JPH04119008A - ディジタル遅延回路 - Google Patents

ディジタル遅延回路

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JPH04119008A
JPH04119008A JP2239249A JP23924990A JPH04119008A JP H04119008 A JPH04119008 A JP H04119008A JP 2239249 A JP2239249 A JP 2239249A JP 23924990 A JP23924990 A JP 23924990A JP H04119008 A JPH04119008 A JP H04119008A
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delay
circuit
block
delay block
input terminal
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Koji Takeda
幸二 竹田
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は情報処理装置のタイミング回路などで用いられ
る遅延回路に関するものであり、さらに詳しく言うなら
ばゲートアレイやスタンゲートセル等のディジタルIC
(集積回路)の中で実理可能なディジタル回路で構成さ
れた遅延精度の高い遅延回路に関するものである。
[従来の技術] 情報処理装置に置いてはDRAM(ダイナミックランダ
ムアクセスメモリ)のタイミング回路をはじめ、多くの
タイミング回路において遅延回路が使われている。遅延
回路としてはコイルとコンデンサの受動素子により構成
されたもの〔デイレイラインと一般に呼ばれている)が
最も古(がら広く使われてきた。しかし、これは製造コ
ストが高く又、集積回路の中に入れることができないた
めにシステムの集積化、小型化にも適していない、これ
にかわって最近は遅延回路をディジタル回路で構成する
方法が広まっている。これを第8図と第9図に示す。
まず第8図について説明する。lおよび2はそれぞれ回
路ブロック(回路Aおよび回路Bと記す)であり、30
00が遅延回路(従来技術による)である0回路A(1
)の出力信号30o1が遅延回路3000の入力となり
、これが遅延回路で遅延されて、出力信号3002とし
て出力され、これが回路B(2)に供給されている。遅
延回路3000はフリップフロップ(以下FFと記す)
3100〜3103で構成され、高速のクロック信号3
200によって入力信号3001がFF3100〜31
03を順次シフトしていき出力3002にいたる、クロ
ック信号3200の周波数を50MHzとすると、遅延
回路3000の遅延時間は最小60nsで最大80ns
となる。
次に第9図について説明する。4000が遅延回路であ
り、これは通常の論理ゲート4100〜4103で構成
されている0本例では論理ゲートとして非反転バッファ
を用いているが特にこれに限定するものではなく、いず
れの論理ゲートでもよい、論理ゲートにはもともと遅延
というものがつきまとっており、この論理ゲートの遅延
時間を積極的に利用したのが遅延回路4000である。
論理ゲート4100〜4103のそれぞれの遅延をIo
ns(ただしこれは電圧が5■で周囲温度が25℃のと
きとする)とすると遅延回路4000の遅延時間は40
nsとなる。なg4001が遅延回路の入力であり40
02が出力である。
[発明が解決しようとする課題1 第8図および第9図の従来技術にはそれぞれ以下に示す
ような欠点がある。
第8図の従来技術の欠点 ■FF3100〜3103のクロック信号3200と遅
延回路への入力信号3001の間には何ら同期関係はな
いので、遅延時間が最大でクロック3200の1周期分
すなわち20nsばらつく。
すなわち遅延回路3000の遅延時間は60ns〜80
nsの間でばらつく、(精度が悪い)■高速のクロック
が必要である。もしシステムの別の回路で高速のクロッ
クが使われていない場合、遅延回路専用に周波数の高い
発振回路を用意しなければならず、これはコストの面で
不利である。又高速クロックを使うことにより、ノイズ
面でも、電力消費面でも不利である。
第9図の従来技術の欠点 ■精度が非常に悪い、論理ゲート4100〜4103の
遅延時間は、ii源電電圧周囲温度、製造時のバラツキ
