JPH04148717A - 半導体製造装置 - Google Patents

半導体製造装置

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JPH04148717A
JPH04148717A JP2272686A JP27268690A JPH04148717A JP H04148717 A JPH04148717 A JP H04148717A JP 2272686 A JP2272686 A JP 2272686A JP 27268690 A JP27268690 A JP 27268690A JP H04148717 A JPH04148717 A JP H04148717A
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wafer cassette
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Takayasu Asano
浅野 貴庸
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的〕 (産業上の利用分野) 本発明は、半導体製造装置に関する。
(従来の技術) 一般に、半導体デバイスの製造工程においては、半導体
ウェハは樹脂等からなるウェハカセット内に収容されて
搬送される。このため、半導体製造装置には、ウェハカ
セットを設けるためのウェハカセットステーションと、
このウェハカセットステーションに設けられたウェハカ
セットあるいはウェハカセットから半導体ウェハを引き
出して処理部に搬送するための搬送機構等を備えたもの
が多い。
また、このようなウェハカセットステーションでは、ウ
ェハカセット内の半導体ウェハを、オリエンテーション
フラットを所定方向に揃える如く整列させるウェハ整列
機構や、ウェハカセットの姿勢を水平−垂直変換する姿
勢変換機構等を備えたものがある。
(発明が解決しようとする課題) しかしながら、このような半導体製造装置においても、
さらにスループットを向上させること、半導体ウェハの
大口径化に対応しつつ省スペース化を図ること等が当然
要求される。
本発明は、かかる従来の事情に対処してなされたもので
、従来に較べてスルーブツトの向上を図ることができる
とともに、半導体ウェハの大口径化に対応しつつ省スペ
ース化を図ることのできる半導体製造装置を提供しよう
とするものである。
[発明の構成] (課題を解決するための手段) すなわち本発明の半導体製造装置は、ウェハカセット内
に収容された半導体ウェハを所定部位に搬送して所定の
処理を施す半導体製造装置において、複数の前記ウェハ
カセットを載置可能に構成された載置部と、前記載置部
に載置された前記複数のウェハカセット内の前記半導体
ウェハをオリエンテーションフラットを所定方向に揃え
る如く整列させるウェハ整列機構と、前記ウェハ整列機
構による前記半導体ウェハの整列操作後該ウェハ整列機
構を下降させて前記載置部の下方に空きスペースを形成
する上下動機構と、前記載置部を回動させる如く前記空
きスペースに位置させ前記複数のウェハカセットをほぼ
水平な状態からほぼ垂直な状態に姿勢変換する姿勢変換
機構とを具備したウェハカセットステーションを備えた
ことを特徴とする。
(作 用) 上記構成の本発明の半導体製造装置では、載置部に複数
のウェハカセットを載置することができ、これらのウェ
ハカセットのウニノー整列機構による半導体ウェハの整
列操作、姿勢変換機構による姿勢変換操作等を同時に実
施することができ、スルーブツトの向上を図ることがで
きる。
また、上下動機構によりウェハ整列機構を下降させて載
置部の下方に空きスペースを形成し、姿勢変換機構によ
り載置部を回動させる如くこの空きスペースに位置させ
、複数のウエノ1カセットをほぼ水平な状態からほぼ垂
直な状態に姿勢変換する。このため、縦方向のスペース
を有効に活用して横方向へのスペースの拡大を抑制する
ことができ、省スペース化を図ることができる。
(実施例) 以下、本発明を8インチ径の半導体ウェハに対応するこ
とのできる縦型熱処理装置に適用した一実施例を図面を
参照して説明する。
第1図に示すように、筐体1は、例えば鉄板等からほぼ
矩形状に形成されており、その幅(W)は例えばloo
em程度、奥行(D)は例えば200cm程度、高さ(
H)は例えば280C■程度とされている。
上記筺体1の後側上部には、円筒状に形成された反応管
およびこの反応管を囲繞する如く設けられた均熱管、ヒ
ータ、断熱材等からなる熱処理炉2がほぼ垂直に設けら
れている。また、この筺体1内の熱処理炉2の下部には
