JPH0411130B2 - - Google Patents

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JPH0411130B2
JPH0411130B2 JP60268376A JP26837685A JPH0411130B2 JP H0411130 B2 JPH0411130 B2 JP H0411130B2 JP 60268376 A JP60268376 A JP 60268376A JP 26837685 A JP26837685 A JP 26837685A JP H0411130 B2 JPH0411130 B2 JP H0411130B2
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normally
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    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K19/00Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
    • H03K19/02Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components
    • H03K19/08Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices
    • H03K19/094Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices using field-effect transistors
    • H03K19/0952Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices using field-effect transistors using Schottky type FET MESFET

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Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、半導体集積回路のうち特にガリウ
ム砒素半導体集積回路に関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a gallium arsenide semiconductor integrated circuit among semiconductor integrated circuits.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

以下、従来技術として昭和59年度電子通信学会
総合全国大会予稿集P2−306図1記載のE/D型
Direct Coupled FET Logic回路(以下これを
E/D型DCFL回路と略記する)におけるセンス
アンプ回路について説明する。第2図に従来技術
の回路構成を示す。図中21及び24はノーマリ
オン型金属−半導体電界効果型トランジスタ(以
下、金属−半導体電界効果型トランジスタを
MESFETと略記する)22,23及び25はノ
ーマリオフ型MESFETで、ノーマリオン型
MESFET21は、ドレインが正の電源(ノード
26)に、ゲート及びソースがノーマリオフ型
MESFET22のドレイン及びノーマリオフ型
MESFET23のゲート以外の第1の端子(ノー
ド27)に接続され、ノーマリオフ型MESFET
22は、ドレインがノーマリオン型MESFET2
1のゲート及びソース及びノーマリオフ型
MESFET23のゲート以外の第1の端子(ノー
ド27)に、ゲートが入力ノード(ノード28)
に、ソースが接地電位にそれぞれ接続され、ノー
マリオフ型MESFET23はゲート以外の2端子
のうち第1の端子がノーマリオン型MESFET2
1のゲート及びソース及びノーマリオフ型
MESFET22のドレイン(ノード27)に接続さ
れ、第2の端子がノーマリオフ型MESFET25
のゲート(ノード30)に接続され、ゲートに
は、上記第1の端子と第2の端子間の導通、非導
通を制御する信号が入力する(ノード29)、ノ
ーマリオン型MESFET24はドレインが正の電
源(ノード26)に、ゲート及びソースがノーマ
リオフ型MESFET25のドレイン(ノード31)
に接続され、オーマリオフ型MESFET25は、
ドレインがノーマリオン型MESFET24のゲー
ト及びソース(ノード31)にゲートがノーマリ
オフ型MESFET23のゲート以外の第2の端子
(ノード30)に、ソースが接地電位に接続され
る。またノード31が出力ノードとなる。
Below, as a conventional technology, the E/D type shown in Fig. 1 of Proceedings of the 1986 Institute of Electronics and Communication Engineers General Conference Proceedings P2-306
A sense amplifier circuit in a Direct Coupled FET Logic circuit (hereinafter abbreviated as an E/D type DCFL circuit) will be described. FIG. 2 shows the circuit configuration of the prior art. 21 and 24 in the figure are normally-on metal-semiconductor field effect transistors (hereinafter metal-semiconductor field effect transistors).
(abbreviated as MESFET) 22, 23, and 25 are normally-off type MESFETs, and normally-on type MESFETs.
MESFET21 has a drain connected to a positive power supply (node 26), and a gate and source connected to a normally-off type
MESFET22 drain and normally-off type
The normally-off type MESFET is connected to the first terminal (node 27) other than the gate of MESFET23.
22 has a normally-on type MESFET2 drain.
1 gate and source and normally off type
The gate is connected to the input node (node 28) at the first terminal other than the gate of MESFET23 (node 27).
The sources of the normally-off MESFET 23 are connected to the ground potential, and the first terminal of the two terminals other than the gate is connected to the normally-on MESFET 2.
1 gate and source and normally off type
The second terminal is connected to the drain (node 27) of MESFET 22, and the second terminal is connected to the normally-off type MESFET 25.
The gate of the normally-on MESFET 24 is connected to the gate (node 30), and a signal for controlling conduction/non-conduction between the first terminal and the second terminal is input to the gate (node 29). The power supply (node 26) is connected to the drain (node 31) of MESFET 25 whose gate and source are normally off type.
The ohm-off type MESFET25 is connected to
The drain is connected to the gate and source (node 31) of the normally-on type MESFET 24, the gate is connected to a second terminal other than the gate (node 30) of the normally-off type MESFET 23, and the source is connected to the ground potential. Further, the node 31 becomes an output node.

