JPH04154618A - 酸化物超電導体の製造方法 - Google Patents

酸化物超電導体の製造方法

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JPH04154618A
JPH04154618A JP2252287A JP25228790A JPH04154618A JP H04154618 A JPH04154618 A JP H04154618A JP 2252287 A JP2252287 A JP 2252287A JP 25228790 A JP25228790 A JP 25228790A JP H04154618 A JPH04154618 A JP H04154618A
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融 塩原
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は,酸化物超電導体及びその製造方法に関し、特
に、Y,Laを含む希土類、Ba.Cuをその一部とし
て含む有機金属ガスと酸化ガスとの混合ガスを用いた気
相成長法で形成される酸化物超電導体及びその製造方法
に適用して有効な技術に関するものである。
〔従来技術〕
高温超電導体Y B az Cu、 Oy (’/はほ
ぼ7乃至9:は、約90に近傍以下の温度で電気抵抗が
零になることから、超電導関連のデバイス、線材等への
応用が考えられる。そこで、前記高温超電導体YB a
2Cu307に関する活発な研究が行なわれている。し
かし、YBa2Cu、O,は、大気中では、高温(例え
ば1気圧の空気中で約450℃以上)になるとその中に
存在する酸素の離脱、吸収が発生するため、熱的に不安
定である。更に、室温程度でも、前記YBa2Cu3○
ッの表面近傍は不安定であるため、特に水蒸気や二酸化
炭素に対して弱い。
このような化学的特性があるために、前記YBa2Cu
、O,を実用化するにあたっては、プロセス加工が極め
て困難である。
また、前記YBa2Cu302に類似した超電導材料と
して、YBa2Cu、○、及びこのY B a2Cui
○8のYの一部をCaで置換したYt−zcaxBa2
cu4011(x:0.1)等がある。前記YBa2C
u、O,の臨界温度(以下Tcという)は、約80にで
ある。
前記Y t−、Ca、Ba2Cu40.のTcは、約9
0にである。このYl−、Ca、Ba2Cu40.系は
、  YBa2Cu30.と比べて、熱的に安定してお
り、空気中で約800℃まで昇温しでも、酸素の離脱に
よる重量減少がほとんどない。従って、このY 、−t
caxBa2Cu40.系の材料は、高温での超電導デ
バイス又は線材への加工が安定なので、実用上重要な材
料と考えられる。しかし、この Yl−、Ca、Ba2
Cu40 、系の材料は、酸素高圧下で作製されるため
、常圧又は減圧下での成長・形成(アズブローン;A 
s−G ro臀n)の作製例はない。
〔発明が解決しようとする課題〕
気相成長法による酸化物超電導体の形成は、超電導デバ
イスのみならず、線材化技術にも有望であり、特にガス
の原料として有機金属を使用した有機金属気相成長(M
OCVD)法が注目されている。しかし、現在行なわれ
ているMOCVD法では、Y系の超電導体に関しては、
 YBa2Cu、0゜がほとんどであり、Y 1−wc
axBa2Cu40.系の膜の形成例はない。
本発明は、前記問題点を解決するためになされたもので
ある。
本発明の目的は、RBa2Cu40.又はR、−、Ca
fB a2Cu40.系の高温で安定した酸化物超電導
体を提供することにある。ここで、Rは、Y、La等の
希土類元素である。
本発明の他の目的は、高温で安定した酸化物超電導体を
MOCVD法で形成することができる技術を提供するこ
とにある。
本発明の他の目的は、前記酸化物超電導体を使用した超
電導装置を形成することができる技術を提供することに
ある。
本発明の他の目的は、酸化物超電導体の構成元素の比率
がばらついている場合でも、希土類。
Ba、Cuの組成が、l:2:4の割合で構成される酸
化物超電導体を含む膜を安定にMOCVD法で形成する
ことができる技術を提供することにある。
本発明の前記ならびにその他の目的と新規な特徴は、本
明細書の記述及び添付図面によって明らかになるであろ
う。
〔課題を解決するための手段〕
前記目的を達成するために、本発明は、Y、Laを含む
希土類、Ba、Cu及びOを構成元素として含む酸化物
