JPH04151578A - Scan-path-data sampling method - Google Patents

Scan-path-data sampling method

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JPH04151578A
JPH04151578A JP2276032A JP27603290A JPH04151578A JP H04151578 A JPH04151578 A JP H04151578A JP 2276032 A JP2276032 A JP 2276032A JP 27603290 A JP27603290 A JP 27603290A JP H04151578 A JPH04151578 A JP H04151578A
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editing
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signal
control
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Hiroyuki Okano
岡野 広之
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Abstract

PURPOSE:To separate and display the data having the different constituent numbers and detected error symbols and to facilitate the analysis of the data by maintaining editing data, reading the data, forming editing control signals, and controlling the sending and stopping of clock signals. CONSTITUTION:For example, data in three-bit format and parity bits stored in a scan-path circuit are classified and displayed. For this purpose, an editing- data memory device 4 maintains the editing data which are outputted as the right-justified 8-bit data. In a clock control circuit 5 wherein an editing control signal 14 of the device 4 is inputted, registers 6 - 9 are shifted and operated with a diagnosis control clock 15 as an operating clock when a shift-mode signal 12 becomes 1 and the signal 14 is a logic 1. When the logic is 0, the operation is stopped. During the period when an address signal 13 is 0 - 4, the signal 14 becomes 1 when the signal 13 becomes 5, and the shifting operation is performed. An output 20 of a the register 9 is inputted into a scanning register 10. In this way, an output 25 of the scanning register is sent into a diagnosis controlling device 1 by every 1 bit. The data are converted and displayed as the right-justified 8-bit data.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はスキャンパスデータ採取方式に関し、特に論理
集積回路内のスキャンバス回路の出力を読み出すスキャ
ンパスデータ採取方式に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a scan path data acquisition method, and more particularly to a scan path data acquisition method for reading out the output of a scan path circuit in a logic integrated circuit.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

従来、論理集積回路内にテスト用に組み込まれたスキャ
ンパス回路のデータを診断制御装置で読み出す際のスキ
ャンパスデータ採取方式は、診断制御装置の出力する診
断制御クロックにより、スキャンバスを形成した記憶素
子内の情報を1ビットずつシフトさせ、そのシフト出力
を診断制御装置に取り込み、8ビットごとにまとめて1
6進数字に変換して端末装置等に表示していた。
Conventionally, the scan path data collection method used when a diagnostic control device reads out data from a scan path circuit built into a logic integrated circuit for testing is a memory that forms a scan path using a diagnostic control clock output from the diagnostic control device. The information in the element is shifted 1 bit at a time, the shifted output is taken into the diagnostic control device, and each 8 bits are combined into 1 bit.
It was converted into hexadecimal numbers and displayed on a terminal device, etc.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problem to be solved by the invention]

上述した従来のスキャンパスデータ採取方式では、スキ
ャンバスを構成する各記憶素子に記憶されているデータ
には、8ビット構成のデータのみならず任意のビット数
のデータや誤り検出符号等も混在しているにもかかわら
ず、シフト出力を編集せずに8ビットごとにまとめて1
6進表示するため、出力されたデータの解析が難しく試
験結果の判定に時間がかる欠点がある。
In the conventional scan path data acquisition method described above, the data stored in each storage element constituting the scan path includes not only 8-bit data but also data of an arbitrary number of bits, error detection codes, etc. Despite the
Since it is displayed in hexadecimal notation, it is difficult to analyze the output data and it takes time to judge the test results.

例えば、16進表示で「6A」となる7ビット構成のデ
ータと誤り検出符号“1”とが出力されると、7ビット
構成のデータと誤り検出符号とが区別されずに左詰めで
出力されるため、8ビットにまとめられて16進数「D
5」として表示される。このため、元のデータに戻すた
めには人手による変換が必要となり、データ解析に時間
がかかる結果となる。
For example, when 7-bit data that is "6A" in hexadecimal notation and an error detection code "1" are output, the 7-bit data and error detection code are not distinguished and are output left-justified. Therefore, it is summarized into 8 bits and becomes a hexadecimal number “D
5" is displayed. Therefore, manual conversion is required to restore the original data, resulting in a time-consuming data analysis.