次に動作について説明する。第2図においてノ
ーマリオン型MESFET21とノーマリオフ型
MESFET22、及びノーマリオン型MESFET2
4とノーマリオフ型MESFET25はそれぞれ
E/Dインバータ回路を構成し、ノーマリオフ型
MESFET23は、ノード29の制御信号によつ
てノード27とノード30の間の導通、非導通を
制御するトランスフアゲートとなつている。
Next, the operation will be explained. In Figure 2, normally-on type MESFET21 and normally-off type
MESFET22 and normally-on type MESFET2
4 and normally-off type MESFET25 each constitute an E/D inverter circuit, and normally-off type MESFET25 constitutes an E/D inverter circuit.
MESFET 23 is a transfer gate that controls conduction or non-conduction between node 27 and node 30 by a control signal from node 29 .

ノード28から論理信号が入力すると、ノーマ
リオン型MESFET21とノーマリオフ型
MESFET22から構成されるインバータ回路に
より反転され、ノード27から出力される。ここ
でノード29からの制御信号がLowレベルでト
ランスフアゲート23が非導通状態の時はノード
27のレベルはノード30には伝えられず、ノー
ド27のHighレベルは、ノード26の電源電圧
まで上昇する。
When a logic signal is input from node 28, normally-on type MESFET 21 and normally-off type
It is inverted by an inverter circuit composed of MESFET 22 and output from node 27. Here, when the control signal from node 29 is at a low level and transfer gate 23 is in a non-conducting state, the level at node 27 is not transmitted to node 30, and the high level at node 27 rises to the power supply voltage at node 26. .

逆に、ノード29からの制御信号がHighレベ
ルでトランスフアゲート23が導通状態のとき
は、初段のインバータの出力ノード27の電位は
ノード30に伝えられ、ノーマリオフ型
MESFET24とノーマリオフ型MESFET25か
らなるインバータ回路によりさらに反転され、ノ
ード31より出力される。ところでMESFETに
おいては、ゲート・ソース間の電位は、ゲート金
属とガリウム砒素半導体基板間のシヨツトキバリ
ア高さである0.6V程度以上に上がることができ
ず、また通常ノード26の電源電位は上記シヨツ
トキバリア高さよりも高く設定される。従つてこ
のときノード27とノード30のHighレベルは、
ノーマリオフ型MESFET25のゲート・ソース
間のシヨツトキバリア高さである0.6V程度の値
となる。
Conversely, when the control signal from the node 29 is at a high level and the transfer gate 23 is in a conductive state, the potential of the output node 27 of the first stage inverter is transmitted to the node 30, and the normally-off type
The signal is further inverted by an inverter circuit including MESFET 24 and normally-off type MESFET 25, and output from node 31. By the way, in a MESFET, the potential between the gate and source cannot rise above about 0.6V, which is the shot barrier height between the gate metal and the gallium arsenide semiconductor substrate, and the power supply potential of node 26 is usually higher than the above shot barrier height. is also set high. Therefore, at this time, the High level of node 27 and node 30 is
The value is about 0.6V, which is the height of the shot barrier between the gate and source of the normally-off MESFET 25.

また、ノード27のLowレベルは、トランス
フアゲート23の導通、非導通にかからず常に一
定値(接地電位程度)となる。
Further, the low level of the node 27 is always a constant value (approximately the ground potential) regardless of whether the transfer gate 23 is conductive or non-conductive.

