JPH0392745A - 押込型硬度計 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はビッカース硬度、ブリネル硬度等の硬度を測定
するための押込型硬度計に関するものである。

〔従来の技術〕

金属材料の機械的性質の判定にビッカース硬度やプリネ
ル硬度が用いられる。ビッカース硬度は、対面角１３６
゜のダイヤモンド製四角錐の圧子を試験片の表面に押し
付け、そのときの押付荷重を、押し付けてできたビラく
ツド形の圧痕の表面積で割った値とされている。またブ
リネル硬度は、鋼球圧子を用い、やはり押付荷重を、押
し付けてできた球面状の圧痕の表面積で割った値とされ
ている。

ビッカース硬度を測定するための従来の押込型硬度計と
して、例えば特公昭６３−１０３７９号公報に開示され
ているものがある。この従来技術の押込型硬度計は、第
８図に示すように、試験片１の表面に圧痕２を形成する
ダイヤモンド圧子３と、圧痕２の形成された試験片１の
表面を観察する光学顕微鏡４とを備えている。そして顕
微鏡４で観察された像は撮像装置５で電気信号に変換さ
れ、この信号はＡ／Ｄ変換器６で例えば２５６階調のデ
ジタル画像信号に変換される。このデジタル画像信号は
画像処理部７に送られ、ここで、上記デジタル画像信号
が急激に変化する点から圧痕２の端部位置が決定される
。

例えば、第９図（ａ）に示すような画像が得られた場合
、第９図（ｂ）に示すように、まずこの画像の横軸に平
行な測定軸Ａに沿って各画素が検索され、その濃淡レベ
ルの変化曲線２６が急激に変化ずる点Ｐ＋及びＰ２が圧
痕２の端部として抽出される。同様にして画像の縦軸に
沿った検索が行われ、圧痕２の４つの頂点の位置が決定
される。

３ この画像処理部７で決定された４つの頂点の位置から、
圧痕サイズ測定部８において圧痕２の大きさが決定され
、この圧痕サイズ測定部８において決定された圧痕２の
大きさと圧子３の押付荷重とから、硬度演算部９におい
て硬度が演算され、プリンタ１０等に出力される。

〔発明が解決しようとする課題〕

上述した従来技術の押込型硬度計には次のような問題点
があった。

例えば第１０図に示すように、圧痕２の対向する頂点を
結ぶ直線Ｂが測定軸Ａとずれている場合、真値ｌ，とは
異なった測定値Ｌｌを得てしまい、結果として誤った硬
度値を得てしまう。このような位置ずれは、圧痕形成後
の試料を測定部に移動する際の微小な機械的ガタ等に起
因して生しる。

また、第１１図に示すように、形成された圧痕の像が鮮
明でなく、特に角部が不鮮明な場合、真値ｌ２とは異な
った値ｌ２′が得られてしまう。

これは、試験片を腐食させた場合に見られる金属組織上
、特に熔接部において硬さが均一でない場４ 合或いは腐食のむら等が存在する場合に生しる。

更に、従来の押込型硬度計では、第１２図に示すように
、試験片１の被測定面１ａにほぼ垂直な法線方向から光
を照射し、その反射光を法線方向から観察するようにし
ていた。従って、第１２図（ｂ）に示すように、被測定
面１ａに傷や圧痕が存在すると、その部分では光が垂直
方向に反射しないので顕＠鏡４には反射光が入射せず、
結果として、第９図（ａ）に示すように、傷や圧痕の部
分が暗く、傷や圧痕のない部分が明るい画像が得られる
（以下、「明視野型」と言う。）。

しかしながら、この方式では、被測定面１ａに存在する
傷や凹凸が画像に現れるため、それらを圧痕と識別する
のが比較的困難である。上述した公報記載の押込型硬度
計では画像信号をデジタル処理することによって或る程
度の傷や凹凸の影響は排除できるようになっている。し
かしながら、例えば結晶粒度を測定するために表面をエ
ッチングした場合のような平滑度の著しく悪い試料では
、圧痕を正確に自動検出することは事実上不可能でー５
− あった。