の3つの要素に依存して大きく変動する。5v25℃に
おける遅延回路4000の遅延時間の平均値を40ns
とする。このとき電圧を4.5V〜5.5V、周囲温度
を0℃〜70℃で変動させ5又製造時のバラツキまで含
めると、遅延回路4000の遅延時間はICメーカーの
保証値として20ns (平均値の50%)−80ns
(平均値の200%)と大きく変動する。すなわち最小
と最大とで4倍も変動する。これはあくまでもICメー
カーの保証値であるが、ICの実力としても2倍ぐらい
は変動する。すなわち第9図の遅延回路は精度があまり
要求されない場合にのみ利用でき高い精度が要求される
場合(通常遅延回路の精度は10%〜20%が必要であ
る)には使えない。
本発明の目的は従来技術の以上のような欠点を解決する
ことである。
[課題を解決するための手段] そのための手段は遅延回路を論理ゲートとセレクタの対
の直列接続で構成し、遅延回路の遅延時間を実際に測定
しながらセレクタを制御して、遅延回路中の論理ゲート
のパスを変え、遅延回路の遅延時間が目標とする遅延時
間にできるだけ近(なるような論理ゲートのパスを求め
、それに合ったセレクタの設定をしようというものであ
る。
遅延回路の遅延時間を測定する方法としては、遅延回路
と反転ゲートとでループ発振回路を構成し、その発振周
波数から周期を求め、これを2で割って、遅延回路の遅
延時間を求めるという方法を考案した。
[実 施 例] 以下実施例にもとづいて本発明の詳細な説明する。
第1図が本発明の第1の実施例であり、1000が本発
明によるディジタル遅延回路である。1および2はそれ
ぞれ回路ブロックであり、回路ブロックlの出力がディ
ジタル遅延回路1000の入力1001へ接続されディ
ジタル遅延回路1000の出力1002が回路ブロック
2へ接続されている。ディジタル遅延回路1000のお
もな構成要素は遅延ブロック1100と反転フィードバ
ックゲート1700と遅延制御回路1200と周波数カ
ウンタ1300とレジスタ1400である。遅延ブロッ
ク1100は入力端子1101の信号を遅延させて出力
端子1102がら出力する。その遅延量は制御入力11
03によって制御される。ディジクル遅延回路1000
には遅延調整モードと実使用モードの2つのモードがあ
る。
実使用モードとはディジタル遅延回路1000が本来の
遅延回路として働くモードである。遅延調整モードとは
ディジタル遅延回路1oooの遅延時間を調整して目標
とする遅延時間に合わせ込むモードのことであり、実使
用モードで遅延回路として動作させる前にこの遅延調整
モードで遅延時間の調整をしなければならない、遅延調
整モード中はディジタル遅延回路1000は遅延回路と
して動作させることはできない。
モードの切換は遅延制御回路1200のモード切換信号
1201によって行なわれる。1201がハイレベル(
以下Hと記す)のときディジタル遅延回路1000は実
使用モードにあり、1201がローレベル(以下りと記
す)のとき、遅延調整モードにある。実使用モード(1
201がH)においてはAND−ORゲート1500は
回路ブロック1からの人力1001を選択してこれを遅
延ブロック1100の入力1101へ接続し、又AND
ゲート1600は遅延ブロック1100の出力1102
をそのまま通して、ディジタル遅延回路1000の出力
1002として回路ブロック2へ送り出している。すな
わち実使用モードにおいてはディジタル遅延回路100
0の入力1001が遅延ブロック1100を通ってa力
1002に至り、本来の遅延回路として動作する。この
とき反転フィードバックゲート1700と周波数カウン
タ1300は動作していない、実使用モードにおいて、
遅延ブロック1100の制御入力1103には遅延調整
モードで調整された値が保持されており、遅延時間は目
標遅延時間に近くなるように遅延制御回路1200によ
って制御されている。
遅延調整モード(1201がL)においてはAND−O
Rゲート1500は反転フィードバックゲート1700
の出力を選択してこれを遅延ブロック1100の入力1
101へ接続している0反転フィードバックゲート17
00の入力は遅延ブロック1100の出力1102に接
続されているため反転フィードバックゲート1700と
遅延ブロック1100とで負帰還ループの発振回路が構
成される。このとき、ディジタル遅延回路1OOOの入
力1001は遅延ブロック1100から切離され、又出
力1002はLに固定されている。
