patents
酸化物超電導体の製造方法Info
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- JPH04154618A JPH04154618A JP2252287A JP25228790A JPH04154618A JP H04154618 A JPH04154618 A JP H04154618A JP 2252287 A JP2252287 A JP 2252287A JP 25228790 A JP25228790 A JP 25228790A JP H04154618 A JPH04154618 A JP H04154618A
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Classifications
-
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- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E40/00—Technologies for an efficient electrical power generation, transmission or distribution
- Y02E40/60—Superconducting electric elements or equipment; Power systems integrating superconducting elements or equipment
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- Inorganic Compounds Of Heavy Metals (AREA)
- Superconductor Devices And Manufacturing Methods Thereof (AREA)
- Superconductors And Manufacturing Methods Therefor (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は,酸化物超電導体及びその製造方法に関し、特
に、Y,Laを含む希土類、Ba.Cuをその一部とし
て含む有機金属ガスと酸化ガスとの混合ガスを用いた気
相成長法で形成される酸化物超電導体及びその製造方法
に適用して有効な技術に関するものである。
に、Y,Laを含む希土類、Ba.Cuをその一部とし
て含む有機金属ガスと酸化ガスとの混合ガスを用いた気
相成長法で形成される酸化物超電導体及びその製造方法
に適用して有効な技術に関するものである。
高温超電導体Y B az Cu、 Oy (’/はほ
ぼ7乃至9:は、約90に近傍以下の温度で電気抵抗が
零になることから、超電導関連のデバイス、線材等への
応用が考えられる。そこで、前記高温超電導体YB a
2Cu307に関する活発な研究が行なわれている。し
かし、YBa2Cu、O,は、大気中では、高温(例え
ば1気圧の空気中で約450℃以上)になるとその中に
存在する酸素の離脱、吸収が発生するため、熱的に不安
定である。更に、室温程度でも、前記YBa2Cu3○
ッの表面近傍は不安定であるため、特に水蒸気や二酸化
炭素に対して弱い。
ぼ7乃至9:は、約90に近傍以下の温度で電気抵抗が
零になることから、超電導関連のデバイス、線材等への
応用が考えられる。そこで、前記高温超電導体YB a
2Cu307に関する活発な研究が行なわれている。し
かし、YBa2Cu、O,は、大気中では、高温(例え
ば1気圧の空気中で約450℃以上)になるとその中に
存在する酸素の離脱、吸収が発生するため、熱的に不安
定である。更に、室温程度でも、前記YBa2Cu3○
ッの表面近傍は不安定であるため、特に水蒸気や二酸化
炭素に対して弱い。
このような化学的特性があるために、前記YBa2Cu
、O,を実用化するにあたっては、プロセス加工が極め
て困難である。
、O,を実用化するにあたっては、プロセス加工が極め
て困難である。