、被処理物である半導体ウェハが載置されたウェハボー
ト3を熱処理炉2内にロード・アンロードするためのボ
ートエレベータ4が設けられている。
一方、上記筐体1の前面には、図示しないドアを備えた
開口部5が設けられており、ここから筐体1内にウェハ
カセット6を搬入・搬出可能に構成されている。
コノ開口部5には、ウェハカセット6を設けるためのウ
ェハカセットステーション7が設けられており、ウェハ
カセットステーション7の後方には、ウェハカセット6
を搬送するためのキャリアトランスファ8が設けられて
いる。
上記ウェハカセットステーション7は、第2図に示すよ
うに、ウェハカセット6が載置される載置部20と、ウ
ェハカセット6内の°半導体ウエノ\21を整列させる
ためのウェハ整列機構22と、このウェハ整列機構22
を上下動させるための上下動機構23と、ウェハカセッ
ト6を水平−垂直変換するための姿勢変換機構24とか
ら構成されている。
上記載置部20は、筐体1の開口部5から搬入したウェ
ハカセット6をほぼ水平な状態(半導体ウェハ21が垂
直な状態)で2つ載置できるよう構成されている。なお
、載置部20のウェハカセット6載置面には、後述する
如く下方からウェハ整列機構22を突出させるための開
口部が設けられている。
上記ウェハ整列機構22には、例えば第3図に示すよう
に、ウェハカセット6の長手方向に沿7て延在する2つ
の円筒状ローラ22aが設けられており、これらのロー
ラ22aをウェハカセット6内の各スロット6aに設け
られた半導体ウェハ21の周縁部に接触させた状態で回
転させることにより、半導体ウェハ21を回転させるよ
う構成されている。
そして、この半導体ウェハ21の回転は、オリエンテー
ションフラット21aかローラ22a側に位置した時点
で停止するので、各半導体ウェハ21がオリエンテーシ
ョンフラット21aが下側に来た状態で整列するよう構
成されている。
また、上記ローラ22aの間には、各半導体ウェハ21
の有無を検出するためのウェハ検出器2□イー、?−b
が設けられている。このウェハ検出器22bは、各半導
体ウェハ21を挾んで対向する如く設けられた発光素子
および受光素子等からなり、ウェハカセット6内の各ス
ロット6aに半導体ウェハ21か存在するか否かを検出
するものである。
このウェハ検出器22bの検出信号は図示しない制御装
置に入力され記憶される。そして、この検出結果は半導
体ウェハ21の移載の際に利用される。
このようなローラ22a、ウェハ検出器22bは、載置
部20の2つのウェハカセット6に対応して2組設けら
れているが、これら2組(合計4本)のローラ22aは
、第4図に示すようにプーリー22cおよびベルト22
d等によって1つのモータ22eによって駆動されるよ
う構成されている。
上記ウェハ整列機構22を上下動させるための上下動機
構23は、第5図および第6図に示すように複数例えば
2つのシリンダ23 a、 23 bヲ備えており、2
段ストロークにより所定のストロークを得ることができ
るよう構成されている。
すなわち、シリンダ23aは基台30に固定されており
、このシリンダ23aのピストンは、ガイド31によっ
て上下動可能に構成された可動台32に接続され、この
可動台32を上下に駆動するよう構成されている。また
、この可動台32には、シリンダ23bが固定されてお
り、シリンダ23bのピストンにウェハ整列機構22が
接続されている。このように、複数段の伸縮機構により
、所定のストロークを得るようにすれば、上下動機構2
3の高さを低く抑えることができ、省スペース化を図る
ことができる。
なお、第5図は、これらのシリンダ23a、23bを伸
長させ、ウェハ整列機構22を上昇させてウェハ整列操
作を行う位置に配置した状態を示し、第6図は、これら
のシリンダ23a、23bを収縮させ、ウェハ整列機構
22を下降させた状態を示している。
上記ウェハカセット6を水平−垂直変換するための姿勢
変換機構24は、第5図および第6図に示すように上下
方向に伸縮する1つのシリンダ24aと、このシリンダ
24aの動きを2つのウェハカセット6を載置された載
置部20の回転動作に変換するリンク機構24bとから
構成されている。
そして、第5図に示すようにシリンダ24aを伸長させ
た状態では、載置部20に載置されたウェハカセット6
がほぼ水平な状態(半導体ウェハが垂直な状態)となり
、第6図に示すようにシリンダ24aを収縮させると、
載置部20に載置されたウェハカセット6が回転する如
く下方に移動し、後方に向いた状態でほぼ垂直な状態(
半導体ウェハが水平な状態)となるように、ウェハカセ
ット6の姿勢変換を実行する。なお、このような姿勢変
換機構24によるウェハカセット6の水平−垂直変換は