発振回路の発振出力は周波数カウンタ1300の被測定
入力端子1302に接続され周波数が測定される。13
01は周波数カウンタの基準クロックであり、ここでは
32.768KHzのクロックを用いている0周波数カ
ウンタ1300の出力1303 (カウント値)は遅延
制御回路1200へ送られる。レジスタ1400にはデ
ィジタル遅延回路1000の目標とする遅延量が格納さ
れており、遅延制御回路1200はディジタル遅延回路
1000の遅延量を実測して、実際の遅延量をこの目標
遅延量(レジスタ1400の値)に近づけようと制御す
るわけである。遅延制御回路1200は周波数カウンタ
1300の出力1303(周波数を示している)から周
期を計算し、これを2で割ることによってディジタル遅
延回路1000の実際の遅延量を求め、これとレジスタ
14oOの出力1401 (目標遅延量を示している)
を比較し、目標遅延量に対して実際の遅延量が大きすぎ
るか小さすぎるかを判断し、その結果によって遅延ブロ
ック1100の制御入力1103を変更してやる。そし
て、又変更後の1103の設定に対して周波数を測定し
て、実際の遅延量を求め、目標遅延量と比較して、その
結果によって1103を変更する。1103の設定と遅
延量の測定という作業を何回かくり返して、ディジタル
遅延回路1000の実際の遅延量を目標遅延量にできる
だけ近づけるように制御するわけである。最終的な実際
の遅延量の目標遅延量に対する精度は遅延ブロック11
00の構造に依存する。遅延調整モードで目標遅延量に
近い遅延量が設定できたら、実使用モードに切換えて、
ディジタル遅延回路1000を本来の遅延回路として動
作させる。
1202は遅延ブロック1100と反転フィードバック
ゲート1700によって形成される発振回路の発振スタ
ート/ストップ制御信号であり、1202がLのときは
発振が停止するとともに発振回路全体が初期され、12
02をHにすると発振を開始する。1103を設定中は
1202はLにして発振回路を初期化しておき、設定後
、1202をHにして発振を開始させ、発振周波数を測
定する。(なお以上の説明では遅延ブロック1100と
反転フィードバックゲート1700で形成される発振回
路の発振周期の−がディジクル遅延回路1000の遅延
量に等しいという関係を用いたが、これは遅延ブロック
1100の立上がり時の遅延と立下がり時の遅延が等し
いという仮定と、ANDゲート1600の遅延とゲート
1700の遅延がほとんど等しいという仮定の2つの仮
定によるものである。実際にはこの2つの仮定は完全に
は正しくなく、その場合、多少の補正が必要となるが、
これは本発明の根幹には直接は影響しないので、説明を
わかりやすくするために多少の補正については省略する
。又、第1図の実施例ではレジスタ1400に目標遅延
量を格納したが、このかわりに、目標遅延量から逆算で
決まってくる発振回路の周波数を格納してもよい、)遅
延ブロック1100をさらに詳しく示したものが第3図
(a)である、1110〜1116が論理ゲート(非反
転バッファ)であり、1121〜1126がセレクタで
ある。セレクタ1121の回路図を第3図(b)に示す
が、1121〜1126のセレクタすべてが同じもので
ある。論理ゲート1110〜1116の遅延時間はすべ
て同じとは限らない、制御入力1103は各セレクタの
選択端子(記号S)へ接続され、制御入力1103を制
御することにより、遅延ブロック1100の入力110
1から出力1102までのバス(経路)を変え、遅延時
間を調整することができる。たとえばセレクタ1124
のS端子をLとすると、論理ゲート1114は遅延ブロ
ック1100の入力から出力までのバスの中から取り除
かれ、又S端子をHとするとバスの中にそう人される。
第3図(a)の場合、2’  (=64)通りのバスが
可能であり、実際の遅延時間を測定しながら、目標の遅
延時間に最も近くなるようなバスの設定をしてやればよ
い、要求される遅延時間の精度が高くなるほど、論理ゲ
ートとセレクタの段数は多くなる。
第4図およびおよび第5図は遅延ブロックの別の実施例
である。第4図(a)において5100が遅延ブロック
であり、5101はその入力、5102は出力、510
3は制御入力である。5110〜5122は論理ゲート
であり、(各論理ゲートの遅延特性は必ずしも同じでは
なく、又、各論理ゲートは必ずしも1つの物理的な論理
ゲートから構成されているわけではなく、2つ以上の論