また、前記YBa2Cu302に類似した超電導材料と
して、YBa2Cu、○、及びこのY B a2Cui
○8のYの一部をCaで置換したYt−zcaxBa2
cu4011(x:0.1)等がある。前記YBa2C
u、O,の臨界温度(以下Tcという)は、約80にで
ある。
して、YBa2Cu、○、及びこのY B a2Cui
○8のYの一部をCaで置換したYt−zcaxBa2
cu4011(x:0.1)等がある。前記YBa2C
u、O,の臨界温度(以下Tcという)は、約80にで
ある。
前記Y t−、Ca、Ba2Cu40.のTcは、約9
0にである。このYl−、Ca、Ba2Cu40.系は
、 YBa2Cu30.と比べて、熱的に安定してお
り、空気中で約800℃まで昇温しでも、酸素の離脱に
よる重量減少がほとんどない。従って、このY 、−t
caxBa2Cu40.系の材料は、高温での超電導デ
バイス又は線材への加工が安定なので、実用上重要な材
料と考えられる。しかし、この Yl−、Ca、Ba2
Cu40 、系の材料は、酸素高圧下で作製されるため
、常圧又は減圧下での成長・形成(アズブローン;A
s−G ro臀n)の作製例はない。
0にである。このYl−、Ca、Ba2Cu40.系は
、 YBa2Cu30.と比べて、熱的に安定してお
り、空気中で約800℃まで昇温しでも、酸素の離脱に
よる重量減少がほとんどない。従って、このY 、−t
caxBa2Cu40.系の材料は、高温での超電導デ
バイス又は線材への加工が安定なので、実用上重要な材
料と考えられる。しかし、この Yl−、Ca、Ba2
Cu40 、系の材料は、酸素高圧下で作製されるため
、常圧又は減圧下での成長・形成(アズブローン;A
s−G ro臀n)の作製例はない。
気相成長法による酸化物超電導体の形成は、超電導デバ
イスのみならず、線材化技術にも有望であり、特にガス
の原料として有機金属を使用した有機金属気相成長(M
OCVD)法が注目されている。しかし、現在行なわれ
ているMOCVD法では、Y系の超電導体に関しては、
YBa2Cu、0゜がほとんどであり、Y 1−wc
axBa2Cu40.系の膜の形成例はない。
イスのみならず、線材化技術にも有望であり、特にガス
の原料として有機金属を使用した有機金属気相成長(M
OCVD)法が注目されている。しかし、現在行なわれ
ているMOCVD法では、Y系の超電導体に関しては、
YBa2Cu、0゜がほとんどであり、Y 1−wc
axBa2Cu40.系の膜の形成例はない。
本発明は、前記問題点を解決するためになされたもので
ある。
ある。
本発明の目的は、RBa2Cu40.又はR、−、Ca
fB a2Cu40.系の高温で安定した酸化物超電導
体を提供することにある。ここで、Rは、Y、La等の
希土類元素である。
fB a2Cu40.系の高温で安定した酸化物超電導
体を提供することにある。ここで、Rは、Y、La等の
希土類元素である。
本発明の他の目的は、高温で安定した酸化物超電導体を
MOCVD法で形成することができる技術を提供するこ
とにある。
MOCVD法で形成することができる技術を提供するこ
とにある。
本発明の他の目的は、前記酸化物超電導体を使用した超
電導装置を形成することができる技術を提供することに
ある。
電導装置を形成することができる技術を提供することに
ある。
本発明の他の目的は、酸化物超電導体の構成元素の比率
がばらついている場合でも、希土類。
がばらついている場合でも、希土類。
Ba、Cuの組成が、l:2:4の割合で構成される酸
化物超電導体を含む膜を安定にMOCVD法で形成する
ことができる技術を提供することにある。
化物超電導体を含む膜を安定にMOCVD法で形成する
ことができる技術を提供することにある。
本発明の前記ならびにその他の目的と新規な特徴は、本
明細書の記述及び添付図面によって明らかになるであろ
う。
明細書の記述及び添付図面によって明らかになるであろ
う。
前記目的を達成するために、本発明は、Y、Laを含む
希土類、Ba、Cu及びOを構成元素として含む酸化物
超電導体であって、前記希土類、Ba、Cuの組成が1