本発明の目的は、構成ビット数の異なるデータや誤り検
出符号を分離して表示し、データ解析が容易となるスキ
ャンパスデータ採取方式を提供することである。
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a scan path data collection method that separates and displays data and error detection codes having different numbers of constituent bits and facilitates data analysis.

〔課題を解決するための手段〕[Means to solve the problem]

本発明のスキャンパスデータ採取方式は、診断制御クロ
ックと論理集積回路の診断動作を指示する診断制御信号
とを発生する診断制御装置と、前記診断制御信号により
シフトモード信号を発生するシフトモード制御回路と、
前記シフトモード信号により診断対象の論理集積回路内
でシフトレジスタを構成し保持していた情報を順次スキ
ャンパスデータとして出力するスキャンパス回路の接続
状態に対応したスキャンパスデータの編集情報を保持す
る編集情報記憶装置と、シフトモード動作時に編集制御
信号が“1”のとき前記診断制御クロックを診断対象の
スキャンパス回路に動作クロックとして出力し“0”の
ときに出力を停止するクロック制御回路と、前記診断制
御クロックをカウントして前記編集情報記憶装置のアド
レス信号を生成し前記編集情報を読み出して前記編集制
御信号を発生する制御情報発生手段と、前記診断制御ク
ロックにより作動し前記編集制御信号が“0”のとき“
0”を入力し“1”のときに前記スキャンパスデータを
入力するスキャンレジスタとを備えて構成されている。
The scan path data acquisition method of the present invention includes a diagnostic control device that generates a diagnostic control clock and a diagnostic control signal that instructs a diagnostic operation of a logic integrated circuit, and a shift mode control circuit that generates a shift mode signal based on the diagnostic control signal. and,
Editing that configures a shift register in the logic integrated circuit to be diagnosed using the shift mode signal and sequentially outputs the held information as scan path data.Editing that holds editing information of the scan path data corresponding to the connection state of the scan path circuit. an information storage device; a clock control circuit that outputs the diagnostic control clock as an operating clock to the scan path circuit to be diagnosed when the edit control signal is "1" during shift mode operation, and stops outputting when the edit control signal is "0"; control information generating means for counting the diagnostic control clock to generate an address signal for the editing information storage device and reading the editing information to generate the editing control signal; When “0”
and a scan register which inputs the scan path data when the scan path data is input when the scan path data is input as "0" and "1".

〔実施例〕〔Example〕

次に、本発明の実施例について図面を参照して説明する
Next, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.

第1図は本発明の第1の実施例の構成を示すブロック図
である。
FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of a first embodiment of the present invention.

第1図に示す回路は、診断制御クロック15と診断制御
信号11を出力する診断制御装置1と、シフトモード信
号12を発生するシフトモード制御回路2と、シフトモ
ード信号12により診断制御クロック15を計数開始す
るアドレスカウンタ3と、スキャンパスデータの編集情
報を保持している1ビット構成の編集情報記憶装置4と
、シフトモード動作時に編集制御信号14が“1”のと
き診断制御クロック15を動作クロック16として出力
し、′0”のとき出力を停止するクロック制御回路5と
、診断対象となるスキャンパス回路を構成するレジスタ
6〜9と、診断制御クロック15で動作し編集制御信号
工4が“O”のときは“0”を入力し、′1”のときは
レジスタ9からスキャンパスデータを入力するスキャン
レジスタ10とで構成されている。
The circuit shown in FIG. 1 includes a diagnostic control device 1 that outputs a diagnostic control clock 15 and a diagnostic control signal 11, a shift mode control circuit 2 that generates a shift mode signal 12, and a shift mode control circuit 2 that outputs a diagnostic control clock 15 using the shift mode signal 12. The address counter 3 that starts counting, the 1-bit edit information storage device 4 that holds the edit information of the scan path data, and the diagnostic control clock 15 when the edit control signal 14 is "1" during shift mode operation. A clock control circuit 5 that outputs a clock 16 and stops output when it is '0'', registers 6 to 9 that constitute the scan path circuit to be diagnosed, and an editing control signal circuit 4 that operates with the diagnostic control clock 15. It is composed of a scan register 10 which inputs "0" when it is "O" and inputs scan path data from the register 9 when it is '1'.