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problem that the invention seeks to solve]

従来のE/D型DCFL回路は以上のような構成
を有するため、トランスフアゲート23が非導通
状態のときに前段の出力のHighレベルが電源電
位まで上がつてしまい、次にトランスフアゲート
が導通し、同時に前段の出力ノードがHighレベ
ルからLowレベルに変化すると、このノードの
電圧振幅が大きくなりHighレベルからLowレベ
ルへの変化が遅いという問題点があつた。
Since the conventional E/D type DCFL circuit has the above configuration, when the transfer gate 23 is non-conductive, the high level of the output of the previous stage rises to the power supply potential, and then the transfer gate becomes conductive. At the same time, when the output node of the previous stage changes from High level to Low level, the voltage amplitude of this node becomes large, causing a problem that the change from High level to Low level is slow.

この発明は、上記のような問題点を解消するた
めになされたもので、複数の半絶縁性ガリウム砒
素半導体電界効果型トランジスタによつて構成さ
れ、第1の論理回路の出力ノードと第2の論理回
路の入力ノードとの間をトランスフアゲートによ
つて接続したものにおいて、このトランスフアゲ
ート前段の出力ノードのHighレベルを常にシヨ
ツトキバリア高さ程度とすることによつて、トラ
ンスフアゲートが非導通状態から導通状態へ変化
し、同時に前段の出力ノードがHighレベルから
Lowレベルに変化した時にこのノードの立下が
り時間を短縮し、高速動作に適したガリウム砒素
半導体集積回路を提供することを目的とする。
This invention was made to solve the above problems, and is composed of a plurality of semi-insulating gallium arsenide semiconductor field effect transistors, and has an output node of a first logic circuit and an output node of a second logic circuit. In a device connected to the input node of a logic circuit by a transfer gate, by always keeping the high level of the output node before the transfer gate at about the height of the shot barrier, the transfer gate changes from a non-conducting state to a conducting state. state, and at the same time the output node of the previous stage changes from High level to
The purpose of the present invention is to shorten the fall time of this node when it changes to a low level, and to provide a gallium arsenide semiconductor integrated circuit suitable for high-speed operation.

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving problems]

この発明に係わるガリウム砒素半導体集積回路
は、トランスフアゲートの前段の出力ノードと接
地電位との間にシヨツトキダイオードを接続した
ものである。
The gallium arsenide semiconductor integrated circuit according to the present invention has a Schottky diode connected between the output node at the front stage of the transfer gate and the ground potential.

〔作用〕[Effect]

この発明におけるシヨツトキダイオードは、ト
ランスゲートの前段の出力ノードの電位をトラン
スフアゲートの導通状態、非導通状態に拘らず常
にシヨツトキバリア高さ程度とする。
In the Schottky diode of the present invention, the potential of the output node in the preceding stage of the transfer gate is always about the height of the Schottky barrier, regardless of whether the transfer gate is in a conductive state or in a non-conductive state.

〔発明の実施例〕[Embodiments of the invention]