:2:4の割合で構成される酸化物超電導体のみを抽出
し、それを粉末にして成形した後、熱処理して酸化物超
電導体を形成したことを特徴とする。
希土類、Ba、Cu及びOを構成元素として含む酸化物
超電導体であって、前記希土類、Ba、Cuの組成が1
:2:4の割合で構成される酸化物超電導体のみを抽出
し、それを粉末にして成形した後、熱処理して酸化物超
電導体を形成したことを特徴とする。
また、酸化物超電導体の製造方法において、少なくとも
前記希土類、Ba、Cuをその一部として含む有機金属
ガス並びに酸素ガスを用い、気相成長法により、前記希
土類、Ba、Cu及び○を構成元素として含み、前記希
土類、Ba、Cuの組成比が1:2:4の割合である酸
化物超電導体を含む酸化物を基板上に形成したことを特
徴とする。
前記希土類、Ba、Cuをその一部として含む有機金属
ガス並びに酸素ガスを用い、気相成長法により、前記希
土類、Ba、Cu及び○を構成元素として含み、前記希
土類、Ba、Cuの組成比が1:2:4の割合である酸
化物超電導体を含む酸化物を基板上に形成したことを特
徴とする。
また、前記酸化物超電導体を、700℃乃至840℃の
温度範囲で形成したことを特徴と−する。
温度範囲で形成したことを特徴と−する。
また、前記酸化物超電導体を、少なくとも7゜5Tor
r乃至34Torrの酸素分圧で形成したことを特徴と
する。
r乃至34Torrの酸素分圧で形成したことを特徴と
する。
また、前記希土類の一部を、Caで置換したことを特徴
とする。
とする。
前述した手段によれば、前記希土類、Ba、 Cuの組
成が約1:2:4の割合で構成される酸化物超電導体を
含むので、 RBa2Cu、07系又はRニー、Ca、
Ba、Cu40.系の高温で安定した酸化物超電導体を
提供することができる。
成が約1:2:4の割合で構成される酸化物超電導体を
含むので、 RBa2Cu、07系又はRニー、Ca、
Ba、Cu40.系の高温で安定した酸化物超電導体を
提供することができる。
また、前記基板上に形成された酸化膜中に、前記R,B
a、Cuの組成比が夫々約1:2:4の割合である酸化
物超電導体を含むので、高温で安定した酸化物超電導体
すなわちRBa2Cu40.系又はRL −x Ca
x B a 2 Cu 40 y系の酸化物超電導体を
、MOCVD法で形成することができる。
a、Cuの組成比が夫々約1:2:4の割合である酸化
物超電導体を含むので、高温で安定した酸化物超電導体
すなわちRBa2Cu40.系又はRL −x Ca
x B a 2 Cu 40 y系の酸化物超電導体を
、MOCVD法で形成することができる。
また、前記温度範囲で、かつ、少なくとも7゜5Tor
r乃至34 Torrの酸素分圧で形成することにより
、前記酸化物超電導体を含む膜をMOCVD法で安定に
形成することができる。
r乃至34 Torrの酸素分圧で形成することにより
、前記酸化物超電導体を含む膜をMOCVD法で安定に
形成することができる。
以下、本発明の実施例を図面を用いて具体的に説明する
。
。
なお、実施例を説明するための全回において。
同一機能を有するものは同一符号を付け、その繰り返し
の説明は省略する。
の説明は省略する。
[実施例■]
本発明の実施例■の酸化物超電導体の形成方法を説明す
る。
る。
第1図は、MOCVD装置の要部の概略構成を示す図で
ある。第1図に示すように、本実施例Iで使用するMO
CVD装置は、従来から使用されているものと同様であ
る。
ある。第1図に示すように、本実施例Iで使用するMO
CVD装置は、従来から使用されているものと同様であ
る。
前記MOCVD装置を使用し、Y、Ba、Cuの有機金
属原料として、イツトリウムβジケトネート、バリウム
βジケトネート及び銅のβジケトネートを使用し、夫々
の蒸気を超電導体の組成比になる比率にし、更に酸素を
加えて混合ガスを作成する。この混合ガスを、前記MO
CVD装置の石英リアクタ1の混合ガス人口2から注入
する。前記リアクタ1の中央部には、サポータ3に支持
されたサセプタ4及びこのサセプタ4上に取り付けられ
