JPH04120452A - 分極測定装置 - Google Patents
分極測定装置Info
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- JPH04120452A JPH04120452A JP23984690A JP23984690A JPH04120452A JP H04120452 A JPH04120452 A JP H04120452A JP 23984690 A JP23984690 A JP 23984690A JP 23984690 A JP23984690 A JP 23984690A JP H04120452 A JPH04120452 A JP H04120452A
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Landscapes
- Testing Resistance To Weather, Investigating Materials By Mechanical Methods (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本測定装置は金属等の腐食量を計測する分極測定装置に
係り、特に、電解槽中に試料と対極を浸漬し、さらにそ
の電解液と細管で照合電位計を配置して、前者の電極間
で電解を行いその時の電位。
係り、特に、電解槽中に試料と対極を浸漬し、さらにそ
の電解液と細管で照合電位計を配置して、前者の電極間
で電解を行いその時の電位。
電流特性を測定して分極測定を知ることにより試料表面
の耐食性を評価する装置に関する。
の耐食性を評価する装置に関する。
従来の測定装置は、第４図に示すように、予め電解液の
入った電解槽３０の中に窒素ガスの透過等により溶存酸
素を除き、その後、試料３２と白金製の対極３１を浸漬
し、さらに、その電解液と塩橋３４（ガラス細管中に寒
天質のもので満たしたもの）で連絡をとった参照電位部
３７（参照電位は照合電位あるいは基準電位とも云う）
を配置している。参照電位計は、一般に、飽和塩化カリ
ウム溶液３５中に塩化銀と銀から構成されるカロメル電
極を浸漬したものが良く使われる。試料電位と電流を測
定するポテンシオスタットは、参照電極（端子Ｒ）の電
位を対して試料電極（端子Ｗ）の電位を設定した電位に
常に保てるようにし、この電位を通常負の方から正の方
へ一定速度で走査する。この時の対極（端子Ｃ）に対す
る電位と対極間に流れる電流とを測定（分極測定）する
ことにより、試料表面の腐食速度を測定する。
入った電解槽３０の中に窒素ガスの透過等により溶存酸
素を除き、その後、試料３２と白金製の対極３１を浸漬
し、さらに、その電解液と塩橋３４（ガラス細管中に寒
天質のもので満たしたもの）で連絡をとった参照電位部
３７（参照電位は照合電位あるいは基準電位とも云う）
を配置している。参照電位計は、一般に、飽和塩化カリ
ウム溶液３５中に塩化銀と銀から構成されるカロメル電
極を浸漬したものが良く使われる。試料電位と電流を測
定するポテンシオスタットは、参照電極（端子Ｒ）の電
位を対して試料電極（端子Ｗ）の電位を設定した電位に
常に保てるようにし、この電位を通常負の方から正の方
へ一定速度で走査する。この時の対極（端子Ｃ）に対す
る電位と対極間に流れる電流とを測定（分極測定）する
ことにより、試料表面の腐食速度を測定する。
また、塩橋を用いないものは特開昭６１−５３５６０号
公報に開示のように参照電極を、直接、試料表面近くに
設置したものがある。さらに、別の従来例として、試料
を液中に浸漬しないタイプのものとして、Ｒ，Ｇ、１７
ａ１ｍｓｌｅｙ、ｅｔ ａｌ、ＩＥＥＥ、Ｔｒａｎｓ、
Ｍａｇ。
公報に開示のように参照電極を、直接、試料表面近くに
設置したものがある。さらに、別の従来例として、試料
を液中に浸漬しないタイプのものとして、Ｒ，Ｇ、１７
ａ１ｍｓｌｅｙ、ｅｔ ａｌ、ＩＥＥＥ、Ｔｒａｎｓ、
Ｍａｇ。
２４，３０００．’８０ に記載のように、電解液層
に孔を開けてそこを試料板で塞ぐ形に配して分極測定を
行うものもある。
に孔を開けてそこを試料板で塞ぐ形に配して分極測定を
行うものもある。
しかし、近年、薄膜等から構成される試料表面の変化、
あるいは、微細な腐食を問題とすることが多くなり、測
定に際して極めて高精度な測定が要求されるようになっ
てきている。しかし、従来の測定装置は、測定を開始し
ているうちに電解液中に溶は出した金属イオンにより電
解液の変化が生じたり、あるいは、照合電位計に通じる
ガラス管中に、通常、塩化カリウムを使用しているため
塩素イオンやカリウムイオンが溶は出して電解液が汚さ
れ、その影響を完全に取り除くことができないという問
題があった。電解液中に試料を浸漬するもの、あるいは
、試料の測定面だけを電解槽に面するように配置する構
造のいずれの実施例も、高い精度を要求される測定には
向かないという側面があった。
あるいは、微細な腐食を問題とすることが多くなり、測
定に際して極めて高精度な測定が要求されるようになっ