以下、この発明の一実施例を図について説明す
る。第1図において、1及び4はノーマリオン型
MESFET、2,3及び5はノーマリオフ型
MESFET、12はシヨツトキダイオードで、ノ
ーマリオン型MESFET1は、ドレインが正の電
源(ノード6)に、ゲート及びソースがノーマリ
オフ型MESFET2の及びシヨツトキダイオード
12のアノード側及びノーマリオフ型MESFET
3のゲート以外の第1の端子(ノード7)に接続
され、ノーマリオフ型MESFET2は、ドレイン
がノーマリオン型MESFET1のゲート及びソー
ス及びシヨツトキダイオード12のアノード側及
びノーマリオフ型MESFET3のゲート以外の第
1の端子(ノード7)に、ゲートが入力ノード
(ノード8)に、ソースが接地電位にそれぞれ接
続され、ノーマリオフ型MESFET3は、ゲート
以外の2端子のうち第1の端子がノーマリオン型
MESFET1のゲート及びソース及びノーマリオ
フ型MESFET2のドレイン及びシヨツトキダイ
オードのアノード側(ノード7)に接続され、第
2の端子がノーマリオフ型MESFET5のゲート
(ノード10)に接続され、ゲートには上記第1
の端子と第2の端子間の導通、非導通を制御する
信号が入力する(ノード9)。ノーマリオン型
MESFET4はドレインが正の電源(ノード6)
に、ゲート及びソースがノーマリオフ型
MESFET5のドレイン(ノート11)に接続さ
れ、ノーマリオフ型MESFET5は、ドレインが
ノーマリオン型MESFET4のゲート及びソース
(ノード11)に、ゲートがノーマリオフ型
MESFET3のゲート以外の第2の端子(ノード
10)に、ソースが接地電位に接続され、シヨツ
トキダイオード12にはアノード側がノーマリオ
ン型MESFET1のゲート及びソース及びノーマ
リオフ型MESFET2のドレイン及びノーマリオ
フ型MESFET3のゲート以外の第1の端子(ノ
ード7)に接続され、カソード側が接地電位に接
続される。またノード11が出力ノードとなる。
An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. In Figure 1, 1 and 4 are normally on type
MESFET, 2, 3 and 5 are normally off type
MESFET 12 is a shotgun diode, and the normally-on type MESFET 1 has its drain connected to the positive power supply (node 6), and its gate and source connected to the normally-off type MESFET 2 and the anode side of the shottock diode 12 and the normally-off type MESFET.
The normally-off type MESFET 2 is connected to the first terminal (node 7) other than the gate of the normally-off type MESFET 3, and the drain is connected to the gate and source of the normally-on type MESFET 1, the anode side of the Schottky diode 12, and the first terminal other than the gate of the normally-off type MESFET 3. The gate is connected to the terminal (node 7), the gate is connected to the input node (node 8), and the source is connected to the ground potential.
The gate and source of MESFET 1, the drain of normally-off type MESFET 2, and the anode side (node 7) of the Schottky diode are connected, the second terminal is connected to the gate (node 10) of normally-off type MESFET 5, and the gate is connected to the first
A signal for controlling conduction and non-conduction between the terminal and the second terminal is input (node 9). Normal-ion type
MESFET4 has a positive drain power supply (node 6)
The gate and source are normally off type.
The normally-off type MESFET 5 is connected to the drain of MESFET 5 (note 11), and the drain is connected to the gate and source (node 11) of the normally-on type MESFET 4, and the gate is connected to the normally-off type MESFET 4.
The source of the second terminal (node 10) other than the gate of MESFET 3 is connected to the ground potential, and the anode side of the Schottky diode 12 is connected to the gate and source of normally-on type MESFET 1, the drain of normally-off type MESFET 2, and the drain of normally-off type MESFET 3. It is connected to a first terminal (node 7) other than the gate, and its cathode side is connected to the ground potential. Further, node 11 becomes an output node.

以下、第1図に基づき上記実施例の作用効果に
ついて説明する。ノーマリオン型MESFET1と
ノーマリオフ型MESFET2、及びノーマリオン
型MESFET4とノーマリオフ型MESFET5はそ
れぞれE/Dインバータ回路からなる第1及び第
2の論理回路を構成しノーマリオフ型MESFET
3はノード9の制御信号によつてノード7とノー
ド10の間の導通、非導通を制御するトランスフ
アゲートとなつている。また、シヨツトキダイオ
ードには、第1の論理回路の出力ノード7におけ
るHighレベルの電位をシヨツトキバリア高さの
電位にクランプするクランプ手段を構成する。
Hereinafter, the effects of the above embodiment will be explained based on FIG. Normally-on type MESFET1 and normally-off type MESFET2, and normally-on type MESFET4 and normally-off type MESFET5 constitute first and second logic circuits each consisting of an E/D inverter circuit, and are normally-off type MESFET.
Reference numeral 3 designates a transfer gate that controls conduction or non-conduction between the node 7 and the node 10 in response to a control signal from the node 9. Further, the Schottky diode constitutes a clamping means for clamping the High level potential at the output node 7 of the first logic circuit to the potential at the Schottky barrier height.

ノード8からの入力論理信号は、ノーマリオン
型MESFET1とノーマリオフ型MESFET2から
構成されるインバータ回路により反転され、ノー
ド7から出力される。このとき、ノード9への制
御信号がLowレベルで、トランスフアゲート3
が非導通状態の時、ノード7のHighレベルは、
ノード10へ伝えられない。このとき、ノード7
のHighレベルは、シヨツトキダイオード12の
ためにノード6の電源電圧まで上昇することがで
きず、シヨツトキバリア高さである0.6V程度で
抑えられる。
The input logic signal from node 8 is inverted by an inverter circuit composed of normally-on type MESFET 1 and normally-off type MESFET 2, and is output from node 7. At this time, the control signal to node 9 is low level, and transfer gate 3
When is in non-conducting state, the high level of node 7 is
Not communicated to node 10. At this time, node 7
The high level cannot rise to the power supply voltage of node 6 due to the shotgun diode 12, and is suppressed to about 0.6V, which is the shottock barrier height.