第2図は本実施例の動作を示すタイムチャートである。FIG. 2 is a time chart showing the operation of this embodiment.

以下、第2図を参照しながら第1図の動作を説明する。The operation shown in FIG. 1 will be explained below with reference to FIG.

診断制御装置lは、スキャンパスデータ採取時に診断制
御信号11をシフトモード制御回路2に送出し、シフト
モード信号12を論理“1”とする。アドレスカウンタ
3はシフトモード信号12が論理“0”から“1”にな
った時点でアドレス信号13を「0」にリセットし、そ
の後、診断制御クロック15の1周期ごとにアドレス信
号13を1ずつ増加させる。
The diagnostic control device 1 sends the diagnostic control signal 11 to the shift mode control circuit 2 when collecting scan path data, and sets the shift mode signal 12 to logic "1". The address counter 3 resets the address signal 13 to "0" when the shift mode signal 12 changes from logic "0" to "1", and then resets the address signal 13 by 1 every cycle of the diagnostic control clock 15. increase.

編集情報記憶装置4は1ビット構成のメモリであり、ス
キャンパス回路の任意のビット数のデータを8ビット形
式に変換して出力するための編集情報が、ビット単位で
格納されている。いま、正常動作時にレジスタ7〜9に
3ビット構成のデータが、レジスタ6にはパリティピッ
トが格納されるものとすると、3ビットのデータ部とパ
リティビットとを区分して表示させるために、それぞれ
を8ビット右詰めのデータとして出力するための編集情
報が、1ビット構成の編集情報記憶装置4に保持される
。すなわち、最初の3ビットデータを出力するための編
集情報として、アドレスO番地から4番地までの5ビッ
トには“0”が、5番地から7番地までの3ビットには
“1”が記録されている。同様にパリティピットを出力
するために8番地から14番地までの7ビットには“O
”が、15番地には“1”が記録されている。
The editing information storage device 4 is a 1-bit memory, and stores editing information for converting data of an arbitrary number of bits of the scan path circuit into an 8-bit format and outputting the data in bit units. Now, suppose that 3-bit data is stored in registers 7 to 9 during normal operation, and a parity pit is stored in register 6. In order to display the 3-bit data part and the parity bit separately, Editing information for outputting as 8-bit right-justified data is held in the editing information storage device 4 having a 1-bit configuration. That is, as editing information for outputting the first 3-bit data, "0" is recorded in 5 bits from address O to address 4, and "1" is recorded in 3 bits from address 5 to address 7. ing. Similarly, in order to output the parity pit, the 7 bits from address 8 to address 14 are set to “0”.
”, but “1” is recorded at address 15.

レジスタ6〜9はそれぞれ共通の動作クロック16によ
り動作し、通常はデータ入力21〜24からの情報を保
持するが、シフトモード信号12が論理“1”となった
場合、レジスタ6からレジスタ9の方向へシフト動作を
行う。 ゛クロック制御回路5は、シフトモード信号1
2が論理“0”の場合は通常の論理動作のためのシステ
ムクロック26を各レジスタ6〜9に供給する。シフト
モード信号12が“1”となると、編集制御信号14が
論理“1”の場合に診断制御クロック15を動作クロッ
ク16として出力し、レジスタ6〜9にシフト動作を行
わせるが、論理が“0”の場合には出力を論理“0”に
してレジスタ6〜9のシフト動作を停止させる。
Registers 6 to 9 are each operated by a common operating clock 16 and normally hold information from data inputs 21 to 24, but when shift mode signal 12 becomes logic "1", registers 6 to 9 are Perform a shift operation in the direction.゛The clock control circuit 5 receives the shift mode signal 1
2 is logic "0", a system clock 26 for normal logic operation is supplied to each register 6-9. When the shift mode signal 12 becomes "1", the diagnostic control clock 15 is output as the operation clock 16 when the edit control signal 14 is logic "1", and the registers 6 to 9 are made to perform a shift operation. In the case of "0", the output is set to logic "0" and the shift operation of registers 6 to 9 is stopped.