〔課題を解決するための手段〕

本発明は、上述した問題点を解決するためになされたも
のであって、例えば第１図及び第３図に示すように、本
発明の押込型硬度計は、試験片Ｉの実質的に平面状をな
す被測定面１ａに所定形状の圧子３を押し付けて圧痕２
を形成する圧痕形成手段と、 被測定面１ａに形成された圧痕２の内部の所定の反射面
において所定の方向に光を反射させるように設けられた
光照射手段と、 圧痕２の内部の上記所定の反射面において所定の方向に
反射した光を採光するように設けられた採光手段と、 この採光手段から入射した光の像を平面的な画像として
撮像する撮像手段５と、 この撮像手段５により撮像した画像の画素を所定のレベ
ルを基準として２値化する２値化手段２４と、 この２値化手段２４により２値化された画素群６ から境界部分の画素を抽出し、その境界部分の画素の座
標から得られる圧痕２の平面形状及びその大きさに最も
近い所定パターンの圧痕形状を決定する画像処理手段２
５、２７と、 この画像処理千段２５、２７で得られた上記所定パター
ンの圧痕形状に基づいて硬度を算出する硬度演算手段２
日とを有するものである。

〔作用〕

本発明の押込型硬度計によれば、第２図に示すように、
試験片１の被測定面１ａに形成される所定形状の圧痕２
の内部の所定の反射面部分で所定の方向に反射した光を
採光手段で採光し、上記反射面部分以外の部分で上記所
定の方向以外の方向に反射した光は実質上殆ど採光手段
には入射しないように傾斜させた光を試験片Ｉの被測定
面１ａに照射して測定を行う。

従って、従来の明視野型の押込型硬度計の場合に得られ
る画像に対し、白黒が反転した画像（以下、「暗視野型
」と言う。）が得られ、しかも、この画像には、被測定
面１ａに存在する所定形状＝７ の圧痕以外の傷や凹凸は殆ど現れない。

〔実施例〕

以下、本発明の実施例を図面を参照して説明する。

第３図に、本発明の一実施例による押込型硬度計の全体
の構威を概略的に示す。この押込型硬度計はビッカース
硬度を測定するためのものであって、鋼板等の試験片１
の被測定面１ａに圧痕２を形！するためのダイヤモンド
製圧子３を備えている。押込型硬度計は、このダイヤモ
ンド製圧子３の近傍に光学顕微鏡４を有しており、ダイ
ヤモンド製圧子３によって所定形状の圧痕２が形成され
た試験片１は、図示省略した移送手段により顕微鏡４直
下の測定位置に移送される。

本実施例の押込型硬度計に使用する顕微鏡４は、第１図
に示すように、明視野型の画像と暗視野型の画像とを切
り換え得るように構威されている。

即ち、顕微鏡４は、対物レンズ１５の外周囲にリング状
の光照射レンズ１６を有しており、顕微鏡本体の側面に
配された光源１７から導入された光８ は、顕微鏡４の主光軸の周囲に傾斜して配された環状の
ミラー１８で反射して光照射レンズ■６に導かれ、この
光照射レンズ１６で屈折して所定角度範囲に傾斜した状
態で試験片ｌの被測定面１ａに照射される。

このときの照射光の傾斜角度αは、本例のような対面角
１３６゜のビッカース硬度測定の場合、第２図に示すよ
うに、試験片ｌの被測定面１ａが実質的に形成する平面
の法線ｎに対し４４゜であるのが理想的であるが、４４
゜±８″′の範囲であれば実際上問題なく測定を行うこ
とができる。即ち、照射光の傾斜角度αが上記範囲内に
あれば、照射光の大部分は圧痕２内の所定の傾斜面部分
でほぼ上記法線ｎの方向に反射して顕微鏡４の対物レン
ズ１５に入射し、それ以外の部分で反射した光は、例え
ば同図（ｂ）に示すように、対物レンズ１５には殆ど入
射しない。傾斜角度αのより好ましい範囲は４４゜±６
６である。

本例の顕微鏡４では、従来と同様の明視野型の画像を得
ることもでき、顕微鏡本体内部には、そ＝９ の目的のためにハーフミラー１９が設けられている。こ
のハーフミラー１９は、第３図に示す明視野／暗視野切
換手段２０を操作することにより顕微鏡４の主光軸上の
動作位置と主光軸から外れた非動作位置との間を図外の
駆動手段によって変位するように構威されている。そし
て、このハーフ旦ラー１９が、第１図に一点鎖線で示す
動作位置にあるときには、上述した環状貴ラー１８を通
る光路は、図示省略した遮蔽手段により遮蔽され、光源
１７からハーフくラー１９で反射した光のみが対物レン
ズ１５を通して試験片１の被測定面１ａにほぼその法線
ｎの方向から照射される。そして、第１２図に示すよう
に、被測定面１ａの平面部分でほぼ垂直に反射した光の
みが対物レンズ１５を通して顕微鏡４内に入射する。

