JPH04115422A - 超電導ストランド - Google Patents
超電導ストランドInfo
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- JPH04115422A JPH04115422A JP2235376A JP23537690A JPH04115422A JP H04115422 A JPH04115422 A JP H04115422A JP 2235376 A JP2235376 A JP 2235376A JP 23537690 A JP23537690 A JP 23537690A JP H04115422 A JPH04115422 A JP H04115422A
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Classifications
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E40/00—Technologies for an efficient electrical power generation, transmission or distribution
- Y02E40/60—Superconducting electric elements or equipment; Power systems integrating superconducting elements or equipment
Landscapes
- Wire Processing (AREA)
- Electroplating And Plating Baths Therefor (AREA)
- Superconductors And Manufacturing Methods Therefor (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は超電導ストランドに関し、更に詳しくは、例え
ばその複数本をコンジット管に挿入してケーブル・イン
・コンジット導体を製造したとき、各超電導ストランド
間の接触抵抗が高く、その結果、超電導ストランド間の
結合損失の低減を可能にする超電導ストランドに関する
。
ばその複数本をコンジット管に挿入してケーブル・イン
・コンジット導体を製造したとき、各超電導ストランド
間の接触抵抗が高く、その結果、超電導ストランド間の
結合損失の低減を可能にする超電導ストランドに関する
。
(従来の技術)
核融合炉用の大電流超電導導体の1つにケーブル・イン
・コンジット導体がある。この導体は、直径が約IM程
度の超電導ストランド(素線)を数百本束ねて撚線後コ
ンジット管の中に挿入し、管内に冷媒を導入した内部冷
却型の導体である。
・コンジット導体がある。この導体は、直径が約IM程
度の超電導ストランド(素線)を数百本束ねて撚線後コ
ンジット管の中に挿入し、管内に冷媒を導入した内部冷
却型の導体である。
この導体は、冷却周囲長が非常に長く、高い安定性が得
られるとともに、各超電導ストランドの表面に絶縁被覆
を施すことにより、互いの交流損失(結合損失)を非常
に小さくすることができるという利点を備えている。
られるとともに、各超電導ストランドの表面に絶縁被覆
を施すことにより、互いの交流損失(結合損失)を非常
に小さくすることができるという利点を備えている。
ところで、上記したケーブル・イン・コンジット導体に
組込む超電導ストランドは概ね次のようにして製造され
る。例えば、Nb3Sn超電導体のストランドの場合、
まず、直径が5〜10μm程度の複数本のNb細線が所
定量のSnを含有するCu合金のマトリックス中に埋込
まれた複合体素線を製造し、この複合体素線の表面に絶
縁被膜を形成したのち600〜700℃程度の温度に加
熱して、Nb細線とマトリックスとの界面でNbとSn
の界面反応を起させることにより、超電導性のN b、
S nをNb細線の表面に生成させるのである。
組込む超電導ストランドは概ね次のようにして製造され
る。例えば、Nb3Sn超電導体のストランドの場合、
まず、直径が5〜10μm程度の複数本のNb細線が所
定量のSnを含有するCu合金のマトリックス中に埋込
まれた複合体素線を製造し、この複合体素線の表面に絶
縁被膜を形成したのち600〜700℃程度の温度に加
熱して、Nb細線とマトリックスとの界面でNbとSn
