JPH04111330A - 半導体製造装置 - Google Patents

半導体製造装置

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Publication number
JPH04111330A
JPH04111330A JP22799890A JP22799890A JPH04111330A JP H04111330 A JPH04111330 A JP H04111330A JP 22799890 A JP22799890 A JP 22799890A JP 22799890 A JP22799890 A JP 22799890A JP H04111330 A JPH04111330 A JP H04111330A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
bonding
semiconductor
chips
stage
wafer stage
Prior art date
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Pending
Application number
JP22799890A
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English (en)
Inventor
Noriyasu Kashima
規安 加島
Koichiro Atsumi
幸一郎 渥美
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Publication date
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Publication of JPH04111330A publication Critical patent/JPH04111330A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の目的〕 (産業上の利用分野) 本発明は、テープキャリヤに形成されたインナリードを
、加熱されたボンディングツールで加圧して半導体チッ
プの電極に接合するテープキャリヤ方式の半導体製造装
置に係り、特に半導体チップをウェハステージからボン
ディングステージに移送するピックアップヘッドの移送
構造の改良に関する。
(従来の技術) 半導体製造装置であるインナリードボンディング装置は
、たとえば特公昭57−51974号公報に開示されて
いる。これは第5図に示すようになっていて、1はボン
ディングステージであり、このボンディングステージ1
は回転テーブル2を介してXY子テーブル上に支持され
る。4はチップトレイであって、ここに複数の半導体チ
ップPが分離し整列された状態で収容される。6はテー
プキャリヤで、所定間隔を存してデバイスホール7・・
・が開口している。それぞれのデバイスホール7にはイ
ンナリードか突出している。8はボンディングツールで
あり、XY力方向移動自在なボンディングヘッド9に昇
降自在に装着される。
上記チップトレイ4に収容された半導体チップPを所定
位置にピッチ送りし、この位置から上記ボンディングス
テージ1に個別に移送して載置する。そして、このボン
ディングステージ1をテープキャリヤ6の下方に送り、
ここに載置される上記半導体チップPの電極と、上記テ
ープキャリヤ6のインナリードとを位置整合した後、ボ
ンディングヘッド9を移動して、ここに備えられるボン
ディングツール8で加圧して熱圧着、すなわちボンディ
ングを行うようになっている。
また、第6図は、従来より一般的に行われている、半導
体チップPをウェハ10から供給する状態を示す。上記
ウェハ10には、シート上に多数の半導体チップP・・
・が分離し整列されかつ貼付された状態で載置される。
ピックアップへラド11は上記半導体チップPを吸着し
てボンディングステージ12に移送できる。そして、こ
こに載置される半導体チップPの電極と、テープキャリ
ヤ13のインナリードとを位置整合した後、これらをボ
ンディングツール14か加圧してボンディングを行うこ
とには変わりかない。
(発明か解決しようとする課題) ところで、このような半導体製造装置において、チップ
トレイ4あるいはウェハ10から半導体チップPをボン
ディングステージ1.12に供給する構造に問題がある
。すなわち、上記チップトレイ4あるいはウェハ10全
体をXY子テーブル搭載して、チップトレイ4の全長あ
るいはウェハ10の直径以上のストロークで移動する必
要がある。
上記ウェハ10は、半導体チップPの収納量がチップト
レイ4よりも大であるところから、チップトレイ4より
も多用されているので、以下、ウェハ10を基準として
説明する。
しかるに、近時、より大量生産の要望が大であり、上記
ウェハ10においても収納量を増大化する傾向にあり、
たとえばその直径が8インチの大型のものか出現してい
る。
この8インチのウェハを8インチのストロークで移動さ
せるためには、少なくとも、16インチX16インチ(
’=400mmX400mm)のスペースが必要となる
。その結果、装置本体の前面から実際にボンディング作
用をなすボンディングツール14位置までの奥行きが極
めて大になる。ボンディングツール14の交換作業や、
テープキャリヤ13の装着作業に無理な姿勢か要求され
、作業性が悪くなるとともに各種の不具合、たとえば装
着精度の悪さによりテープキャリヤ13の走行中にテー
プの破断やキズなどが生じ、ボンディング性の低下の原
因となる。
本発明は、上記事情に着目してなされたものであり、半
導体チップの供給スペースを縮小化して装置の小型化を
図るとともに、それによって必要な作業の作業性向上を
図れる半導体製造装置を提供することを目的とする。
〔発明の構成〕
