JPH0385467A - Apparatus for inspecting small sized part - Google Patents

Apparatus for inspecting small sized part

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JPH0385467A
JPH0385467A JP1221826A JP22182689A JPH0385467A JP H0385467 A JPH0385467 A JP H0385467A JP 1221826 A JP1221826 A JP 1221826A JP 22182689 A JP22182689 A JP 22182689A JP H0385467 A JPH0385467 A JP H0385467A
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JP
Japan
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jig
inspected
conveyance
positioning
assembly
Prior art date
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Application number
JP1221826A
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Japanese (ja)
Inventor
Masunobu Sonoda
園田 益伸
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Hitachi High Tech Corp
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Hitachi Electronics Engineering Co Ltd
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Publication date
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Publication of JPH0385467A publication Critical patent/JPH0385467A/en
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Abstract

PURPOSE:To obtain an efficient and compact inspection system by providing a non-inspected part feed passage due to a feed jig equipped with a positioning and stop mechanism and two or more rows of inspected part discharge passages and performing the placement, start, classification and reception of a part to be inspected. CONSTITUTION:A feed jig 4 circulates through a supply feed passage 8 having a reciprocating passage formed thereto and stop positions S0-S3 are provided to the formed passage and positioning and stop mechanisms are respectively arranged. The jig 4 stands by at the position S0 and separates at a proper time to start and a hand ring 8c places a non-inspected part on the jig 4 from a stocker 8d at the position S1 and a processing robot 8e connects a lead wire at the position S2 and a hand ring 10 transfers the same to a tester 1. Subse quently, an apparatus 11 transfers a classified inspected part to the jig 4 stand ing by on a discharge feed passage 9 having a plurality of rollers 9a arranged thereto according to classification and the lead wire is cut at stop position S5 by a processing robot 9a and the inspected part is classified to be received in a stocker 9c at a position S6 by a hand ring 9b. By this constitution, an efficient and compact inspection system can be provided.

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] この発明は、小型部品の検査システムに関し、詳しくは
磁気ヘッドなどの小型部品とこれに対する試験用付属部
品よりなるアセンブリに対して、検査に必要な加工を行
って検査する自動検査システムに関するものである。
[Detailed Description of the Invention] [Industrial Application Field] The present invention relates to an inspection system for small parts, and more specifically, to an assembly consisting of a small part such as a magnetic head and its test accessories, which is necessary for testing. The invention relates to an automatic inspection system that performs various processing and inspections.

[従来の技術] 最近においては、多数の部品を効率的に検査するために
、搬送機構に対して部品をローディング/アンローディ
ングするハンドリング機構と、検査のために部品を加工
するロボットが組み合わされた自動検査システムが使用
されている。
[Prior Art] Recently, in order to efficiently inspect a large number of parts, a handling mechanism that loads/unloads parts into a transport mechanism and a robot that processes parts for inspection have been combined. Automated inspection systems are used.

第2図(a)、(b)により、例として磁気ヘッドに対
する検査方法の一部について説明する。図(a)におい
て、磁気ヘッド部1には支持バー1aの先端に磁気ヘッ
ド1bが取り付けられ、2本のリード線1cが引き出さ
れている。検査のためにパドルと称される補助配線板2
が使用され、支持バー13の位置決め孔1dに補助配線
板2の突起2aを嵌入してアセンブリ3が構成される。
A part of the inspection method for a magnetic head will be explained as an example with reference to FIGS. 2(a) and 2(b). In Figure (a), a magnetic head 1b is attached to the tip of a support bar 1a in a magnetic head section 1, and two lead wires 1c are drawn out. Auxiliary wiring board 2 called paddle for inspection
is used, and the assembly 3 is constructed by fitting the protrusion 2a of the auxiliary wiring board 2 into the positioning hole 1d of the support bar 13.