ノード9からの制御信号がHighレベルでトラ
ンスフアゲート3が導通状態のときは、ノード7
のレベルはノード10に伝えられ、ノード7の
Highレベルは、シヨツトキダイオード12及び
ノーマリオフ型MESFET5のゲート・ソース間
のシヨツトキバリア高さで抑えられ、0.6V程度
となる。すなわち、トランスフアゲート3の導
通、非導通にかかわらず、常にHighレベルは
0.6V程度の一定値になる。従つて、トランスフ
アーゲート3が非導通状態でノード7がHighレ
ベルの時、ノード7の電位は0.6V程度であり、
次にトランスフアゲート3が導通状態となり、同
時にノード7の電位がHighレベルからLowレベ
ルに変化してもノード7の電位の変化はトランス
フアゲート3がノード7の電位変化以前から導通
状態にあつた場合と同様、0.6V程度からLowレ
ベル(接地電位程度)までとなる。これは、従来
例におけるノード26の電源電位からLowレベ
ルまでの変化と比較して電位変化の振幅が小さ
く、従つて変化に要する時間が短い。
When the control signal from node 9 is at a high level and transfer gate 3 is in a conductive state, node 7
The level of is transmitted to node 10, and the level of
The High level is suppressed by the shottock diode 12 and the shottock barrier height between the gate and source of the normally-off type MESFET 5, and becomes about 0.6V. In other words, regardless of whether the transfer gate 3 is conductive or not, the high level is always
It becomes a constant value of about 0.6V. Therefore, when the transfer gate 3 is in a non-conducting state and the node 7 is at a high level, the potential of the node 7 is about 0.6V,
Next, transfer gate 3 becomes conductive, and at the same time, the potential of node 7 changes from high level to low level. However, the change in the potential of node 7 will occur if transfer gate 3 was in the conductive state before the change in the potential of node 7. Similarly, the voltage ranges from about 0.6V to low level (about ground potential). This means that the amplitude of the potential change is smaller than the change from the power supply potential of the node 26 to the Low level in the conventional example, and therefore the time required for the change is short.

第3図に、最初トランスフアゲート3,23が
非導通かつノード7,27がHighレベルであつ
た状態から、トランスフアゲートが導通し同時に
ノード7,27がHighレベルからLowレベルに
変化した場合のノード7,27の変化を示す。図
中、41はノード7の変化、42はノード27の
変化を表わす。なおノード6及び26の電源電位
は共に1.0Vとしている。第3図より明らかなよ
うに本発明による回路では従来回路に比べ、
HighレベルからLowレベルへの変化が速くなつ
ており、トランスフアゲート3による遅延時間を
短縮することができる。
FIG. 3 shows a state in which transfer gates 3 and 23 are initially non-conductive and nodes 7 and 27 are at a high level, then the transfer gates become conductive and at the same time nodes 7 and 27 change from high level to low level. 7,27 changes are shown. In the figure, 41 represents a change in node 7, and 42 represents a change in node 27. Note that the power supply potentials of nodes 6 and 26 are both 1.0V. As is clear from FIG. 3, in the circuit according to the present invention, compared to the conventional circuit,
The change from High level to Low level is faster, and the delay time caused by the transfer gate 3 can be shortened.

上記実施例では、E/D型DCFL回路において
E/Dインバータ出力がトランスフアゲートのゲ
ート以外の1端子に接続されている場合を示した
が、第1及び第2の論理回路を構成しているE/
Dインバータの代わりにNOR回路、NAND回路
でも良く、またDCFL回路以外のあらゆる回路形
式において、インバータあるいはNOR回路、あ
るいはNAND回路の出力がトランスフアゲート
のゲート以外の1端子に接続されている場合に適
用することができ同様の効果をあげることができ
る。
In the above embodiment, in the E/D type DCFL circuit, the E/D inverter output is connected to one terminal other than the gate of the transfer gate, but the first and second logic circuits are configured. E/
A NOR circuit or a NAND circuit may be used instead of a D-inverter, and it is applicable to any circuit type other than a DCFL circuit, where the output of the inverter, NOR circuit, or NAND circuit is connected to one terminal other than the gate of the transfer gate. You can achieve the same effect.