第１図及び第３図に示すように、対物レンズ１５を通し
て得られた被測定而１ａの光学像は顕微鏡４の接眼レン
ズ側に配されたＣＣＤ等の撮像素子５により電気信号に
変換され、この信号は更にＡ／Ｄ変換器６により、例え
ば２５６階調のデジ１　〇一 タル画像信号に変換されて画像処理される。

本実施例の押込型硬度計においては、画像の位置合わせ
及び焦点合わせを明視野型の画像を用いて行っている。

即ち、第３図に示す明視野／暗視野切換千段２０を、最
初、明視野側に切り換える。

すると、既述した顕微鏡４内のハーフミラー１９が、第
１図に一点鎖線で示すように、その動作位置に移動し、
同時に環状ミラー１８の光路が、図示省略した遮蔽手段
により遮蔽されて顕微鏡４からは、試験片１の被測定面
１ａにほぼ垂直な光のみが照射される。そして、この時
に得られる画像は、例えば第９図（ａ）に示すように、
傷や圧痕２のような凹凸の部分が暗く、平滑な部分が明
るい明視野型の画像である。モして撮像素子５で撮像さ
れたこの画像がマトリックス状の画素単位でデジタル画
像信号に変換される。このデジタル画像信号は、第３図
に示すように、画像合わせ制御部２１に送られ、ここで
画像の位置合わせ及び焦点合わせのための画像処理が行
われる。

まず第４図を参照して、画像の位置合わせ処理１ １ ？手順を説明する。

この手順は、圧Ｈ．２が撮像素子５の視野のほぼ中央に
位置するように試料テーブル２２を移動させるものであ
る。試料テーブル２２は、駆動部２３の駆動により、顕
微鏡４の主光軸にほぼ垂直なＸ−Ｙ平面内で移動可能に
構威されている。なお、圧痕２は、必ずしも撮像素子５
の視野の中央になくてもよいが、万一圧痕２の一部が撮
像素子５の視野から外れることがあると誤測定につなが
るので、この手順を実施する。

まず、第４図に示すように、Ｘ軸方向及びＹ軸方向にお
いて、圧痕に相当するスレツシュホールドレベルＳｘ，
Ｓｙを予め設定しておく。そして、撮像素子５から得ら
れる画像のＹ軸方向及びＸ軸方向の夫々中心線上の画素
の濃淡レベルを検索し、図示の如く、上記スレッシュホ
ールドレベルＳ，Ｉ、Ｓｙよりも低いレベルの領域をＬ
Ｘ、Ｌｙとし、その領域の両側の領域を夫々Ｌエ，、Ｌ
Ｘ■、Ｉ−ｙ＋、Ｌｙ２、とする。そして、Ｌ−＋＞Ｌ
ｘ■の場合、試料テーブル２２をＬＸＩ側に移動し、Ｌ
ＸＩ＜Ｌウ２の場１２ 合にＬｙｚ側に移動する。Ｙ軸方向についても同様であ
る。この場合、Ｘ軸方向、Ｙ軸方向について、許容長さ
ΔＬＸ、ΔＬｙを予め設定しておき、ＬｘｌＬｘｚ　　
＜ΔＬ． Ｌｙｌ−Ｌ１１〈ΔＬｙ のときに、圧痕２が撮像素子５の視野のほぼ中央に位置
したものと判断して、この画像の位置合わせ処理を完了
する。

次に、第５図を参照して、焦点合わせ処理の手順を説明
する。

圧痕２について、高い方のスレツシュホールドレベルＳ
Ｎｉと低い方のスレッシュホールドレベルＳＬｏとを予
め設定しておく。そして、例えばＸ軸方向において、夫
々のレベルに相当する画素の位置をＸＩ、Ｘ２とする。