た基板5が配置されている。前記サポータ3は、例えば
絶縁体で構成されている。前記サセプタ4は、例えば白
金で構成されている。前記基板5は、例えばMgOの単
結晶で構成されている。
属原料として、イツトリウムβジケトネート、バリウム
βジケトネート及び銅のβジケトネートを使用し、夫々
の蒸気を超電導体の組成比になる比率にし、更に酸素を
加えて混合ガスを作成する。この混合ガスを、前記MO
CVD装置の石英リアクタ1の混合ガス人口2から注入
する。前記リアクタ1の中央部には、サポータ3に支持
されたサセプタ4及びこのサセプタ4上に取り付けられ
た基板5が配置されている。前記サポータ3は、例えば
絶縁体で構成されている。前記サセプタ4は、例えば白
金で構成されている。前記基板5は、例えばMgOの単
結晶で構成されている。
また、この基板5を5rTiO,で構成することもでき
る。
る。
前記サセプタ4を、高周波コイル6によって加熱し、前
記基板5を加熱すると共に、前記注入された混合ガスを
加熱する。前記混合ガスを加熱することによって、前記
基板5の近傍で化学反応が起こり、Y、Ba、Cu及び
Oからなる酸化膜が前記基板5の表面上に形成される。
記基板5を加熱すると共に、前記注入された混合ガスを
加熱する。前記混合ガスを加熱することによって、前記
基板5の近傍で化学反応が起こり、Y、Ba、Cu及び
Oからなる酸化膜が前記基板5の表面上に形成される。
この形成された酸化膜中のY、Ba、Cu及び○の組成
比は、前記混合ガスの混合比、前記基板5の温度等に微
妙に影響を受けることが分かった。本実施例■では。
比は、前記混合ガスの混合比、前記基板5の温度等に微
妙に影響を受けることが分かった。本実施例■では。
特に、YBa2Cu40゜の膜を形成するための基板温
度条件、酸素の分圧等について、詳細な実験を行なった
。
度条件、酸素の分圧等について、詳細な実験を行なった
。
Y、Ba及びCuの原料である有機金属(固体)を入れ
た容器を、夫々100乃至200℃、225乃至235
℃及び100乃至115℃に加熱した。
た容器を、夫々100乃至200℃、225乃至235
℃及び100乃至115℃に加熱した。
これら固体原料から蒸発したガスを、Arガス(50乃
至150i/分)によって搬送し、前記リアクタlに注
入した。このリアクタl中での混合ガスの全圧は、10
Torr程度である。前記基板5の大きさは、 1■
×1σ×0.5■である。この基板5の温度は、700
℃乃至850℃に設定する。前記基板5の表面上に酸化
膜を形成した後、前記リアクタ1内部の圧力が、1気圧
になるまで酸素を注入し、冷却速度10°C/分で室温
まで冷却した。形成された酸化膜の平均組成を、プラズ
マ発光分析装置で測定した。また、酸化膜の結晶構成を
、X線回折により測定した。800℃で形成した酸化膜
のX線回折パターンの一例を、第2図に示す。この第2
図に示すX線回折パターンから、第8図に示すように、
形成された酸化膜100の組成は、YBa2Cu40.
相8とYBa2Cu、O,相9の混合物であり、明らか
にYBa2Cu、O,相8が存在していることが確認さ
れる。YBa2Cu408相8の薄膜のC軸方向の格子
定数Cは、27゜24人であり、かつ、このYBa2C
u40.相8のC軸方向は、前記基板5の表面に対して
、はぼ垂直に配向していることが分かった。
至150i/分)によって搬送し、前記リアクタlに注
入した。このリアクタl中での混合ガスの全圧は、10
Torr程度である。前記基板5の大きさは、 1■
×1σ×0.5■である。この基板5の温度は、700
℃乃至850℃に設定する。前記基板5の表面上に酸化
膜を形成した後、前記リアクタ1内部の圧力が、1気圧
になるまで酸素を注入し、冷却速度10°C/分で室温
まで冷却した。形成された酸化膜の平均組成を、プラズ
マ発光分析装置で測定した。また、酸化膜の結晶構成を
、X線回折により測定した。800℃で形成した酸化膜
のX線回折パターンの一例を、第2図に示す。この第2
図に示すX線回折パターンから、第8図に示すように、
形成された酸化膜100の組成は、YBa2Cu40.