検査においては、未検査のアセンブリ3はストッカより
取り出されて、図(b)に示すように、搬送治具4に対
して突起2cにより位置決めして載置され、ローラー搬
送機構5により搬送される。搬送治具4は途中の適当な
位置で停止されてリード線ICと接続端子2bの接続が
なされ、さらに進行、停止して試験装置(図示省略)に
より試験される。試験の結果により磁気ヘッドlaは品
質がランク分類され、それぞれのリード線1cと接続端
子2bの接続がカットされて、対応するストッカに収容
される。
In the inspection, the uninspected assembly 3 is taken out from the stocker, positioned and placed on the conveyance jig 4 by the projections 2c, and conveyed by the roller conveyance mechanism 5, as shown in Figure (b). . The transport jig 4 is stopped at an appropriate position midway to connect the lead wire IC and the connection terminal 2b, and then further advanced, stopped, and tested by a testing device (not shown). Based on the test results, the quality of the magnetic heads la is classified into ranks, the connections between the respective lead wires 1c and the connection terminals 2b are cut, and the magnetic heads la are stored in corresponding stockers.

以上において、搬送治具4および試験装置に対するアセ
ンブリ3のローディング/アンローディング、またはリ
ード線ICの接続またはカット(以下加工という)は、
それぞれハンドリング機構またはロボットにより自動的
に行われるが、このためにローラー搬送機構の適当な箇
所に停止機構を設けて搬送治具4を位置決めして停止す
ることが必要である。このように、所定の位置で搬送治
具を位置決めして安定に停止する機構に対して、この発
明の発明者により「搬送治具の位置決め停止E機構」が
特許出願されている。
In the above, loading/unloading of the assembly 3 with respect to the transport jig 4 and the testing device, or connection or cutting of the lead wire IC (hereinafter referred to as processing),
Each of these is automatically performed by a handling mechanism or a robot, but for this purpose, it is necessary to provide a stopping mechanism at an appropriate location of the roller transport mechanism to position and stop the transport jig 4. As described above, the inventor of the present invention has filed a patent application for a mechanism for positioning and stably stopping a transport jig at a predetermined position.

第3図(a)、<b)は上記の特許出願にかかる機構の
概要を説明するもので、図(a)において、搬送治具4
には金属ブロック4aの表面に補助配線板2の突起2d
に対する位置決め孔4bと、前面に停止ローラー4cが
、また、底面に通し溝4dと位置決め孔4eがそれぞれ
設けられる。一方、ローラー搬送機構5の下部に、停止
ローラー4cに対するストッパ6と、位置決め孔4eに
対する位置決めピン7aおよび搬送治具4に対する支持
ビン7bを有する位置決め機構7とを設けたものである
。図(b)は複数の搬送治具4が連続して搬送される場
合を示すもので、ローラー搬送機構5には複数の搬送治
具4 (Cr−C5・・・・・・)が搭載されており、
停止位置SOに搬送治具C3,C4゜C5・・・・・・
が待機する。これらより前位にある搬送治具ClとC2
は、それぞれ停止位置S2とStに停止して、アセンブ
リ3に対する加工またはハンドリングがなされる。これ
らが終了すると、それぞれのストッパ6が解除されて搬
送治具4が前進する。ついで停止位置Soに待機中の搬
送治具C3が個別分離されて停止位置81 まで進んで
停止し、停止位置S2には搬送治具C2が停止する。
Figures 3(a) and <b) explain the outline of the mechanism related to the above patent application.
There is a protrusion 2d of the auxiliary wiring board 2 on the surface of the metal block 4a.
A stop roller 4c is provided on the front surface, and a through groove 4d and a positioning hole 4e are provided on the bottom surface. On the other hand, at the lower part of the roller conveyance mechanism 5, a stopper 6 for the stop roller 4c, a positioning mechanism 7 having a positioning pin 7a for the positioning hole 4e and a support pin 7b for the conveyance jig 4 are provided. Figure (b) shows a case where a plurality of conveyance jigs 4 are conveyed continuously, and the roller conveyance mechanism 5 is equipped with a plurality of conveyance jigs 4 (Cr-C5...). and
Transfer jig C3, C4°C5... to stop position SO
is waiting. Conveying jigs Cl and C2 located in front of these
are stopped at stop positions S2 and St, respectively, and the assembly 3 is processed or handled. When these steps are completed, each stopper 6 is released and the transport jig 4 moves forward. Next, the conveyance jig C3 waiting at the stop position So is separated individually and advances to the stop position 81 and stops, and the conveyance jig C2 is stopped at the stop position S2.