理ゲートの直列接続で構成されていることもある。)5
123〜5126は4人力のセレクタである。第4図(
b)はセレクタ5123の回路図である。第5図(a)
において5200が遅延ブロックであり、5201はそ
の入力、5202は出力、5203は制御入力である。
5210〜5217は論理ゲートであり、5220は8
人力のセレクタである。第5図(b)はセレクタ522
0の回路図である。
第6図および第7図は遅延微調整用ブロックの実施例で
あり、これを遅延ブロック(第3図、第4図、第5図)
の一部として遅延ブロックの中に組み込むことにより、
遅延ブロック全体の遅延時間の微調整をすることができ
る。第6図において5300が遅延微調整用ブロックで
あり、5301はその入力、5302は出力、5303
は制御入力である。5310は非反転バッファ(1人力
ANDゲートと考えることもできる)であり、5311
は2人力ANDゲート、5312は3人力ANDゲート
、5313は4人力ANDゲートであり、5320は4
人力のセレクタである。531O〜5313の4つのゲ
ートは入力数がちがうだけで、集積回路で構成したとき
のトランジスタの構造はにている。したがって遅延量も
入力数が増えるにしたがって徐々に大きくなる。例えば
、531Oの遅延量が1.0ns、5311は12ns
、5312は1.4ns、5313は16nsというよ
うになる。このとき制御入力5303を制御することに
よって0.2ns単位での遅延量の調整が可能となる。
論理ゲートでは最も遅延量の小さいものでも0.5ns
<らいであり、これより小さい遅延量の調整には第6図
が便利である。第7図は第6図よりもさらに小さい単位
での遅延量の調整用のブロックである。5400が遅延
微調整用ブロックであり、5401はその入力、540
2は出力、5403は制御入力である。5410〜54
13は非反転バッファであり、これらはすべて同一特性
のものである。ただし、5410〜5413はその出力
に接続される負荷が異なっており、このちがいによって
非常に小さい単位の遅延量の差を生み出している。54
14〜5419が他の論理ゲートに接続されている接続
線であることを示している。すなわち、5410の負荷
はlであり、5411の負荷は2.5412の負荷は3
.5413の負荷は4である。この負荷のちがいによっ
て遅延量の差ができ、541Oの遅延量100nsに対
して、5411の遅延量は1.05ns、5412の遅
延量は1.1ons、5413の遅延量は115nsと
なって、0.05ns単位での遅延量の調整が可能とな
る。5420は4人力のセレクタである。
以上が本発明の第1の実施例(第1図)およびその中で
使われる遅延ブロック(第3図〜第5図)と遅延微調整
用ブロック(第6図、第7図)の説明である。
次に本発明の第2の実施例を説明する。第2図が本発明
の第2の実施例であり、2000が本発明によるディジ
タル遅延回路である。第1図の実施例では遅延ブロック
がひとつしかなかったため遅延調整モードにおいて、遅
延量を調整中は遅延回路としては動作させることができ
なかった。第2図の実施例はこの点を改善したものであ
り、遅延フ゛ロックを2セツト(2100と2150)
用意し、一方の遅延ブロックが遅延時間を調整中(すな
わち遅延調整モード中)には、もう一方の遅延ブロック
は遅延回路として動作させる(すなわち実使用モード)
ことにより、ディジタル遅延回路20oOがいつでも遅
延回路として動作できるようにしたものである。情報処
理装置を使用中も周囲温度や電源電圧は変動するもので
あり、2つの遅延ブロックを遅延調整モードと実使用モ
ードとで定期的に交互に切換えることによって、常に遅
延精度の高いディジタル遅延回路を得ることができる。
第2図の回路図については、遅延ブロックを2個用意し
、これらのモードを交互に切換えられるにした点以外は
第1図と全く同じであり、モード切換以外の点について
は説明を省略する。第2図において2201がモード切
換信号であり、2201がLのときは、遅延ブロック2
100は遅延調整モードになり、遅延ブロック2150
が実使用モードになる。このとき遅延ブロック2100
は反転フィードバックゲート2700と負帰還ループの
発振回路を形成しその発振周波数が測定されて、遅延時
間が調整され、又遅延ブロック2150においては、入
力2151が2001に接続され、出力2152が20
02に接続され七遅延回路として動作する。2201が
Hのときは遅延ブロック2100と遅延ブロック215