相8とYBa2Cu、O,相9の混合物であり、明らか
にYBa2Cu、O,相8が存在していることが確認さ
れる。YBa2Cu408相8の薄膜のC軸方向の格子
定数Cは、27゜24人であり、かつ、このYBa2C
u40.相8のC軸方向は、前記基板5の表面に対して
、はぼ垂直に配向していることが分かった。
次に、前記基板5の温度を、660℃乃至850℃に設
定し、混合ガスの組成比を微妙に変えて、数多くの薄膜
試料を作成した。1,2.4相の出現した試料を作成し
たときの基板5の温度、混合ガスの全圧、酸素の分圧、
及び得られた試料中のY、Ba、Cuの組成比を第1表
に示す。
定し、混合ガスの組成比を微妙に変えて、数多くの薄膜
試料を作成した。1,2.4相の出現した試料を作成し
たときの基板5の温度、混合ガスの全圧、酸素の分圧、
及び得られた試料中のY、Ba、Cuの組成比を第1表
に示す。
以下、余白。
また、基板5の温度を750または800’C。
混合ガスの全圧を10.20または40 Torr、酸
素の分圧を7.5.17.5または34 Torrに夫
々設定し、混合ガス(BaO,Y 20 、 、 C’
u○)の組成比を種々変化させ、数多くの薄膜試料を
作成した。各試料のうち、X線回折の測定の結果YBa
。
素の分圧を7.5.17.5または34 Torrに夫
々設定し、混合ガス(BaO,Y 20 、 、 C’
u○)の組成比を種々変化させ、数多くの薄膜試料を
作成した。各試料のうち、X線回折の測定の結果YBa
。
Cu408相8の存在が確認されたもの一部を、第3図
乃至第6図に白丸で示す。第3図は、基板5の温度75
0℃、混合ガスの全圧10 Torr、 112素の分
圧7.5Torrに設定したものを示す。第4図は、基
板5の温度800℃、混合ガスの全圧10Torr、酸
素の分圧7.5Torrに設定したものを示す。第5図
は、基板5の温度800℃、混合ガスの全圧20 To
rr、 Ill素の分圧17.5Torrに設定したも
のを示す。第6図は、基板5の温度800℃、混合ガス
の全圧40Torr、酸素の分圧34Torrに設定し
たものを示す。第3図乃至第6図において、実線、破線
、−点鎖線の夫々で囲って示す範囲で、YBa2Cu4
0.相8が得られている。また、これらの結果を総合し
、前記実線、破線、−点鎖線の夫々のみを第7図に示す
。また、前記基板5の温度を850℃及び660’Cに
設定した場合には、少なくともX線回折で測定できる範
囲内で、 YBa2Cu40s相8を検知できなかった
。
乃至第6図に白丸で示す。第3図は、基板5の温度75
0℃、混合ガスの全圧10 Torr、 112素の分
圧7.5Torrに設定したものを示す。第4図は、基
板5の温度800℃、混合ガスの全圧10Torr、酸
素の分圧7.5Torrに設定したものを示す。第5図
は、基板5の温度800℃、混合ガスの全圧20 To
rr、 Ill素の分圧17.5Torrに設定したも
のを示す。第6図は、基板5の温度800℃、混合ガス
の全圧40Torr、酸素の分圧34Torrに設定し
たものを示す。第3図乃至第6図において、実線、破線
、−点鎖線の夫々で囲って示す範囲で、YBa2Cu4
0.相8が得られている。また、これらの結果を総合し
、前記実線、破線、−点鎖線の夫々のみを第7図に示す
。また、前記基板5の温度を850℃及び660’Cに
設定した場合には、少なくともX線回折で測定できる範
囲内で、 YBa2Cu40s相8を検知できなかった
。
以上の説明から分かるように1本実施例Iによれば、M
OCVD法でYBa2Cu40s相を形成できる。
OCVD法でYBa2Cu40s相を形成できる。
また、本実施例■の酸素の分圧を7.5Torrから3
4Torrまで増大させた結果から、酸素の分圧を更に
(例えば、latm(気圧)程度まで)増大させても安
定にMOC,VD法で酸化物超電導体を含む膜を形成す
ることができることがわかるであろう。また、このこと
から、製造装置の許容範囲内で酸素の分圧を増大させる
ことにより、同様な結果が得られることが容易に推測で
きる。
4Torrまで増大させた結果から、酸素の分圧を更に
(例えば、latm(気圧)程度まで)増大させても安
定にMOC,VD法で酸化物超電導体を含む膜を形成す
ることができることがわかるであろう。また、このこと