以上において各搬送治具は、位置決め機構7により位置
決めされて安定に停止する。また、待機中の各搬送治具
の個別分離は、通し溝4dに対するストッパ6の上昇に
より行われる。
In the above, each transport jig is positioned by the positioning mechanism 7 and stopped stably. Further, individual separation of each conveyance jig during standby is performed by lifting the stopper 6 relative to the through groove 4d.

上記した位置決め停止機構は、停止機構と位置決め機構
がともに、ローラー搬送機構の下部に設けられるので、
横方向のスペース効率が非常に良好で、多数のローラー
搬送機構5を並列する場合に適するものである。
In the above-mentioned positioning and stopping mechanism, both the stopping mechanism and the positioning mechanism are provided at the bottom of the roller conveyance mechanism.
It has very good space efficiency in the lateral direction and is suitable for arranging a large number of roller conveyance mechanisms 5 in parallel.

[解決しようとする課題] さて、前記した磁気ヘッドなどの小型部品に対する自動
検査システムに対して、上記の搬送治具の位置決め停止
機構は有効であるので、これを適用したシステムを構成
することができる。ただし、これを構成する場合には、
効率的なローラー搬送機構の構成とハンドリング機構の
簡易化が問題である。すなわち、通常においては1ライ
ンの搬送路により搬送治具が搬送されるが、この場合は
アセンブリを試験結果により分類してストッカに収容す
るために、排出側には複数列の搬送路を設けることが効
率的である。また、試験装置に対して搬送治具に載置さ
れたままアセンブリをハンドリングすることは、搬送治
具がアセンブリに比較して重量が大きいため試験装置お
よびハンドリング機構の構造上困難である。従って、供
給側と排出側の各搬送路にそれぞれ搬送治具を備えて、
試験装置の間にアセンブリのみを移送する方法とすれば
、小型のハンドリング機構により行うことができる。
[Problem to be Solved] Now, since the above-described positioning and stopping mechanism for the transport jig is effective for the automatic inspection system for small parts such as magnetic heads, it is possible to configure a system to which this is applied. can. However, when configuring this:
The problem is configuring an efficient roller transport mechanism and simplifying the handling mechanism. In other words, normally the conveyance jig is conveyed by one line of conveyance path, but in this case, multiple lines of conveyance path are provided on the discharge side in order to classify the assemblies according to the test results and store them in the stocker. is efficient. Furthermore, it is difficult to handle the assembly while it is placed on a transport jig with respect to the test apparatus because the transport jig is heavier than the assembly due to the structure of the test apparatus and handling mechanism. Therefore, each conveyance path on the supply side and the discharge side is equipped with a conveyance jig,
If the method is to transfer only the assembly between test devices, it can be carried out using a small handling mechanism.

この発明は上記の位置決め停止機構を使用し、上記の条
件を満たして効率的に小型部品を検査するシステムを提
供することを目的とするものである。
It is an object of the present invention to provide a system that uses the above positioning and stopping mechanism, satisfies the above conditions, and efficiently inspects small parts.

[課題を解決するための手段] この発明は、被検査の小型部品と検査用付属部品よりな
るアセンブリに対する検査システムである。アセンブリ
を位置決めして載置する搬送治具と、未検査のアセンブ
リに対する搬送治具を搬送して試験装置に供給する供給
搬送路と、試験装置の試験結果により複数のランクに分
類された検査済みのアセンブリに対する搬送治具に対応
した複数列の排出搬送路を具備する。供給搬送路および
排出搬送路のそれぞれの適当な複数の停止位置に位置決
め停止機構を設け、停止位置に停止した搬送治具または
試験装置に対して、未検査または検査済みのアセンブリ
をローディング/アンローディングするハンドリング機
構と、同じく停止位置における未検査または検査済みア
センブリに対して加工を行う加工ロボットを設けたもの
である。
[Means for Solving the Problems] The present invention is an inspection system for an assembly consisting of a small part to be inspected and an accessory part for inspection. A transport jig that positions and places the assembly, a supply transport path that transports the transport jig for uninspected assemblies and supplies it to the test equipment, and inspected parts that are classified into multiple ranks based on the test results of the test equipment. It is equipped with a plurality of rows of discharge conveyance paths corresponding to conveyance jigs for the assembly. A positioning stop mechanism is provided at a plurality of appropriate stop positions on each of the supply conveyance path and discharge conveyance path, and untested or inspected assemblies can be loaded/unloaded from the conveyance jig or testing device stopped at the stop positions. The robot is equipped with a handling mechanism for processing the assembly, and a processing robot for processing the uninspected or inspected assembly at the same stop position.