(課題を解決するための手段) 上述の目的を達成するため本発明は、テープキャリヤに
形成されたインナリードと半導体チップの電極とを接続
する工程を有する半導体製造装置にお、いて、シート上
に分離し整列されかつ貼付された半導体チップもしくは
チップトレイに収納された半導体チップを上記シートも
しくは上記チップトレイを介してウェハステージに載置
し、ピックアップヘッドが上記ウェハステージ上の上記
半導体チップを吸着保持してボンディングステージ上に
移送し、X−Y移送機構がこのピックアップヘッドを上
記ボンディングステージから上記ウェハステージの間に
亘って駆動しかつ所定位置に移送することを特徴とする
半導体製造装置である。
(作 用) 上記ウェハステージはシートもしくはチップトレイを介
して半導体チップを載置した状態で固定である。上記ピ
ックアップヘッドはX−Y移送機構によって駆動され、
上記ウェハステージからボンディングステージに亘って
半導体チップを移送する。すなわち、半導体チップの供
給にあたって、上記ウェハステージとボンディングステ
ージに亘るX−Y移送機構の配置スペースのみ確保すれ
ばよい。
(実施例) 以下、本発明の一実施例を図面にもとづいて説明する。
第1図および第2図に示すように、P・・・はシート上
に分離し整列され、かつ貼付された複数の半導体チップ
であり、リング20に保持されている。
このリング20は、ウェハステージ21に固定されると
ともに、ウェハステージ21の近傍に配置されるマガジ
ン22内に多数積載した状態で収容される。すなわち、
上記ウェハステージ21上のリング20にある半導体チ
ップPが全て供給されたら、上記マガジン22内のリン
グ20か図示しない供給手段により引き出され、ウェハ
ステージ21上の空のリング20と交換されるようにな
っている。また、上記ウェハステージ21は歯車機構2
3上に載設されていて、この歯車機構23の駆動源とし
て駆動モータ24か連結される。
25は、後述するようにして移送される半導体チップP
を載置するボンディングステージであって、XYθテー
ブル26上に載設される。上記ボンディングステージ2
5に隣設される状態で、ボンディングヘッド27か配置
される。そして、ボンディングヘッド27上にXY子テ
ーブル8を介してボンディングツール29か支持される
。このボンディングツール29は、加熱源を備えるとと
もに下降にともなって所定圧での加圧ができるようにな
っている。さらにボンディングヘッド27の前部にはテ
ープ搬送機構30が設けられている。
これは、テープキャリヤ31に設けられるここでは図示
しない掛止孔に掛合し、かつ回転にともなってテープキ
ャリヤ31を上記ボンディングツール29の下方部位に
間欠的に搬送する複数のスプロケット32・・・からな
る。
このようなボンディングステージ25と上記ウェハステ
ージ21との間に亘って、X−Y移送機構33か設けら
れる。すなわち、ボンディングステージ25とウェハス
テージ21をたとえばY方向に沿ってこれらの両側から
囲繞する一対のYガイドレール34,34と、これらY
ガイドレール34.34に掛は渡され、かつ移動自在な
Xガイドレール35およびこのXガイドレール35に設
けられ、Xガイドレール35に沿って移動自在なチップ
搬送体36とから構成される。なお、上記Xガイドレー
ル35およびチップ搬送体36を駆動する駆動機構は図
示していない。
上記チップ搬送体36は、Xガイドレール35ごとYガ
イドレール34,34に沿って移動自在であるとともに
、Xガイドレール35に沿って移動自在であるところか
ら、ボンディングステージ25と上記ウェハステージ2
1との間全てに亘って移動可能である。
上記チップ搬送体36には、図示しない真空源に連通し
、その開口端部を下方に向けたピックアップヘッド37
およびカメラ38が設けられる。
上記カメラ38は、半導体チップPの位置検出、検査に
よって半導体チップPに付された不良マーク検出、半導
体チップPの割れ、欠けなどをパターン認識することが
できる。
つぎに、このようにして構成される半導体製造装置の作
用について説明する。はじめ、マガジン22内に収容さ
れるリング20が引き出されてウェハステージ21上に
載置される。ついでX−Y移送機構33か作動し、Xガ
イドレール35およびチップ搬送体36が移動する。こ
こに取付けられるカメラ38は、ウェハステージ21上
の少なくとも2個以上の半導体チップPの位置認工をな
し、その情報にもとづいて駆動モータ24が駆動される
。歯車機構23はリング20に回転力を伝達して、吸着
すべき半導体チップPの向きを上記テープ−キャリヤ3
1に装着すべき方向に合わせる。
そして、上記カメラ38は吸着搬送する半導体チップP
上に位置を合わせ、この半導体チップPの位置検出、不
良マーク検出、割れおよび欠は検出を行う。不良マーク
や割れあるいは欠けを検出したら、その半導体チップP
をそのまま残し、つぎに吸着搬送すべき半導体チップP
上に位置を合わせるよう移動する。
不良マークや割れあるいは欠けが検出されない良品の半
導体チップPであれば、位置検出情報にもとづいてX−
Y移送機構33が駆動され、ピックアップヘッド37は
その半導体チップPの上に位置整合される。
上記ピックアップヘッド37は半導体チップPを吸着保
持し、必要なXY力方向移動してボンディングステージ
25上にその半導体チップPを載置する。このように、
ウェハステージ21からボンディングステージ25上に
半導体チップPを供給するには、X−Y移送機構33を
作動させればよく、したがって上記ウェハステージ21
は移動せずにすむ。
上記ボンディングステージ25上の半導体チップPおよ
びテープキャリヤ31に対し、1台もしくは2台の図示
しないカメラが、それぞれの任意の2点のパターン位置
認識をなす。
その情報にもとづいて、ボンディングツ−ル25を支持
するXYθテーブル26か駆動され、ボンディングツ−