超電導体であって、前記希土類、Ba、Cuの組成が1
:2:4の割合で構成される酸化物超電導体のみを抽出
し、それを粉末にして成形した後、熱処理して酸化物超
電導体を形成したことを特徴とする。
また、酸化物超電導体の製造方法において、少なくとも
前記希土類、Ba、Cuをその一部として含む有機金属
ガス並びに酸素ガスを用い、気相成長法により、前記希
土類、Ba、Cu及び○を構成元素として含み、前記希
土類、Ba、Cuの組成比が1:2:4の割合である酸
化物超電導体を含む酸化物を基板上に形成したことを特
徴とする。
また、前記酸化物超電導体を、700℃乃至840℃の
温度範囲で形成したことを特徴と−する。
また、前記酸化物超電導体を、少なくとも7゜5Tor
r乃至34Torrの酸素分圧で形成したことを特徴と
する。
また、前記希土類の一部を、Caで置換したことを特徴
とする。
〔作 用〕
前述した手段によれば、前記希土類、Ba、 Cuの組
成が約1:2:4の割合で構成される酸化物超電導体を
含むので、 RBa2Cu、07系又はRニー、Ca、
Ba、Cu40.系の高温で安定した酸化物超電導体を
提供することができる。
また、前記基板上に形成された酸化膜中に、前記R,B
a、Cuの組成比が夫々約1:2:4の割合である酸化
物超電導体を含むので、高温で安定した酸化物超電導体
すなわちRBa2Cu40.系又はRL −x Ca 
x B a 2 Cu 40 y系の酸化物超電導体を
、MOCVD法で形成することができる。
また、前記温度範囲で、かつ、少なくとも7゜5Tor
r乃至34 Torrの酸素分圧で形成することにより
、前記酸化物超電導体を含む膜をMOCVD法で安定に
形成することができる。
〔発明の実施例〕
以下、本発明の実施例を図面を用いて具体的に説明する
なお、実施例を説明するための全回において。
同一機能を有するものは同一符号を付け、その繰り返し
の説明は省略する。
[実施例■] 本発明の実施例■の酸化物超電導体の形成方法を説明す
る。
第1図は、MOCVD装置の要部の概略構成を示す図で
ある。第1図に示すように、本実施例Iで使用するMO
CVD装置は、従来から使用されているものと同様であ
る。
前記MOCVD装置を使用し、Y、Ba、Cuの有機金
属原料として、イツトリウムβジケトネート、バリウム
βジケトネート及び銅のβジケトネートを使用し、夫々
の蒸気を超電導体の組成比になる比率にし、更に酸素を
加えて混合ガスを作成する。この混合ガスを、前記MO
CVD装置の石英リアクタ1の混合ガス人口2から注入
する。前記リアクタ1の中央部には、サポータ3に支持
されたサセプタ4及びこのサセプタ4上に取り付けられ
た基板5が配置されている。前記サポータ3は、例えば
絶縁体で構成されている。前記サセプタ4は、例えば白
金で構成されている。前記基板5は、例えばMgOの単
結晶で構成されている。
また、この基板5を5rTiO,で構成することもでき
る。
前記サセプタ4を、高周波コイル6によって加熱し、前
記基板5を加熱すると共に、前記注入された混合ガスを
加熱する。前記混合ガスを加熱することによって、前記
基板5の近傍で化学反応が起こり、Y、Ba、Cu及び
Oからなる酸化膜が前記基板5の表面上に形成される。
この形成された酸化膜中のY、Ba、Cu及び○の組成
比は、前記混合ガスの混合比、前記基板5の温度等に微
妙に影響を受けることが分かった。本実施例■では。
特に、YBa2Cu40゜の膜を形成するための基板温
度条件、酸素の分圧等について、詳細な実験を行なった
Y、Ba及びCuの原料である有機金属(固体)を入れ
た容器を、夫々100乃至200℃、225乃至235
℃及び100乃至115℃に加熱した。
これら固体原料から蒸発したガスを、Arガス(50乃
至150i/分)によって搬送し、前記リアクタlに注
入した。このリアクタl中での混合ガスの全圧は、10
 Torr程度である。前記基板5の大きさは、 1■
×1σ×0.5■である。この基板5の温度は、700
℃乃至850℃に設定する。前記基板5の表面上に酸化
膜を形成した後、前記リアクタ1内部の圧力が、1気圧
になるまで酸素を注入し、冷却速度10°C/分で室温
まで冷却した。形成された酸化膜の平均組成を、プラズ
マ発光分析装置で測定した。また、酸化膜の結晶構成を
、X線回折により測定した。800℃で形成した酸化膜
のX線回折パターンの一例を、第2図に示す。この第2
図に示すX線回折パターンから、第8図に示すように、
形成された酸化膜100の組成は、YBa2Cu40.