から、製造装置の許容範囲内で酸素の分圧を増大させる
ことにより、同様な結果が得られることが容易に推測で
きる。
[実施例■]
前記実施例■で形成された酸化膜の組成分析の結果から
分かるように、例えば第8図に示すようシこ、前記YB
a2Cu40.相8はYBa2Cu、O,相9中に混在
している。前記YBa2Cu2O7相8のみを残すよう
に、ドライエツチング(例えばプラズマエツチング)を
行なうことにより、前記YBa2Cu、O,相8を第9
図に示す形状にすることができる。 このYBa、Cu
40.相8 の臨界温度(T c)は、約80にである
。このYBa2Cu40Il相8を用いれば、高温で安
定した超電導デバイスを作製することができる。作製で
きる超電導デバイスとしては、例えば5QUIDやジョ
セフソン・ジャンクションが考えられる。
分かるように、例えば第8図に示すようシこ、前記YB
a2Cu40.相8はYBa2Cu、O,相9中に混在
している。前記YBa2Cu2O7相8のみを残すよう
に、ドライエツチング(例えばプラズマエツチング)を
行なうことにより、前記YBa2Cu、O,相8を第9
図に示す形状にすることができる。 このYBa、Cu
40.相8 の臨界温度(T c)は、約80にである
。このYBa2Cu40Il相8を用いれば、高温で安
定した超電導デバイスを作製することができる。作製で
きる超電導デバイスとしては、例えば5QUIDやジョ
セフソン・ジャンクションが考えられる。
以上の説明から分かるように、本実施例■によれば、高
温で安定した酸化物超電導体を、任意形状に形成するこ
とによって、前記酸化物超電導体を使用した超電導デバ
イスを形成することができる。
温で安定した酸化物超電導体を、任意形状に形成するこ
とによって、前記酸化物超電導体を使用した超電導デバ
イスを形成することができる。
[実施例■コ
本実施例■の酸化物超電導体は、前記実施例■又は■に
おいて、前記Yの一部をCaで置換したものである。C
aの原料としては、例えば有機金属カルシウムβジケト
ネートを使用することにより、Caを添加することがで
きた。更に、Y以外の希土類元素(Er、T−等)を含
む有機金属を原料として用いれば、Yの一部をEr、T
−等で置換した形態の酸化物超電導体を形成することが
できた。
おいて、前記Yの一部をCaで置換したものである。C
aの原料としては、例えば有機金属カルシウムβジケト
ネートを使用することにより、Caを添加することがで
きた。更に、Y以外の希土類元素(Er、T−等)を含
む有機金属を原料として用いれば、Yの一部をEr、T
−等で置換した形態の酸化物超電導体を形成することが
できた。
Yの一部を、Caで置換した場合、Tcが多少改善され
るので、更に、高温で安定した酸化物超電導体をMOC
VD法で形成することができた。
るので、更に、高温で安定した酸化物超電導体をMOC
VD法で形成することができた。
[実施例■]
本実施例■は、前記基板5をSi基板10で構成し、ス
パッタリング法によってこの基板10上にMg○膜11
を形成し、更にこのMgO膜1膜上1上化膜8を形成し
たものである。
パッタリング法によってこの基板10上にMg○膜11
を形成し、更にこのMgO膜1膜上1上化膜8を形成し
たものである。
基板lO上に、スパッタリング法によって、膜厚約5p
mのMgO膜1膜製1成し、このMgO膜l膜上l上酸
化膜(YBa2Cu40.相)8をMOCVD法により
形成した。このYBa2Cu40.相8のTcは、約7
8にであり、その膜厚は約2μm程度である。
mのMgO膜1膜製1成し、このMgO膜l膜上l上酸
化膜(YBa2Cu40.相)8をMOCVD法により
形成した。このYBa2Cu40.相8のTcは、約7
8にであり、その膜厚は約2μm程度である。
このYBa2Cu40.相8を用いて、SNS (超電
導−非超電導−超電導)構成のデバイスを形成した。こ
のデバイスは、第10A図(要部断面図)及び第10B
図(斜視図)に示すように、一対のYBa2Cu408
Ba2Cu408相84を設け、前記一対のYBa2C
u40.膜8の夫々に電極12を介してリード線13を
接続したものである。
導−非超電導−超電導)構成のデバイスを形成した。こ
のデバイスは、第10A図(要部断面図)及び第10B
