JPH04149506A - 自動焦点調節装置 - Google Patents

自動焦点調節装置

Info

Publication number
JPH04149506A
JPH04149506A JP27473790A JP27473790A JPH04149506A JP H04149506 A JPH04149506 A JP H04149506A JP 27473790 A JP27473790 A JP 27473790A JP 27473790 A JP27473790 A JP 27473790A JP H04149506 A JPH04149506 A JP H04149506A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
image
inspection plate
slit
plate
focus
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP27473790A
Other languages
English (en)
Inventor
Shunei Morimoto
森本 俊英
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sharp Corp
Original Assignee
Sharp Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sharp Corp filed Critical Sharp Corp
Priority to JP27473790A priority Critical patent/JPH04149506A/ja
Publication of JPH04149506A publication Critical patent/JPH04149506A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Automatic Focus Adjustment (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は自動焦点調節装置に関する。
[従来の技術] 顕微鏡による観察を行う際、従来の顕微鏡には観察対象
物に対する焦点を合わせる自動焦点調節装置が備えられ
ているものがある。
第5図は従来の自動焦点調節装置の概略構成を示す説明
図である。
従来の自動焦点調節装置には、レーザー光を発すること
が可能なレーザー発光器を内蔵したレーザー変位計41
と、変位計カウンタ42、コンピュータ43、画像処理
部44、Z軸制御部45、撮像デバイス46、顕微鏡4
7、検査板48及びZ軸ステージ49が備えられている
レーザー変位計41は、これに内蔵されているレーザー
発光器からレーザー光が検査板48に照射されたときに
、検査板48からの反射光を受は取ることができるよう
に検査板48の上方に配置されている。
撮像デバイス46及び顕微鏡47はZ軸ステージ49に
取り付けられており、Z軸ステージ49は図示Z−2方
向へ移動可能なように構成されている。
この従来の自動焦点調節装置において焦点合わせを行う
ための動作(第1の動作)を以下に説明する。
レーザー変位計41では検査板48へ発光したレーザー
光の反射光を利用することにより、レーザー変位計41
から検査板48までの距離が測定される。
コンピュータ43はこの測定された距離及び顕微鏡47
のレンズの光学特性に基づいて焦点を合わせるべく図示
Z−Z方向へのZ軸ステージ49の移動距離を求める。
コンピュータ43により求められたZ軸ステージ49の
移動距離のデータはZ軸制御部45へ送圧され、Z軸制
御部45はZ軸ステージ49を図示Z−Z方向へこの移
動距離だけ移動させ、従って、焦点を合わせることが可
能になる。
又、この自動焦点調節装置では、焦点合わせを行うため
の他の動作(第2の動作)が可能である。
即ち、撮像デバイス46によって顕微鏡47を介して検
査板48の画像が撮像され、撮像された画像は画像処理
部44へ送出され、画像処理部44では焦点合わせに必
要な画像の処理が行われる。
コンピュータ43はこの処理データ及び顕微鏡47のレ
ンズの光学特性に基ついて焦点を合わせるべく図示Z−
Z方向へのZ軸ステージd9の移動距離を求める。
コンピュータ43により求められたZ軸ステージ49の
移動距離のデータはZ軸制御部45へ送出され、Z軸制
御部45はZ細ステージ49を図示z−Z方向へこの移
動距離だけ移動させる。
これらの一連の動作が繰り返され、従って、焦点を合わ
せることが可能になる。
[発明が解決しようとする課題] このような上述の従来の自動焦点調節装置では、液晶パ
ネルのガラス基板のような透明な基板を検査板48とし
て観察する場合、上述の第1の動作によると、レーザー
変位計41に内蔵されているレーザー発光器から発光さ
