JPH0376480A - Video signal processing circuit - Google Patents

Video signal processing circuit

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JPH0376480A
JPH0376480A JP1212517A JP21251789A JPH0376480A JP H0376480 A JPH0376480 A JP H0376480A JP 1212517 A JP1212517 A JP 1212517A JP 21251789 A JP21251789 A JP 21251789A JP H0376480 A JPH0376480 A JP H0376480A
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JP
Japan
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error
sample data
correction
circuit
error correction
Prior art date
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Application number
JP1212517A
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Japanese (ja)
Inventor
Aran Katonaa Maikeru
マイケル・アラン・カトナー
Kaichi Tatezawa
立沢 加一
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Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
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Publication date
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Publication of JPH0376480A publication Critical patent/JPH0376480A/en
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Abstract

PURPOSE:To attain excellent error correction by providing a direction ranking means comparing output values from a correction error calculation means while excluding corrected error output values whose intermediate value or output value is larger than a prescribed threshold level and ranking the correction direction in response to the comparison result. CONSTITUTION:An output of each error arithmetic circuit is fed respectively to each mean value/selector circuit and each mean value/selector circuit obtains a mean value (correction error in each direction) of outputs of two error arithmetic circuits respectively and the output of each error arithmetic circuit is compared with a prescribed threshold level, and when the output is larger than the prescribed threshold level, the corresponding direction is excluded from the direction of the error correction. The output of each mean value/selector circuit is fed to a ranking decision circuit 45 and remaining correction errors are compared among outputs of correction accuracy output circuits 41-44 and the error correction direction is ranked in response to the result of comparison. The ranking result (ranking flag) is fed to a 2-dimension error correction circuit.

Description

【発明の詳細な説明】 本発明を以下の順序で説明する。[Detailed description of the invention] The present invention will be explained in the following order.

A、産業上の利用分野 B1発明の概要 C0従来の技術 り1発明が解決しようとする課題 E0課題を解決するための手段 11作用 G、実施例 G−1゜ G−2゜ 基本構成(第1図) 本発明を適用したエラー修整装置全 体の構成(第2図) 1次元エラー修整回路 (第3図、第4図) ランキング制御回路 (第1図、第5図、第6図) 2次元エラー修整回路 (第7図乃至第10図) G−3゜ G−4゜ G−5゜ B1発明の効果 A、産業上の利用分野 本発明は、ビデオ信号処理回路に関し、特にビデオ信号
のエラー修整を行うビデオ信号処理回路に関する。
A. Industrial field of application B1 Overview of the invention C0 Prior art 1 Problem to be solved by the invention E0 Means for solving the problem 11 Effect G. Examples G-1゜G-2゜Basic structure (No. Figure 1) Configuration of the entire error correction device to which the present invention is applied (Figure 2) One-dimensional error correction circuit (Figures 3 and 4) Ranking control circuit (Figures 1, 5, and 6) 2 Dimensional error correction circuit (FIGS. 7 to 10) G-3゜G-4゜G-5゜B1 Effects of the invention A, Industrial application field The present invention relates to a video signal processing circuit, and in particular to a video signal processing circuit. The present invention relates to a video signal processing circuit that performs error correction.

B1発明の概要 本発明は、ビデオ信号処理回路に関し、ビデオ信号のサ
ンプルデータが供給され、サンプルデータが誤っている
とき、周辺のサンプルデータを用いて当該エラーサンプ
ルデータの修整を行うビデオ信号処理回路において、エ
ラーサンプルデータの周辺のサンプルデータを用いて互
いに異なる複数のエラー修整方向の修整エラーを求める
複数の修整エラー算出手段と、これらの修整エラー算出
手段からの出力値のうち、修整エラー算出手段における
中間値あるいは出力値が所定の閾値より大となる修整エ
ラー出力値を除外して互いに比較し、その比較結果に応
じて上記修整方向のランク付けを行う方向ランキング手
段とを有することにより、エラー修整の方向を決定する
ための修整エラーを求めると共に、エラーサンプルデー
タの両側の修整エラーの少なくとも1つが所定の閾値よ
り大きいとき、この方向はエラー修整の対象から除外し
、残りの方向の修整エラーに基づいてエラー修整の方向
のランク付けを行うものである。
B1 Summary of the Invention The present invention relates to a video signal processing circuit, and relates to a video signal processing circuit that, when sample data of a video signal is supplied and the sample data is erroneous, corrects the error sample data using surrounding sample data. , a plurality of correction error calculation means for calculating correction errors in a plurality of mutually different error correction directions using sample data around the error sample data, and a correction error calculation means among the output values from these correction error calculation means. and direction ranking means for excluding correction error output values whose intermediate values or output values are larger than a predetermined threshold value, comparing them with each other, and ranking the correction directions according to the comparison results. In addition to determining the correction error to determine the direction of correction, if at least one of the correction errors on both sides of the error sample data is larger than a predetermined threshold, this direction is excluded from error correction, and the correction errors in the remaining directions are calculated. This method ranks the direction of error correction based on the following.

C0従来の技術 例えば、VTR(ビデオテープレコーダ)からの再生さ
れたビデオ信号のサンプルデータの誤りに対しては、誤
り検出符号や誤り訂正符号を用いた誤り訂正処理が行わ
れる。更に、これらの誤り訂正処理で訂正ができなかっ
たサンプルデータについては、誤りが無い他のサンプル
データ(エラーフリーサンプルデータ)を用いた補間処
理や置換処理等の方法により、エラー修整(誤り修整)
を行っている。このエラー修整は、ビデオ信号処理過程
において、誤り検出や誤り訂正の処理の後で、ビデオ信
号を出力する前に行われる。
C0 Prior Art For example, for errors in sample data of a video signal reproduced from a VTR (video tape recorder), error correction processing is performed using an error detection code or an error correction code. Furthermore, for sample data that cannot be corrected by these error correction processes, errors are corrected (error correction) by methods such as interpolation processing and replacement processing using other sample data without errors (error-free sample data).
It is carried out. This error correction is performed in the video signal processing process, after error detection and error correction processing, and before outputting the video signal.

そして、エラー修整方法の種類として、第5図に示すよ
うに誤りがあるサンプルデータ(エラーサンプルデータ
)POと同一ライン上の該エラーサンプルデータの両側
のサンプルデータを用いて補間(水平(H)方向の補間
)する方法、エラーサンプルデータPOの上下ライン上
の同じ位置のサンプルデータを用いて補間(垂直(V)
方向の補間)する方法、エラーサンプルデータPOの右
下がりの対角線方向の近傍サンプルデータを用いて補間
(D。方向の補間)する方法、エラーサンプルデータP
Oの左下がりの対角線上の近傍サンプルデータを用いて
補間(D一方向の補間)する方法、エラーサンプルデー
タPOの周辺のサンプルデータを用いてエラーサンプル
データを置換する方法、更に1フイールド前あるいは1
フレーム前の同一位置のサンプルデータを用いて置換(
時間的な置換)する方法等が知られている。
As a type of error correction method, as shown in Fig. 5, interpolation (horizontal (H) interpolation (direction interpolation) using sample data at the same position on the upper and lower lines of error sample data PO (vertical (V)
Error sample data P
A method of interpolating using neighboring sample data on the diagonal line downward to the left of O (one-way interpolation of D), a method of replacing the error sample data using sample data around the error sample data PO, and a method of replacing the error sample data one field earlier or 1
Replacement using sample data at the same position before the frame (
Methods such as temporal replacement) are known.

また、例えば米国特許第4.419,693号公報に記
載されているように、上記補間、置換処理を行う場合、
補間する方向や置換する方向を決定するために、エラー
修整の精度を、エラーサンプルデータの近傍での各方向
の修整エラーに基づいて予測することが行われている。
Furthermore, when performing the above interpolation and replacement processing, as described in U.S. Pat. No. 4,419,693, for example,
In order to determine the direction of interpolation or replacement, the accuracy of error correction is predicted based on correction errors in each direction in the vicinity of error sample data.

すなわち、各方向の修整エラーに基づいて、補間処理又
は置換処理をした結果(エラー修整の精度)を予測し、
エラー修整の結果が周辺のサンプルデータと最も変化が
少なくなる方向での補間処理や置換処理を行うようにな
されている。
In other words, the results of interpolation or replacement processing (accuracy of error correction) are predicted based on correction errors in each direction,
Interpolation processing and replacement processing are performed in the direction in which the result of error correction has the least difference from surrounding sample data.

例えば、第5図に示すようにエラー修整が施されるサン
プルデータPOの上のライン上のサンプルデータPPI
、PPO,、PMI及び下のライン上のサンプルデータ
NPI、NPO,NMIを用いて水平方向の修整エラー
; (l PP0− (PP1+PM1)/2 l + l
 NPO−(NP1+NM1)/2 l )/2を求め
、また、エラー修整が施されるサンプルデータPOの両
側のサンプルデータP1、Ml及びこれらのサンプルデ
ータの上下のサンプルデータPPI、NPI、PMI、
NMIを用いて垂直方向の修整エラー; (PI−(PP1+NP1)/2  +  Ml−(P
P1+NP1)/2  )/2等を求め、これらの修整
エラーを比較して修整エラーが小さい方向の補間処理が
行われている。
For example, as shown in FIG. 5, the sample data PPI on the line above the sample data PO to which error correction is applied
, PPO,, PMI and the sample data NPI, NPO, NMI on the lower line to correct the horizontal correction error; (l PP0- (PP1+PM1)/2 l + l
NPO-(NP1+NM1)/2l)/2 is calculated, and sample data P1, Ml on both sides of the sample data PO to be subjected to error correction, and sample data PPI, NPI, PMI, above and below these sample data, are calculated.
Vertical correction error using NMI; (PI-(PP1+NP1)/2 + Ml-(P
P1+NP1)/2)/2, etc. are determined, these correction errors are compared, and interpolation processing is performed in the direction of the smaller correction error.

D5発明が解決しようとする課題 ところで、上述のようにエラー修整が施されるエラーサ
ンプルデータの上下のライン上のサンプルデータを用い
て修整エラーを求めた場合、例えば、上のライン上のサ
ンプルデータから得られる修整エラーI PP0−(P
P1+PMり/2 1が大きく、下のライン上のサンプ
ルデータから得られる修整エラーl NPO−(NP1
+NM1)/2 1が小さいとき、これらの平均値であ
る水平方向の修整エラーが他の方向の修整エラーよりも
小さくなることがある。この結果、上のライン上の修整
エラーが大きいにもかかわらず、換言すると、上のライ
ンの修整エラーから予測されるエラー修整の結果が良好
なものでないのに、この水平方向の補間処理や置換処理
が選択され、良好な補間処理又は置換処理を行うことが
できなかった。
D5 Problem to be Solved by the Invention By the way, when a corrected error is determined using the sample data on the lines above and below the error sample data to which error correction is applied as described above, for example, if the sample data on the upper line The modified error I PP0-(P
P1+PMri/2 1 is large and the correction error l obtained from the sample data on the lower line NPO-(NP1
+NM1)/2 When 1 is small, the correction error in the horizontal direction, which is the average value of these, may be smaller than the correction errors in other directions. As a result, even though the correction error on the upper line is large, or in other words, the error correction result predicted from the correction error on the upper line is not good, this horizontal interpolation process and replacement Processing was selected and good interpolation or replacement processing could not be performed.

本発明は、上述の実情に鑑みてなされたものであり、補
間処理や置換処理を用いてエラーサンプルデータのエラ
ー修整を行うときに、該エラー修整の方向のランク付け
を最適に行うことができるビデオ信号処理回路の提供を
目的とするものである。
The present invention has been made in view of the above-mentioned circumstances, and when performing error correction of error sample data using interpolation processing or replacement processing, it is possible to optimally rank the direction of error correction. The purpose is to provide a video signal processing circuit.