[作用] 以上の構成による小型部品の検査システムにおいては、
供給搬送路と複数列の排出搬送路とが別個に構成されて
それぞれに搬送治具が搭載される。
[Function] In the small parts inspection system with the above configuration,
A supply conveyance path and a plurality of rows of discharge conveyance paths are configured separately, and a conveyance jig is mounted on each.

各搬送路は、前記の特許出願にかかる位置決め停止機構
を使用したローラー搬送機構により構成して横方向のス
ペース効率が良好にされており、また各搬送路の適当な
複数の停止位置に設けられた位置決め停止機構により搬
送治具が安定に停止し、伴出した搬送治具に対してハン
ドリング機構によりアセンブリがローディング/アンロ
ーディングされる。また、ローディングされたアセンブ
リに対して加工ロボットにより、リード線に対する接続
またはカットの加工が行われる。さらに、試験装置に対
してハンドリング機構により未検査のアセンブリがロー
ディングされて試験が行われ、検査済みのアセンブリは
品質によりランク分類されて対応する排出搬送路の搬送
治具に移送される。
Each conveyance path is constituted by a roller conveyance mechanism using the positioning stop mechanism according to the above-mentioned patent application to improve lateral space efficiency, and each conveyance path is provided at a plurality of appropriate stop positions. The transport jig is stably stopped by the positioning and stopping mechanism, and the assembly is loaded/unloaded by the handling mechanism with respect to the transported jig. Further, the loaded assembly is connected to or cut from the lead wires by the processing robot. Further, uninspected assemblies are loaded into the testing device by a handling mechanism and tested, and the inspected assemblies are classified into ranks according to quality and transferred to a transport jig in a corresponding discharge transport path.

なお、加工ロボットや試験装置の詳細は説明を省略する
Note that detailed explanations of the processing robot and testing equipment will be omitted.

[実施例] 第1図は、この発明による小型部品の検査システムを磁
気ヘッドアセンブリの検査に適用した場合の構成を示す
ものである。供給搬送路8は、ローラー搬送機構8a、
8bにより往復路を形成して搬送治具4が循環する。往
路に対して適当な間隔で停止り位置so、s、、s2お
よびS3を設定し、それぞれに対して、前記した特許出
願に′かかる位置決め停止機構を配置する。停止位置S
oには、前記の第3図(b)と同様に、複数の搬送治具
4が連続して待機して適時に個別分離されて発進する。
[Embodiment] FIG. 1 shows a configuration in which a small component inspection system according to the present invention is applied to inspection of a magnetic head assembly. The supply conveyance path 8 includes a roller conveyance mechanism 8a,
8b forms a reciprocating path and the transport jig 4 circulates. Stop positions so, s, , s2, and S3 are set at appropriate intervals on the outward path, and the positioning stop mechanism according to the above-mentioned patent application is arranged at each stop position. Stop position S
3(b), a plurality of conveyance jigs 4 are successively on standby, separated individually and started at the appropriate time.

停止位置Stにはハンドリング機構80を設け、未検査
の磁気ヘッドのアセンブリ(第2図(a)、(b)参照
)をストッカ8dより取り出して搬送治具4にローディ
ングする。停止位置S2には加工ロボット8eを設けて
アセンブリのリード線を接続する。また、停止位置S3
にはハンドリング機構lOを設け、上記によりリード線
が接続されたアセンブリを搬送治具4から試験装置l!
に移送する。
A handling mechanism 80 is provided at the stop position St, and untested magnetic head assemblies (see FIGS. 2(a) and 2(b)) are taken out from the stocker 8d and loaded onto the transport jig 4. A processing robot 8e is provided at the stop position S2, and a lead wire of the assembly is connected thereto. Also, the stop position S3
is equipped with a handling mechanism lO, and the assembly with the lead wires connected as described above is transferred from the transport jig 4 to the test apparatus l!
Transfer to.