相8とYBa2Cu、O,相9の混合物であり、明らか
にYBa2Cu、O,相8が存在していることが確認さ
れる。YBa2Cu408相8の薄膜のC軸方向の格子
定数Cは、27゜24人であり、かつ、このYBa2C
u40.相8のC軸方向は、前記基板5の表面に対して
、はぼ垂直に配向していることが分かった。
次に、前記基板5の温度を、660℃乃至850℃に設
定し、混合ガスの組成比を微妙に変えて、数多くの薄膜
試料を作成した。1,2.4相の出現した試料を作成し
たときの基板5の温度、混合ガスの全圧、酸素の分圧、
及び得られた試料中のY、Ba、Cuの組成比を第1表
に示す。
以下、余白。
また、基板5の温度を750または800’C。
混合ガスの全圧を10.20または40 Torr、酸
素の分圧を7.5.17.5または34 Torrに夫
々設定し、混合ガス(BaO,Y 20 、 、 C’
 u○)の組成比を種々変化させ、数多くの薄膜試料を
作成した。各試料のうち、X線回折の測定の結果YBa
Cu408相8の存在が確認されたもの一部を、第3図
乃至第6図に白丸で示す。第3図は、基板5の温度75
0℃、混合ガスの全圧10 Torr、 112素の分
圧7.5Torrに設定したものを示す。第4図は、基
板5の温度800℃、混合ガスの全圧10Torr、酸
素の分圧7.5Torrに設定したものを示す。第5図
は、基板5の温度800℃、混合ガスの全圧20 To
rr、 Ill素の分圧17.5Torrに設定したも
のを示す。第6図は、基板5の温度800℃、混合ガス
の全圧40Torr、酸素の分圧34Torrに設定し
たものを示す。第3図乃至第6図において、実線、破線
、−点鎖線の夫々で囲って示す範囲で、YBa2Cu4
0.相8が得られている。また、これらの結果を総合し
、前記実線、破線、−点鎖線の夫々のみを第7図に示す
。また、前記基板5の温度を850℃及び660’Cに
設定した場合には、少なくともX線回折で測定できる範
囲内で、 YBa2Cu40s相8を検知できなかった
以上の説明から分かるように1本実施例Iによれば、M
OCVD法でYBa2Cu40s相を形成できる。
また、本実施例■の酸素の分圧を7.5Torrから3
4Torrまで増大させた結果から、酸素の分圧を更に
(例えば、latm(気圧)程度まで)増大させても安
定にMOC,VD法で酸化物超電導体を含む膜を形成す
ることができることがわかるであろう。また、このこと
から、製造装置の許容範囲内で酸素の分圧を増大させる
ことにより、同様な結果が得られることが容易に推測で
きる。
[実施例■] 前記実施例■で形成された酸化膜の組成分析の結果から
分かるように、例えば第8図に示すようシこ、前記YB
a2Cu40.相8はYBa2Cu、O,相9中に混在
している。前記YBa2Cu2O7相8のみを残すよう
に、ドライエツチング(例えばプラズマエツチング)を
行なうことにより、前記YBa2Cu、O,相8を第9
図に示す形状にすることができる。 このYBa、Cu
40.相8 の臨界温度(T c)は、約80にである
。このYBa2Cu40Il相8を用いれば、高温で安
定した超電導デバイスを作製することができる。作製で
きる超電導デバイスとしては、例えば5QUIDやジョ
セフソン・ジャンクションが考えられる。
以上の説明から分かるように、本実施例■によれば、高
温で安定した酸化物超電導体を、任意形状に形成するこ
とによって、前記酸化物超電導体を使用した超電導デバ
イスを形成することができる。
[実施例■コ 本実施例■の酸化物超電導体は、前記実施例■又は■に
おいて、前記Yの一部をCaで置換したものである。C
aの原料としては、例えば有機金属カルシウムβジケト
ネートを使用することにより、Caを添加することがで
きた。更に、Y以外の希土類元素(Er、T−等)を含
む有機金属を原料として用いれば、Yの一部をEr、T
−等で置換した形態の酸化物超電導体を形成することが
できた。
Yの一部を、Caで置換した場合、Tcが多少改善され
るので、更に、高温で安定した酸化物超電導体をMOC
VD法で形成することができた。
[実施例■] 本実施例■は、前記基板5をSi基板10で構成し、ス
パッタリング法によってこの基板10上にMg○膜11
を形成し、更にこのMgO膜1膜上1上化膜8を形成し
たものである。
基板lO上に、スパッタリング法によって、膜厚約5p
mのMgO膜1膜製1成し、このMgO膜l膜上l上酸
化膜(YBa2Cu40.相)8をMOCVD法により
形成した。このYBa2Cu40.相8のTcは、約7
8にであり、その膜厚は約2μm程度である。
このYBa2Cu40.相8を用いて、SNS (超電
導−非超電導−超電導)構成のデバイスを形成した。こ
のデバイスは、第10A図(要部断面図)及び第10B
図(斜視図)に示すように、一対のYBa2Cu408
Ba2Cu408相84を設け、前記一対のYBa2C
u40.膜8の夫々に電極12を介してリード線13を
接続したものである。
前記YBa2Cu2O7膜8は1例えば前記実施例■と
同様にドライエツチングによって長方形状にパターンニ
ングした。
前記非超電導相14は、高速電子ビーム(1メガeV)