83課題を解決するための手段 本発明に係るビデオ信号処理回路では、第1図に示すよ
うに、ビデオ信号のサンプルデータが供給され、サンプ
ルデータが誤っているとき、周辺のサンプルデータを用
いて当=亥エラーサンプルデ−タ 上記エラーサンプルデータの周辺のサンプルデータを用
いて互いに異なる複数のエラー修整方向の修整エラーを
求める複数の修整エラー算出手段(H修整精度出力回路
41、■修整精度出力回路42、D。修整精度出力回路
43、D−修整精度出力回路44)と、これらの修整エ
ラー算出手段からの出力値のうち、修整エラー算出手段
における中間値(例えばH(υ)誤差演算回路41a,
H(D)誤差演算回路4 l b, V(L)誤差演算
回路42a,V(R)誤差演算回路4 2 b, D.
(L)誤差演算回路4 3 a 、 D.(R)誤差演
算回路4 3 b, D−(L)誤差演算回路4 4 
a, D−(R)誤差演算回路44bの出力値)あるい
は出力値が所定の閾値より大となる修整エラー出力値を
除外して互いに比較し、その比較結果に応して上記修整
方向のランク付けを行う方向ランキング手段(ランキン
グ決定回路45)とを有することを特徴としている。
83 Means for Solving the Problems In the video signal processing circuit according to the present invention, as shown in FIG. 1, when sample data of a video signal is supplied and the sample data is incorrect, peripheral sample data is used to This = Pig error sample data A plurality of correction error calculation means (H correction accuracy output circuit 41, ■ Correction accuracy output Out of the output values from the circuits 42, D. correction accuracy output circuit 43, D-correction accuracy output circuit 44) and the correction error calculation means, intermediate values in the correction error calculation means (for example, H(υ) error calculation circuit 41a,
H(D) error calculation circuit 4 lb, V(L) error calculation circuit 42a, V(R) error calculation circuit 42b, D.
(L) Error calculation circuit 4 3 a, D. (R) Error calculation circuit 4 3 b, D-(L) Error calculation circuit 4 4
a, D-(R) output value of the error calculation circuit 44b) or the modified error output values whose output values are larger than a predetermined threshold value are excluded and compared with each other, and the rank in the above-mentioned modification direction is determined according to the comparison result. It is characterized by having a direction ranking means (ranking determination circuit 45) that performs ranking.

F,作用 本発明に係るビデオ信号処理回路では、補間処理や置換
処理等のエラー修整の方向を決定する場合に、各方向で
のエラー修整の精度を予測するための修整エラーを求め
ると共に、エラーサンプルデータの両側の修整エラーの
少なくとも1つが所定の閾値より大きいとき、この方向
はエラー修整の対象から除外し、残りの方向の修整エラ
ーに基づいてエラー修整の方向のランク付けを行う。
F. Function In the video signal processing circuit according to the present invention, when determining the direction of error correction such as interpolation processing or replacement processing, the correction error is determined to predict the accuracy of error correction in each direction, and the error When at least one of the correction errors on both sides of the sample data is larger than a predetermined threshold, this direction is excluded from error correction, and the directions for error correction are ranked based on the correction errors in the remaining directions.

G.実施例 以下、本発明に係るビデオ信号処理回路の一実施例を図
面を参照しながら説明する。
G. Embodiment Hereinafter, one embodiment of a video signal processing circuit according to the present invention will be described with reference to the drawings.

G−1.基本構e.<第1図) 第1図は本発明に係るビデオ信号処理回路の一実施例の
ブロック回路図である。以下この回路をランキング制御
回路とする。
G-1. Basic structure e. <FIG. 1) FIG. 1 is a block circuit diagram of an embodiment of a video signal processing circuit according to the present invention. This circuit will hereinafter be referred to as a ranking control circuit.

例えば、VTR (ビデオテープレコーダ)からの再生
されたビデオ信号のサンプルデータの誤りに対しては、
誤り訂正符号等を用いた誤り訂正処理が施される。更に
これらの誤り訂正処理で訂正できなかったサンプルデー
タ(エラーサンプルデータ)については、誤りが無いサ
ンプルデータ(エラーフリーサンプルデータ)を用いた
補間処理や置換処理が行われる。ところで上記補間処理
や置換処理を行う場合、エラーサンプルデータの周辺の
サンプルデータを用いて何れの方向の補間処理や置換処
理を行うかを決定する必要がある。
For example, for errors in sample data of a video signal played from a VTR (video tape recorder),
Error correction processing using an error correction code or the like is performed. Further, for sample data that cannot be corrected by these error correction processes (error sample data), interpolation processing and replacement processing are performed using sample data without errors (error-free sample data). By the way, when performing the above-mentioned interpolation processing or replacement processing, it is necessary to determine in which direction the interpolation processing or replacement processing should be performed using sample data around the error sample data.

すなわち、例えば補間処理を行う場合、第5図に示すよ
うに、エラーサンプルデータと同一ライン上の両側のサ
ンプルデータの平均値を求め、この平均値を用いてエラ
ーサンプルデータのサンプルデータとする水平(H)方
向の補間処理、エラーサンプルデータの上下のサンプル
データの平均値をエラーサンプルデータのサンプルデー
タとする垂直(V)方向の補間処理、エラーサンプルデ
ータの右下がりの対角線上の両側のサンプルデータの平
均値をエラーサンプルデータのサンプルデータとする右
下がり対角線(D。)方向の補間処理、エラーサンプル
データの左下がりの対角線上の両側のサンプルデータの
平均値をエラーサンプルデータのサンプルデータとする
左下がりの対角線(D−)方向の補間処理等があり、こ
れらの補間処理のうちで最良の方向の補間処理を行うこ
とが望ましい0本発明に係るビデオ処理回路(ランキン
グ制御回路)は、これらの補間処理や置換処理の方向の
優先順位を、エラーサンプルデータの周辺のサンプルデ
ータから得られる修整エラーに基づいて決定するもので
ある。
That is, when performing interpolation processing, for example, as shown in Figure 5, the average value of the sample data on both sides on the same line as the error sample data is calculated, and this average value is used to determine the horizontal Interpolation processing in the (H) direction, interpolation processing in the vertical (V) direction in which the average value of the sample data above and below the error sample data is used as the sample data of the error sample data, samples on both sides of the diagonal line downward to the right of the error sample data Interpolation processing in the direction of the downward diagonal line (D.) in which the average value of the data is used as the sample data of the error sample data, and the average value of the sample data on both sides of the diagonal line downward to the left of the error sample data is used as the sample data of the error sample data. The video processing circuit (ranking control circuit) according to the present invention preferably performs interpolation processing in the best direction among these interpolation processings. The priority order of the direction of these interpolation processes and replacement processes is determined based on correction errors obtained from sample data surrounding the error sample data.

この第1図において、各方向の修整エラー算出手段とな
るH修整精度出力回路41、■修整精度出力回路42、
D。修整精度出力回路43、D修整精度出力回路44に
は、エラー修整が施されるエラーサンプルデータの周辺
のサンプルデータ及びこれらのサンプルデータのエラー
状態を示すエラーフラグが供給される。修整精度出力回
路41乃至修整精度出力回路44は2つの誤差演算回路
(添字a、bで表される。)と平均値/セレクタ回路(
添字Cで表される。)からそれぞれ構成され、これらの
誤差演算回路において、エラーサンプルデータの周辺の
サンプルデータを用いて、修整エラーがそれぞれ求めら
れる。各誤差演算回路の出力は各平均(I/セレクタ回
路にそれぞれ供給され、各平均(!/セレクタ回路にお
いて2つの誤差演算回路の出力の平均値(各方向の修整
エラー)がそれぞれ求められると共に、各誤差演算回路
の出力が所定の閾値と比較され、該出力が所定の閾値よ
り大きいときは、対応する方向はエラー修整の方向から
除外される。各平均値/セレクタ回路の出力はランキン
グ決定回路45に供給され、修整精度出力回路41乃至
修整精度出力回路44の出力のうち、上記残りの修整エ
ラーが互いに比較され、その比較結果に応じてエラー修
整の方向のランキング付けが行われる。このランキング
付けの結果(ランキングフラグ)が、第2図に示すよう
に、2次元エラー修整回路3に供給される。
In FIG. 1, an H correction accuracy output circuit 41, which serves as correction error calculation means in each direction, a correction accuracy output circuit 42,
D. The correction accuracy output circuit 43 and the D correction accuracy output circuit 44 are supplied with sample data around the error sample data to which error correction is applied and an error flag indicating the error state of these sample data. The modified precision output circuits 41 to 44 include two error calculation circuits (represented by subscripts a and b) and an average value/selector circuit (
It is represented by the subscript C. ), and in these error calculation circuits, corrected errors are determined using sample data around the error sample data. The output of each error calculation circuit is supplied to each average (I/selector circuit), and the average value (correction error in each direction) of the outputs of the two error calculation circuits is determined in each average (!/selector circuit). The output of each error calculation circuit is compared with a predetermined threshold, and if the output is greater than the predetermined threshold, the corresponding direction is excluded from the direction of error correction.The output of each average value/selector circuit is compared with a ranking determination circuit. 45, the remaining correction errors among the outputs of the correction accuracy output circuits 41 to 44 are compared with each other, and a ranking of the direction of error correction is performed according to the comparison result.This ranking is performed. The results of the ranking (ranking flags) are supplied to the two-dimensional error correction circuit 3, as shown in FIG.

また、修整精度出力回路41乃至修整精度出力回路44
において、上記各方向の修整エラーを演算するために用
いられるサンプルデータのエラー状態(エラーフラグ)
が判断され、その方向の修整エラーを演算することがで
きるか否かを表す演算可能信号が2次元エラー修整回路
3に供給される。
In addition, the modified precision output circuit 41 to the modified precision output circuit 44
, the error status (error flag) of the sample data used to calculate the correction error in each direction above.
is determined, and a computation possible signal indicating whether or not a compensation error in that direction can be computed is supplied to the two-dimensional error compensation circuit 3.

G−21本発明を適用したエラー修整装置全体の構成(
第2図) 第2図は本発明を用いたエラー修整装置全体の構成を示
す図である。このエラー修整装置は、エラーサンプルデ
ータと同一ライン上の該エラーサンプルデータの近傍の
誤りがないサンプルデータを用いてエラー修整を行う上
記1次元エラー修整部と、エラーサンプルデータと同一
ライン上及び上下ライン上の該エラーサンプルデータの
周辺のサンプルデータや前フレームの同じ位置のサンプ
ルデータを用いてエラー修整を行う2次元エラー修整部
に大別することができる。
G-21 Overall configuration of error correction device to which the present invention is applied (
FIG. 2) FIG. 2 is a diagram showing the overall configuration of an error correction device using the present invention. This error correction device includes a one-dimensional error correction unit that performs error correction using sample data without errors in the vicinity of the error sample data on the same line as the error sample data; It can be roughly divided into two-dimensional error correction units that perform error correction using sample data around the error sample data on the line and sample data at the same position in the previous frame.

この第2図において、入力端子1には、例えば、VTR
(ビデオテープレコーダ)からの再生ビデオ信号に誤り
訂正処理等を施した後のビデオ信号のサンプルデータ及
び該サンプルデータに対応するエラーフラグが供給され
ている。通常、この人力サンプルデータには、上記誤り
訂正処理によっては訂正しきれなかったエラーサンプル
データが含まれており、上記エラーフラグは、これらの
エラーサンプルデータを識別するために用いられる。
In this FIG. 2, input terminal 1 has, for example, a VTR.
Sample data of a video signal after error correction processing and the like are performed on a reproduced video signal from a video tape recorder (video tape recorder) and an error flag corresponding to the sample data are supplied. Normally, this manual sample data includes error sample data that could not be completely corrected by the error correction process, and the error flag is used to identify these error sample data.

これらのエラーフラグは、エラー訂正処理回路において
、サンプルデータに誤りがあるときに、セット状71M
(N」)とされ、サンプルデータに誤りがないときにリ
セット状ti(’Oi)とされる。
These error flags are set in the error correction processing circuit when there is an error in the sample data.
(N''), and when there is no error in the sample data, the reset state ti('Oi) is set.

これらのサンプルデータ及びエラーフラグは1次元エラ
ー修整回路2に供給され、この1次元エラー修整回路2
において、水平方向(ライン方向)についてのエラー修
整(1次元エラー修整)が行われる。この1次元エラー
修整が施されたサンプルデータは2次元エラー修整回路
3、ライン遅延回路4及びランキング制御回路7に供給
される。
These sample data and error flags are supplied to the one-dimensional error correction circuit 2, and the one-dimensional error correction circuit 2
In this step, error correction (one-dimensional error correction) in the horizontal direction (line direction) is performed. The sample data subjected to one-dimensional error correction is supplied to a two-dimensional error correction circuit 3, a line delay circuit 4, and a ranking control circuit 7.

