JPH0412626Y2 - - Google Patents

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JPH0412626Y2
JPH0412626Y2 JP1986138071U JP13807186U JPH0412626Y2 JP H0412626 Y2 JPH0412626 Y2 JP H0412626Y2 JP 1986138071 U JP1986138071 U JP 1986138071U JP 13807186 U JP13807186 U JP 13807186U JP H0412626 Y2 JPH0412626 Y2 JP H0412626Y2
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insulating plate
movable contact
wiring conductor
performance board
wiring
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【考案の詳細な説明】 「産業上の利用分野」 この考案は例えばICテスト装置におけるパフ
オマンスボードとテストヘツド装置間を接続する
コネクタに関する。
「考案の背景」 パフオマンスボードとはICテスト装置の内で
被試験ICを着脱する部分のボードである。被試
験ICはその端子の数が多種存在する。このため
にパフオマンスボードは被試験ICの端子の数に
対応して交替しなければならない。よつて装置に
対して着脱自在に装着し、装置とパフオマンスボ
ードはコネクタによつて接続する必要がある。
ICの端子数は少ないもので数10ピン、多いもの
で数100ピンに及ぶものがある。
パフオマンスボードと装置との接続用コネクタ
としては端子数が最も多い数を基準に用意しなけ
ればならない。このため通常はパフオマンスボー
ドと装置との接続用コネクタは数100ピン分を実
装している。
このようにコネクタのピン数が多くなるとコネ
クタの挿抜に大きな力が必要となり操作性が悪く
なる不都合がある。またパフオマンスボードと装
置とを接離するコネクタはパフオマンスボードの
裏側に取付けられるため挿抜に大きな力が必要に
なる。このために挿抜時にパフオマンスボードが
大きくたわみパフオマンスボード上の配線導体を
破断させたりする事故が起きるおそれがある。
「従来技術」 このような要求から従来は第4図に示すように
コイルスプリング1によつて弾性的に突出された
導電ピン2をテストヘツド装置側に用意し、この
導電ピン2の先端にパフオマンスボード3を乗
せ、その裏側に設けた導電部4に導電ピン2を接
触させる構造のコネクタを用いている。
つまり装置側に植設された絶縁板5の両面に例
えばマイクロストリツプライン構造によつて所定
の特性インピーダンスに整合された配線導体6
A,6Bが被着形成され、この配線導体6A,6
Bに導電性のシリンダ7を取付け、シリンダ7と
コイルスプリング1及び導電ピン2を介して配線
導体6A,6Bと導体4とを電気的に接続し、配
線導体6A,6Bによつてパフオマンスボード3
とテストヘツド装置の間を接続している。
「考案が解決しようとする問題点」 第4図に示した従来のコネクタによればコイル
スプリング1の弾性により接触圧を得ているた
め、確実な接触圧を得るためにコイルスプリング
の偏倚力を大きく採つている。この結果パフオマ
ンスボード3に大きな弾性偏倚力が与えられる。
特に接続するピン数が多くなればそれだけパフオ
マンスボード3に掛る弾性偏倚力が大きくなりパ
フオマンスボード3を大きな力で保持しておく必
要がある。
またシリンダ7と導電ピン3の部分で線路イン
ピーダンスが乱れ、波形に歪みを与える大きな欠
点がある。
この考案の目的は挿抜時にパフオマンスボード
に掛る力を少なくすることができ、然も接触部の
接触圧を充分得ることができ、インピーダンスの
乱れが生じないコネクタを提供するにある。
「問題点を解決するための手段」 この考案では、 A パフオマンスボードの裏側に植設した第1絶
縁板と、 B この第1絶縁板の両面に被着形成した配線導
体と、 C この配線導体の位置に対向して設けられた固
定枠と、 D この固定枠に第1絶縁板に向つて弾性偏倚さ
れて支持された第2絶縁板と、 E この第2絶縁板の両面に被着形成された配線
導体と、 F この配線導体に一端が取付けられ他端が互に
離れる方向に折れ曲がつた一対の可動接片と、 G 固定枠に取付けられ第1絶縁板が第2絶縁板