、第6図に示すように上下動機構23によってウェハ整
列機構22を下降させ、載置部20の下方に空きスペー
スを設けた状態でのみ可能である。
また、第4図に示すように、姿勢変換機構24には、シ
ャフト24c、24dを介して2つの工ァダンパー24
eが接続されており、姿勢変換の動作が穏やかに停止し
、ウェハカセット6に衝撃を与えないように構成されて
いる。
すなわち、シャフト24cは、載置部20に接続されて
おり、矢印Aで示すように、シリンダ24aの動作に伴
って長いストロークで上下に移動する。これに対して、
シャフト24dはエアダンパー24eに接続されており
、矢印Bで示すように、短いストロークで穏やかに上下
に移動するよう構成されている。また、これらのシャフ
ト24c、24dは、シャフト24cに固定されたリン
ク部材24fを介して連結されており、一方シャフト2
4dには、リンク部材24fの動きを制限するためのス
トッパ24g、24hが上下に設けられている。そして
、リンク部材24fがストッパ24g、24hに当接さ
れる部位までは、シャフト24cが自由に(速く)上下
動し、リンク部材24fとストッパ24g、24hが当
接した状態となると、エアダンパー24eによって動作
が制限され、シャフト24cが穏やかに(遅く)上下動
するように構成されている。
このように構成されたウェハカセットステーション7で
は、載置部20に複数のウェハカセット6を載置するこ
とができ、これらのウェハカセット6のウェハ整列機構
22による半導体ウェハ21の整列操作、姿勢変換機構
24による姿勢変換操作等を同時に実施することができ
、スルーブツトの向上を図ることができる。
また、上下動機構23によりウニ/1整列機構22を下
降させて載置部20の下方に空きスペースを形成し、姿
勢変換機構24により載置部20を回動させる如くこの
空きスペースに位置させ、ウェハカセット6をほぼ水平
な状態からほぼ垂直な状態に姿勢変換するので、縦方向
のスペースを有効に活用して横方向へのスペースの拡大
を抑制することができ、省スペース化を図ることができ
る。
また、第1図に示すように、キャリアトランスファ8の
後方には、上部に棚状に複数(本実施例では4段2列で
計8つ)のウェハカセット6を収容可能に構成されたキ
ャリアステージ9、下部にトランスファステージ10が
設けられており、トランスファステージ10の後方には
半導体ウェハ21の移載を行うウェハトランスファ11
が設けられている。
上記トランスファステージ10は、例えば2つのウェハ
カセット6を正確に位置決めした状態で収容可能に構成
されており、このトランスファステージ10に収容した
ウェハカセット6と、ボートエレベータ4上に設けられ
たウェハボート3との間で、ウェハトランスファ11に
より半導体ウェハの移載を行うよう構成されている。
さらに、熱処理炉2の下端部側力には、非処理中に熱処
理炉2の開口部を閉塞することにより、熱処理炉2内か
らの熱を遮断するとともに、熱処理炉2内に空気、水蒸
気、塵埃等が侵入することを防止するための開閉機構1
2が設けられている。
次に、上記構成の本実施例の縦型熱処理装置の動作につ
いて説明する。
予め、実施する処理に応じて熱処理炉2を所定温度に設
定しておく。そして、被処理物として例えば口径8イン
チの半導体ウェハ21を複数(例えば25枚)収容した
ウェハカセット6を、例えば搬送ロボット等により2つ
ずつウェハカセットステーション7の載置部20に載置
する。
そして、ウェハカセットステーション7において、ウェ
ハカセット6内の半導体ウェハ21をウェハ整列機構2
2により所定方向に整列させ、この後、ウェハ整列機構
22を下方に移動し載置部20の下方に空きスペースを
設け、ウェハカセット6を後ろ向きに垂直な状態(半導
体ウェハが水平す状態)に姿勢変換し、このウェハカセ
ット6をキャリアトランスファ8によって搬送してキャ
リアステージ9に収容する。
このような動作を繰り返して、所望数のウェハカセット
6をキャリアステージ9に収容する。
しかる後、順次キャリアステージ9のウェハカセット6
をトランスファステージ1oに移動し、ウェハトランス
ファ11によりこのウェハカセット6内の半導体ウェハ
21をボートエレベータ4上に設けられたウェハボート
3に移載する。
そして、所望枚数(例えば150枚程度)の半導体ウェ
ハ21の移載が終了すると、ボートエレベータ4を上昇
させて、ウェハボート3を熱処理炉2内にロードし、所
定時間、所定温度、所定雰囲気で所望の熱処理を実施し
、処理が終了すると、上記手順と反対の手順で処理済の
半導体ウェハ21をアンロードする。
なお、上記一連の工程において、ウェハカセット6の搬