2次元エラー修整回路3には、1次元エラー修整回路2
の出力に対してlライン(IH−1水平走査期間)遅延
した上記ライン遅延回路4からのサンプルデータ、1次
元エラー修整回路2の出力に対して2ライン遅延したラ
イン遅延回路5からのサンプルデータ及びライン遅延回
路4の出力に対して1フレーム(l F=2垂直走査時
間)遅延したフレーム遅延回路6からのサンプルデータ
が供給されている。すなわち、ライン遅延回路4からの
サンプルデータを基準にすると、1次元エラー修整回路
2からのサンプルデータはIH進んでおり、ライン遅延
回路5からのサンプルデータはIH遅延しており、フレ
ーム遅延回路6からのサンプルデータはIF遅延してい
る。換言すると、現在のライン、上のライン、下のライ
ン及び1フレーム前の現在のラインに対応するラインの
各サンプルデータが、この2次元エラー修整回路3に供
給される。
The two-dimensional error correction circuit 3 includes the one-dimensional error correction circuit 2.
Sample data from the line delay circuit 4 delayed by 1 line (IH-1 horizontal scanning period) with respect to the output of , sample data from the line delay circuit 5 delayed by 2 lines with respect to the output of the one-dimensional error correction circuit 2 Sample data from a frame delay circuit 6 delayed by one frame (lF=2 vertical scanning times) with respect to the output of the line delay circuit 4 is also supplied. That is, based on the sample data from the line delay circuit 4, the sample data from the one-dimensional error correction circuit 2 is advanced by IH, the sample data from the line delay circuit 5 is delayed by IH, and the sample data from the frame delay circuit 6 is advanced by IH. The sample data from is delayed by IF. In other words, each sample data of the current line, the upper line, the lower line, and the line corresponding to the current line one frame before is supplied to the two-dimensional error correction circuit 3.

この2次元エラー修整回路3では、上記4つのライン上
のサンプルデータを用いて最適なエラー修整が行われる
。すなわち、この2次元エラー修整回路3は、例えば複
数方向の補間処理、前のフレームの同じ位置のサンプル
データを用いてエラーサンプルデータを置き換える置換
処理、近傍のサンプルデータを用いてエラーサンプルデ
ータを置き換える買換処理等の各種エラー修整機能を有
し、この2次元エラー修整回路3において、ランキング
制御回路7からの制御信号(ランキングフラグ)等によ
って、例えば近傍サンプルデータと最も変化が少なくな
るような(1通な)エラー修整が行われる。すなわち、
ランキング制御回路7には、1次元エラー修整回路2、
ライン遅延回路4.5からのサンプルデータ及び各エラ
ーフラグが供給され、このランキング制御回路7におい
て、各サンプルデータ及び各エラーフラグに基づし、て
最適な2次元エラー修整方向が決定され、この結果が制
御信号として2次元エラー修整回路3に供給される。
In this two-dimensional error correction circuit 3, optimal error correction is performed using the sample data on the four lines. That is, this two-dimensional error correction circuit 3 performs, for example, interpolation processing in multiple directions, replacement processing for replacing error sample data using sample data at the same position in the previous frame, and replacement processing for error sample data using neighboring sample data. It has various error correction functions such as replacement processing, and in this two-dimensional error correction circuit 3, the control signal (ranking flag) from the ranking control circuit 7, etc., is used to select ( 1) Error correction will be performed. That is,
The ranking control circuit 7 includes a one-dimensional error correction circuit 2,
Sample data and each error flag are supplied from the line delay circuit 4.5, and in this ranking control circuit 7, an optimal two-dimensional error correction direction is determined based on each sample data and each error flag. The result is supplied to the two-dimensional error correction circuit 3 as a control signal.

ところで、上記各人力サンプルデータは、例えば8ピン
トから威り、16進で「01ノから「FE」までの値を
とり、これらの8ビツトのデータの演算や判断等を行う
ことにより、上述のエラー修整を行うものである。なお
、エラー修整後のサンプルデータは、16進で「00j
からrFF。
By the way, each of the above-mentioned human sample data can be obtained from, for example, 8-pinto, takes values from "01" to "FE" in hexadecimal, and performs calculations and judgments on these 8-bit data to obtain the above-mentioned data. This is to correct errors. The sample data after error correction is “00j” in hexadecimal.
From rFF.

の値となるようにしてもよい。また、カラービデオ信号
の場合、端子1には、1つの画素に対して、例えば輝度
信号のサンプルデータ、色差信号のサンプルデータ及び
輝度信号及び色差信号の各サンプルデータ対応したエラ
ーフラグがそれぞれ供給される。このとき、輝度信号の
サンプリング周波数は色差信号のサンプリング周波数の
2倍であり、輝度信号のサンプルデータは色差信号のサ
ンプルデータより帯域が広く、より詳細な情報を含んで
いる。すなわち、輝度信号のサンプルデータ及びエラー
フラグは、輝度信号及び色差信号のエラー修整に対して
、エラー修整の方向を決定するのに良好な予測性を有し
ている。したがって、通常、輝度信号のサンプルデータ
及びエラーフラグが、最適なエラー修整の方向を決定す
るのに用いられる。なお、1画素に対する輝度信号のエ
ラーフラグと色差信号のエラーフラグとが異なるときは
、輝度信号のエラー修整と色差信号のエラー修整とをそ
れぞれ最適な方向で行うようにする。
The value may be set to . Further, in the case of a color video signal, error flags corresponding to sample data of a luminance signal, sample data of a color difference signal, and each sample data of a luminance signal and a color difference signal are supplied to terminal 1 for one pixel. Ru. At this time, the sampling frequency of the luminance signal is twice the sampling frequency of the color difference signal, and the sample data of the luminance signal has a wider band and contains more detailed information than the sample data of the color difference signal. That is, the sample data and error flag of the luminance signal have good predictability for determining the direction of error correction for error correction of the luminance signal and color difference signal. Therefore, sample data of the luminance signal and error flags are typically used to determine the optimal error correction direction. Note that when the error flag of the luminance signal and the error flag of the color difference signal for one pixel are different, the error correction of the luminance signal and the error correction of the color difference signal are respectively performed in the optimal direction.

以上のようにして、前段のエラー訂正処理過程において
エラー訂正ができなかったエラーサンプルデータのエラ
ー修整が行われる。
As described above, error correction is performed on the error sample data that could not be corrected in the previous error correction process.

G−3,1次元エラー修整回路(第3図、第4図)第2
図に示す1次元エラー修整回路2の詳細を第3図、第4
図を用いて説明する。
G-3, 1-dimensional error correction circuit (Fig. 3, Fig. 4) 2nd
The details of the one-dimensional error correction circuit 2 shown in the figure are shown in Figs. 3 and 4.
This will be explained using figures.

この第3図に示すように、1次元エラー修整回路は、誤
りがあるサンプルデータと同一ライン上の該エラーサン
プルデータの両側の複数のサンプルデータの加重平均値
を用いてエラー修整を行う可変長補間処理部とエラーサ
ンプルデータと同一ライン上の該エラーサンプルデータ
の近傍のサンプルデータの1つを用いてエラーサンプル
データを置き換える置換処理部とに大別することができ
る。上記可変長補間処理部は、第2図に示す端子1を介
して入力されるエラー修整が施されるエラーサンプルデ
ータPOの両側の複数のサンプルデータを用いて加重平
均値を演算する可変長補間処理回路11と、同じく第2
図に示す端子lを介して入力される上記各サンプルデー
タに対応したエラーフラグを判別し、判別結果に基づい
て加重平均に用いるサンプルデータの個数及び加重平均
の係数を制御するサンプル数制御回路13から構成され
る。また、上記置換処理部は、上記サンプルデータのう
ちで誤りがないサンプルデータの1つを用いてエラーサ
ンプルデータを置き換える置換処理回路12と、上記エ
ラーフラグを判別し、判別結果に基づいて置換処理に用
いるサンプルデータを決定する置換モード制御回路14
から構成される。可変長補間処理回路11及び置換処理
回路12からのエラー修整が施された各サンプルデータ
はセレクタ16に供給され、このセレクタ16において
、補間処理が可能なときは、捕間処理によって得られた
サンプルデータが端子18から取り出され、補間処理が
不可能なときは、置換処理で得られたサンプルデータが
端子18から取り出され、勿論サンプルデータにエラー
が無いときは、該サンプルデータが端子18から取り出
される。
As shown in FIG. 3, the one-dimensional error correction circuit is a variable length error correction circuit that performs error correction using the weighted average value of a plurality of sample data on both sides of the error sample data on the same line as the error sample data. It can be roughly divided into an interpolation processing section and a replacement processing section that replaces the error sample data using one of the sample data near the error sample data on the same line as the error sample data. The variable length interpolation processing section is a variable length interpolation processor that calculates a weighted average value using a plurality of sample data on both sides of error sample data PO to which error correction is applied, which is input through terminal 1 shown in FIG. The processing circuit 11 and the second
A sample number control circuit 13 that determines the error flag corresponding to each sample data inputted through the terminal l shown in the figure, and controls the number of sample data used for weighted averaging and the coefficient of the weighted average based on the determination result. It consists of The replacement processing unit also includes a replacement processing circuit 12 that replaces the error sample data using one of the sample data without errors among the sample data, and a replacement processing circuit 12 that determines the error flag and performs replacement processing based on the determination result. Replacement mode control circuit 14 that determines sample data to be used for
It consists of Each error-corrected sample data from the variable length interpolation processing circuit 11 and replacement processing circuit 12 is supplied to the selector 16, and when interpolation processing is possible, the sample data obtained by interpolation processing is When data is taken out from the terminal 18 and interpolation processing is not possible, sample data obtained by replacement processing is taken out from the terminal 18. Of course, if there is no error in the sample data, the sample data is taken out from the terminal 18. It will be done.

この出力サンプルデータは第2図に示す2次元エラー修
整回路3に供給される。
This output sample data is supplied to a two-dimensional error correction circuit 3 shown in FIG.

次に、この1次元エラー修整回路の具体的な動作につい
て説明する。
Next, the specific operation of this one-dimensional error correction circuit will be explained.

この1次元エラー修整回路2には、第3図に示すように
ビデオ信号の同一ライン上の、例えば7個のサンプルデ
ータP3、P2、Pl、PO,Ml、M2、M3及びこ
れらのサンプルデータに対応するエラーフラグFP3、
FP2、FPI、FPOlFMI、FM2、FM3が供
給される。上記サンプルデータPOはエラー修整が施さ
れるサンプルデータであり、サンプルデータP1..P
2、P3は、サンプルデータPOの左側の近い方から順
に3個のサンプルデータであり、サンプルデータMl、
M2、M3は、サンプルデータpoの右側の近い方から
順に3個のサンプルデータである。
As shown in FIG. 3, this one-dimensional error correction circuit 2 stores, for example, seven sample data P3, P2, Pl, PO, Ml, M2, M3 on the same line of the video signal, and these sample data. Corresponding error flag FP3,
FP2, FPI, FPOlFMI, FM2, and FM3 are supplied. The sample data PO is sample data to which error correction is applied, and the sample data P1. .. P
2. P3 are three pieces of sample data in order from the one closest to the left of the sample data PO, and the sample data Ml,
M2 and M3 are three pieces of sample data in order from the one closest to the right of the sample data po.

これらのサンプルデータP3、P2、Pi、Ml、M2
、M3は可変長補間処理回路11及び置換処理回路12
に供給される。一方エラーフラグFP3、FP2、FP
I、FMI、FM2、FM3は、サンプル数制御回路1
3及び置換モード制御回路14に供給される。また、サ
ンプルデータPO及びエラーフラグFPOは、ラッチ1
5及びセレクタ16に供給される。
These sample data P3, P2, Pi, Ml, M2
, M3 is a variable length interpolation processing circuit 11 and a replacement processing circuit 12
supplied to On the other hand, error flags FP3, FP2, FP
I, FMI, FM2, FM3 are sample number control circuit 1
3 and the replacement mode control circuit 14. In addition, sample data PO and error flag FPO are stored in latch 1.
5 and selector 16.

上記サンプル数制御回路13において、エラー修整が施
されるエラーサンプルデータPOの両側の複数のサンプ
ルデータのエラーフラグの状態の判断が行われ、エラー
フラグが「1」 (エラー有り)であるサンプルデータ
を除外して加重平均処理を行わせる制御信号が可変長補
間処理回路11に供給される。第3図に示す具体例では
、6個のエラーフラグFP3、FP2、FPI、FMI
、FM2、FM3の判断が行われ、「l」 (エラー有
り)であるサンプルデータを除外して加重平均処理を行
わせる制御信号が可変長補間処理回路11に供給される
。そして、可変長補間処理回路11において、サンプル
データP3、P2、Pi、Ml、M2、M3のうちで上
記エラーフラグが「1」 (エラー有り)であるサンプ
ルデータを除外して加重平均処理が行われる。ここで、
第4図に示す具体例を説明する。なお、この図に示す○
はエラーフリーサンプルデータを示し、×はエラーサン
プルデータを示し、△は左右のサンプルデータ対のうち
少なくとも1つがエラーサンプルデータであることを示
し、口はエラー状態を考慮しないサンプルデータを示す
In the sample number control circuit 13, the state of the error flag of a plurality of sample data on both sides of the error sample data PO to be subjected to error correction is determined, and the sample data whose error flag is "1" (error present) is determined. A control signal is supplied to the variable length interpolation processing circuit 11 to perform weighted average processing while excluding . In the specific example shown in FIG. 3, six error flags FP3, FP2, FPI, FMI
, FM2, and FM3, and a control signal is supplied to the variable length interpolation processing circuit 11 to exclude sample data that is "l" (with error) and perform weighted average processing. Then, in the variable length interpolation processing circuit 11, weighted average processing is performed by excluding sample data whose error flag is "1" (error present) among the sample data P3, P2, Pi, Ml, M2, and M3. be exposed. here,
A specific example shown in FIG. 4 will be explained. In addition, ○ shown in this figure
indicates error-free sample data, × indicates error sample data, Δ indicates that at least one of the left and right pair of sample data is error sample data, and open indicates sample data that does not take into account error conditions.