編集情報記憶装置4の出力は編集制御信号14としてそ
のままクロック制御回路5に入力されるので、診断を開
始してアドレス信号13が「0」から「4」までの5ク
ロツクの間は編集制御信号14が“0”でシフト動作は
行われない。アドレス信号13が「5」となると編集制
御信号14が“1”となり、動作クロック16が出力さ
れシフト動作が行われる。
Since the output of the editing information storage device 4 is directly input to the clock control circuit 5 as the editing control signal 14, the editing control signal is not input during the 5 clocks from when the address signal 13 is "0" to "4" after diagnosis is started. 14 is "0", no shift operation is performed. When the address signal 13 becomes "5", the edit control signal 14 becomes "1", the operation clock 16 is output, and a shift operation is performed.

スキャンレジスタ10は診断制御クロック15により動
作し、編集制御信号14が“0”のときは“O”を入力
し、編集制御信号14が“1”となると、スキャンパス
回路の最終のレジスタ9の出力20を入力する。このよ
うにして、編集制御信号14によって編集されたスキャ
ンレジスタ出力25は、診断制御クロック15により1
ビットずつ診断制御装置llへ送出され、8ビット右詰
めの並列データに変換され16進数字として表示される
The scan register 10 is operated by the diagnostic control clock 15, and when the edit control signal 14 is "0", "O" is input, and when the edit control signal 14 is "1", the last register 9 of the scan path circuit is inputted. Enter output 20. In this way, the scan register output 25 edited by the edit control signal 14 is set to 1 by the diagnostic control clock 15.
The data is sent bit by bit to the diagnostic control unit 11, converted into 8-bit right-aligned parallel data, and displayed as hexadecimal numbers.

診断が開始されると、編集によって“0”が5ビット連
続してスキャンレジスタ10に取す込マれるが、この間
レジスタ6〜9の出力17〜20はそれまでの状態を保
持している。アドレスが更に加算されて編集情報記憶装
置4から“1”が出力されると、動作クロック16が3
クロツク出力されレジスタ6〜9はシフト動作を行い、
前段に接続されている図示されていないレジスタから順
次rX−OJ〜rX−2Jを取り込む。スキャンレジス
タ10はレジスタ9の出力20をスキャンデータとして
取り込み、レジスタ7〜9に保持されていたrデータO
」〜「データ2」がスキャンレジスタ出力25として診
断制御装置1へ送出される。
When the diagnosis is started, five consecutive bits of "0" are loaded into the scan register 10 by editing, but during this time the outputs 17-20 of the registers 6-9 maintain their previous states. When the address is further added and "1" is output from the editing information storage device 4, the operating clock 16 is set to 3.
The clock is output and registers 6 to 9 perform shift operations.
rX-OJ to rX-2J are sequentially taken in from registers (not shown) connected to the previous stage. The scan register 10 takes in the output 20 of the register 9 as scan data, and uses the r data O held in the registers 7 to 9.
” to “data 2” are sent to the diagnostic control device 1 as the scan register output 25.

第3図は本発明の第2の実施例のブロック図、第4図は
その動作を示すタイムチャートである。
FIG. 3 is a block diagram of the second embodiment of the present invention, and FIG. 4 is a time chart showing its operation.

第3図と第1図との主な相違は、編集情報記憶装置4a
が多ビット構成で、編集情報がアドレスごとに数値情報
として保持されていることと、この編集情報記憶装置4
aから編集情報を読み出(てクロック制御回路5の編集
制御信号14を発りする手段が、診断制御クロック15
を8分周す2分周回路3aと、その出力を計数するアド
レスカウンタ3と、編集情報記憶装置4aの出力数値力
ら減算処理を行い「0」となると“1”を出力するカウ
ンタ3bで構成されていることである。
The main difference between FIG. 3 and FIG. 1 is that the editing information storage device 4a
has a multi-bit configuration, editing information is held as numerical information for each address, and this editing information storage device 4
The diagnostic control clock 15 is a means for reading the editing information from the clock control circuit 5 (a) and issuing the editing control signal 14 of the clock control circuit 5.
A divide-by-2 circuit 3a that divides the frequency by eight, an address counter 3 that counts the output, and a counter 3b that performs subtraction processing from the output numerical value of the editing information storage device 4a and outputs "1" when it becomes "0". It is configured.