れたレーザー光(図示−点鎖線)が検査板48の垂線に
対して浅い角度で照射、反射されるため、検査板48を
透過してしまうレーザー光があり、レーザー変位計41
から検査板48までの距離を測定するのに十分な検査板
48からの反射光がレーザー変位計41に届かない。
又、ウェーハのような鏡面を有している基板を検査板4
8として観察する場合にも、この場合にはレーザー光が
検査板48に対して正反射し拡散光が存在しないため、
レーザー変位計41によってレーザー変位計41から検
査板48までの距離を十分測定することができない。
従って、液晶パネルのガラス基板のような透明な基板及
び鏡面を有するウェーハを検査板48とする場合には、
第1の動作によって自動で焦点合わせを行うことができ
ない。
第2の動作では、液晶パネルのガラス基板のような透明
な基板及び鏡面を有するウェーハを検査板48とする場
合に限らず、撮像デバイス46による検査板48の撮像
によって最初に得られた焦点の合っていない画像から、
焦点が合っているときの検査板48の位置と現在の検査
板48の位置との距離が判っても、焦点がずれている方
向が判らないため、−度の焦点合わせ動作で焦点を合わ
せられるとはいえず、2回以上の焦点合わせの作業を繰
り返すことが必要となる。
従って、本発明は、透過性の高いガラス基板や鏡面を有
している基板を検査観察する際に自動で焦点を合わせる
ことができる自動焦点調節装置を提供するものである。
[課題を解決するための手段] 光源と、観察面に像を投影する投影手段と、像を撮像す
る撮像手段と、焦点を合わせるための所定の基準データ
が記憶されている記憶制御手段と、光源、投影手段及び
撮像手段が取り付けられており観察面と垂直な方向に移
動可能な移動可能手段とを備えており、記憶制御手段は
基準データと撮像手段によって撮像された像画像の位置
データとから移動可能手段の現在の位置から焦点が合う
位置までの移動距離を求めると共にこの求めた移動距離
に応じて移動可能手段を移動させるように構成されてい
る。
[作用] 光源からの光は投影手段によって観察面に像として投影
され、投影された像は撮像手段によって撮像されて像画
像が生成される。生成された像画像の位置データと予め
記憶されており焦点を合わせるための所定の基準データ
とから記憶制御手段によって移動可能手段の現在の位置
から焦点が合う位置までの移動距離が求められ、移動可
能手段は求められた移動距離だけ観察面と垂直な方向へ
光源と投影手段と撮像手段と共に移動するので、従って
、透過性の高いガラス基板や鏡面を有している基板を検
査観察する際に自動で焦点を合わせることができる。
[実施例] 以下、図面を参照して本発明の詳細な説明する。
第1図は本発明に係る自動焦点調節装置の要部構成を示
すブロック図である。
この実施例の自動焦点調節装置には、光源11、スリッ
ト板12、投影レンズ13、検査板14、撮像レンズ1
5、撮像デバイス16、画像処理部17及び2軸ステ一
ジ部18が備えられている。
検査板14は例えば、液晶パネルの透明なガラス基板か
ら構成されている。
撮像デバイス16は受光部16aを備えている。
光源11と撮像デバイス16とは、光源11からの光が
検査板14に反射して撮像デバイス16の受光部16a
で受は取られるように検査板14の上方に配置されてい
る。
光源11、スリット板12、投影レンズ13、撮像レン
ズ15及び撮像デバイス16から成っている光学系はZ
軸ステージ部18に取り付けられており、Z軸ステージ
部18は検査板14と垂直な方向(図示Iの方向)に光
学系と共に移動可能なように構成されている。
スリット板12及び投影レンズ13は本発明の投影手段
の一実施例である。撮像レンズ15及び撮像デバイス1
6は本発明の撮像手段の一実施例である。
画像処理部17は本発明の記憶制御手段の一実施例であ
る。Z軸ステージ部18は本発明の移動可能手段の一実
施例である。
光源11からの光は光路21に沿ってスリット板12を
通過し、投影レンズI3によって検査板14上にスリッ
ト像22が形成される。
スリット像22は光路23に沿って撮像レンズ15を通
過し撮像デバイス16の受光部16aにスリット像24
が形成される。
この場合、検査板14は透明なガラス基板から構成され
ているため、光源11からスリット像22までの光路2
1とスリット像22から受光部16aまでの光路23と
は、検査板14の表面に対して正反射の関係にある。
受光m16aに形成されたスリット像24は、電気信号
に変換されて画像処理部17に送出される。
画像処理部17では後述するように、スリット像24の
位置ずれと撮像レンズ15の所定の倍率とからスリット
像22の位置ずれΔdが求められ、この位置ずれΔdか
ら焦点が合っているときの検査板14の位置と現在の検
査板14の位置との距離を算出する。
この算出結果を図示していない接続線を介してZ軸ステ