の界面反応を起させることにより、超電導性のN b、
S nをNb細線の表面に生成させるのである。
この場合、複合体素線の表面を被覆する絶縁被膜の材料
としては、Nb、Snの生成に要する600〜700℃
程度の温度に耐え得る材料であることと、同時に、スト
ランドの安定化材であるCuまたはCu合金を汚染しな
い材料であることが必要とされる。
としては、Nb、Snの生成に要する600〜700℃
程度の温度に耐え得る材料であることと、同時に、スト
ランドの安定化材であるCuまたはCu合金を汚染しな
い材料であることが必要とされる。
従来、このような絶縁被膜としては、硫化銅の膜や酸化
銅の膜か一般に採用されている。これは、硫化銅や酸化
銅は摩擦係数が小さいので、ストランド間の滑りがよく
なり、ケーブル・イン・コンジット導体を曲げたときの
歪みを小さくすることができるからである。
銅の膜か一般に採用されている。これは、硫化銅や酸化
銅は摩擦係数が小さいので、ストランド間の滑りがよく
なり、ケーブル・イン・コンジット導体を曲げたときの
歪みを小さくすることができるからである。
これら絶縁被膜のうち、例えば、硫化銅の絶縁被膜の場
合は、前記した複合体素線の表面に気相還元法を適用し
て表面部分を硫化銅にすることによって形成され、また
酸化銅の絶縁被膜の場合は複合体素線の表面に陽極酸化
法を適用することによって形成されている。
合は、前記した複合体素線の表面に気相還元法を適用し
て表面部分を硫化銅にすることによって形成され、また
酸化銅の絶縁被膜の場合は複合体素線の表面に陽極酸化
法を適用することによって形成されている。
(発明が解決しようとする課題)
しかしながら、硫化銅や酸化銅の絶縁被膜で表面が被覆
されている上記複合体素線に対し、上記温度の熱処理を
施してNb、Sn超電導体を生成させた場合、素線表面
を被覆している硫化銅や酸化銅が昇華してしまうことが
ある。その結果、得られた超電導ストランドはその表面
絶縁か一部破壊され、大きな交流損失を引き起すことか
ある。
されている上記複合体素線に対し、上記温度の熱処理を
施してNb、Sn超電導体を生成させた場合、素線表面
を被覆している硫化銅や酸化銅が昇華してしまうことが
ある。その結果、得られた超電導ストランドはその表面
絶縁か一部破壊され、大きな交流損失を引き起すことか
ある。
本発明は、このような問題を解決し、上記したNb3S
nの生成を目的とする熱処理によっても絶縁特性を失う
ことがなく、しかも安定化材であるCuやCu合金を汚
染することのない絶縁被膜で被覆されていて、大電流超
電導導体に組込んだとき、ストランド間の結合損失を低
減することができる超電導ストランドの提供を目的とす
る。
nの生成を目的とする熱処理によっても絶縁特性を失う
ことがなく、しかも安定化材であるCuやCu合金を汚
染することのない絶縁被膜で被覆されていて、大電流超
電導導体に組込んだとき、ストランド間の結合損失を低
減することができる超電導ストランドの提供を目的とす
る。
(課題を解決するための手段・作用)
上記した目的を達成するために、本発明においては、表
面が少なくとも1層のCrめっき層で被覆されているこ
とを特徴とする超電導ストランドが提供される。
面が少なくとも1層のCrめっき層で被覆されているこ
とを特徴とする超電導ストランドが提供される。
本発明の超電導ストランドは、表面を被覆している絶縁
被膜がCrめっき層の1層または2層以上の層であるこ
とを除いては、従来の超電導ストランドと変ることはな
い。
被膜がCrめっき層の1層または2層以上の層であるこ
とを除いては、従来の超電導ストランドと変ることはな
い。
このCrめっき層は、いわゆるサージェント浴を基本と
するめっき浴中で電気めっきを行ない、複合体素線の表
面にCrを析出させて形成される。
するめっき浴中で電気めっきを行ない、複合体素線の表
面にCrを析出させて形成される。
このときの対象となる複合体素線としては、熱処理によ
って、Nb3Sn超電導体を生成する素線やV 3G
a超電導体を生成する素線をあげることができる。
って、Nb3Sn超電導体を生成する素線やV 3G
a超電導体を生成する素線をあげることができる。
ところで、サージェント浴を用いてCrめっきを行なう
場合は、通常、陽極に鉛を使い、所望組成にした無水ク
ロム酸と硫酸との浴にまず空電解を行なって所定濃度の
3価のクロム酸を生成し、ここに被めっき材を陰極にし
て電気めっきが行なわれるが、本発明の場合は、表面が