0の働きが2201がLのときと逆になる。このように
ディジタル遅延回路2000では2つの遅延ブロックの
うちのひとつが必らず遅延回路として動作できるため、
ディジタル遅延回路2000は常時動作可能な遅延回路
となる。
[発明の効果] 以上説明してきたように、本発明のディジタル遅延回路
によれば、「発明が解決しようとする課題」の項で述べ
た従来技術の欠点をすべて解決することができる。すな
わち、高精度でかつ消費電力も大きくないディジタル遅
延回路が高速のクロックを用いずに実現できたわけであ
る0本発明によるディジタル遅延回路はすべての回路が
通常の論理ゲート(ごく普通のディジタル回路)のみで
構成されているため、ICへの集積化も非常に容易であ
る。最近パーソナルコンピュータ等の情報処理装置の集
積化が非常に進む中にあって、従来IC化の困難であっ
た高精度の遅延回路を本発明によってIC化可能とした
ことの意義は非常に大きい。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の第1の実施例であり、1000が本発
明によるディジタル遅延回路図である。 第2図は本発明の第2の実施例であり、2000が本発
明によるディジタル遅延回路図である。第3図(a)は
遅延ブロック1100の詳細図であの別に実施例を示す
図であり、第4図(b)はセレクタ5123の回路図で
あり、第5図(b)はセレクタ5220の回路図である
。第6図および第7図は遅延微調整用ブロック図である
。第8図および第9図は従来例を示す図である。 ■ 、 2 ・ ・ ・ 1000 ・ 1001 ・ 1 002  ・ ・ l 100 ・ ・ l 101 ・ ・ 1102  ・ ・ 1 l 03 ・ ・ 1110〜1 1121〜1 120 l ・ ・ 1300 ・ ・ ・回路ブロック ・本発明によるディジタル遅延回路 ・ディジタル遅延回路の入力 ・ディジタル遅延回路の出力 ・遅延ブロック ・遅延ブロックの入力 ・遅延ブロックの出力 ・遅延ブロックの制御入力 11.6 ・論理ゲート(非反転バッファ) ・セレクタ(2人力) ・遅延制御回路 ・モード切換信号 ・発振スタートストップ制御信号 ・周波数カウンタ ・基準クロック 1302 ・ 1400 ・ 1700 ・ 2000 ・ 200 l ・ 2002 ・ 2100. 210 l 、 2102. 2103. 2200 ・ ・被測定入力端子 ・・カウンタの出力 ・・レジスタ ・・レジスタの出力 ・ ・AND−ORゲート ・ ・ANDゲート ・・反転フィードバックゲート (NOTゲート) ・・本発明によるディジクル遅延回路 ・・ディジタル遅延回路の入力 ・・ディジタル遅延回路の出力 ・遅延ブロック ・・遅延ブロックの入力 ・・遅延ブロックの8カ ・・遅延ブロックの制御入力 ・・遅延制御回路 2201・・・モード切換信号 2202・・・発振スタートストップ制御信号2300
・・・周波数カウンタ 2301 ・・基準クロック 2302 ・・被測定入力端子 2303・・・カウンタの出力 2400・・・レジスタ 2401・・・レジスタの出力 2500.2550 ・ ・AND−ORゲート 2600・ ・ ・AND−ORゲート2700・・・
反転フィードバックゲート(AND−NORゲート) 3000.4000 ・・・従来の遅延回路 3001.4001 ・・・遅延回路の入力 3002.4002 ・・・遅延回路の出力 3100〜3103 ・ ・フリップフロップ 3200・・・クロック信号 4100〜4103 ・・・論理ゲート(非反転バッファ) 5100・・・遅延ブロック 5101・・・遅延ブロックの入力 5102・・・遅延ブロックの出力 5103・・・遅延ブロックの制御入力5110〜51
22 ・・・論理ゲート(非反転バッファ) 5123〜5126 ・・・セレクタ(4人力) 5200・・・遅延ブロック 5201・・・遅延ブロックの入力 5202・・・遅延ブロックの出力 5203・・・遅延ブロックの制御入力5210〜52
17 ・・・論理ゲート(非反転バッファ) 5220・・・セレクタ(8人力) 5300・・・遅延微調整用ブロック 5301・・・遅延微調整用ブロックの入力5302・
・・遅延微調整用ブロックのa力5303・・・遅延微
調整用ブロックの制御入力5310・・・非反転バッフ
ァ 5311・・・2人力ANDゲート 53工2・・・3人力ANDゲート 5313・・・4人力ANDゲート 5320・・・セレクタ(4人力) 5400・・・遅延微調整用ブロック 5401・・・遅延微調整用ブロックの入力5402・