第4図のaに示すように、エラーフラグタFP3、FP
2、FPI、FMI、FM2、FM3が全て「0」 (
エラー無し)であり、エラー修整が施されるエラーサン
プルデータPOの両側の6個のサンプルデータP3、P
2、Pl、Ml、M2、M3全てがエラーフリー状態(
6サンプル使用)のとき、加重平均の係数をKl、に2
、K3とし、加重平均値Pを、 P =KI X (PI十旧)+に2 X (P2+M
2) +に3 X (P3+M3)とする。
As shown in FIG. 4a, error flag data FP3, FP
2.FPI, FMI, FM2, and FM3 are all “0” (
6 sample data P3, P on both sides of the error sample data PO to which error correction is applied (no error).
2. Pl, Ml, M2, and M3 are all error-free (
(using 6 samples), the coefficient of the weighted average is set to Kl, by 2
, K3, and the weighted average value P is P = KI
2) Add 3 X (P3+M3) to +.

第4図のbに示すようにエラーフラグFP2、FPI、
FMI、FM2が全て「0」 (エラー無し)であり、
エラーフラグFP3、FM3の少なくとも1つが「l」
 (エラー有り)であり、エラー修整が施されるエラー
サンプルデータPOの両側の4個のサンプルデータP2
、Pi、Ml、K2がエラーフリー状I(4サンプル使
用)のとき、加重平均値Pを、 P−にI X (P1+M1)十に2 X (P2+M
2)とする。
As shown in FIG. 4b, the error flags FP2, FPI,
FMI and FM2 are all “0” (no error),
At least one of error flags FP3 and FM3 is "l"
(There is an error), and the four sample data P2 on both sides of the error sample data PO to which error correction is applied
, Pi, Ml, and K2 are error-free (using 4 samples), the weighted average value P is set to P- by I
2).

第4図のCに示すようにエラーフラグFPI及びFMI
が「O」 (エラー無し)であり、エラーフラグFP2
、FM2の少なくとも1つがrlJ(エラー有り)であ
り、エラー修整が施されるエラーサンプルデータPOの
両側の2個のサンプルデータPiM1がエラーフリー状
態(2サンプル使用)のとき、加重平均値Pを、 p 、KI X (P1+M1) とする。
As shown in Figure 4C, the error flags FPI and FMI
is “O” (no error), and the error flag FP2
, FM2 is rlJ (with error), and two sample data PiM1 on both sides of the error sample data PO to which error correction is applied are in an error-free state (two samples are used), the weighted average value P is , p , KI X (P1+M1).

以上のようにして可変長補間処理回路11で得られた加
重平均値Pは、セレクタ16に供給される。ところで、
上記の係数群に1、K2、K3の値としては、回路構成
の容易性、構成部品点数等を考慮し、具体的には下記の
ような値を用いる。
The weighted average value P obtained by the variable length interpolation processing circuit 11 as described above is supplied to the selector 16. by the way,
Regarding the values of 1, K2, and K3 in the above coefficient group, the following values are specifically used in consideration of ease of circuit configuration, number of component parts, etc.

2サンプル使用のとき、 K1・1/2・0.5.に2・K3=0とする。When using 2 samples, K1・1/2・0.5. 2・K3=0.

4サンプル使用のとき、 K1・1/2+1/8+1/16・0.6875゜K2
−−(1/2+1/4)/4・−0,1875,K3・
0とする。
When using 4 samples, K1・1/2+1/8+1/16・0.6875°K2
--(1/2+1/4)/4・-0,1875,K3・
Set to 0.

6サンプル使用のとき、 Kl・1/2+1/4−0.75. K2=−(1/2
+1/8)/2=−0,3125゜K3=1/16・0
.0625とする。
When using 6 samples, Kl・1/2+1/4-0.75. K2=-(1/2
+1/8)/2=-0,3125°K3=1/16・0
.. 0625.

次に、第3図に示す置換処理部(置換処理回路12、置
換モード制御回路14)の説明をする。
Next, the replacement processing section (replacement processing circuit 12, replacement mode control circuit 14) shown in FIG. 3 will be explained.

上述の第4図のaS b、cに示す3つのエラーモード
以外のときは、次に述べる置換処理が、置換モード制御
回路14の制御のもとに置換処理回路12において行わ
れる。
In cases other than the three error modes shown in aS b and c in FIG.

置換モード制御回路14において、エラーフラグFPI
、FMIの状態が判断され、エラーフラグFPI、FM
Iの少なくとも1つが「1」 (エラー有り)のとき、
サンプルデータP1、Mlのうちでエラーフリーサンプ
ルデータを用いてエラーサンプルデータPOの置き換え
が行われる。
In the replacement mode control circuit 14, the error flag FPI
, the state of FMI is determined and the error flag FPI, FM
When at least one of I is "1" (there is an error),
Among the sample data P1 and Ml, error-free sample data is used to replace the error sample data PO.

エラーフラグFPI及びFMIが「l」 (エラー有り
)であって、エラーフラグF’P2、FM2の少なくと
も1つが「0」 (エラー無し)のとき、サンプルデー
タP2、K2のうちでエラーフリーサンプルデータを用
いてエラーサンプルデータPOの置き換えが行われる。
When error flags FPI and FMI are "l" (error present) and at least one of error flags F'P2 and FM2 is "0" (no error), error-free sample data among sample data P2 and K2 is selected. The error sample data PO is replaced using .

なお、エラーフラグFP2、FM2の両方が「OJ (
エラー無し)のときは、サンプルデータP2がサンプル
データM2に優先して用いられる。
Note that both error flags FP2 and FM2 are “OJ (
(No error), sample data P2 is used in preference to sample data M2.

エラーフラグFP2、FPI、FMIS FM2が全て
「1」 (エラー有り)であって、エラーフラグFP3
、FM3の少なくとも1つが「0」(エラー無し)のと
き、サンプルデータP3、K3のうちでエラーフリーサ
ンプルデータを用いてエラーサンプルデータPOの置換
処理が行われる。
Error flag FP2, FPI, and FMIS FM2 are all "1" (error exists), and error flag FP3
, FM3 is "0" (no error), error-free sample data among the sample data P3 and K3 is used to replace the error sample data PO.

なお、エラーフラグFP3、FM3の両方が「0」(エ
ラー無し)のときは、サンプルデータP3がサンプルデ
ータM3に優先して用いられる。
Note that when both error flags FP3 and FM3 are "0" (no error), sample data P3 is used with priority over sample data M3.

エラーフラグFP3、FP2、FPI、FMI、FM2
、FM3の全てが「1」 (エラー有り)のときには、
最後のエラーフリーサンプルデータを用いてエラーサン
プルデータPOの直き換えが行われる。ここで、最後の
エラーフリーサンプルデータとは、ラッチ14に設けら
れたlサンプルデー5分のメモリを同一ライン上のエラ
ーフリーサンプルデータで順次更新しておき、この記憶
されているサンプルデータをいう。
Error flag FP3, FP2, FPI, FMI, FM2
, when all of FM3 is "1" (error exists),
The last error-free sample data is used to replace the error sample data PO. Here, the last error-free sample data refers to the sample data stored in the memory provided in the latch 14 for 1 sample data, which is sequentially updated with error-free sample data on the same line. .

以上のようにして、置換処理が施されたサンプルデータ
がセレクタ16に供給される。すなわち、セレクタ16
には、可変長補間処理回路11で得られたサンプルデー
タ(加重平均値)、置換処理回路12で得られたサンプ
ルデータ及びサンプルデータPOの3つのサンプルデー
タが供給され、補間/置換処理制御回路17からの制御
信号及びエラーフラグFPO状態に基づいて1つのサン
プルデータが選択され、端子18を介して取り出される
。すなわち、セレクタ16において、エラーフラグFP
Oが「0」 (エラー無し)のときは、サンプルデータ
POが選択されて端子18より取り出され、エラーフラ
グFPOが「l」 (エラー有り)であって、上記補間
処理が可能なときは、可変長補間処理回路11からの上
記加重平均値P(補間処理を施したサンプルデータ)が
取り出され、補間処理ができないときは、置換処理回路
12からの上記置換処理で得られたサンプルデータが端
子18より取り出される。この出力サンプルデータは、
第2図に示す2次元エラー修整回路3等に供給される。
As described above, the sample data subjected to the replacement process is supplied to the selector 16. That is, the selector 16
is supplied with three sample data: sample data (weighted average value) obtained by the variable length interpolation processing circuit 11, sample data obtained by the replacement processing circuit 12, and sample data PO, and the interpolation/replacement processing control circuit One sample data is selected based on the control signal from 17 and the error flag FPO state and is retrieved via terminal 18. That is, in the selector 16, the error flag FP
When O is "0" (no error), sample data PO is selected and taken out from terminal 18, and when error flag FPO is "l" (error present) and the above interpolation process is possible, The weighted average value P (sample data subjected to interpolation processing) from the variable length interpolation processing circuit 11 is taken out, and if interpolation processing cannot be performed, the sample data obtained by the above replacement processing from the replacement processing circuit 12 is output to the terminal. It is taken out from 18. This output sample data is
The signal is supplied to the two-dimensional error correction circuit 3 shown in FIG. 2, etc.

G−4,ランキング制御回路 (第1図、第5図、第6図) 以上のようにして1次元エラー修整が施された後のサン
プルデータは、第2図に示す2次元エラー修整回路3に
おいて2次元エラー修整が施される。この2次元エラー
修整回路3では、エラーサンプルデータと同一ライン上
及び上下ライン上の該エラーサンプルデータの周辺のサ
ンプルデータや前フレームの同じ位置のサンプルデータ
等を用いて補間処理や置換処理によるエラー修整が行わ
れる。例えば、エラーサンプルデータの周辺のサンプル
データを用いた複数方向の補間処理、前のフレームの同
し位置のサンプルデータを用いてエラーサンプルデータ
を置き換える置換処理、近傍のサンプルデータを用いて
エラーサンプルデータを置き換える置換処理等が行われ
る。
G-4, Ranking control circuit (Fig. 1, Fig. 5, Fig. 6) The sample data after one-dimensional error correction has been applied as described above is the two-dimensional error correction circuit 3 shown in Fig. 2. Two-dimensional error correction is performed at. This two-dimensional error correction circuit 3 uses sample data around the error sample data on the same line and above and below the error sample data, sample data at the same position in the previous frame, etc. to correct errors caused by interpolation processing and replacement processing. Corrections will be made. For example, interpolation processing in multiple directions using sample data surrounding error sample data, replacement processing that replaces error sample data using sample data at the same position in the previous frame, error sample data using neighboring sample data, etc. A replacement process is performed to replace the .

これらの補間処理、置換処理の結果が近傍サンプルデー
タと最も変化が少なくなる(最適な)方向を予測し、こ
れらの方向の優先順位(ランキング)を決定するランキ
ング制御回路7について説明する。ここで、■次元エラ
ー修整回路?、ライン遅延回路4.5、フレーム遅延回
路6から得られる各サンプルデータを第5図に示し、こ
れらのサンプルデータに対応するエラーフラグを第6図
に示す、第5図に示すように、エラー修整が施されるサ
ンプルデータPOと同一ライン(現在のライン)上の該
サンプルデータPOの両側の6つのサンプルデータを、
P3、P2、Pi、Ml、M2、M3とし、上のライン
上の各サンプルデータを、PP3、PP2、PPI、P
PO,PMI。
The ranking control circuit 7 that predicts the (optimal) direction in which the results of these interpolation processing and replacement processing will have the least change from neighboring sample data and determines the priority order (ranking) of these directions will be described. Here, ■dimensional error correction circuit? , line delay circuit 4.5, and frame delay circuit 6 are shown in FIG. 5, and error flags corresponding to these sample data are shown in FIG. 6. Six sample data on both sides of the sample data PO on the same line (current line) as the sample data PO to be modified,
P3, P2, Pi, Ml, M2, M3, and each sample data on the upper line is PP3, PP2, PPI, P
P.O., P.M.I.