以上のようにこの発明によれば、複数の半絶縁
性ガリウム砒素半導体電界効果型トランジスタに
よつて構成され、第1の論理回路の出力ノードと
第2の論理回路の入力ノードとの間をトランスフ
アゲートによつて接続したものにおいて、第1の
論理回路の出力ノードにアノードが接続されると
ともに、カソードが接地電位ノードに接続された
シヨツトキダイオードからなるクランプ手段を設
けたものとしたため、トランスフアゲート前段の
出力のHighレベルをダイオードのシヨツトキ電
位程度の電位にクランプすることができるので、
HighレベルからLowレベルへの変化時間を短縮
でき、高速動作に適したガリウム砒素半導体集積
回路が得られる。
As described above, according to the present invention, the transistor is configured of a plurality of semi-insulating gallium arsenide semiconductor field effect transistors, and is connected between the output node of the first logic circuit and the input node of the second logic circuit. In the case of a gate connected by an agate, the anode is connected to the output node of the first logic circuit, and a clamping means consisting of a Schottky diode whose cathode is connected to the ground potential node is provided, so that the transfer gate Since the high level of the output of the previous stage can be clamped to a potential similar to the shotgun potential of a diode,
A gallium arsenide semiconductor integrated circuit that can shorten the transition time from high level to low level and is suitable for high-speed operation can be obtained.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は、本発明の一実施例によるE/D型
DCFL回路の回路図、第2図は従来のE/D型
DCFL回路の回路図、第3図はノード7及びノー
ド27の電位の時間変化を示す電位変化状態図で
ある1,4,21,24はノーマリオン型
MESFET、2,3,5,23,25はノーマリ
オフ型MESFET、12はシヨツトキダイオード、
6〜11,26〜31はそれぞれ各ノードを示
す。また、41はノード7の電位変化、42はノ
ード27の電位変化をそれぞれ表わしている。
FIG. 1 shows an E/D type according to an embodiment of the present invention.
Circuit diagram of the DCFL circuit, Figure 2 is the conventional E/D type
The circuit diagram of the DCFL circuit, Fig. 3 is a potential change state diagram showing the time change of the potential of node 7 and node 27. 1, 4, 21, 24 are normally-on type
MESFET, 2, 3, 5, 23, 25 are normally-off MESFETs, 12 is a Schottky diode,
6 to 11 and 26 to 31 indicate nodes, respectively. Further, 41 represents a change in the potential of the node 7, and 42 represents a change in the potential of the node 27.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 複数の半絶縁性ガリウム砒素半導体電界効果
型トランジスタによつて構成され、少なくとも第
1の入力ノードと第1の出力ノードとを有し、上
記第1の入力ノードにゲートが接続され、上記出
力ノードと接地電位ノードとの間に接続されたノ
ーマリオフ型の半絶縁性ガリウム砒素半導体電界
効果トランジスタを有した第1の論理回路、 複数の半絶縁性ガリウム砒素半導体電界効果型
トランジスタによつて構成され、少なくとも第2
の入力ノードと第2の出力ノードとを有し、上記
第2の入力ノードにゲートが接続され、上記出力
ノードと接地電位ノードとの間に接続されたノー
マリオフ型の半絶縁性ガリウム砒素半導体電界効
果トランジスタを有した第2の論理回路、 上記第1の論理回路の第1の出力ノードと上記
第2の論理回路の第2の入力ノードとの間に接続
され、導通、非導通状態を制御する制御信号がゲ
ートに入力される半絶縁性ガリウム砒素半導体電
界効果型トランジスタからなるトランスフアゲー
ト、 上記第1の論理回路の第1の出力ノードにアノ
ードが接続されるとともに、カソードが接地電位
ノードに接続されたシヨツトキダイオードからな
るクランプ手段を備えたガリウム砒素半導体集積
回路。 2 第1の論理回路は、インバータ回路あるいは
NOR回路あるいはNAND回路のいずれか1つの
回路であることを特徴とする特許請求の範囲第1
項記載のガリウム砒素半導体集積回路。 3 第1の論理回路は、第1の入力ノードにゲー
トが接続されるノーマリオフ型の半絶縁性ガリウ
ム砒素半導体電界効果型トランジスタが第1の出
力ノードと接地ノードとの間に接続され、このノ
ーマリオフ型の半絶縁性ガリウム砒素半導体電界
効果型トランジスタとでインバータ回路を構成
し、電源電位ノードと第1の出力ノードとの間に
接続されるとともにゲートが第1の出力ノードに
接続されたノーマリオン型の半絶縁性ガリウム砒
素半導体電界効果型トランジスタを有したもので
あることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載
のガリウム砒素半導体集積回路。 4 第2の論理回路は、インバータ回路あるいは
NOR回路あるいはNAND回路のいずれか1つの
回路であることを特徴とする特許請求の範囲第1
項又は第2項記載のガリウム砒素半導体集積回
路。 5 第2の論理回路は、第2の入力ノードにゲー
トが接続されるノーマリオフ型の半絶縁性ガリウ
ム砒素半導体電界効果型トランジスタは第2の出
力ノードと接地ノードとの間に接続され、このノ
ーマリオフ型の半絶縁性ガリウム砒素半導体電界
トランジスタとでインバータ回路を構成し、電源
電位ノードと第2の出力ノードとの間に接続され
るとともにゲートが第2の出力ノードに接続され
たノーマリオン型の半絶縁性ガリウム砒素半導体
電界効果型トランジスタを有したものであること
を特徴とする特許請求の範囲第1項ないし第3項