又はプロトン照射によって、前記Y B a z CL
I40s相8の一部を、ストライプ状の非超電導相14
に形成したものである(電子ビームの照射量は例えば1
017■−2)。前記非超電導相14の幅が、数百C数
100)人程度の時、このデバイスのI−V曲線に非線
形が確認され、YBa2Cu40.相8が5QUIDや
ジョセフソン素子用基板として有用であることが分かっ
た。
以上の説明から分かるように、本実施例■によれば、高
温で安定な酸化物超電導体を使用した超電導デバイスを
形成することができる。
[実施例■] 本発明の実施例Vの酸化物超電導体は、前記実施例■の
YBa2Cu408相8のみを抽出し、それを粉砕にし
て所定の形状に加工した後1通常の熱処理を行なって酸
化物超電導板を作製したものであった。
以上の説明から分かるように、本実施例Vによれば、Y
Ba2Cu40.相8のみから構成される酸化物超電導
体を任意の形状に作製することができる。
以上、本発明を実施例にもとづき具体的に説明したが1
本発明は、前記実施例に限定されるものではなく、その
要旨を逸脱しない範囲において種々変更可能であること
は言うまでもない。
〔発明の効果〕
以上の説明から分かるように1本発明によれば。
RB a2Cu40.又はR+−,Ca、Ba2Cu、
○ッ系の高温で安定した酸化物超電導体を提供すること
ができる。
また、高温で安定した酸化物超電導体を、MOCVD法
で形成することができる。
また、酸化物超電導体を含む膜をMOCVD法で安定に
形成することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は1本発明の酸化物超電導体薄膜の形成に係るM
OCVD装置の概略構成を示す図、第2図は、本発明の
実施例Iの酸化膜のX線回折パターンを示す図5 第3図は、750℃、全圧10Torr、酸素分圧7.
5Torrで作製した酸化膜の組成状態図、第4図は、
800℃、全圧10Torr、酸素分圧7.5Torr
で作製した酸化膜の組成状態図、第5図は、800℃、
全圧20Torr、酸素分圧17.5Torrで作製し
た酸化膜の組成状態図、第6図は、800℃、全圧40
Torr、酸素分圧34Torrで作製した酸化膜の組
成状態図。 第7図は、YBa2Cu2O7相が得られる組成範囲を
示す組成状態図。 第8図及び第9図は1本発明の実施例■の酸化膜を基板
上に形成した状態を示す要部断面図、第10A図は1本
発明の実施例■の酸化物超電導体薄膜を用いた超電導装
置の要部断面図、第10B図、前記超電導装置の斜視図
である。 図中、1・・・リアクタ、2・・・混合ガス入口、3・
・・サポータ、4・・・サセプタ、5・・・基板、6・
・・RFコイル、7・・・廃ガス出口である。

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)Y、Laを含む希土類、Ba、Cu及びOを構成
    元素として含む酸化物超電導体であって、前記希土類、
    Ba、Cuの組成が1:2:4の割合で構成される酸化
    物超電導体のみを抽出し、それを粉末にして成形した後
    、熱処理して酸化物超電導体を形成したことを特徴とす
    る酸化物超電導体。
  2. (2)酸化物超電導体の製造方法において、少なくとも
    前記希土類、Ba及びCuをその一部として含む有機金
    属ガス並びに酸素ガスを用い、気相成長法により、前記
    希土類、Ba、Cu及びOを構成元素として含み、前記
    希土類、Ba、Cuの組成比が1:2:4の割合で構成
    される酸化物超電導体を含む酸化物を、基板上に形成し
    たことを特徴とする酸化物超電導体の製造方法。
  3. (3)前記請求項第1項又は第2項のいずれか一項に記
    載の希土類元素の一部をCaで置換したことを特徴とす
    る酸化物超電導体又は製造方法。
  4. (4)前記請求項第2項又は第3項に記載の酸化物超電
    導体を、700℃乃至840℃の温度範囲で形成したこ
    とを特徴とする酸化物超電導体の製造方法。
  5. (5)前記酸化物超電導体を、少なくとも7.5Tor
    r乃至34Torrの酸素分圧で形成することを特徴と
    する前記請求項4に記載の酸化物超電導体の製造方法。
  6. (6)前記請求項第2項乃至第5項のいずれか一項に記
    載の基板が、酸化物体、金属、半導体又は絶縁体のいず
    れかから構成されていることを特徴とする酸化物超電導
    体の製造方法。
  7. (7)前記請求項第6項に記載の酸化物体が、MgO又
    はSrTiO_3であることを特徴とする酸化物超電導
    体の製造方法。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPH01104774A (ja) * 1987-10-14 1989-04-21 Matsushita Electric Ind Co Ltd 酸化物超伝導体薄膜の製造方法

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