PM2、PM3とし、下のライン上の各サンプルデータ
を、NF2、NF2、NPI、NPOlNMl、NM2
、NM3とし、■フレーム前の現在のラインに対応する
ライン上の各サンプルデータを、LP3、LP2、LP
I、LPO,LMI。
PM2 and PM3, and each sample data on the lower line is NF2, NF2, NPI, NPOlNMl, NM2
, NM3, and each sample data on the line corresponding to the current line before the frame is LP3, LP2, LP.
I, LPO, LMI.

LM2、LM3とする。また、第6図に示すように、上
記各サンプルデータに対応するエラーフラグを、それぞ
れFPO,PP3、PP2、FPI、FMI、FM2、
FM3、FPP3、FPP2、FPP 1、FPPO,
FPMI、FPM2、FPM3、FNP3、FNP2、
FNP 1、FNPOlFNMI、FNM2、FNM3
、FLr’3、FLP2、FLPI、FLPOlFLM
I、FLM2、FLM3とする。以下、第1図を用いて
具体的に各回路を説明する。
Let them be LM2 and LM3. In addition, as shown in FIG. 6, error flags corresponding to each of the above sample data are set to FPO, PP3, PP2, FPI, FMI, FM2,
FM3, FPP3, FPP2, FPP 1, FPPO,
FPMI, FPM2, FPM3, FNP3, FNP2,
FNP 1, FNPOlFNMI, FNM2, FNM3
, FLr'3, FLP2, FLPI, FLPOlFLM
I, FLM2, and FLM3. Each circuit will be specifically explained below using FIG. 1.

H修整精度出力回路41は、H方向のエラー修整の精度
を、エラーサンプルデータの近傍でのH方向の修整エラ
ーに基づいて予測するためのものであり、エラー修整が
施されるエラーサンプルデータPOの上のライン上のサ
ンプルデータを用いて修整エラーを演算するH (U)
誤差演算回路41aと、同じく下のラインのサンプルデ
ータを用いて修整エラーを演算するH (D)誤差演算
回路41bと、該H(U)誤差演算回路41aの出力と
H(D)誤差演算回路41bの出力との平均値を演算す
る平均値/セレクタ回路41cから構成される。
The H correction accuracy output circuit 41 is for predicting the accuracy of error correction in the H direction based on correction errors in the H direction in the vicinity of error sample data, and is used to predict error correction accuracy in the H direction based on correction errors in the H direction in the vicinity of error sample data. Calculate the correction error using the sample data on the line above H (U)
An error calculation circuit 41a, an H(D) error calculation circuit 41b which also calculates a correction error using the sample data of the lower line, and an output of the H(U) error calculation circuit 41a and an H(D) error calculation circuit. It is composed of an average value/selector circuit 41c that calculates an average value with the output of 41b.

すなわち、H(U)誤差演算回路41aには、例えばエ
ラー修整が施されるサンプルデータPOの上のラインの
サンプルデータPPI、PPO,PMl及びエラーフラ
グFPPI、FPPOSFPM1が供給され、H方向の
第1の修整エラーPPo−(PP1+PM1)/2 が求められる。また、H(D)誤差演算回路41bには
、例えばエラー修整が施されるサンプルデータPOの下
のラインのサンプルデータNPI、NPOSNMI及び
エラーフラグFNP1..FNPO1FNMIが供給さ
れ、H方向の第2の修整エフ− NPO−(NP1+NM1)/2 が求められる。これらの第1、第2の修整エラーは平均
値/セレクタ回路41cに供給される。この平均値/セ
レクタ回路41cにおいて、上記H方向の第1、第2の
修整エラーの平均値を求める演算が行われる。すなわち
、H方向の修整エラーE(H); E (H)・(l PP0− (PP1+PM1)/2
1+  NPO−(NP1+NM1)/2  )/2が
求められる。このH方向の修整エラーE (H)はラン
キング決定回路45に供給される。なお、上記H方向の
修整エラーE (H)は、例えば上述の1次元エラー修
整における加重平均の演算式を用いて E(H)・0.5 x (I  PpO−(0,75x
 (PP1+P河1)−0,3125X (PP2+P
M2)+0.0625X (PP3+PM3)) 1+
  NPO−(0,75X (NP1+NM1)−O,
3125x (NP2+NM2)+0.0625X (
NP3+NM3)) l )としてもよい。また、例え
ば上記H方向の第1の修整エラーI PP0− (PP
1+PM1)/2 1の演算に用いられるサンプルデー
タPPIのエラーフラグFPP1が「l」 (エラー有
り)のときは、H方向の修整ニラ−E (H)を [!()l)= I NPO−(NP1+NM1)/2
とする。また、例えば上記H方向の第1の修整エラーI
 PP0− (PP1+P河1)/2 1の演算に用い
られるサンプルデータPPlのエラーフラグFPP 1
及び上記H方向の第2の修整! ラ−I NPO−(N
P1+NMl)/21の演算に用いられるサンプルデー
タNPIのエラーフラグFNP 1が「1」 (エラー
有り)のときは、H方向の修整エラーE (H)は演算
できないものとし、H方向のH演算可能信号を出力端子
46を介して、第2図に示す2次元エラー修整回路3に
送出する。
That is, the H(U) error calculation circuit 41a is supplied with sample data PPI, PPO, PMl and error flags FPPI, FPPOSFPM1 of the line above the sample data PO to be subjected to error correction, for example, and is supplied with the first line in the H direction. The corrected error PPo-(PP1+PM1)/2 is obtained. The H(D) error calculation circuit 41b also includes, for example, sample data NPI, NPOSNMI of the line below the sample data PO to which error correction is applied, and error flags FNP1. .. FNPO1FNMI is supplied, and the second correction F-NPO-(NP1+NM1)/2 in the H direction is determined. These first and second corrected errors are supplied to an average value/selector circuit 41c. In this average value/selector circuit 41c, calculation is performed to obtain the average value of the first and second correction errors in the H direction. That is, the correction error in the H direction E (H); E (H)・(l PP0− (PP1+PM1)/2
1+NPO-(NP1+NM1)/2)/2 is obtained. This correction error E (H) in the H direction is supplied to the ranking determining circuit 45. The correction error E (H) in the H direction can be calculated as E(H)・0.5 x (I PpO−(0,75×
(PP1+P river 1) -0,3125X (PP2+P
M2)+0.0625X (PP3+PM3)) 1+
NPO-(0,75X (NP1+NM1)-O,
3125x (NP2+NM2)+0.0625X (
NP3+NM3)) l) may also be used. Also, for example, the first correction error I PP0- (PP
1+PM1)/2 When the error flag FPP1 of the sample data PPI used for the calculation of 1 is "l" (error present), the correction knife in the H direction -E (H) is [! ()l)=I NPO-(NP1+NM1)/2
shall be. Also, for example, the first correction error I in the H direction
PP0- (PP1+Pkawa1)/2 Error flag FPP1 of sample data PP1 used for calculation of 1
And the second correction in the H direction above! Ra-I NPO-(N
When the error flag FNP1 of the sample data NPI used for the calculation of P1+NMl)/21 is "1" (error present), the correction error E (H) in the H direction cannot be calculated, but the H calculation in the H direction is possible. The signal is sent via the output terminal 46 to the two-dimensional error correction circuit 3 shown in FIG.

また、上記H方向の第1、第2の修整エラーは、所定の
閾値Tと比較される。この比較の結果、少なくとも1つ
の修整エラーが所定の閾値T以上のときは、当該H方向
は2次元エラー修整の最適な方向として考慮しないよう
にする。すなわち、このH方向はエラー修整の方向から
除外し、他の方向のエラー修整を行うのである。なお、
上記閾値Tの値は可変なものとし、外部から設定できる
ものとする。この閾値Tを小さくすることにより、最適
な2次元エラー修整の方向の決定の精度を高くすること
ができるが、多くの位置においてエラー修整の方向が決
定できなくなる。反対に閾値Tを大きくすることにより
、多くの位置においてエラー修整の方向決定の精度が悪
くなる。
Further, the first and second correction errors in the H direction are compared with a predetermined threshold T. As a result of this comparison, if at least one correction error is greater than or equal to the predetermined threshold T, the H direction is not considered as the optimal direction for two-dimensional error correction. That is, this H direction is excluded from the direction of error correction, and error correction is performed in other directions. In addition,
The value of the threshold T is variable and can be set externally. By reducing this threshold T, it is possible to increase the accuracy of determining the direction of optimal two-dimensional error correction, but the direction of error correction cannot be determined at many positions. On the other hand, by increasing the threshold T, the accuracy of determining the direction of error correction becomes worse at many positions.

■修整精度出力回路42は、■方向のエラー修整の精度
を、エラーサンプルデータの近傍でのV方向の修整エラ
ーに基づいて予測するためのものであり、例えばエラー
修整が施されるエラーサンプルデータPOの左側のサン
プルデータPl及び該サンプルデータP1の上下のサン
プルデータPP1、NPIを用いて修整エラーを演算す
るV (L)誤差演算回路42aと、同しくサンプルデ
ータPOの右側のサンプルデータM1及び該サンプルデ
ータMlの上下のサンプルデータPMI、NMIを用い
て修整エラーを演算するV (R)誤差演算回路42b
と、該V(L)!!4差演算回路42aの出力とV(R
)娯差演算回142bの出力との平均値を演算する平均
値/セレクタ回路42cから構成される。
The correction accuracy output circuit 42 is for predicting the accuracy of error correction in the direction ■ based on correction errors in the V direction in the vicinity of error sample data. For example, error sample data to which error correction is applied A V(L) error calculation circuit 42a that calculates a correction error using the sample data Pl on the left side of PO, sample data PP1 above and below the sample data P1, and NPI, and the sample data M1 and NPI on the right side of the sample data PO. A V (R) error calculation circuit 42b that calculates a correction error using the sample data PMI and NMI above and below the sample data Ml.
And the corresponding V(L)! ! The output of the 4-difference calculation circuit 42a and V(R
) An average value/selector circuit 42c that calculates an average value with the output of the entertainment difference calculation circuit 142b.

すなわち、V (L)誤差演算回路42a、V(R)誤
差演算回路42b、平均値/セレクタ回路42Cにおい
て、例えば■方向の第1の修整エラーPt−(PP1+
NPl)/2 ■方向の第2の修整エラー Ml−(PM1+NM1)/2 ■方向の修整エラーE(V)。
That is, in the V(L) error calculation circuit 42a, the V(R) error calculation circuit 42b, and the average value/selector circuit 42C, for example, the first correction error Pt-(PP1+
NPl)/2 Second correction error Ml-(PM1+NM1)/2 in direction ① Correction error E(V) in direction ②.

Em−(l PI−(PP1+NP1)/2 l + 
I Ml−(PM1+NM1)/21 )/2がそれぞ
れ求められる。このV′ji向の修整エラーE (V)
はランキング決定回路45に供給される。
Em-(l PI-(PP1+NP1)/2 l +
I Ml-(PM1+NM1)/21 )/2 are respectively determined. This correction error E (V) in the direction of V′ji
is supplied to the ranking determination circuit 45.

なお、H方向の修整エラーを求めるときと同様に、修整
エラーが演算できないときはV演算可能信号が出力端子
47を介して、第2図に示す2次元エラー修整回路3に
出力される。また、第1、第2の修整エラーが所定の閾
値Tより大きいか否かが判断され、閾値Tより大きいと
きは当該V方向は2次元エラー修整の最適な方向として
考慮されないようになされる。
Note that, similarly to when determining the correction error in the H direction, when the correction error cannot be calculated, a V calculation enable signal is outputted to the two-dimensional error correction circuit 3 shown in FIG. 2 via the output terminal 47. Further, it is determined whether the first and second correction errors are larger than a predetermined threshold T, and when they are larger than the threshold T, the V direction is not considered as the optimal direction for two-dimensional error correction.

D、修整精度出力回路43は、Dや方向のエラー修整の
精度を、エラーサンプルデータの近傍でのり、方向の修
整エラーに基づいて予測するためのものであり、例えば
エラー修整が施されるエラーサンプルデータPOの左側
のサンプルデータP1及び該サンプルデータP1の右下
がり対角線上の両側のサンプルデータPP2、NPOを
用いて修整エラーを演算するり、(L)誤差演算回路4
3aと、同じくサンプルデータPOの右側のサンプルデ
ータM1及び該サンプルデータM1の右下がり対角線上
の両側のサンプルデータPPO,NM2を用いて修整エ
ラーを演算するり、(11)誤差演算回路43bと、該
り、(L)誤差演算回路43aの出力とり。(R) i
jI差演算回路43bの出力との平均値を演算する平均
値/セレクタ回路43cから構成される。
D. The correction accuracy output circuit 43 is for predicting the accuracy of error correction in D and the direction based on the correction error in the direction in the vicinity of the error sample data. (L) Error calculation circuit 4
3a, the sample data M1 on the right side of the sample data PO, and the sample data PPO, NM2 on both sides of the diagonal line downward to the right of the sample data M1 to calculate a correction error; (11) error calculation circuit 43b; (L) Output of error calculation circuit 43a. (R)i
It is composed of an average value/selector circuit 43c that calculates an average value with the output of the jI difference calculation circuit 43b.