シフトモード制御回路2aは、シフトモード0号12と
同期してリセット信号12aを一定時■出力する。分周
回路3aは診断制御クロック15を8分周して分周クロ
ック27を出力する。アドレスカウンタ3はリセット信
号12aでリセットされ、以後分周クロック27により
読み出しアドレスを1ずつ増加させる。
The shift mode control circuit 2a outputs the reset signal 12a at a certain time in synchronization with the shift mode No. 012. The frequency dividing circuit 3a divides the frequency of the diagnostic control clock 15 by eight and outputs a divided clock 27. The address counter 3 is reset by the reset signal 12a, and thereafter the read address is incremented by one by the divided clock 27.

編集情報記憶装置4aには、3ビットのデータと1ビッ
トのパリティとをそれぞれ8ビットの右詰めとして出力
する編集情報として、「5」及び「7」が記憶されてい
る。リセット信号12aによりアドレスカウンタ3がリ
セットされると、編集情報記憶装置4aから「5」がカ
ウンタ3bにセットされる。カウンタ3bは診断制御ク
ロック15ごとに1ずつ減算し、カウント値がrOJに
なると出力の編集制御信号14を“1”とし動作を停止
する。分周回路3aから分周クロック27が供給される
と、編集制御信号14は“0”にリセットされ、編集情
報記憶装置4aから「7」がカウンタ3cに読み込まれ
減算を再開する。編集制御信号14が“1”となると動
作クロック16がレジスタ6〜9に供給される以降の動
作は、第1図および第2図について説明した第1の実施
例の場合と全く同様である。
The editing information storage device 4a stores "5" and "7" as editing information for outputting 3-bit data and 1-bit parity as 8-bit right-justified data. When the address counter 3 is reset by the reset signal 12a, "5" is set in the counter 3b from the editing information storage device 4a. The counter 3b decrements by 1 every diagnostic control clock 15, and when the count value reaches rOJ, the output editing control signal 14 is set to "1" and the operation is stopped. When the frequency dividing clock 27 is supplied from the frequency dividing circuit 3a, the editing control signal 14 is reset to "0", "7" is read into the counter 3c from the editing information storage device 4a, and subtraction is restarted. When the editing control signal 14 becomes "1", the operation clock 16 is supplied to the registers 6-9, and the subsequent operations are exactly the same as in the first embodiment described with reference to FIGS. 1 and 2.