入、搬出および半導体ウェハ21の移載等の際は、開閉
機構12により熱処理炉2の下部開口を閉塞する。これ
により、熱処理炉2内からの熱を遮断するとともに、熱
処理炉2内に空気、水蒸気、塵埃等が侵入することを防
止する。
以上説明したように、本実施例では、従来に較べてスル
ーブツトの向上を図ることができるとともに、8インチ
の大口径化の半導体ウェハ21に対応しつつ省スペース
化を図ることができる。
なお、上記実施例では本発明を縦型熱処理装置に適用し
た実施例について説明したが、本発明はかかる実施例に
限定されるものではなく、他の半導体製造装置について
も同様にして適用することができる。
[発明の効果] 以上説明したように、本発明の半導体製造装置によれば
、従来に較べてスループットの向上を図ることができる
とともに、半導体ウェハの大口径化に対応しつつ省スペ
ース化を図ることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の縦型熱処理装置の全体構成
を示す図、第2図ないし第6図は第1図に示す縦型熱処
理装置のウニ/%カセットステーションの構成を示す図
である。 1・・・・・・筐体、2・・・・・・熱処理炉、3・・
・・・・ウニ/Xボート、4・・・・・・上下動機構(
ボートエレベータ)、5・・・・・・開口部、6・・・
・・・ウェハカセット、7・・・・・・ウェハカセット
ステーション、8・・・・・・キャリアトランスファ、
9・・・・・・キャリアステージ、10・・・・・・ト
ランスファステージ、11・・・・・・ウエノ\トラン
スファ、12・・・・・・開閉機構、20・・・・・・
載置部、21・・・・・・半導体ウェハ、22・・・・
・・ウェハ整列機構、23・・・・・・上下動機構、 24・・・・・・姿勢変換機構。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)ウェハカセット内に収容された半導体ウェハを所
    定部位に搬送して所定の処理を施す半導体製造装置にお
    いて、 複数の前記ウェハカセットを載置可能に構成された載置
    部と、前記載置部に載置された前記複数のウェハカセッ
    ト内の前記半導体ウェハをオリエンテーションフラット
    を所定方向に揃える如く整列させるウェハ整列機構と、
    前記ウェハ整列機構による前記半導体ウェハの整列操作
    後該ウェハ整列機構を下降させて前記載置部の下方に空
    きスペースを形成する上下動機構と、前記載置部を回動
    させる如く前記空きスペースに位置させ前記複数のウェ
    ハカセットをほぼ水平な状態からほぼ垂直な状態に姿勢
    変換する姿勢変換機構とを具備したウェハカセットステ
    ーションを備えたことを特徴とする半導体製造装置。
JP27268690A 1990-10-11 1990-10-11 半導体製造装置 Expired - Lifetime JP2963950B2 (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5533243A (en) * 1993-12-28 1996-07-09 Tokyo Electron Limited Notch position aligning apparatus and process for using the apparatus to independently align individual wafers in a wafer cassette
US5645419A (en) * 1994-03-29 1997-07-08 Tokyo Electron Kabushiki Kaisha Heat treatment method and device

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5533243A (en) * 1993-12-28 1996-07-09 Tokyo Electron Limited Notch position aligning apparatus and process for using the apparatus to independently align individual wafers in a wafer cassette
US5645419A (en) * 1994-03-29 1997-07-08 Tokyo Electron Kabushiki Kaisha Heat treatment method and device

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