すなわち、上記り、(L)誤差演算回路43a、D。That is, as described above, (L) error calculation circuits 43a, D;

(R)誤差演算回路43b、平均値/セレツタ回諮43
cにおいて、例えばり、方向の第1の修整エラー Pl−(PP2+NPO)/2 D、方向の第2の修整エラー Ml−(PPO+NM2)/2 D、方向の修整エラーE (D、 )  。
(R) Error calculation circuit 43b, average value/selector circuit 43
In c, for example, a first correction error in the direction Pl-(PP2+NPO)/2D, a second correction error in the direction Ml-(PPO+NM2)/2D, a correction error in the direction E(D, ).

E([1や)・(I Pl−(PP2+NPO)/2 
++ 旧−(PPO+NM2)/2  )/2がそれぞ
れ求められる。このり、方向の修整エラーE (D、 
)はランキング決定回路45に供給される。なお、H方
向の修整エラーを求めるときと同様に、修整エラーが演
算できないときはり、演算可能信号が出力端子48を介
して、第2図に示す2次元エラー修整回IM3に出力さ
れる。また、第1、第2の修整エラーが所定の閾(IT
より大きいか否かが判断され、閾値Tより大きいときは
当該り、方向は2次元エラー修整の最適な方向として考
慮されないようになされる。
E([1ya)・(I Pl−(PP2+NPO)/2
++ old-(PPO+NM2)/2 )/2 are obtained, respectively. This direction correction error E (D,
) is supplied to the ranking determination circuit 45. Note that, similarly to when determining the correction error in the H direction, when the correction error cannot be calculated, a computation possible signal is outputted via the output terminal 48 to the two-dimensional error correction circuit IM3 shown in FIG. Further, the first and second correction errors are set to a predetermined threshold (IT
If it is larger than the threshold T, then yes, the direction is not considered as the optimal direction for two-dimensional error correction.

D−修整精度出力回路44は、D一方向のエラー修整の
精度を、エラーサンプルデータの近傍でのD一方向の修
整エラーに基づいて予測するためのものであり、例えば
エラー修整が施されるエラーサンプルデータPOの左側
のサンプルデータP1及び該サンプルデータPiの左下
がり対角線上の両側のサンプルデータPP01NP2を
用いて修整エラーを演算するIC(L)誤差演算回路4
4aと、同じくサンプルデータPOの右側のサンプルデ
ータMl及び該サンプルデータMlの左下がり対角線上
の両側のサンプルデータPM2、NPOを用いて修整エ
ラーを演算するD−(R)誤差演算回路44bと、該D
 −(L)誤差演算回路44aの出力とIC(R)誤差
演算回路44bの出力との平均値を演算する平均値/セ
レクタ回路44cから構成される。
The D-correction accuracy output circuit 44 is for predicting the accuracy of error correction in one direction of D based on the correction error in one direction of D in the vicinity of error sample data, and for example, when error correction is performed. IC(L) error calculation circuit 4 that calculates a correction error using the sample data P1 on the left side of the error sample data PO and the sample data PP01NP2 on both sides on the diagonal line downward to the left of the sample data Pi.
4a, and a D-(R) error calculation circuit 44b that calculates a correction error using the sample data Ml on the right side of the sample data PO and the sample data PM2 and NPO on both sides of the diagonal line downward to the left of the sample data Ml, The D
- It is composed of an average value/selector circuit 44c that calculates the average value of the output of the (L) error calculation circuit 44a and the output of the IC (R) error calculation circuit 44b.

すなわち、上記D −(L)誤差演算回路44a、D−
(R)誤差演算回路44b、平均値/セレクタ回路44
cにおいて、例えばD一方向の第1の修整エフ− Pl−(PPO+NP2)/2 D一方向の第2の修整エラー 旧−(PM2+NPO)/21、 D一方向の修整エラーE (D−) ;E(DJ=(I
 Pl−(PPO+NP2)/2+  M1〜(PM2
+NPO)/2  )/2がそれぞれ求められる。この
D一方向の修整エラーE (D−)はランキング決定回
路45に供給される。なお、H方向の修整エラーを求め
るときと同様に、修整エラーが演算できないときはD−
演算可能信号が出力端子49を介して、第2図に示す2
次元エラー修整回路3に出力される。また、第1、第2
の修整エラーが所定の閾値Tより大きいか否かが判断さ
れ、閾値Tより大きいときは当該り一方向は2次元エラ
ー修整の最適な方向として考慮されないようになされる
That is, the D-(L) error calculation circuit 44a, D-
(R) Error calculation circuit 44b, average value/selector circuit 44
In c, for example, the first correction error in the D direction F - Pl - (PPO + NP2) / 2, the second correction error in the D direction - (PM2 + NPO) / 21, the correction error in the D direction E (D -); E(DJ=(I
Pl-(PPO+NP2)/2+ M1~(PM2
+NPO)/2 )/2 are respectively calculated. This D one-way correction error E (D-) is supplied to the ranking determination circuit 45. Note that, similarly to when calculating the correction error in the H direction, if the correction error cannot be calculated, use D-
The computable signal is transmitted via the output terminal 49 to the 2 signal shown in FIG.
It is output to the dimensional error correction circuit 3. Also, the first and second
It is determined whether the correction error is larger than a predetermined threshold T, and if it is larger than the threshold T, the corresponding direction is not considered as the optimal direction for two-dimensional error correction.

次に、ランキング決定回路45において、上記で除外さ
れていない残りの修整エラーE(H)、E (V)、E
 (D、 )、E (D−)が互いに比較され、値が小
さい順に修整方向ランキング(優先順位)が決定される
。なお、各方向の修整エラー値が等しいときは、H方向
、■方向、D、方向、D一方向の順に優先順位があるも
のとされる。このランキング決定回路45からのランキ
ングフラグ(複数ビット)は、第2図に示す2次元エラ
ー修整回路3に供給される。
Next, in the ranking determination circuit 45, the remaining modified errors E(H), E(V), E
(D, ) and E (D-) are compared with each other, and a modification direction ranking (priority order) is determined in order of decreasing value. Note that when the correction error values in each direction are the same, priority is given in the order of the H direction, the {circle around (2)} direction, the D direction, and the D direction. The ranking flag (multiple bits) from this ranking determination circuit 45 is supplied to the two-dimensional error correction circuit 3 shown in FIG.

G−5,2次元エラー修整回路 (第7図乃至第1O図) 第2図に示す2次元エラー修整回路3の具体的な回路構
成について第7図を参照して説明する。
G-5. Two-dimensional error correction circuit (FIGS. 7 to 1O) A specific circuit configuration of the two-dimensional error correction circuit 3 shown in FIG. 2 will be described with reference to FIG. 7.

この2次元エラー修整回路3は、第2図に示すランキン
グ制御回路7からのランキングフラグ、各方向の演算可
能信号やエラーフラグ等を用いてエラー修整が施される
エラーサンプルデータPOの周辺のエラー状態を判断し
、最適なエラー修整方法を決定する最適補間方向決定回
路51、高精度テンポラル(時間的)直換決定回路52
、最適置換方向決定回路53、任意補間方向決定回路5
4、低精度テンポラル置換決定回路55、最近隣置換決
定回路56、繰り返し置換決定回路57及びエラー修整
方法セレクタ58で構成される部分と、決定されたエラ
ー修整方法に基づき、実際の補間処理、置換処理を行う
■補間回路61、D+補間回路62、D−補間回路63
、セレクタ64.65.66で構成される部分とからな
る。以下、上記各回路を順に説明する。
This two-dimensional error correction circuit 3 corrects errors around the error sample data PO, which is corrected using the ranking flag from the ranking control circuit 7 shown in FIG. An optimal interpolation direction determining circuit 51 and a high-precision temporal direct conversion determining circuit 52 that judge the state and determine the optimal error correction method.
, optimal replacement direction determining circuit 53, arbitrary interpolation direction determining circuit 5
4. A part consisting of a low-precision temporal replacement determination circuit 55, a nearest neighbor replacement determination circuit 56, an iterative replacement determination circuit 57, and an error correction method selector 58, and performs actual interpolation processing and replacement based on the determined error correction method. ■ Interpolation circuit 61, D+ interpolation circuit 62, D- interpolation circuit 63 that performs processing
, selectors 64, 65, and 66. Each of the above circuits will be explained in order below.

第7図において、最適補間方向決定回路51には、エラ
ー修整が施されるエラーサンプルデー520周辺のサン
プルデータのエラーフラグFPPL FPPO,FPM
I、FPI、FMI、FNPl、FNPO5FNMI、
上記ランキング制御回路7からのランキングフラグ及び
各方向の演算可能信号が供給され、これらのエラーフラ
グ、ランキングフラグ及び演算可能信号の状態が判断さ
れ、最適な補間方向が決定される。具体的には、エラー
フラグが「1」 (エラー有り)である方向を除外し、
ランキングフラグに基づいて最優先の方向が決定される
。この最優先の方向を示す制御信号がエラー修整方法セ
レクタ5日に供給される。
In FIG. 7, the optimum interpolation direction determining circuit 51 stores error flags FPPL, FPPO, FPM of sample data around error sample data 520 to which error correction is applied.
I, FPI, FMI, FNPl, FNPO5FNMI,
The ranking flag and computable signals in each direction are supplied from the ranking control circuit 7, and the states of these error flags, ranking flags, and computable signals are determined, and the optimal interpolation direction is determined. Specifically, exclude directions where the error flag is "1" (error present),
The highest priority direction is determined based on the ranking flag. A control signal indicating this highest priority direction is supplied to the error correction method selector 5.

すなわち、ランキング制御回路7において修整エラーが
最小と判断された方向であっても、この方向の補間処理
に用いられるサンプルデータがエラー状態にあるときは
、この方向は選択されず、次に優先順位が高い方向が選
択される。
In other words, even if the ranking control circuit 7 determines that the correction error is the smallest in the direction, if the sample data used for interpolation processing in this direction is in an error state, this direction will not be selected and will be given the next priority. The direction where is higher is selected.

高精度テンポラル置換決定回路52には、エラー修整が
施されるエラーサンプルデータPOの両側の6個のサン
プルデータP3、P2、Pl、Ml、M2、M3、前フ
レームの対応するラインの7個のサンプルデータLP3
、LP2、LPI、LPO,、LMISLM2、LM3
、これらのサンプルデータのエラーフラグFP3、PP
2、FPl、FMI、FM2、FM3、FLP3、FL
P2、FLP 1、FLPO,FLMl、、FLM2、
FLM3が供給され、上記エラーフラグが判断され、時
間的(時間軸上の)置換処理が可能か否かが決定される
。上記エラーフラグの全てがrQJ(エラー無し)であ
り、かつ対応するサンプルデータ同士の差が所定の閾値
HT以下のとき、前フレームのサンプルデータLPOを
用いてエラーサンプルデータPOを置換する制御信号が
エラー修整方法セレクタ58に供給される。具体的には
、PP3.FP2ユFPI工FM1=FM2・RM3=
FLP3=FLP2・FLPI・IILPO=PL旧・
FLM2=FL門3;0I LP3−P3  ≦HT、  L門1−Ml  ≦HT
LP2−P2   ≦HT、    LM2−M2  
 ≦HT。
The high-precision temporal replacement determining circuit 52 includes six sample data P3, P2, Pl, Ml, M2, M3 on both sides of the error sample data PO to be subjected to error correction, and seven sample data on the corresponding line of the previous frame. Sample data LP3
,LP2,LPI,LPO,,LMISLM2,LM3
, these sample data error flags FP3, PP
2, FPl, FMI, FM2, FM3, FLP3, FL
P2, FLP 1, FLPO, FLMl, , FLM2,
FLM3 is supplied, the error flag is judged, and it is determined whether temporal (on the time axis) replacement processing is possible. When all of the above error flags are rQJ (no error) and the difference between the corresponding sample data is less than or equal to a predetermined threshold HT, a control signal is sent to replace the error sample data PO using the sample data LPO of the previous frame. The error correction method selector 58 is provided. Specifically, PP3. FP2yu FPI engineering FM1=FM2・RM3=
FLP3=FLP2・FLPI・IILPO=PL old・
FLM2=FL gate 3; 0I LP3-P3 ≦HT, L gate 1-Ml ≦HT
LP2-P2 ≦HT, LM2-M2
≦HT.