なお、上述の説明では、3ビット信号の編集情報を「5
」に、1ビットのパリティの編集情報を「7」とし、カ
ウンタ3cは減算動作を行うよう説明したが、編集情報
を3ビット信号は「3」、パリティは「1」とし、カウ
ンタが加算動作をしてカウント値が「8」となると出力
を“1”とするなどの方法を用いてもよい。
Note that in the above explanation, the editing information of the 3-bit signal is
'', it was explained that the 1-bit parity editing information is ``7'' and the counter 3c performs a subtraction operation, but the editing information is 3-bit signal is ``3'', the parity is ``1'', and the counter performs an addition operation. A method such as setting the output to "1" when the count value reaches "8" may be used.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上詳細に説明したように、本発明は、編集情報を保持
する編集情報記憶装置と、編集制御信号によりクロック
信号の送出停止を制御するクロック制御回路と、編集情
報を読み出し編集制御信号を生成する制御情報発生手段
とを有し、構成ビット数の異なるデータや誤り検出符号
等を区別して表示するため、スキャンパスデータを容易
に解析でき、論理集積回路の評価、保守の効率を向上さ
せる効果がある。
As described in detail above, the present invention includes an editing information storage device that holds editing information, a clock control circuit that controls the stop of sending a clock signal based on an editing control signal, and a clock control circuit that reads the editing information and generates the editing control signal. It has a control information generation means and displays data with different number of constituent bits and error detection codes separately, so scan path data can be easily analyzed and has the effect of improving the efficiency of evaluation and maintenance of logic integrated circuits. be.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明の第1の実施例の構成を示すブロック図
、第2図は第1の実施例の動作を示すタイムチャート、
第3図は本発明の第2の実施例の構成を示すブロック図
、第4図は第2の実施例の動作を示すタイムチャートで
ある。 1・・・・・・診断制御装置、2,2a・・・・・・シ
フトモード制御回路、3・・・・・・アドレスカウンタ
、3a・・・・・・分周回路、3b・・・・・・カウン
タ、4・・・・・・編集情報記憶装置、5・・・・・・
クロック制御回路、6〜9・・・・・・レジスタ、10
・・・・・・スキャンレジスタ。
FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of the first embodiment of the present invention, FIG. 2 is a time chart showing the operation of the first embodiment,
FIG. 3 is a block diagram showing the configuration of a second embodiment of the present invention, and FIG. 4 is a time chart showing the operation of the second embodiment. 1... Diagnosis control device, 2, 2a... Shift mode control circuit, 3... Address counter, 3a... Frequency dividing circuit, 3b... ...Counter, 4...Editing information storage device, 5...
Clock control circuit, 6 to 9...Register, 10
...Scan register.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1、診断制御クロックと論理集積回路の診断動作を指示
する診断制御信号とを発生する診断制御装置と、前記診
断制御信号によりシフトモード信号を発生するシフトモ
ード制御回路と、前記シフトモード信号により診断対象
の論理集積回路内でシフトレジスタを構成し保持してい
た情報を順次スキャンパスデータとして出力するスキャ
ンパス回路の接続状態に対応したスキャンパスデータの
編集情報を保持する編集情報記憶装置と、シフトモード
動作時に編集制御信号が“1”のとき前記診断制御クロ
ックを診断対象のスキャンパス回路に動作クロックとし
て出力し“0”のときに出力を停止するクロック制御回
路と、前記診断制御クロックをカウントして前記編集情
報記憶装置のアドレス信号を生成し前記編集情報を読み
出して前記編集制御信号を発生する制御情報発生手段と
、前記診断制御クロックにより作動し前記編集制御信号
が“0”のとき“0”を入力し“1”のときに前記スキ
ャンパスデータを入力するスキャンレジスタとを備えた
ことを特徴とするスキャンパスデータ採取方式。 2、前記編集情報記憶装置が1ビット構成の編集情報を
保持し、前記制御情報発生手段が前記診断制御クロック
を計数するアドレスカウンタから構成され前記編集情報
記憶装置の出力を前記編集制御信号としたことを特徴と
する請求項1記載のスキャンパスデータ採取方式。 3、前記編集情報記憶装置が編集情報をビット数情報と
して保持し、前記制御情報発生手段が、前記診断制御ク
ロックを8分周する分周回路と、その出力を計数するア
ドレスカウンタと、前記編集情報記憶装置から出力され
たビット数を前記診断クロックごとに加減算し所定値に
達すると前記編集制御信号を“1”とするカウンタとで
構成されることを特徴とする請求項1記載のスキャンパ
スデータ採取方式。
[Scope of Claims] 1. A diagnostic control device that generates a diagnostic control clock and a diagnostic control signal that instructs a diagnostic operation of a logic integrated circuit; and a shift mode control circuit that generates a shift mode signal based on the diagnostic control signal; Editing that configures a shift register in the logic integrated circuit to be diagnosed using the shift mode signal and sequentially outputs the held information as scan path data.Editing that holds editing information of the scan path data corresponding to the connection state of the scan path circuit. an information storage device; a clock control circuit that outputs the diagnostic control clock as an operating clock to the scan path circuit to be diagnosed when the edit control signal is "1" during shift mode operation, and stops outputting when the edit control signal is "0"; control information generating means for counting the diagnostic control clock to generate an address signal for the editing information storage device and reading the editing information to generate the editing control signal; A scan path data acquisition method comprising: a scan register that inputs "0" when it is "0" and inputs the scan path data when it is "1". 2. The editing information storage device holds editing information in a 1-bit configuration, and the control information generating means includes an address counter that counts the diagnostic control clock, and the output of the editing information storage device is used as the editing control signal. 2. The scan path data acquisition method according to claim 1. 3. The editing information storage device holds the editing information as bit number information, and the control information generating means includes a frequency dividing circuit that divides the frequency of the diagnostic control clock by eight, an address counter that counts the output thereof, and the editing 2. The scan path according to claim 1, further comprising a counter that adds or subtracts the number of bits output from the information storage device every said diagnostic clock and sets said editing control signal to "1" when a predetermined value is reached. Data collection method.
JP2276032A 1990-10-15 1990-10-15 Scan path data collection method Expired - Lifetime JP2710456B2 (en)

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