CuまたはCu合金で構成されている複合体素線が陰極
であるので、陽極に銅を用い、上記したサージェント浴
に更にCuイオンが溶出した浴をめっき浴としてCrめ
っき層の形成が行なわれる。
場合は、通常、陽極に鉛を使い、所望組成にした無水ク
ロム酸と硫酸との浴にまず空電解を行なって所定濃度の
3価のクロム酸を生成し、ここに被めっき材を陰極にし
て電気めっきが行なわれるが、本発明の場合は、表面が
CuまたはCu合金で構成されている複合体素線が陰極
であるので、陽極に銅を用い、上記したサージェント浴
に更にCuイオンが溶出した浴をめっき浴としてCrめ
っき層の形成が行なわれる。
このようにすると、複合体素線の表面には、サージェン
ト浴の硫酸の作用により微細な針孔が形成され、ここに
金属Crが沈着し、上記針孔によってアンカー効果が発
揮されて密着度の大きいCrめっき層が形成される。
ト浴の硫酸の作用により微細な針孔が形成され、ここに
金属Crが沈着し、上記針孔によってアンカー効果が発
揮されて密着度の大きいCrめっき層が形成される。
この場合、サージェント浴に溶出しているCuイオンは
、被めっき材の表面に電着するC「イオンを誘引してそ
のめっきの密着力を高めるという働きをする。
、被めっき材の表面に電着するC「イオンを誘引してそ
のめっきの密着力を高めるという働きをする。
用いるめっき浴としては、例えば、無水クロム酸240
〜260g/j2.硫酸2.4〜2.6g/f、 3
価のクロム酸3〜10g/l、Cuイオン0.1〜10
g/l、 Feイオン3〜10g#の組成を有するも
のをあげることができる。ここで、水素化クロムはCr
Hxのような合金と考えられるが、Feイオンは、この
CrHxが電着するときの中間層として介在してCrイ
オンの電着性を高めるという効果を得るために配合され
る。
〜260g/j2.硫酸2.4〜2.6g/f、 3
価のクロム酸3〜10g/l、Cuイオン0.1〜10
g/l、 Feイオン3〜10g#の組成を有するも
のをあげることができる。ここで、水素化クロムはCr
Hxのような合金と考えられるが、Feイオンは、この
CrHxが電着するときの中間層として介在してCrイ
オンの電着性を高めるという効果を得るために配合され
る。
また、めっき浴の浴温は、無水クロム酸の電解によって
複合体素線の表面に析出する水素化クロムを迅速に金属
クロムと水素に分解することを目的として、45〜55
℃に設定することが好ましい。なお、電流密度は10〜
20A/dが、めっき時間は、形成するCrめっき層の
厚みにもよるか、3〜6分程度であればよい。
複合体素線の表面に析出する水素化クロムを迅速に金属
クロムと水素に分解することを目的として、45〜55
℃に設定することが好ましい。なお、電流密度は10〜
20A/dが、めっき時間は、形成するCrめっき層の
厚みにもよるか、3〜6分程度であればよい。
このようにして形成されるCrめっき層は、そのビッカ
ース硬さ(Hv)か500〜600程度になる。
ース硬さ(Hv)か500〜600程度になる。
このCrめっき層は、複合体素線の表面に1層または2
層以上積層して形成される。
層以上積層して形成される。
2層以上形成する場合は、下層になるCrめっき層を形
成したのち、例えば、その素線を一旦めっき浴から取出
して大気中に放置し、ついで再びその上に上層となるC
rめっき層を形成するという手法が採用される。このよ
うにすると、下層のCrめっき層の表面が酸化等により
不動態化して1層形成の場合よりも全体の絶縁特性が向
上する。
成したのち、例えば、その素線を一旦めっき浴から取出
して大気中に放置し、ついで再びその上に上層となるC
rめっき層を形成するという手法が採用される。このよ
うにすると、下層のCrめっき層の表面が酸化等により
不動態化して1層形成の場合よりも全体の絶縁特性が向
上する。
この場合、1層のCrめっき層の厚みは1〜20μm程
度であることが好ましく、複数層形成する場合には、そ
の全体の層厚を3〜20μmにすることが好ましい。C
rめっき層の厚みが薄すぎると、そのめっき層は有効な
接触抵抗値を示さずストランド間の結合損失の低減効果
が小さくなり、また厚くなりすぎると、超電導ストラン
ドの冷却効果か悪くなり、超電導特性に影響を与えるよ
うな問題か生ずるからである。
度であることが好ましく、複数層形成する場合には、そ
の全体の層厚を3〜20μmにすることが好ましい。C