ージ部18に送出し、2軸ステ一ジ部18に取り付けら
れている光学系全体を移動させて焦点を合わせる。
次に、スリット像22の位置ずれΔd及び焦点を合わせ
るために2軸ステ一ジ部18を移動させる距離ΔZの求
め方を説明する。
第2図は第1図のスリット像22の位置ずれΔd及び焦
点を合わせるためにZ軸ステージ部18を移動させる距
離ΔZの求め方を示す説明図する。
焦点が合っているときには、光源11からの光は光路2
1に沿ってスリット板12及び投影レンズ13を通過し
、検査板+4(図示実線)上の0点にスリット像22を
形成する。このスリット像22は光路23に沿って撮像
レンズ15を通過し、撮像デバイス16の受光部16a
の0”点にスリット像が形成される。
図示していないZ軸ステージ部をΔZだけ検査板14(
図示−点鎖線)に近づけたときには、光源11からの光
は光路21に沿ってスリット板12及び投影レンズ13
を通過し、検査板14上のP点にスリット像22を形成
する。このスリット像22は光路25に沿って撮像レン
ズ15を通過し受光部16aのP”点にスリット像が形
成される。
従って、焦点が合っているときに検査板14上に形成さ
れるスリット像の位置と、Z軸ステージ部を焦点が合っ
ている状態からΔZだけ検査板14に近づけたときに検
査板14上に形成されるスリット像の位置との差、即ち
位置ずれ△dは撮像デノくイス16の受光部16aでは
長さ○”P”としてとらえられ、この長さO″P” と
撮像レンズ15の所定の倍率とからスリット像22の位
置ずれΔdは求められる。
画像処理部17には、受光部+61でとらえられる合焦
時のO”点の位置が基準データとして、又、撮像レンズ
I5の所定の倍率βが記憶されている。
ここで例えば、検査板14を観察した際に受光部H+a
でとらえられたスリット像の位置ずれの長さがしてあっ
たとすると、検査板14上に形成されるスリット像22
の位置ずれΔdは、(1)式によって求められる。
Δd=o″P”/β        ・・・・・・ (
1)このようにして求められるスリット像22の位置ず
れΔdを用い、Z軸ステーン部の移動距離ΔZの求め方
を説明する。
Z軸ステージ部を焦点が合っている状態からΔZだけ検
査板I4に近づけたときには、焦点が合っているときに
検査板14上の0点の位置に形成されるスリット像22
に対応するスリット像はP点に形成される。
P点で正反射した光路25と0点における検査板14の
垂線αとが交わる点を○′点とすると、△0PQ=△○
’PQ(合同)より 0Q=O° Q=ΔZ 00’  =2・△Z Δd=2−ΔZ−31nθ 、°、  ΔZ=Δd/(2・sinθ)  −・” 
 (2)ここで、検査板14が透明なガラス基板から構
成されており、光源11から光が検査板14の表面に対
して正反射されるため、角度θは光源11から光の入射
角度及び反射角度と等しい値であり、光源11、スリッ
ト板12、投影レンズ13、撮像レンズ15及び撮像デ
バイス16から成っている光学系と検査板14との構成
により固有の値をとることができる。
上述のようにして求められた検査板14上に形成される
スリット像22の位置ずれΔdと角度θとを用いて、画
像処理部I7において(2)式から△Zが算出され、こ
のデータはZ軸ステージ部へ送出される。
光学系が取り付けられているZ軸ステージ部は算出され
たΔZだけ移動することにより、従って、透過性の高い
ガラス基板を検査観察する際に自゛動で焦点を合わせる
ことができる。
第3図は本発明に係る自動焦点調節装置の全体構成を示
すブロック図である。
同図に示すように、符号10は第1図の光源11、スリ
ット板12、投影レンズ13、撮像レンズ15、撮像デ
バイス16及びZ軸ステージ部18を含んでいる光学デ
バイスを表しており、検査板14の上方に配置されてい
る。
光学デバイス10の撮像デバイス16は、画像処理部1
7aに接続されている。
画像処理部17aはコンピュータ19に接続されており
、コンピュータ19はZ軸ステージ駆動部20を介して
Z軸ステージ部18に接続されている。
上述したスリット像22の位置ずれΔd及び焦点を合わ
せるためにZ軸ステージ部18を移動させる距離ΔZの
算出は、その算出プログラムをコンピュータ19によっ
て実行するように装置を構成してもよい。
この場合、コンピュータ19で算出された2軸ステ一ジ
部Illの移動距離ΔZのデータはZ軸ステージ駆動部
20へ送出され、Z軸ステージ駆動部20によってZ軸
ステージ部18の移動が制御される。
コンピュータ19及びZ軸ステージ駆動部20は、本発
明の記憶制御手段の一実施例である。゛上述の実施例の
自動焦点調節装置は、透過性の高いガラス基板から構成
されている検査板14の表面だけでなく裏面での反射に
よるスリット像をとらえることにより、検査板14の裏
面において焦点を合わせることも可能である。
第4図は本発明に係る自動焦点調節装置を検査板i4の