のいずれかに記載のガリウム砒素半導体集積回
路。
[Scope of Claims] 1. A transistor comprising a plurality of semi-insulating gallium arsenide semiconductor field effect transistors, having at least a first input node and a first output node, and having a gate connected to the first input node. a first logic circuit having a normally-off type semi-insulating gallium arsenide semiconductor field effect transistor connected between the output node and the ground potential node; at least a second transistor;
a normally-off type semi-insulating gallium arsenide semiconductor electric field having an input node and a second output node, a gate connected to the second input node, and connected between the output node and a ground potential node. a second logic circuit having an effect transistor, connected between a first output node of the first logic circuit and a second input node of the second logic circuit, and controlling conduction and non-conduction states; a transfer gate consisting of a semi-insulating gallium arsenide semiconductor field effect transistor whose gate receives a control signal, an anode connected to a first output node of the first logic circuit, and a cathode connected to a ground potential node; A gallium arsenide semiconductor integrated circuit with clamping means consisting of connected Schottky diodes. 2 The first logic circuit is an inverter circuit or
Claim 1 characterized in that the circuit is either a NOR circuit or a NAND circuit.
The gallium arsenide semiconductor integrated circuit described in . 3 The first logic circuit includes a normally-off type semi-insulating gallium arsenide semiconductor field effect transistor whose gate is connected to the first input node, and a normally-off type semi-insulating gallium arsenide semiconductor field effect transistor connected between the first output node and a ground node. The inverter circuit is configured with a semi-insulating gallium arsenide semiconductor field effect transistor of the type, and is connected between the power supply potential node and the first output node, and has a gate connected to the first output node. 2. The gallium arsenide semiconductor integrated circuit according to claim 1, wherein the gallium arsenide semiconductor integrated circuit has a semi-insulating gallium arsenide semiconductor field effect transistor. 4 The second logic circuit is an inverter circuit or
Claim 1 characterized in that the circuit is either a NOR circuit or a NAND circuit.
The gallium arsenide semiconductor integrated circuit according to item 1 or 2. 5 The second logic circuit includes a normally-off type semi-insulating gallium arsenide semiconductor field effect transistor whose gate is connected to the second input node, and a normally-off type semi-insulating gallium arsenide semiconductor field effect transistor connected between the second output node and the ground node. A normally-on type semi-insulating gallium arsenide semiconductor field transistor is connected between the power supply potential node and the second output node, and the gate is connected to the second output node. A gallium arsenide semiconductor integrated circuit according to any one of claims 1 to 3, characterized in that it has a semi-insulating gallium arsenide semiconductor field effect transistor.
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