さらに、試験装置tiの試験結果により品質が分類され
た検査済みのアセンブリに対して、ローラー搬送機構9
8を複数並列とした(A)、(B) 、((1)、(D
)よりなる排出搬送路9を設ける。ここで、(A)、(
B)、(C)、(D)は上記の分類に対応するもので、
この場合は4分類とするが、分類数に応じたローラー搬
送機構93を設定することはいうまでもない。
Furthermore, the roller conveyance mechanism 9
8 in parallel (A), (B), ((1), (D
) is provided. Here, (A), (
B), (C), and (D) correspond to the above classification,
In this case, there are four classifications, but it goes without saying that the roller conveyance mechanism 93 is set according to the number of classifications.

排出搬送路9の適当な位置を停止上位置として停止機構
を設ける。停止位置S4には検査済みのアセンブリグが
ローディングされた搬送治具4が待機する。停止位ft
 S sにはアセンブリのリード線をカットする加工ロ
ボット9aを設け、停止位置S8にはアセンブリを分類
してストッカ9Cに収納するハンドリング機構9bを設
ける。なお、搬送治具4は排出搬送路9の終端でストッ
カ9dに排出され、手作業で始端に運搬される。
A stop mechanism is provided with an appropriate position on the discharge conveyance path 9 as the upper stop position. A transport jig 4 loaded with inspected assemblies waits at the stop position S4. Stop position ft
A processing robot 9a for cutting the lead wires of the assemblies is provided at Ss, and a handling mechanism 9b for sorting and storing the assemblies in the stocker 9C is provided at the stop position S8. Note that the conveyance jig 4 is discharged to the stocker 9d at the end of the discharge conveyance path 9, and is manually conveyed to the start end.

[発明の効果コ 以上の説明により明らかなように、この発明による小型
部品の検査システムにおいては、試験装置に対する供給
搬送路と試験結果の分類に対応した複数の排出搬送路と
を別個に設け、それぞれに搬送治具を搭載することによ
り、搬送治具に対する大型のハンドリング機構が不要と
されている。
[Effects of the Invention] As is clear from the above description, in the small parts inspection system according to the present invention, a supply conveyance path for the testing device and a plurality of discharge conveyance paths corresponding to the classification of test results are provided separately, By mounting a transport jig on each, a large-sized handling mechanism for the transport jig is not required.

各搬送路は別途特許出願にかかる搬送治具の位置決め停
止機構を使用したローラー搬送機構により構成され、そ
の良好な横方向のスペース効率により、複数の搬送路が
互いに接近してコンパクトに構成されている。位置決め
停止機構により搬送治具が搬送機構に対して位置決めさ
れて安定に停止され、必要なハンドリングと加工がなさ
れる。なお、図示を省略するがハンドリング機構および
加工ロボットはいずれも、部品に見合った小型のものに
よりコンパクトに構成される。
Each conveyance path is composed of a roller conveyance mechanism that uses a positioning and stopping mechanism for a conveyance jig that has been separately patented. Due to its good lateral space efficiency, multiple conveyance paths are close to each other and are compactly configured. There is. The transport jig is positioned relative to the transport mechanism and stably stopped by the positioning and stopping mechanism, and necessary handling and processing are performed. Although not shown in the drawings, both the handling mechanism and the processing robot are compactly constructed to be small enough to fit the parts.