そして、このＸ，とＸ２との差の絶対値（ｌ　ｘ１−ｘ
−　　１）が、予め設定しておいた値δよりも小さくな
るか又は最小値となるように、駆動部２３の駆動により
試料テーブル２２を上下に移動させる。なお、第５図（
ｂ）は焦点合わせ前、第５図（Ｃ）は焦点合わせ後の１
　３一 状態を夫々示している。

以上のようにして、明視野画像で位置合わせ及び焦点合
わせを行った後、第３図の明視野／暗視野切換手段２０
を暗視野側に切り換える。すると、第１図のハーフ案ラ
ーｌ９は図外の非動作位置に移動し、同時に環状ミラー
１８の遮蔽が解除されて、光源１７からの光は光照射レ
ンズ１６に導かれ、この光照射レンズ１６で屈折して傾
斜した光が試験片１の被測定面１ａに照射される。

従って、第２図（ａ）に示すように、所定の角度に傾斜
した圧痕２の反射面部分でほぼ法線ｎの方向に反射した
光のみが対物レンズ１５から顕微鏡４内に入射し、それ
以外の部分で反射した光は、例えば同図（ｂ）に示すよ
うに、殆ど顕微鏡４内には入射しない。その結果、第７
図（ａ）に示すように、圧痕２の部分のみが明るく、他
の部分は暗い画像が得られる。そして、特に注目すべき
ことは、この暗視野型の画像においては、例えば第９図
（ａ）に示す明視野型の画像には現われていた被測定面
１ａ内の傷や他の凹凸が全く消失して１ｌ いることである。これは、本実施例のように傾斜した光
を照射することにより、所定角度に傾斜した圧痕２の反
射面部分のみが法線ｎの方向に光を反射し、他の傷や凹
凸部分は、その傾斜が全く不規則なために法線ｎの方向
には殆ど光を反射しないからである。従って、後の画像
処理において、被測定面１ａの傷や他の凹凸の影響を大
幅に軽減することができ、その画像処理のアルゴリズム
をかなり簡略化することができる。

以下、本実施例における硬度計算のための画像処理を説
明する。

第３図において、撮像素子５から得られる暗視野画像の
画像信号はＡ／Ｄ変換器６でやはりデジタル画像信号に
変換された後、２値化処理部２４に送られる。そしてこ
の２値化処理部２４で、所定のレベルを基準として２値
化された２値画像信号は２値画像処理部２５に送られる
。この２値画像処理部２５では、第７図（ａ）の下側及
び右側のグラフに夫々示すように、Ｙ軸方向及びＸ軸方
向の各ライン毎に画素の２値信号を積算し、その１５ 変化曲線ＳＧＸ及びＳＧｙを得る。そして、これらの変
化曲線ＳＧＸ及びＳＧｙから、ノイズを除去するために
予め設定しておいたスレンシュホールドレベルＴＸ及び
Ｔｙ　（従来のものと比較してかなり低いものでよい。

）よりもレヘルの高い部分ＤＸ及びＤｙを圧痕２の領域
であると認識する。

次いで、このＤＸ及びＤｙの夫々の中点に対応ずるＹ軸
方向及びＸ軸方向の線分でＤｙ及びＤＸの長さよりも少
し長いものを夫々線分Ｃ８及びＣｙとする。そして、第
７図（ｂ）に示すように、例えば線分ＣＸ上の各画素を
出発点として左右に検索し、最初に１からＯに変化した
画素若しくはその１つ手前の画素を圧痕２の境界を表す
画素として抽出する。これを結ぶと、例えば第６図に太
線で示すような圧痕２の形状が得られる。勿論、線分Ｃ
ｙの各画素から検索してもよい。

この２値画像処理部２５で得られた境界部分の画素の座
標は、圧痕サイズ決定部２７に送られる。

この圧痕サイズ決定部２７では、第６図に示すように、
圧痕２の４つの角を除く４辺の領域ａ１６ ａ’　、ｂ−ｂ’　、ｃ−ｃ’　、ｄ−ｄ’に対応する
画素の座標からその直線近似式を算出する。これらの領
域ａ−ａ’　、ｂ−ｂ’　、ｃ−ｃ’　、ｄ−ｄ’は、
既述した領域ＤＸ，Ｄｙを基準とし、例えばその各領域
ＤＸ，Ｄｙを２分割して、その約８０〜９５％の範囲と
して決められる。これは、圧痕２の境界線がＸ軸、Ｙ軸
に対してほぼ４５°傾いている場合であるが、そうでな
い場合は、予め他の分割方法を設定し、上記と同様に、
圧痕２の角部を外すようにして各領域ａ−ａ’、ｂ−ｂ
’ｃ−ｃ’、ｄ−ｄ’を決めればよい。