LPI−PI I≦IIT、  l LM3−?131
≦IITの条件全てを満足するとき、エラーサンプルデ
ータPOをサンプルデータLPOで置き換えるのである
。すなわち、エラーサンプルデータPOの両側の6個の
サンプルデータが時間的に余り変化しないときは、エラ
ーサンプルデータPOも時間的に変化がないものとして
置換を行うのである。なお、上記閾値HTは小さな値と
される。
LPI-PI I≦IIT, l LM3-? 131
When all the conditions of ≦IIT are satisfied, the error sample data PO is replaced with the sample data LPO. That is, when the six sample data on both sides of the error sample data PO do not change much over time, replacement is performed on the assumption that the error sample data PO also does not change over time. Note that the threshold value HT is a small value.

最適置換方向決定回路53には、エラーフラグFPPI
、FPPO,FPMI、FPI、FMI、FNP 1、
FNPO,FNMI、ランキング回路7からのランキン
グフラグ及び各方向の演算可能信号が供給され、これら
のエラーフラグ、ランキングフラグ及び演算可能信号の
状態が判断され、最適な置換方向が決定される。具体的
には、エラーフラグが「1」 (エラー有り)である方
向を除外し、残りの方向のランキングフラグに基づいて
最優先の方向が決定される。この最優先の方向を示す制
御信号がエラー修整方法セレクタ58に供給される。
The optimum replacement direction determining circuit 53 includes an error flag FPPI.
, FPPO, FPMI, FPI, FMI, FNP 1,
FNPO, FNMI, ranking flags from the ranking circuit 7, and computable signals in each direction are supplied, and the states of these error flags, ranking flags, and computable signals are determined, and the optimal replacement direction is determined. Specifically, directions with an error flag of "1" (error present) are excluded, and the highest priority direction is determined based on the ranking flags of the remaining directions. A control signal indicating this highest priority direction is supplied to the error correction method selector 58.

任意補間方向決定回路54には、エラーフラグFPPI
、FPPO,FPMI、FPI、FMI、FNPI、F
NPO,FNMIが供給され、これらのエラーフラグの
状態が判断される。すなわち、エラーフラグが「0」 
(エラー無し)である方向が選択され、この方向の補間
処理が可能な制御信号がエラー修整方法セレクタ5日に
供給される。
The arbitrary interpolation direction determining circuit 54 includes an error flag FPPI.
,FPPO,FPMI,FPI,FMI,FNPI,F
NPO and FNMI are supplied, and the states of these error flags are determined. In other words, the error flag is "0"
(no error) is selected, and a control signal that enables interpolation processing in this direction is supplied to the error correction method selector 5.

なお、複数の方向が選択されるときは、H方向、■方向
、D。方向、D一方向の順に優先順位が設定される。
Note that when multiple directions are selected, the H direction, ■ direction, and D direction. Priorities are set in the order of D direction and D direction.

低精度テンポラル置換決定回路55には、エラー修整が
施されるエラーサンプルデータPOの両側の6個のサン
プルデータP3、P2、Pl・ML M2、M3、前フ
レームの対応するラインの7個のサンプルデータLP3
、LP2、LPI。
The low precision temporal replacement determining circuit 55 includes six sample data P3, P2, Pl/ML M2, M3 on both sides of the error sample data PO to be subjected to error correction, and seven samples of the corresponding line of the previous frame. data LP3
, LP2, LPI.

LPOlLMI、LM2、LM3及びこれらのサンプル
データのエラーフラグFP3、FP2、FPl、FMI
、FM2、FM3、FLP3、FLP2、FLP 1、
FLPOlFLMI、FLM2、FLM3が供給される
。この低精度テンポラル置換決定回路56において、上
記エラーフラグが判断され、エラーフラグFLPOが「
O」 (エラー無し)であり、エラーサンプルデータP
Oの各片側の対応する3組のエラーフラグのうちの少な
くとも1組がそれぞれ「0」 (エラー無し)であり、
かつ上記2組の各サンプルデータの差が所定の閾(i 
L T以下のとき、前フレームのサンプルデータLPO
を用いてエラーサンプルデータPOを置換する制御信号
がエラー修整方法セレクタ58に供給される。すなわち
、 FLPO=O。
LPOlLMI, LM2, LM3 and error flags of these sample data FP3, FP2, FPl, FMI
, FM2, FM3, FLP3, FLP2, FLP 1,
FLPO1FLMI, FLM2, and FLM3 are supplied. In this low precision temporal replacement determining circuit 56, the above error flag is determined, and the error flag FLPO is "
O” (no error), and the error sample data P
At least one set of the three sets of corresponding error flags on each side of O is "0" (no error), and
And the difference between the two sets of sample data is determined by a predetermined threshold (i
When less than L T, sample data LPO of the previous frame
A control signal for replacing the error sample data PO using the error correction method selector 58 is provided to the error correction method selector 58. That is, FLPO=O.

FP3・PLP3=O又はFP2=FLP2・O又はF
P1=FLPI=O。
FP3・PLP3=O or FP2=FLP2・O or F
P1=FLPI=O.

FMbFLMl・0又はFM2=FLM2・O又はFM
3・FLM3=O。
FMbFLMl・0 or FM2=FLM2・O or FM
3・FLM3=O.

LPn−Pn  l  ≦LT、   l  LMm−
Mix  I  ≦LT(n、mはエラーフリーの番号
を表す、)の条件を満足するとき、エラーサンプルデー
タPOをサンプルデータLPOで置き換えるのである。
LPn-Pn l ≦LT, l LMm-
When the condition of Mix I≦LT (n and m represent error-free numbers) is satisfied, the error sample data PO is replaced with the sample data LPO.

換言すると、上記高精度テンポラル置換回路52におい
ては、エラーサンプルデータPOの両側6個のサンプル
データ及び対応する前のフレームのサンプルデータが全
てエラーフリー状態でなければならなく、エラーレート
が低い状態のとき、該高精度テンポラル置換が有効であ
り、低精度テンポラル置換□は、高いエラーレートのと
きに有効である。なお、上記閾値LTは小さな値とされ
る。
In other words, in the high-precision temporal replacement circuit 52, the six sample data on both sides of the error sample data PO and the sample data of the corresponding previous frame must all be in an error-free state, and the error rate is low. The high-precision temporal replacement is effective when the error rate is high, and the low-precision temporal replacement □ is effective when the error rate is high. Note that the threshold value LT is a small value.

最近隣置換決定回路56には、エラー修整が施されるエ
ラーサンプルデータPOの両側の4個のエラーフラグF
P2、FPI、FMI、FM2、上のラインの3個のエ
ラーフラグFPPISFPPO,FPMI及び下のライ
ンの3個のエラーフラグFNP 1、FNPO,FNM
Iが供給され、これらのエラーフラグの状態が判断され
る。すなわち、エラーフラグが「0」 (エラー無し)
のサンプルデータのうちで一番近い(最近隣)サンプル
データを用いてエラーサンプルデータPOを置き換える
のである。この最近隣サンプルデータでエラーサンプル
データPOを置き換える制御信号がエラー修整方法セレ
クタ58に供給される。なお、複数のサンプルデータが
使用可能なときは、サンプルデータP1、ML P2、
M2、PP05NPO1PP L PMI、NPISN
MIの順に優先順位が設定される。
The nearest neighbor replacement determining circuit 56 includes four error flags F on both sides of the error sample data PO to be subjected to error correction.
P2, FPI, FMI, FM2, 3 error flags on the upper line FPPISFPPO, FPMI and 3 error flags on the lower line FNP 1, FNPO, FNM
I is supplied and the state of these error flags is determined. In other words, the error flag is "0" (no error)
The nearest (nearest neighbor) sample data among the sample data is used to replace the error sample data PO. A control signal for replacing the error sample data PO with this nearest neighbor sample data is supplied to the error correction method selector 58. Note that when multiple sample data are available, sample data P1, ML P2,
M2, PP05NPO1PP L PMI, NPISN
Priorities are set in the order of MI.

繰り返し置換決定回路57には、エラーフラグFPO及
びリカージーンカウント(再帰計数)メモリ60からの
再帰計数が供給される。ここで、繰り返し置換とは、エ
ラーサンプルデータPOの置き換えを、エラー修整が施
されたサンプルデータを用いて繰り返し行うことをいう
。例えば、エラー修整が施されたサンプルデータを用い
て置換処理で得られたサンプルデータを1世代目とし、
この1世代目のサンプルデータを用いて再び置換処理で
得られるサンプルデータを2世代目とする。
The repeat replacement determination circuit 57 is supplied with the error flag FPO and the recursion count from the recursion count memory 60. Here, repeated replacement refers to repeatedly replacing the error sample data PO using sample data subjected to error correction. For example, the first generation is sample data obtained through replacement processing using error-corrected sample data,
The sample data obtained by performing the replacement process again using this first generation sample data is defined as the second generation.

また、これらの世代の状態を再帰計数(リカーシランカ
ウント)で表すものとする。すなわち、例えば第8図に
示すようにサンプルデータP5はエラーフリー状jIq
(○)にあり、サンプルデータP4、P3、P2、Pl
、poは全てエラー状態(×)にあるとき、サンプルデ
ータP4はエラーフリーサンプルデータP5で置換され
、サンプルデータP3はサンプルデータP4で置換され
て1世代目となる。サンプルデータP2はサンプルデー
タP3で置換されて2世代目となる。サンプルデータP
1はサンプルデータP2で置換されて3世代目となる。
Furthermore, the states of these generations are expressed by recursion counts. That is, for example, as shown in FIG. 8, sample data P5 is in an error-free state jIq
(○), sample data P4, P3, P2, Pl
, po are all in the error state (x), sample data P4 is replaced with error-free sample data P5, and sample data P3 is replaced with sample data P4 to become the first generation. Sample data P2 is replaced with sample data P3 and becomes the second generation. Sample data P
1 is replaced with sample data P2 and becomes the third generation.

サンプルデータPOはサンプルデータPlで置換されて
4世代目となる。第9図に8世代目のサンプルデータの
具体例を示す。上記再帰計数の具体的な値としては、第
1表に示すように各エラー修整の方法によって初期値を
設定し、この初期値に上記繰り返し置換を1回行う毎に
2を加算するものとする。      (以下余白)第
1表 なお、第1表中のデイフォルトテンポラル置換とは、上
記エラー修整方法の全てを用いることができないときに
、前フレームのサンプルデータLPOを用いてエラーサ
ンプルデータPOを置き換えることをいう、また、上記
再帰計数に外部より可変の上限値を設け、上記繰り返し
置換の世代を制限するようにする。すなわち、例えば、
再帰計数の最大値を7として繰り返し置換の世代を4に
制限する。また、再帰計数の最大値をI5として繰り返
し置換の世代を8に制限する。ところで、この再帰計数
は第7図に示すリカージョンカウントメモリ60に記憶
されており、全てのサンプルデータに対応して再帰計数
が設けられている。
The sample data PO is replaced with the sample data Pl and becomes the fourth generation. FIG. 9 shows a specific example of sample data of the 8th generation. As for the specific value of the above recursion coefficient, an initial value is set according to each error correction method as shown in Table 1, and 2 is added to this initial value each time the above repeated substitution is performed. . (Margin below) Table 1 Note that default temporal replacement in Table 1 refers to replacing the error sample data PO using the sample data LPO of the previous frame when all of the above error correction methods cannot be used. In addition, an externally variable upper limit value is provided to the recursion count to limit the generation of the repeated substitutions. That is, for example,
The maximum value of the recursion count is set to 7, and the generations of repeated replacement are limited to 4. Further, the maximum value of the recursion count is set to I5, and the number of generations of repeated replacement is limited to eight. By the way, this recursion count is stored in a recursion count memory 60 shown in FIG. 7, and a recursion count is provided corresponding to all sample data.

繰り返しW換決定回路57において、エラー修整が施さ
れるサンプルデータの前のサンプルデータPI、上のラ
インのサンプルデータPPI、PPOlPMIの位置の
再帰計数が判断され、例えば7以下であって、最小再帰
計数の位置が選択され、この繰り返し置換を行う制御信
号がエラー修整方法セレクタ5日に供給される。また、
この繰り返し置換決定回路57からリカーシランカウン
ト発生器59に、上記選択された位置の再帰計数が送ら
れる。このリカーシランカウント発生器59には、エラ
ー修整方法セレクタ58において繰り返し置換が選択さ
れたことを示す信号が供給され、当該繰り返し置換方法
が選択されたとき、上記選択された位置の再帰計数に2
が加算され、この加算された再帰計数が当該置換が施さ
れた位置の再帰計数として、リカージョンカウントメモ
リ60に新たに記憶される。なお、上記サンプルデータ
P1、PPI、PPOlPMIの位置の各再帰計数が同
し値のときは、サンプルデータPI、ppo、ppi、
PMIの各位置の順に優先順位を設定する。
In the repeated W conversion determination circuit 57, the recursion counts of the sample data PI before the sample data to which error correction is applied, the sample data PPI of the upper line, and the position of PPOlPMI are determined, and are, for example, 7 or less, and the recursion count is the minimum recursion count. The position of the count is selected and a control signal is provided to the error correction method selector 5 to effect this repeated substitution. Also,
The recursion count of the selected position is sent from the repeat replacement determination circuit 57 to the recursion count generator 59. This recursive run count generator 59 is supplied with a signal indicating that the repetitive replacement has been selected in the error correction method selector 58, and when the repetitive replacement method is selected, the recursion count at the selected position is increased by 2.
is added, and this added recursion count is newly stored in the recursion count memory 60 as the recursion count at the position where the permutation has been performed. Note that when the recursion coefficients at the positions of the sample data P1, PPI, PPOlPMI are the same value, the sample data PI, ppo, ppi,
Priority is set in order for each position of PMI.