裏面において焦点を合わせるように使用する場合の説明
図である。
焦点が合っているときには、光源+1からの光は光路2
1に沿ってスリット板12及び投影レンズ13を通過し
、透明なガラス基板から構成されている検査板14(図
示実線)の表面のP点から検査板14へ入射し、検査板
14の裏面のR点でスリット像が形成される。
R点で反射されたスリット像の光か検査板14の表面上
の8点から出ていくとすると、光路PRと光路R8とは
検査板14の裏面において正反射の関係にあるため、ス
リット像は光路26に沿って撮像レンズ15を通過し、
撮像デバイス16の受光部16aにスリット像が形成さ
れる。
この状態から光学系の取り付けられている図示していな
いZ軸ステージ部が検査板14からΔUだけ離れると、
光源IIからの光は光路21に沿ってスリット板12及
び投影レンズ13を通過し、検査板14(図示−点鎖線
)の表面のP゛点から検査板14へ入射し、検査板14
の裏面のR°点でスリット像が形成される。
R′点で反射されたスリット像の光が検査板14の表面
上のS゛点から出ていくとすると、光路P。
R′ と光路R’  S’  とは検査板14の裏面に
おいて正反射の関係にあるため、スリット像は光路2T
に沿って撮像レンズ15を通過し、撮像デバイス16の
受光部16aにスリット像が形成される。
検査板14の裏面に形成されるスリット像の位置ずれΔ
eは、前述と同様にして撮像デバイス16の受光tl1
5aに形成されるスリット像の位置のずれから求められ
る。
画像処理部17には、受光部16aでとらえられる合焦
時のスリット像の位置か基準位置データとして、又、撮
像レンズI5の所定の倍率が記憶されている。
画像処理部17では、(2)式においてΔZをΔUに、
△dをΔeに置き換えた式においてこのΔeを用いるこ
とによりΔUが算出され、このデータはZ軸ステージ部
へ送出される。
光学系が取り付けられているZ軸ステージ部は算出され
たΔUだけ移動することにより、従って、透過性の高い
ガラス基板を検査観察する際に自動で焦点を合わせるこ
とができる。
上述の実施例では、撮像デバイス16の受光部161に
スリット像が形成されるような構成の自動焦点調節装置
について説明したが、このようにスリット像を形成する
ことは画像処理部17において画像処理を行う際に、例
えば光源11からの直線光を用いて受光部16aにポイ
ント像を形成した場合の画像処理に比べて処理時間が短
くなるという利点があるが、必ずしも上述のようにスリ
ット像を利用しなくてもポイント像を利用して画像処理
を行うように装置を構成してもよい。
又、検査板14として透過性の高いガラス基板を用いた
場合について説明したが、鏡面を有しているウェーハを
検査板14とした場合にも、同様に自動で焦点を合わせ
ることができる。
更に、上述の実施例の装置を、例えば顕微鏡等の観察手
段と組合わせて使用する場合には、この観察手段をZ軸
ステージ部18に取り付けることにより、Z軸ステージ
部18の移動に伴い上述の光学系と共に移動可能なよう
に構成してもよい。
[発明の効果] 以上説明したように本発明は、光源と、観察面に像を投
影する投影手段と、像を撮像する撮像手段と、焦点を合
わせるための所定の基準データが記憶されている記憶制
御手段と、光源、投影手段及び撮像手段が取り付けられ
ており観察面と垂直な方向に移動可能な移動可能手段と
を備えており、記憶制御手段は基準データと撮像手段に
よって撮像された像画像の位置データとから移動可能手
段の現在の位置から焦点が合う位置までの移動距離を求
めると共にこの求めた移動距離に応じて移動可能手段を
移動させるように構成されているので、従って、透過性
の高いガラス基板や鏡面を有している基板を検査観察す
る際に自動で焦点を合わせることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係る自動焦点調節装置の要部構成を示
すブロック図、第2図は第1図のスリット像の位置ずれ
Δd1焦点を合わせるためにZ軸ステージ部を移動させ
る距離ΔZの求め方を示す説明図、第3図は本発明に係
る自動焦点調節装置の全体構成を示すブロック図、第4
図は本発明に係る自動焦点調節装置を検査板14の裏面
において焦点を合わせるように使用する場合の説明図、
第5図は従来の自動焦点調節装置の概略構成を示す説明
図である。 11・・・・・・光源、12・・・・・・スリット板、
13・・・・・・投影レンズ、14・・・・・・検査板
、+5・・・・・・撮像レンズ、+6・・・・・・撮像
デバイス、16a・・・・・・受光部、17・・・・・
・画像処理部、18・・・・・・Z軸ステージ部。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 光源と、観察面に像を投影する投影手段と、前記像を撮
    像する撮像手段と、焦点を合わせるための所定の基準デ