に当接し、第2絶縁板をその偏倚力に抗して移
動させるとき一対の可動接片を挾み込んでこの
可動接片を第1絶縁板に形成した配線導体に圧
接させる操作体と、 によつてコネクタを構成したものである。
「作用」 この考案の構成によれば第1絶縁板を第2絶縁
板に当接させ、第1絶縁板を第2絶縁板に向つて
押圧することによつて第2絶縁板を移動させる。
第2絶縁板がバネの偏倚力に抗して移動するこ
とにより可動接片が操作体に挾み込まれて平板状
に変形され第1絶縁板の配線導体に圧接される。
このとき可動接片は第1絶縁板の端部に露出し
た配線導体に接触し、この結果第1絶縁板と、第
2絶縁板の双方の板面に沿つて配線導体が形成さ
れる。よつて配線導体は第1絶縁板と第2絶縁板
の板厚に従つて対向間隔が保持されインピーダン
スが所定値に保持され、その状態で第1絶縁板上
の配線導体と第2絶縁板上の配線導体とが電気的
に接続され、その接続状態に保持される。
よつてこの考案によればインピーダンスに乱れ
が生じることなく第1絶縁板上の配線導体と第2
絶縁板上の配線導体とを接続することができ、ま
た切離すことができる。
然も接続する場合に必要な力は第2絶縁板を可
動させる力と、可動接片を平板形状に変形させる
力で済むため小さい力で接続することができる。
つまりこれらの力は接触部における接触圧に何等
関係しない力であるからその偏倚力を小さく採る
ことができるからである。更に切離すときは可動
接片の復元力によつて操作体を元に戻す方向に偏
倚力を発生するから接合時より更に小さい力で切
離すことができる。
よつてパフオマンスボードに負担を掛けること
なく着脱することができるコネクタを提供でき
る。
またこの考案によれば可動接片の基部側で第1
絶縁板の端部に露出した配線導体の角に接触し、
可動接片の遊端を操作体によつて第1絶縁板上の
配線導体に圧接させるからテコの作用によつて可
動接片が相手の配線導体に接触する。よつてその
接触圧は大きく安定した接触状態を維持すること
ができる。
「実施例」 第1図にこの考案の一実施例を示す。図中10
0はパフオマンスボードを示す。パフオマンスボ
ード100の上面にはICソケツト101が搭載
され、このICソケツト101に被試験ICが装着
される。
この考案においてはこのパフオマンスボード1
00の裏側の面に第1絶縁板102を植設する。
図では第1絶縁板102を一枚植設した場合を例
示しているが、第1絶縁板102はパフオマンス
ボード100の裏側に多数植設するものとする。
第1絶縁板102の両面に配線導体103A,
103Bを被着形成する。これら配線導体103
A,103Bは第1絶縁板102を介して対向
し、例えばマイクロストリツプライン構造によつ
て所定の特性インピーダンスに維持される。
配線導体103A,103Bはこの例では第1
絶縁板102上に複数組設けられ、各配線導体1
03A,103Bはパフオマンスボード100側
においてパフオマンスボード100に被着形成し
た配線導体に接続される。
一方各配線導体103A,103Bと対向する
位置に固定枠104を設ける。固定枠104は第
1絶縁板102と対向する側にスリツト104A
を有し、このスリツト104Aに第1絶縁板10
2が挿入される。
固定枠104にはこれの内壁に形成した凹溝に
装着され、スリツト104Aの延長方向に移動自
在に支持した第2絶縁板105を設ける。第2絶
縁板105の両面にも配線導体106Aと106
Bを形成し、この配線導体106Aと、106
SBに可動接片107A,107Bを接続する。
可動接片107A,107Bは導電性バネ材に
よつて形成し、その遊端は互に離れる方向に彎曲
させる。
第2絶縁板105はスプリング108によつて
上方に偏倚され、ストツパ109によつて所定位
置で抜け止めされる。
可動接片107Aと107Bの外側に固定枠1
04に取付けたローラ111Aと111Bを設
け、これらローラ111Aと111Bによつて操
作体111を構成する。
第2絶縁板105の他端側にはフレキシブルケ
ーブル112を接続し、このフレキシブルケーブ
ル112を通じてテストヘツド装置(特に図示し
ない)に接続する。
固定枠104はフレーム113に取付けられフ
レーム113を介してテストヘツド装置の匡体に
固定する。
上述の構造において第1絶縁板102を固定枠
104のスリツト104Aに挿入し、第1絶縁板
102の下端を第2絶縁板105の上端に接合
し、その状態でスプリング108の偏倚力を抗し
て第2絶縁板105を下方に移動させる。