rめっき層の厚みが薄すぎると、そのめっき層は有効な
接触抵抗値を示さずストランド間の結合損失の低減効果
が小さくなり、また厚くなりすぎると、超電導ストラン
ドの冷却効果か悪くなり、超電導特性に影響を与えるよ
うな問題か生ずるからである。
上記したCrめっき層で被覆されている複合体素線に、
所定の温度で熱処理を施して、Nb+Snを生成せしめ
ることにより、本発明の超電導ストランドが得られる。
所定の温度で熱処理を施して、Nb+Snを生成せしめ
ることにより、本発明の超電導ストランドが得られる。
(発明の実施例)
実施例1
無水クロム酸250g/C硫酸2.5g/C3価のクロ
ム酸10g/CFeイオン15g/CCuイオン10g
、Qを含むめっき浴を建浴した。
ム酸10g/CFeイオン15g/CCuイオン10g
、Qを含むめっき浴を建浴した。
直径3.4μmのNb線8000本と、Cu −14,
3%Snから成る複合体素線を用意し、これを、上記め
っき浴に浸漬して、50±5℃の温度下において、電流
密度20A/dm2(電圧2.8V、総電流2A)で電
気めっきを行なった。めっき時間を変えて、素線表面を
2.8μm(3分の場合)、5.3μm(6分の場合)
のC「めっき層で被覆した。
3%Snから成る複合体素線を用意し、これを、上記め
っき浴に浸漬して、50±5℃の温度下において、電流
密度20A/dm2(電圧2.8V、総電流2A)で電
気めっきを行なった。めっき時間を変えて、素線表面を
2.8μm(3分の場合)、5.3μm(6分の場合)
のC「めっき層で被覆した。
ついで、これらの被覆線材を700°Cで8日間加熱し
て、本発明の超電導ストランドを製造した。
て、本発明の超電導ストランドを製造した。
これらストランドの接触抵抗値はいずれも5゜μΩ/
mm ”と非常に高い値を示した。
mm ”と非常に高い値を示した。
また、これらストランドの残留抵抗比(室温における抵
抗値/4.2Kにおける抵抗値)は150〜200の間
にあり、このときの比抵抗値(ρ)は1.5〜2.0X
10−’Ω−印であった。このことから、Crめっき層
は安定化Cuを汚染していないことが判明した。
抗値/4.2Kにおける抵抗値)は150〜200の間
にあり、このときの比抵抗値(ρ)は1.5〜2.0X
10−’Ω−印であった。このことから、Crめっき層
は安定化Cuを汚染していないことが判明した。
つぎに、めっき層の厚みがちがうこれらのストランドを
35%、20%のボイド率(冷媒流通部分の割合)でそ
れぞれコンジット管に挿入して4種類のケーブル・イン
・コンジット導体を製造し、これら導体の結合損失時定
数を測定した。その結果、いずれの導体の場合も、時定
数は10〜18m5の範囲にあり、良好な結果を示した
。
35%、20%のボイド率(冷媒流通部分の割合)でそ
れぞれコンジット管に挿入して4種類のケーブル・イン
・コンジット導体を製造し、これら導体の結合損失時定
数を測定した。その結果、いずれの導体の場合も、時定
数は10〜18m5の範囲にあり、良好な結果を示した
。
実施例2
実施例1で用いためっき浴に実施例1の複合体素線を浸
漬して、実施例1と同様の条件下で2分間電気めっきを
行い、素線表面に厚み2.5μmのCrめっき層を形成
した。
漬して、実施例1と同様の条件下で2分間電気めっきを
行い、素線表面に厚み2.5μmのCrめっき層を形成
した。
ついで、この素線をめっき浴から取出し、充分水洗した
のち大気中に1日間放置し、再び上記めっき浴を用いて
3分間電気めっきを行い、上記Crめっき層の上に更に
厚み2.8μmのCrめっき層を形成した。
のち大気中に1日間放置し、再び上記めっき浴を用いて
3分間電気めっきを行い、上記Crめっき層の上に更に
厚み2.8μmのCrめっき層を形成した。
この被覆線材を700℃で8日間加熱して、Crめっき
層が2層形成されている本発明の超電導ストランドを製
造した。
層が2層形成されている本発明の超電導ストランドを製
造した。
このストランドの接触抵抗値は70μΩ/ mm ”と
非常に高い値を示した。
非常に高い値を示した。
また、このストランドの残留抵抗比(室温における抵抗
値/4.2Kにおける抵抗値)は150〜200の間に
あり、このときの比抵抗値(ρ)は1.5〜2.0X1
0−”Ω−印であった。このことから、Crめっき層は
安定化Cuを汚染していないことが判明した。
値/4.2Kにおける抵抗値)は150〜200の間に
あり、このときの比抵抗値(ρ)は1.5〜2.0X1