    ータが記憶されている記憶制御手段と、前記光源、前記
    投影手段及び前記撮像手段が取り付けられており前記観
    察面と垂直な方向に移動可能な移動可能手段とを備えて
    おり、前記記憶制御手段は前記基準データと前記撮像手
    段によって撮像された像画像の位置データとから前記移
    動可能手段の現在の位置から焦点が合う位置までの移動
    距離を求めると共に該求めた移動距離に応じて前記移動
    可能手段を移動させるように構成されていることを特徴
    とする自動焦点調節装置。
JP27473790A 1990-10-12 1990-10-12 自動焦点調節装置 Pending JPH04149506A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP27473790A JPH04149506A (ja) 1990-10-12 1990-10-12 自動焦点調節装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP27473790A JPH04149506A (ja) 1990-10-12 1990-10-12 自動焦点調節装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH04149506A true JPH04149506A (ja) 1992-05-22

Family

ID=17545879

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP27473790A Pending JPH04149506A (ja) 1990-10-12 1990-10-12 自動焦点調節装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH04149506A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010072017A (ja) * 2008-09-16 2010-04-02 Yokogawa Electric Corp オートフォーカス装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010072017A (ja) * 2008-09-16 2010-04-02 Yokogawa Electric Corp オートフォーカス装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100471524B1 (ko) 노광방법
JPS5999304A (ja) 顕微鏡系のレーザ光による比較測長装置
US20080073524A1 (en) Method and apparatus for reviewing defects
TWI292033B (ja)
US7692128B2 (en) Focus control method for an optical apparatus which inspects a photo-mask or the like
US20140160267A1 (en) Image Pickup Apparatus
KR20160068675A (ko) 프로브 장치 및 프로브 방법
JP2000275027A (ja) スリット共焦点顕微鏡とそれを用いた表面形状計測装置
JP2018054303A (ja) 欠陥検出装置及び欠陥観察装置
JP2016134412A (ja) 欠陥観察方法および装置
JP3105702B2 (ja) 光学式欠陥検査装置
JPS58181005A (ja) 自動焦点位置合せ及び測定装置並びに方法
US7767982B2 (en) Optical auto focusing system and method for electron beam inspection tool
JPH10318718A (ja) 光学式高さ検出装置
TW202204849A (zh) 高靈敏度的基於影像的反射測量
CN116540393B (zh) 自动对焦系统及方法、半导体缺陷检测系统及方法
JPH0674863A (ja) 光コネクタのコア偏心測定方法及び光コネクタ
KR101826127B1 (ko) 광학적 웨이퍼 검사 장치
JP4603177B2 (ja) 走査型レーザ顕微鏡
JPH0238951A (ja) 異物検出装置及び方法
JPH04149506A (ja) 自動焦点調節装置
KR20070015310A (ko) 반도체 소자의 오버레이 측정장치
CN116067628B (zh) 一种入射空间角度测量方法及系统
JP2828145B2 (ja) 光切断顕微鏡装置及びその光学手段の位置合わせ方法
JP3750259B2 (ja) 画像検査・測定装置