第2絶縁板105が下方に移動することによつ
てローラ111Aと111Bの位置が相対的に上
方に移動し、可動接片107Aと107Bを抑え
る。この結果可動接片107Aと107Bは彎曲
した状態から平板状の状態に延ばされて第1絶縁
板102の配線導体103Aと103Bに向つて
圧接される。
ここで第3図に示すように第1絶縁板102の
板厚を第2絶縁板105の板厚よりわずかに厚く
しておき、第1絶縁板102に形成する配線導体
103Aと103Bを第1絶縁板102の端部ま
で延長して形成しておくことにより、可動接片1
07Aと107Bは第1絶縁板102の配線導体
103Aと103Bの端部の角114A,114
Bに接触する。
この結果第1絶縁板102と第2絶縁板105
の双方の配線導体103A,103B及び106
A,106Bの間を接続する可動接片107A,
107Bは第2絶縁板105の板厚に対応する対
応対向間隙を維持し、可動接片107A,10B
が配線導体103A,103Bと接触する部分1
13A,113Bと、配線導体106A,106
Bの間の線路のインピーダンスは配線導体106
A,106B及び103A,103Bで決まる特
性インピーダンスに維持され、インピーダンスの
不整合が生じることはない。
よつて被試験ICに伝達すべきパルス信号及び
被試験ICから出力されてテストヘツド装置に伝
送すべきパルス信号の波形に歪みを与えることが
なく信頼性の高い試験を行うことができる。
「考案の効果」 上述したようにこの考案のコネクタによれば接
続部分のインピーダンスを線路の特性インピーダ
ンスに維持することができるから伝送すべき信号
に歪みを与えることがない。よつてICテスト装
置の信頼性を向上させることができる。
更にこの考案のコネクタは接続時は第2絶縁板
105を弾性偏倚させているスプリング108の
偏倚力と可動接片107A,107Bを平坦形状
に延ばすに必要な力だけでよいから小さい力で接
続状態にすることができる。
また切離す際には可動接片が元の形状に戻るた
めの復元力が働くため挿入時より小さい力で切離
すことができる。
またこの考案のコネクタによれば可動接片10
7A,107Bの遊端側を操作体111によつて
抑え付け、可動接片107A,107Bの基部側
を相手の配線導体103A,103Bの角113
A,113Bに接触させるから、可動接片107
A,107Bがテコとして作用して大きな接触圧
を得ることができる。この結果安定な接触状態を
得ることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの考案の一実施例を示す斜視図、第
2図はこの考案の要部を説明するための斜視図、
第3図はこの考案の要部の動作を説明するための
側面図、第4図は従来技術を説明するための断面
図である。 100……パフオマンスボード、101……
ICソケツト、102……第1絶縁板、103A,
103B……配線導体、104……固定枠、10
4A……スリツト、105……第2絶縁板、10
6A,106B……配線導体、107A,107
B……可動接片、108……スプリング、109
……ストツパ、111……操作体。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 A パフオマンスボードの裏側に植設した第1絶
    縁板と、 B この第1絶縁板の両面に被着形成した配線導
    体と、 C この配線導体の位置に対向して設けられた固
    定枠と、 D この固定枠に上記第1絶縁板に向つて弾性偏
    倚されて支持された第2絶縁板と、 E この第2絶縁板の両面に被着形成された配線
    導体と、 F この配線導体に一端が取付けられ他端が互に
    離れる方向に彎曲した一対の可動接片と、 G 上記固定枠に取付けられ上記第1絶縁板が第
    2絶縁板に当接し、第2絶縁板をその偏倚力に
    抗して移動されるとき上記一対の可動接片を挟
    み、この可動接片を上記第1絶縁板に形成した
    配線導体に圧接させる操作体と、 から成るコネクタ。
JP1986138071U 1986-09-08 1986-09-08 Expired JPH0412626Y2 (ja)

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JPS6343373U JPS6343373U (ja) 1988-03-23
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