ル25をテープキャリヤ31の下方に移動する。したか
って、半導体チ・ツブPの電極かテープキャリヤ31の
デバイスホールに突出するインナリードと一致するよう
位置整合される。
ついで、ボンディングツール29を支持するXY子テー
ブル8が駆動し、上記ボンディングツール29は正しい
ボンディング位置に位置整合される。その位置を保持し
てボンディングツール29は下降し、テープキャリヤ3
1のインナリードを半導体チップPの電極に加圧して互
いの熱圧着をなす。
なお上記実施例においては、シート状に分離し整列しか
つ貼付られた半導体チップPを吸着して搬送する構成に
ついて説明したか、これに限定されるものではなく、た
とえば第3図に示すように、トレイ40,40に収容さ
れた半導体チップを吸着して搬送する場合にも適用でき
る。
そしてまた、同図に示すように、複数種(ここでは2種
類の面積の異なる)の半導体チップがウェハステージ2
1上のそれぞれのトレイ40゜40に載置される一方、
複数本(ここでは2本)のボンディングツール29a、
29bがボンディングヘッド27に備えられる。上記テ
ープキャリヤ31aには複数種(ここでは2種類の開口
面積が異なる)のデバイスホールが交互に備えられる。
このような構成であるから、1台の半導体製造装置で同
一のテープキャリヤ31aに複数種の半導体チップPa
、Pbをボンディングすることが可能である。
また、第4図に示すように、2組のウェハステージ21
a、21bを並設し、これらウェハステージ21a、2
1bとボンディングステージ25上に亘って、ピックア
ップヘッド37をXY力方向移動自在なX−Y移送機構
38Aを備える。
ボンディングヘッド27aに設けられるボンディングツ
ール29a、29bは2本並べられる。
このような構成であるから、面積が同一で回路構成の異
なる半導体チップP、、P2を同一のテープキャリヤ3
1にボンディングできる。2組のウェハステージ21a
、21bか並設されるのであるから、X−Y移送機構3
8AはX方向に長くなるが、Y方向の長さは先に説明し
たものと全く変わりがない。
(なお、第3図および第4図の実施例とも、先に説明し
た第1図と第2図の実施例と同一部品は、同番号を付し
て新たな説明は省略する。)〔発明の効果〕 以上説明したように本発明によれば、ウェハステージ上
の半導体チップをピックアップヘッドが吸着保持してボ
ンディングステージ上に移送するのに、上記ピックアッ
プヘッドをX−Y移送機構で駆動して位置決めをなすよ
うにしたから、ウェハステージは固定ですみ装置の小型
化を図れるとともに装置前面からボンディング位置まで
の奥行きを小さくできてボンディングツールの交換やテ
ープキャリヤの装着作業が容易になって作業性の向上化
を得られ、ボンディング性の低下を防ぐなどの効果を奏
する。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示す半導体製造装置の要部
斜視図、第2図はその概略の側面図、第3図は本発明の
他の実施例を示す半導体製造装置の要部斜視図、第4図
は本発明のさらに異なる他の実施例を示す半導体製造装
置の要部斜視図、第5図は本発明の従来例を示す半導体
製造装置の要部斜視図、第6図は本発明のさらに異なる
従来例を示す半導体製造装置の要部斜視図である。 31・・・テープキャリヤ、P・・・半導体チップ、2
1・・・ウェハステージ、37・・・ピックアップヘッ
ド、33・・・X−Y移送機構。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. テープキャリヤに形成されたインナリードと半導体チッ
    プの電極とを接続する工程を半導体製造装置において、
    シート上に分離し整列されかつ貼付された半導体チップ
    もしくはチップトレイに収納された半導体チップを上記
    シートもしくは上記チップトレイを介して載置するウェ
    ハステージと、このウェハステージ上の上記半導体チッ
    プを上記シートもしくは上記チップトレイから吸着保持
    しボンディングステージ上に移送するピックアップヘッ
    ドと、このピックアップヘッドを上記ボンディングステ
    ージから上記ウェハステージの間に亘って駆動するX−
    Y移送機構とを具備したことを特徴とする半導体製造装
    置。
JP22799890A 1990-08-31 1990-08-31 半導体製造装置 Pending JPH04111330A (ja)

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JP22799890A JPH04111330A (ja) 1990-08-31 1990-08-31 半導体製造装置

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JP22799890A JPH04111330A (ja) 1990-08-31 1990-08-31 半導体製造装置

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JP (1) JPH04111330A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6149047A (en) * 1998-06-23 2000-11-21 Nec Corporation Die-bonding machine

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6149047A (en) * 1998-06-23 2000-11-21 Nec Corporation Die-bonding machine

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