てきている。しかし、従来の測定装置は、測定を開始し
ているうちに電解液中に溶は出した金属イオンにより電
解液の変化が生じたり、あるいは、照合電位計に通じる
ガラス管中に、通常、塩化カリウムを使用しているため
塩素イオンやカリウムイオンが溶は出して電解液が汚さ
れ、その影響を完全に取り除くことができないという問
題があった。電解液中に試料を浸漬するもの、あるいは
、試料の測定面だけを電解槽に面するように配置する構
造のいずれの実施例も、高い精度を要求される測定には
向かないという側面があった。
本発明は、この電解液に注目して、これに混入する不純
物を無くすると同時に混入しても不純物を流し去る構造
とする分極測定を行うものである。
物を無くすると同時に混入しても不純物を流し去る構造
とする分極測定を行うものである。
参照電極とは、電解液中の試料表面の電位を測定するた
め、その表面近くにガラスの細管（ルギン管）を配置し
て電位を設定測定するものである。
め、その表面近くにガラスの細管（ルギン管）を配置し
て電位を設定測定するものである。
理想的な参照電極は、この電極表面では可逆な電極反応
が可能で、かつ、ヒステリシスがないこと、反応時間が
短く、かつ、長期的に安定なことが要求される。そこで
、通常は寒天の中に、塩化カリウムを溶かし導電性は維
持しつつも参照電極液と電解液との隔離作用をするもの
を用いている。そこで、この働きは持つが、違う構造の
ものとして、電解液そのものを、常時、流しておき、そ
の下流側に参照電極を配置すれば塩橋は不要になり、か
つ、電解液は常に新しいものと交換されるので不純物混
入の影響が望めて低減する。
が可能で、かつ、ヒステリシスがないこと、反応時間が
短く、かつ、長期的に安定なことが要求される。そこで
、通常は寒天の中に、塩化カリウムを溶かし導電性は維
持しつつも参照電極液と電解液との隔離作用をするもの
を用いている。そこで、この働きは持つが、違う構造の
ものとして、電解液そのものを、常時、流しておき、そ
の下流側に参照電極を配置すれば塩橋は不要になり、か
つ、電解液は常に新しいものと交換されるので不純物混
入の影響が望めて低減する。
本発明の実施例を第１図ないし第３図を用いて説明する
。第１図は本実施例の全体の断面図を示す。装置は基盤
１の上に支柱２と支柱３が立てられており、支柱２の上
部にはドーナツ状の試料円板２３が取り付けられている
。一方、支柱２ま、試料円板２３を押え付ける部材、及
び、分極測定をする電解槽８を押えつける部材を支える
柱となっている。試料円板２３は、絶縁体の部材４を先
端に持つ固定棒５で押えられ、この固定棒５は左右にス
ライドできるような軸受７で支持され、常時、ばね６に
より一定圧で試料を押し付ける構造となっている。一方
、電解槽８も同様に固定棒８で押えられ、固定棒９は左
右にスライドできるような軸受１１で支持され、常時、
ばね１０により一定圧で試料を押し付ける構造となって
いる。この時、試料円板は変形が生じないように、押し
付は部材とばぼ面対称となる位置に弾性リング３が支柱
１側に設置しである。
。第１図は本実施例の全体の断面図を示す。装置は基盤
１の上に支柱２と支柱３が立てられており、支柱２の上
部にはドーナツ状の試料円板２３が取り付けられている
。一方、支柱２ま、試料円板２３を押え付ける部材、及
び、分極測定をする電解槽８を押えつける部材を支える
柱となっている。試料円板２３は、絶縁体の部材４を先
端に持つ固定棒５で押えられ、この固定棒５は左右にス
ライドできるような軸受７で支持され、常時、ばね６に
より一定圧で試料を押し付ける構造となっている。一方
、電解槽８も同様に固定棒８で押えられ、固定棒９は左
右にスライドできるような軸受１１で支持され、常時、
ばね１０により一定圧で試料を押し付ける構造となって
いる。この時、試料円板は変形が生じないように、押し
付は部材とばぼ面対称となる位置に弾性リング３が支柱
１側に設置しである。
次に、試験に使う電解液の流路について説明する。まず
、硫酸ナトリウム等の電解液を電解液準備槽１２を用意
し、これは図示されてはいないが、液中の溶存酸素を除
去するために窒素ガスでバブリングを行うことができる
。この溶液は、ポンプ１３により流入パイプを通って電
解槽８に導かれ、その内部を通過後は、導出管２２によ
り参照電極槽１５に入り、その後、流出パイプを通って
廃液槽１７に廃棄することができる。
、硫酸ナトリウム等の電解液を電解液準備槽１２を用意
し、これは図示されてはいないが、液中の溶存酸素を除
去するために窒素ガスでバブリングを行うことができる
。この溶液は、ポンプ１３により流入パイプを通って電
解槽８に導かれ、その内部を通過後は、導出管２２によ
り参照電極槽１５に入り、その後、流出パイプを通って
廃液槽１７に廃棄することができる。
電解槽８の中の断面構造を第２図を用いて説明する。電
解槽の中には、対極１９とガラスフィルタ２０とが設置
され、試料と接する部分にはテフロン製のシール２１が
あり、これにより電解液の漏れを防ぐ構造となっている
。ここから排出される電解液は導出管２２を介して参照