・・遅延微調整用ブロックの出力5403・・・遅延微
調整用ブロックの制御入力5410〜5413 ・・・非反転バッファ 5414〜5419 ・・・他の論理ゲートへの接続線 5420・・・セレクタ(4人力) 以上 第4図 (Q) 第4図 (b) 第5図(b) 第6図 第7図

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)A、入力端子と出力端子と制御入力端子を有し、
    入力端子より入力された信号を制御入力端子上の制御信
    号によって遅延時間を制御しつつ遅延させて出力端子よ
    り出力する遅延ブロックと、B、前記遅延ブロックの出
    力を反転されて前記遅延ブロックの入力端子へフィード
    バックさせる反転フィードバックゲートと、 C、前記遅延ブロックと前記反転フィードバックゲート
    とにより構成される発振回路の周波数を測定する周波数
    カウンタと、 D、前記周波数カウンタの周波数測定結果から得られる
    前記遅延ブロックの遅延時間をあらかじめ設定された前
    記遅延ブロックの目標遅延時間と比較し、比較結果によ
    って前記遅延ブロックの制御入力端子を制御し、前記遅
    延ブロックの遅延時間を調整する遅延制御回路と、 から構成されるディジタル遅延回路であって、該ディジ
    タル遅延回路は遅延調整モードと実使用モードの2つの
    モードを持ち、 a、遅延調整モードにおいては前記遅延ブロックと前記
    反転フィードバックゲートで発振回路を構成し、該発振
    回路の発振周波数を測定することによって前記遅延ブロ
    ックの遅延時間を求め、目標遅延時間と比較しつつ、前
    記遅延ブロックの制御入力端子を制御して、前記遅延ブ
    ロックの遅延時間を目標遅延時間に近くなるように設定
    し、b、実使用モードにおいては前記反転フィードバッ
    クゲートを前記遅延ブロックから切り離し、前記遅延ブ
    ロックが遅延回路として動作することを特徴とするディ
    ジタル遅延回路。
  2. (2)A、それぞれ入力端子と出力端子と制御入力端子
    を有する2つの遅延ブロックと、B、前記の2つの遅延
    ブロックのうちの1つに対して、遅延ブロックの出力を
    反転させて入力端子へフィードバックさせる反転フィー
    ドバックゲートと、 C、前記遅延ブロックと前記反転フィードバックゲート
    とにより構成される発振回路の周波数を測定する周波数
    カウンタと、 D、前記周波数カウンタの周波数測定結果から得られる
    前記遅延ブロックの遅延時間をあらかじめ設定された前
    記遅延ブロックの目標遅延時間と比較し、比較結果によ
    って前記遅延ブロックの制御入力端子を制御し、前記遅
    延ブロックの遅延時間を調整する遅延制御回路と、 から構成されるディジタル遅延回路であつて、該ディジ
    タル遅延回路において、常に2つの遅延ブロックのうち
    のひとつは遅延調整モードにあって前記反転フィードバ
    ックゲートとともに発振回路を構成し、前記周波数カウ
    ンタと前記遅延制御回路の働きにより、遅延ブロックの
    遅延時間をあらかじめ設定された目標遅延時間に近くな
    るように制御され、又、もうひとつの遅延ブロックは実
    使用モードにあって反転フィードバックゲートから切り
    離され遅延回路として動作し、2つの遅延ブロックは遅
    延調整モードと実使用モードを交互に切換えることを特
    徴とするディジタル遅延回路。
  3. (3)前記遅延ブロックは論理ゲートとセレクタの対の
    1段以上の直列接続により構成され、前記遅延ブロック
    の制御入力端子はセレクタの選択端子へ接続され、セレ
    クタによって遅延ブロックの入力端子から出力端子まで
    の論理ゲートのバスを変えることにより、遅延ブロック
    の入力端子から出力端子までの総遅延量を制御すること
    を特徴とする請求項1または請求項2記載のディジタル
    遅延回路。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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