図(斜視図)に示すように、一対のYBa2Cu408
Ba2Cu408相84を設け、前記一対のYBa2C
u40.膜8の夫々に電極12を介してリード線13を
接続したものである。
前記YBa2Cu2O7膜8は1例えば前記実施例■と
同様にドライエツチングによって長方形状にパターンニ
ングした。
同様にドライエツチングによって長方形状にパターンニ
ングした。
前記非超電導相14は、高速電子ビーム(1メガeV)
又はプロトン照射によって、前記Y B a z CL
I40s相8の一部を、ストライプ状の非超電導相14
に形成したものである(電子ビームの照射量は例えば1
017■−2)。前記非超電導相14の幅が、数百C数
100)人程度の時、このデバイスのI−V曲線に非線
形が確認され、YBa2Cu40.相8が5QUIDや
ジョセフソン素子用基板として有用であることが分かっ
た。
又はプロトン照射によって、前記Y B a z CL
I40s相8の一部を、ストライプ状の非超電導相14
に形成したものである(電子ビームの照射量は例えば1
017■−2)。前記非超電導相14の幅が、数百C数
100)人程度の時、このデバイスのI−V曲線に非線
形が確認され、YBa2Cu40.相8が5QUIDや
ジョセフソン素子用基板として有用であることが分かっ
た。
以上の説明から分かるように、本実施例■によれば、高
温で安定な酸化物超電導体を使用した超電導デバイスを
形成することができる。
温で安定な酸化物超電導体を使用した超電導デバイスを
形成することができる。
[実施例■]
本発明の実施例Vの酸化物超電導体は、前記実施例■の
YBa2Cu408相8のみを抽出し、それを粉砕にし
て所定の形状に加工した後1通常の熱処理を行なって酸
化物超電導板を作製したものであった。
YBa2Cu408相8のみを抽出し、それを粉砕にし
て所定の形状に加工した後1通常の熱処理を行なって酸
化物超電導板を作製したものであった。
以上の説明から分かるように、本実施例Vによれば、Y
Ba2Cu40.相8のみから構成される酸化物超電導
体を任意の形状に作製することができる。
Ba2Cu40.相8のみから構成される酸化物超電導
体を任意の形状に作製することができる。
以上、本発明を実施例にもとづき具体的に説明したが1
本発明は、前記実施例に限定されるものではなく、その
要旨を逸脱しない範囲において種々変更可能であること
は言うまでもない。
本発明は、前記実施例に限定されるものではなく、その
要旨を逸脱しない範囲において種々変更可能であること
は言うまでもない。
以上の説明から分かるように1本発明によれば。
RB a2Cu40.又はR+−,Ca、Ba2Cu、
○ッ系の高温で安定した酸化物超電導体を提供すること
ができる。
○ッ系の高温で安定した酸化物超電導体を提供すること
ができる。
また、高温で安定した酸化物超電導体を、MOCVD法
で形成することができる。
で形成することができる。
また、酸化物超電導体を含む膜をMOCVD法で安定に
形成することができる。
形成することができる。
第1図は1本発明の酸化物超電導体薄膜の形成に係るM
OCVD装置の概略構成を示す図、第2図は、本発明の
実施例Iの酸化膜のX線回折パターンを示す図5 第3図は、750℃、全圧10Torr、酸素分圧7.
5Torrで作製した酸化膜の組成状態図、第4図は、
800℃、全圧10Torr、酸素分圧7.5Torr
で作製した酸化膜の組成状態図、第5図は、800℃、
全圧20Torr、酸素分圧17.5Torrで作製し
た酸化膜の組成状態図、第6図は、800℃、全圧40
Torr、酸素分圧34Torrで作製した酸化膜の組
成状態図。 第7図は、YBa2Cu2O7相が得られる組成範囲を
示す組成状態図。 第8図及び第9図は1本発明の実施例■の酸化膜を基板
上に形成した状態を示す要部断面図、第10A図は1本
発明の実施例■の酸化物超電導体薄膜を用いた超電導装
置の要部断面図、第10B図、前記超電導装置の斜視図
である。 図中、1・・・リアクタ、2・・・混合ガス入口、3・
・・サポータ、4・・・サセプタ、5・・・基板、6・
・・RFコイル、7・・・廃ガス出口である。
OCVD装置の概略構成を示す図、第2図は、本発明の
実施例Iの酸化膜のX線回折パターンを示す図5 第3図は、750℃、全圧10Torr、酸素分圧7.