電極槽１５に入る。
解槽の中には、対極１９とガラスフィルタ２０とが設置
され、試料と接する部分にはテフロン製のシール２１が
あり、これにより電解液の漏れを防ぐ構造となっている
。ここから排出される電解液は導出管２２を介して参照
電極槽１５に入る。
分極測定は、大別すると定電位法と定電流法とＡＣイン
ピーダンス法とがあるがここでは定電流法によるポテン
シオスタットについて説明する。
ピーダンス法とがあるがここでは定電流法によるポテン
シオスタットについて説明する。
ポテンシオスタットでは参照電極（端子Ｒ）の電位に対
して試料電極（端子Ｗ）の電位を設定した電位に常に保
てるようにできるので、この電位を通常負の方から正の
方へ一定速度で走査する。この時の参照電極と試料の間
の電位を走査しながら、対極（端子Ｃ）との電位と対極
間に流れる電流を測定する。
して試料電極（端子Ｗ）の電位を設定した電位に常に保
てるようにできるので、この電位を通常負の方から正の
方へ一定速度で走査する。この時の参照電極と試料の間
の電位を走査しながら、対極（端子Ｃ）との電位と対極
間に流れる電流を測定する。
本発明によれば、電解液に溶けだす金属イオンや塩橋に
使用される不純物を流し去る構造とすることにより、極
めて高精度の分極測定ができる。
使用される不純物を流し去る構造とすることにより、極
めて高精度の分極測定ができる。
さらに、液中の溶存酸素処理を、予め、別の電解液準備
槽で用意できるので効率良く多くの測定ができる。また
、試料表面に電解槽を押し付ける構造なので試料端面に
特殊な処理などもしなくてすむので効率的な測定ができ
る。
槽で用意できるので効率良く多くの測定ができる。また
、試料表面に電解槽を押し付ける構造なので試料端面に
特殊な処理などもしなくてすむので効率的な測定ができ
る。
第１図は本発明の一実施例の分極測定装置の断面図、第
２図は第１図の部分詳細断面図、第３図は分極測定用の
ボンテンジオスタットの回路図、第４図は従来の分極測
定装置の断面図である。 ８・・・電解槽、１２・・・電解液準備槽、１３・・・
ポンプ、１４・・流入パイプ、１５・・参照電極槽、１
６・・・流出パイプ、１７・廃液槽、１９・対極、２０
ガラスフィルタ、２１・・シール樹脂、２２ ・導出
管、２３・・・試料、３０・・電解槽、３２・・対極、
３４・塩橋、３７・・・参照電極槽、３８・・・ポテン
シオスタント。
２図は第１図の部分詳細断面図、第３図は分極測定用の
ボンテンジオスタットの回路図、第４図は従来の分極測
定装置の断面図である。 ８・・・電解槽、１２・・・電解液準備槽、１３・・・
ポンプ、１４・・流入パイプ、１５・・参照電極槽、１
６・・・流出パイプ、１７・廃液槽、１９・対極、２０
ガラスフィルタ、２１・・シール樹脂、２２ ・導出
管、２３・・・試料、３０・・電解槽、３２・・対極、
３４・塩橋、３７・・・参照電極槽、３８・・・ポテン
シオスタント。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、腐食量を電気化学的に測定するために、試料と対極
と参照電極とそれらを溶液に浸す電解液槽からなる測定
装置において、 測定時には前記電解液を常に流しながら腐食電流量を測
定できるような流路を持つていることを特徴とする分極
測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23984690A JP2821256B2 (ja) | 1990-09-12 | 1990-09-12 | 分極測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23984690A JP2821256B2 (ja) | 1990-09-12 | 1990-09-12 | 分極測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04120452A true JPH04120452A (ja) | 1992-04-21 |
| JP2821256B2 JP2821256B2 (ja) | 1998-11-05 |
Family
ID=17050743
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP23984690A Expired - Lifetime JP2821256B2 (ja) | 1990-09-12 | 1990-09-12 | 分極測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2821256B2 (ja) |
-
1990
- 1990-09-12 JP JP23984690A patent/JP2821256B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2821256B2 (ja) | 1998-11-05 |
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