0−”Ω−印であった。このことから、Crめっき層は
安定化Cuを汚染していないことが判明した。
つぎに、このストランドを35%、20%のボイド率で
コンジット管に挿入して2種類のケーブル・イン・コン
ジット導体を製造し、これら導体の結合損失時定数を測
定した。その結果、いずれの導体の場合も、時定数は8
〜11+nsの範囲にあり、良好な結果を示した。
コンジット管に挿入して2種類のケーブル・イン・コン
ジット導体を製造し、これら導体の結合損失時定数を測
定した。その結果、いずれの導体の場合も、時定数は8
〜11+nsの範囲にあり、良好な結果を示した。
(発明の効果)
以上の説明で明らかなように、本発明の超電導ストラン
ドは、その表面を被覆するCrめっき層の接触抵抗値が
高く絶縁特性に優れており、したがって、このストラン
ドを用いたケーブル・イン・コンジット導体のような大
電流超電導導体においては、そのストランド間の結合損
失を低減することが可能になる。
ドは、その表面を被覆するCrめっき層の接触抵抗値が
高く絶縁特性に優れており、したがって、このストラン
ドを用いたケーブル・イン・コンジット導体のような大
電流超電導導体においては、そのストランド間の結合損
失を低減することが可能になる。
Claims (1)
- 表面が少なくとも1層のCrめっき層で被覆されている
ことを特徴とする超電導ストランド。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2235376A JPH04115422A (ja) | 1990-09-05 | 1990-09-05 | 超電導ストランド |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2235376A JPH04115422A (ja) | 1990-09-05 | 1990-09-05 | 超電導ストランド |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04115422A true JPH04115422A (ja) | 1992-04-16 |
Family
ID=16985169
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2235376A Pending JPH04115422A (ja) | 1990-09-05 | 1990-09-05 | 超電導ストランド |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JPH04115422A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN103320826A (zh) * | 2013-06-13 | 2013-09-25 | 南通市申海工业技术科技有限公司 | 导体股线自动镀铬工艺 |
CN103943382A (zh) * | 2014-04-25 | 2014-07-23 | 东北大学 | 一种铜表面电解铬烧结制备CuCr电触头材料的方法 |
CN104953022A (zh) * | 2015-05-15 | 2015-09-30 | 富通集团(天津)超导技术应用有限公司 | 超导线材的制备方法 |
-
1990
- 1990-09-05 JP JP2235376A patent/JPH04115422A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN103320826A (zh) * | 2013-06-13 | 2013-09-25 | 南通市申海工业技术科技有限公司 | 导体股线自动镀铬工艺 |
CN103943382A (zh) * | 2014-04-25 | 2014-07-23 | 东北大学 | 一种铜表面电解铬烧结制备CuCr电触头材料的方法 |
CN103943382B (zh) * | 2014-04-25 | 2016-04-06 | 东北大学 | 一种铜表面电解铬烧结制备CuCr电触头材料的方法 |
CN104953022A (zh) * | 2015-05-15 | 2015-09-30 | 富通集团(天津)超导技术应用有限公司 | 超导线材的制备方法 |
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