上記の実施例においては検査対象を磁気ヘッドのアセン
ブリをとしたが、任意の小型部品に適用できるもので、
部品を搬送路の適当な位置で搬送治具に自動ローディン
グして必要な加工をなし、試験結果によりランク分類し
てストッカに収納する効率的でコンパクトな検査システ
ムを提供する効果には大きいものがある。
In the above embodiment, the inspection target was a magnetic head assembly, but it can be applied to any small component.
The effect of providing an efficient and compact inspection system that automatically loads parts onto a transport jig at an appropriate position on the transport path, performs the necessary processing, ranks them based on test results, and stores them in a stocker is very effective. be.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は、この発明による小型部品の検査システムの実
施例の構成図、第2図(a)および(b)は、磁気ヘッ
ドと補助配線板とよりなるアセンブリの外観図および該
アセンブリの検査方法の説明図、第3図(a)および(
b)は、特許出願にかかる「搬送治具の位置決め停止機
構」の概要を示す構造図と動作説明図である。 l・・・磁気ヘッド部%    la・・・支持バー1
b・・・磁気ヘッド、   1c・・・リード線、1d
・・・位置決め孔、  2・・・補助配線板、2a、2
c・・・突起、   2b・・・接続端子、3・・・ア
センブリ、   4・・・搬送治具、4a・・・金属ブ
ロック、4 b + 4 e・・・位置決め孔、4C・
・・停止ローラー、 4d・・・通し溝、5・・・ロー
ラー搬送機構、6・・・ストッパ、7・・・位置決め機
構、  7a・・・位置決めピン、7b・・・支持ビン
、   8・・・供給搬送路、8a、8b、9a・・・
ローラー搬送機構、8et9b、10・・・ハンドリン
グ機構、8e、9a・・・加工ロボット、 8 d 、9 c + 9 d ”・ストッカ、II・
・・試験装置。
FIG. 1 is a block diagram of an embodiment of a small parts inspection system according to the present invention, and FIGS. 2(a) and 2(b) are external views of an assembly consisting of a magnetic head and an auxiliary wiring board, and inspection of the assembly. Explanatory diagram of the method, Figure 3 (a) and (
b) is a structural diagram and an operation explanatory diagram showing an outline of the "positioning and stopping mechanism for a transport jig" according to the patent application. l...Magnetic head portion % la...Support bar 1
b...Magnetic head, 1c...Lead wire, 1d
...Positioning hole, 2...Auxiliary wiring board, 2a, 2
c... Protrusion, 2b... Connection terminal, 3... Assembly, 4... Transfer jig, 4a... Metal block, 4 b + 4 e... Positioning hole, 4C.
...Stop roller, 4d...Through groove, 5...Roller conveyance mechanism, 6...Stopper, 7...Positioning mechanism, 7a...Positioning pin, 7b...Support bin, 8... - Supply conveyance path, 8a, 8b, 9a...
Roller conveyance mechanism, 8et9b, 10... Handling mechanism, 8e, 9a... Processing robot, 8d, 9c + 9d''・Stocker, II・
...Test equipment.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)被検査の小型部品と検査用付属部品よりなるアセ
ンブリを位置決めして載置する搬送治具と、未検査の該
アセンブリに対する搬送治具を搬送して試験装置に供給
する供給搬送路と、該試験装置の試験結果により複数の
ランクに分類された検査済みのアセンブリに対する搬送
治具に対応した複数列の排出搬送路を具備し、上記供給
搬送路および排出搬送路のそれぞれの適当な複数の停止
位置に位置決め停止機構を設け、該停止位置に停止した
搬送治具または上記試験装置に対して、未検査または検
査済みのアセンブリをローディング/アンローディング
するハンドリング機構と、上記停止位置における未検査
または検査済みアセンブリに対して加工を行う加工ロボ
ットを設けたことを特徴とする、小型部品の検査システ
ム。
(1) A transport jig for positioning and placing an assembly consisting of a small part to be inspected and an accessory part for inspection, and a supply transport path for transporting the transport jig for the untested assembly and supplying it to the test equipment. , a plurality of rows of discharge conveyance paths corresponding to conveyance jigs for inspected assemblies classified into a plurality of ranks based on the test results of the test device, and an appropriate plurality of rows of each of the supply conveyance path and the discharge conveyance path. a handling mechanism for loading/unloading untested or inspected assemblies to/from the transport jig or the testing device stopped at the stopping position; Or, an inspection system for small parts, characterized by being equipped with a processing robot that processes the inspected assembly.
JP1221826A 1989-08-30 1989-08-30 Apparatus for inspecting small sized part Pending JPH0385467A (en)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100436277B1 (en) * 2002-09-09 2004-06-16 삼성전자주식회사 Falling prevention device of refrigerator

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KR100436277B1 (en) * 2002-09-09 2004-06-16 삼성전자주식회사 Falling prevention device of refrigerator

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