直線近似式の計算は、最小二乗法によるのが最も好まし
いが、勿論、他の近似法でもよい。最小二乗法による場
合には、各辺の直線近似式を求めた後、相関関数が或る
一定値以上になるまで、又は、各画素の座標との偏差が
或る一定値以下となるように、各領域ａ−ａ’　、ｂ−
ｂ’　、ｃ−ｃ’ｄ−ｄ’を狭めて、直線近似式を再計
算する。但し、各領域ａ−ａ’　、ｂ−ｂ’　、ｃ−ｃ
’　、ｄｄ′があまり小さくなりすぎると、逆に誤差が
増１７ 大するので、上記のように相関関数が或る一定値以上に
なるか又は各画素の座標との偏差が或る一定値以下とな
らなくても、各領域の幅が或る値に達した時点で、上記
の近似計算を終了する。そして、このようにして最終的
に求められた近似直線Ａ，Ｂ．．Ｃ，Ｄからその４つの
交点Ｈ．　、Ｈ．、Ｈｃ、Ｈａを求める。

この圧痕サイズ決定部２７は、上記のようにして求めた
４つの交点Ｈ−　、Ｈｂ　，Ｈｃ　、Ｈａからその対角
線Ｈ．−ＨＣ及びＨ，−Ｈ．の長さを求め、それらの平
均値を、実際の圧痕２の大きさに最も合致する正方形の
対角線の長さとして認識する。このように、本実施例の
圧痕サイズ決定部２７は、実際の測定値から圧痕２の理
想形状を推測し、その理想形状の値を測定値として用い
るので、実際の圧痕２の形状が不鮮明であっても、かな
り正確な圧痕の大きさを硬度計算に用いることができる
。また、直線近似式を、上述したように繰り返し計算し
ているので、圧痕２が多少位置ずれしている場合でも、
かなり正確な測定値を得ること１８ ができる。更に、本実施例においては、圧痕サイズを求
めるための画像として、従来のものとは白黒が逆転した
暗視野型の画像を用いているので、そのコントラストが
よくなる上に、被測定面Ｌａ」二に存在する圧痕２以外
の傷や凹凸部分が画像に殆ど現れない。このため、圧痕
２の測定を極めて正確に且つ特別のノイズ除去手段を用
いることなく行うことができる。

以上のようにして、圧宸サイズ決定部２７で決定された
圧痕２の対角線の長さｌは、硬度演算部２８に送られ、
そこで、ダイヤモンド製圧子３の押付荷重Ｐとから、次
式 Ｈｖ一Ｐ／Ｓ 一２　Ｐｓｊｎ　６８’　／　（！．”一１．８５４Ｐ
／ｆ２（ｋｇ　／ｍｍ”　）により、ビッカース硬度Ｈ
ｖが算出され、例えばプリンタ１０等に出力される。

以上、ビッカース硬度を測定するための押込型硬度計に
本発明を適用した実施例を説明したが、本発明は、ブリ
ネル硬度を測定するための押込型１　９一 硬度計番こも通用が可能である。その場合乙こは、試験
片の被測定面に形成される圧痕は球面状であり、照射光
の反射方向は、その光が当たる球面部分によって変わっ
てしまうが、例えば、圧痕の周縁部での曲率にほぼ対応
ずる角度で光を照躬ずれば圧痕のリング状の像を得るこ
とは可能であり、これを画像処理することによって、ブ
リネル硬度を自動測定することは可能である。

また、上記実施例番こおいては、明視野型の画像を用い
て画像の位置合わせ及び焦点合わせを行ったが、これら
の処理は必ずしも必要なものではない。

また、本発明の光照射手段は、上記実施例の顕微鏡４の
ように採光手段と一体のものである必要はなく、別体に
構威されたものであってもよい。

特に、光照劃手段の配置及び構成が採光手段とは独立的
に制御できる場合、得られる画像信号の明暗信号レベル
比が１．５以上となるようにこの光照射手段の配置及び
構戒を制御するのがよい。この場合、試料の被測定面の
平面の法線に対する入光２０ 角度、採光手段のレンズ作動距離、レンズ径、入光位置
等に応じて、得られる画像信号の明暗信号レベル比が上
記値以上となるように光照射手段の配置及び構戒を調整
する。この場合、「明暗信号レベル比Ｊとは、暗視野型
の画像において、例えば適当なスレッシュホールドレベ
ノレを基準として区分される圧痕部での平均的な画像信
号レベルと、この圧痕部を除いた部分での平均的な画像
信号レベルとの比を言い、例えば第３図に示ずＡ／Ｄ変
換器６の前又は後に適当なレベル検出手段を設けて検出
する。