5Torrで作製した酸化膜の組成状態図、第4図は、
800℃、全圧10Torr、酸素分圧7.5Torr
で作製した酸化膜の組成状態図、第5図は、800℃、
全圧20Torr、酸素分圧17.5Torrで作製し
た酸化膜の組成状態図、第6図は、800℃、全圧40
Torr、酸素分圧34Torrで作製した酸化膜の組
成状態図。 第7図は、YBa2Cu2O7相が得られる組成範囲を
示す組成状態図。 第8図及び第9図は1本発明の実施例■の酸化膜を基板
上に形成した状態を示す要部断面図、第10A図は1本
発明の実施例■の酸化物超電導体薄膜を用いた超電導装
置の要部断面図、第10B図、前記超電導装置の斜視図
である。 図中、1・・・リアクタ、2・・・混合ガス入口、3・
・・サポータ、4・・・サセプタ、5・・・基板、6・
・・RFコイル、7・・・廃ガス出口である。
Claims (7)
- (1)Y、Laを含む希土類、Ba、Cu及びOを構成
元素として含む酸化物超電導体であって、前記希土類、
Ba、Cuの組成が1:2:4の割合で構成される酸化
物超電導体のみを抽出し、それを粉末にして成形した後
、熱処理して酸化物超電導体を形成したことを特徴とす
る酸化物超電導体。 - (2)酸化物超電導体の製造方法において、少なくとも
前記希土類、Ba及びCuをその一部として含む有機金
属ガス並びに酸素ガスを用い、気相成長法により、前記
希土類、Ba、Cu及びOを構成元素として含み、前記
希土類、Ba、Cuの組成比が1:2:4の割合で構成
される酸化物超電導体を含む酸化物を、基板上に形成し
たことを特徴とする酸化物超電導体の製造方法。 - (3)前記請求項第1項又は第2項のいずれか一項に記
載の希土類元素の一部をCaで置換したことを特徴とす
る酸化物超電導体又は製造方法。 - (4)前記請求項第2項又は第3項に記載の酸化物超電
導体を、700℃乃至840℃の温度範囲で形成したこ
とを特徴とする酸化物超電導体の製造方法。 - (5)前記酸化物超電導体を、少なくとも7.5Tor
r乃至34Torrの酸素分圧で形成することを特徴と
する前記請求項4に記載の酸化物超電導体の製造方法。 - (6)前記請求項第2項乃至第5項のいずれか一項に記
載の基板が、酸化物体、金属、半導体又は絶縁体のいず
れかから構成されていることを特徴とする酸化物超電導
体の製造方法。 - (7)前記請求項第6項に記載の酸化物体が、MgO又
はSrTiO_3であることを特徴とする酸化物超電導
体の製造方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP29543289 | 1989-11-14 | ||
JP1-295432 | 1989-11-14 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04154618A true JPH04154618A (ja) | 1992-05-27 |
JP2637615B2 JP2637615B2 (ja) | 1997-08-06 |
Family
ID=17820527
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2252287A Expired - Fee Related JP2637615B2 (ja) | 1989-11-14 | 1990-09-21 | 酸化物超電導体の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2637615B2 (ja) |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01104774A (ja) * | 1987-10-14 | 1989-04-21 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 酸化物超伝導体薄膜の製造方法 |
-
1990
- 1990-09-21 JP JP2252287A patent/JP2637615B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01104774A (ja) * | 1987-10-14 | 1989-04-21 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 酸化物超伝導体薄膜の製造方法 |
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---|---|
JP2637615B2 (ja) | 1997-08-06 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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