〔発明の効果〕

本発明においては、試験片の被測定面の平面の法線に対
し所定角度範囲内で傾斜した光をその被測定面に照射し
、その照射された光のうち圧痕部分で反射した光を採光
して、いわゆる暗視野型の画像を得ているので、圧痕の
像のコントラストがよくなり、特に、被測定面内に存在
する圧痕以外の傷や他の腐食部分の模様が画像に現れな
い。従って、圧痕測定のための画像処理を、特別のノイ
２Ｉ ズ除去処理を行うことなく、比較的簡単なアルゴリズム
で正確に行うことができる。

そして、本発明の押込型硬度計によれば、従来のもので
は事実上全く不可能であった腐食面等の平滑度のかなり
悪い被測定面でも硬度測定が可能であり、このため、例
えば結晶粒度測定用サンプルを用いて硬度測定も行える
ようになり、経済的にも有利である。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例による押込型硬度計の顕微鏡
部分の概略構或図、第２図（ａ）及び（ｂ）は本発明に
よる採光の原理を説明するための概略図、第３図は上記
実施例による押込型硬度計の全体の＃Ｉ或を示す概略図
、第４図は上記押込型硬度計の画像位置合わせ処理を説
明するための説明図、第５図（ａ）、（ｂ）及び（Ｃ）
は上記押込型硬度計の焦点合わせ処理を説明するための
説明図、第６図は上記押込型硬度計によって得られた圧
痕形状を示す説明図、第７図（ａ）及び（ｂ）は上記押
込型硬度ｆ，３番こよって得られた画像２２ から境界部分の画素を抽出する手順を説明するための説
明図、第８図は従来の押込型硬度計の構威を示す概略図
、第９図（ａ）及び（ｂ）は従来の押込型硬度計で得ら
れる画像及びその処理を示す説明図、第１０図（ａ）及
び（ｂ）は圧痕が位置ずれを起こした状態を示す第９図
（ａ）及び（ｂ）と同様の説明図、第１１図（ａ）及び
（ｂ）は圧痕の形状が不鮮明な状態を示す第９図（ａ）
及び（ｂ）と同様の説明図、第ｌ２図（ａ）及び（ｂ）
は従来の押込型硬度計の採光の原理を説明するための説
明図である。 なお、図面６こ用いた符号において、 １　　・・・・・・　試験片 １ａ　・・・・・・　被測定面 ２　　・・・・・・　圧痕 ３　　・・・・・・　圧子 ４　　・・・・・・　顕微鏡 ５　　・・・・・・　撮像素子 １６　・・・・・・　光照射レンズ １７　・・・・・・　光源 ２値化処理部 ２値画像処理部 圧痕サイズ決定部 硬度演算部

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 試験片の実質的に平面状をなす被測定面に所定形状の圧
   子を押し付けて圧痕を形成する圧痕形成手段と、 前記被測定面に形成された前記圧痕内部の所定の反射面
   において所定の方向に光を反射させるように設けられた
   光照射手段と、 前記圧痕内部の前記所定の反射面において前記所定の方
   向に反射した光を採光するように設けられた採光手段と
   、 前記採光手段から入射した光の像を平面的な画像として
   撮像する撮像手段と、 前記撮像手段により撮像した画像の画素を所定のレベル
   を基準として２値化する２値化手段と、前記２値化手段
   により２値化された画素群から境界部分の画素を抽出し
   、その境界部分の画素の座標から得られる前記圧痕の平
   面形状及びその大きさに最も近い所定パターンの圧痕形
   状を決定する画像処理手段と、 前記画像処理手段で得られた前記所定パターンの圧痕形
   状に基づいて硬度を算出する硬度演算手段とを有するこ
   とを特徴とする押込型硬度計。