ここで、上記繰り返し置換決定回路57の具体的回路構
成を第10図に示す。この図において、比較器110乃
至比較器113には、端子100乃至端子103をそれ
ぞれ介してエラー修整が施されるサンプルデータPOの
近傍のサンプルデータP1、PPO,PPI、PMIの
H方向再帰計数、■方向再帰計数、D。方向再帰計数、
D一方向再帰計数がそれぞれ供給される。これらの比較
器110乃至比較器113において、端子104を介し
て供給される外部より可変にすることができる再帰計数
の最大値、例えば7との比較がそれぞれ行われ、少なく
とも1つの再帰計数が7より小さいときに、NANDゲ
ート114から繰り返し置換を行うことができる繰り返
し置換可能信号が端子105から取り出される。また、
上記各再帰計数は再帰方向選択回路115に供給され、
この再帰方向選択回路115において、最小の再帰計数
の位置が選択され、この位置を示す信号が端子106か
ら取り出される。これらの繰り返し置換可能信号及び位
置を示す信号は、上述の繰り返し置換を行う制御信号と
して、第7図に示すエラー修整方法セレクタ回路58に
供給される。
Here, a specific circuit configuration of the iterative replacement determining circuit 57 is shown in FIG. In this figure, comparators 110 to 113 include H-direction recursion counts of sample data P1, PPO, PPI, and PMI near sample data PO to which error correction is applied via terminals 100 to 103, respectively; ■Directional recursion counting, D. directional recursion count,
D one-way recursion counts are provided respectively. In these comparators 110 to 113, a comparison is made with the maximum value of the recursion coefficients that can be made externally variable, for example, 7, which is supplied via the terminal 104, and at least one recursion coefficient is set to 7. When it is smaller, a repeatable replaceable signal is taken from terminal 105 that allows repeatable replacement from NAND gate 114. Also,
Each of the above recursion counts is supplied to a recursion direction selection circuit 115,
In this recursion direction selection circuit 115, the position with the minimum recursion count is selected, and a signal indicating this position is taken out from the terminal 106. These repeatable replacement signals and signals indicating the position are supplied to the error correction method selector circuit 58 shown in FIG. 7 as control signals for performing the above-mentioned repeat replacement.

以上のようにして、最適補間方向決定回路51、高精度
テンポラル置換決定回路52、最適置換方向決定回路5
3、任意補間方向決定回路54、低精度テンポラル置換
決定回路55、最近隣置換決定回路56、繰り返し置換
決定回路57からの各種のエラー修整を行うための制御
信号がエラー修整方法セレクタ58に供給される。この
エラー修整方法セレクタ58において、第2表に示す優
先順位(上から順に)に基づいて、最適なエラー修整方
法が選択される。
As described above, the optimal interpolation direction determining circuit 51, the high-precision temporal replacement determining circuit 52, and the optimal replacement direction determining circuit 5
3. Control signals for performing various error corrections from the arbitrary interpolation direction determination circuit 54, the low-precision temporal replacement determination circuit 55, the nearest neighbor replacement determination circuit 56, and the iterative replacement determination circuit 57 are supplied to the error correction method selector 58. Ru. In this error correction method selector 58, the optimum error correction method is selected based on the priority order (from top to bottom) shown in Table 2.

第2表 なお、第2表中のエラーレートは各エラー修整方法が適
用可能な範囲を示し、同一のエラーレートに対して、複
数のエラー修整方法が適用可能であることを示している
。しかし、該エラーレートはエラー修整方法を決定する
ためには用いられず、上述のようにエラー修整が施され
るサンプルデータの周辺のエラーフラグの状態(エラー
パターン)によってエラー修整方法が決定される0以上
のようにして、エラー修整方法がエラー修整方法セレク
タ58において決定され、このエラー修整方法セレクタ
58からの制御信号によって、エラー修”整が行われる
。以下、各エラー修整方法を説明する。
Table 2 The error rates in Table 2 indicate the applicable range of each error correction method, and indicate that a plurality of error correction methods can be applied to the same error rate. However, the error rate is not used to determine the error correction method, but the error correction method is determined by the state of the error flags (error pattern) around the sample data to be error corrected as described above. The error correction method is determined by the error correction method selector 58 as described above, and error correction is performed in response to a control signal from the error correction method selector 58.Each error correction method will be explained below.

最適補間方向による補間が可能なとき、エラー修整方法
セレクタ58からセレクタ64.66を制御する信号が
送出される。この制御信号により、セレクタ64におい
て、補間処理されたサンプルデータ(補間値P)の1つ
が選択される。すなわち、セレクタ64には、端子73
を介して第2図に示す1次元エラー修整回路2で得られ
たH方向の加重平均値(補間値)Pが供給されている。
When interpolation in the optimum interpolation direction is possible, a signal is sent from the error correction method selector 58 to control the selectors 64 and 66. In response to this control signal, the selector 64 selects one of the interpolated sample data (interpolated value P). That is, the selector 64 has the terminal 73
A weighted average value (interpolated value) P in the H direction obtained by the one-dimensional error correction circuit 2 shown in FIG.

また、例えばV補間回路61には、端子74.75を介
して補間処理が施されるサンプルデータPOの上下のサ
ンプルデータPP01NPOがそれぞれ供給れ、このV
補間回路61において、■方向の補間値p ((PPO
+NPO)/2 )が求められ、このV方向の補間値P
がセレクタ64に供給されている。
Further, for example, the V interpolation circuit 61 is supplied with sample data PP01NPO above and below the sample data PO to be interpolated via terminals 74 and 75, and this
In the interpolation circuit 61, the interpolation value p ((PPO
+NPO)/2) is calculated, and this interpolated value P in the V direction is
is supplied to the selector 64.

また、D、補間図N!62には、端子76.77を介し
て、補間処理が施されるサンプルデータPOの右下がり
対角線上のサンプルデータPPI、NM1がそれぞれ供
給れ、このり、補間回路62において、D、方向の補間
値P ((PP1+NM1)/2 )が求められ、この
り。方向の補間値Pが゛セレクタ64に供給されている
。D−補間回路63には、端子78.79を介して、補
間処理が施されるサンプルデータPOの左下がり対角線
上のサンプルデータPMI、NPIがそれぞれ供給れ、
このD−補間回路63において、D一方向の補間値P(
(PM1+NP1)/2 )が求められ、このD一方向
の補間値Pがセレクタ64に供給されている。以上のよ
うに各方向の補間値Pがセレクタ64に供給され、エラ
ー修整方法セレクタ5日からの制御信号のもとに、上記
最適補間方向決定回路51で決定された方向(修整エラ
ーが最小の方向)の補間値Pが選択され、セレクタ66
を介して端子8に出力される。
Also, D, interpolated diagram N! Sample data PPI and NM1 on the downward diagonal line of the sample data PO to be interpolated are supplied to the interpolation circuit 62 through terminals 76 and 77, respectively, and the interpolation circuit 62 performs interpolation in the D direction. The value P ((PP1+NM1)/2) is calculated. The interpolated value P of the direction is supplied to the selector 64. The D-interpolation circuit 63 is supplied with sample data PMI and NPI on the diagonal line downward to the left of the sample data PO to be interpolated through terminals 78 and 79, respectively.
In this D-interpolation circuit 63, the interpolation value P(
(PM1+NP1)/2) is obtained, and this D one-way interpolation value P is supplied to the selector 64. As described above, the interpolation value P in each direction is supplied to the selector 64, and based on the control signal from the error correction method selector 5, the direction determined by the optimum interpolation direction determining circuit 51 (in which the correction error is the minimum direction) is selected, and the selector 66
It is output to terminal 8 via.

エラー修整方法セレクタ58において、高精度テンポラ
ル置換が選択されたとき、セレクタ66が制御され、端
子88を介して入力される前フレームのサンプルデータ
LPOが端子8に出力される。
When high precision temporal replacement is selected in the error correction method selector 58, the selector 66 is controlled and the sample data LPO of the previous frame inputted via the terminal 88 is outputted to the terminal 8.

エラー修整方法セレクタ58において、最適置換方向に
よるW換が選択されたとき、セレクタ65.66が制御
され、端子80乃至端子87を介してそれぞれ入力され
るサンプルデータPPI、PPO,PMI、PI、Ml
、NPI、NPOlNMIのうちで上記最適置換方向決
定回路53で決定された方向(修整エラーが最小の方向
)のサンプルデータがセレクタ65及びセレクタ66を
介して端子8に出力される。
When the error correction method selector 58 selects the W replacement based on the optimal replacement direction, the selectors 65 and 66 are controlled, and the sample data PPI, PPO, PMI, PI, Ml inputted via the terminals 80 to 87, respectively.
.

エラー修整方法セレクタ58において、任意補間方向に
よる補間が選択されたとき、セレクタ64.66が!l
J?21され、セレクタ64に入力される各方向の補間
値Pのうちで上記任意補間方向決定回路54で決定され
た方向の補間値Pが選択され、セレクタ66を介して端
子8に出力される。
When interpolation in an arbitrary interpolation direction is selected in the error correction method selector 58, the selectors 64 and 66 select ! l
J? 21, and among the interpolated values P in each direction inputted to the selector 64, the interpolated value P in the direction determined by the arbitrary interpolation direction determining circuit 54 is selected and outputted to the terminal 8 via the selector 66.

エラー修整方法セレクタ58において、低精度テンポラ
ル置換が選択さ−れたとき、セレクタ66が制御され、
端子88を介して人力される前フレームのサンプルデー
タLPOが端子8に出力される。
When low precision temporal replacement is selected in the error correction method selector 58, the selector 66 is controlled;
The sample data LPO of the previous frame, which is input manually via the terminal 88, is output to the terminal 8.

エラー修整方法セレクタ58において、最近隣置換が選
択されたとき、セレクタ65.66が制御され、端子8
0乃至端子87を介してそれぞれ入力されるサンプルデ
ータPPI、PPO,PMl、PI、Ml、NPI、N
POSNMIから上記最近隣置換決定回路56で決定さ
れたサンプルデータが選択され、セレクタ66を介して
端子8に出力される。
When nearest neighbor replacement is selected in error correction method selector 58, selectors 65 and 66 are controlled, and terminal 8
Sample data PPI, PPO, PMl, PI, Ml, NPI, N input via terminals 0 to 87, respectively.
The sample data determined by the nearest neighbor replacement determination circuit 56 is selected from the POSNMI and output to the terminal 8 via the selector 66.

エラー修整方法セレクタ58において、繰り返し置換が
選択されたとき、セレクタ65.66が制御され、端子
80乃至端子83を介してそれぞれ入力されるサンプル
データPPI、PPO1PM1、PIから上記繰り返し
置換決定回路57で決定されたサンプルデータが選択さ
れ、セレクタ66を介して端子8に出力される。
When repeat replacement is selected in the error correction method selector 58, the selectors 65 and 66 are controlled, and the repeat replacement determining circuit 57 selects the sample data PPI, PPO1PM1, and PI input via the terminals 80 to 83, respectively. The determined sample data is selected and output to the terminal 8 via the selector 66.

なお、エラー修整方法セレクタ58において、上記エラ
ー修整方法全てを用いることができないと判断されたと
きは、デイフォルト置換とされ、セレクタ66が制御さ
れて端子8日を介して人力される前フレームのサンプル
データLPOが端子8に出力される。
Note that when the error correction method selector 58 determines that all of the above error correction methods cannot be used, default replacement is performed, and the selector 66 is controlled to replace the previous frame manually through the terminal 8. Sample data LPO is output to terminal 8.

以上の説明で明らかなように、補間処理やW換処理によ
りエラー修整を行う場合に、これらのエラー修整の方向
を決定するために用いられる各方向の修整エラーのうち
、エラーサンプルデータの両側の修整エラーの少なくと
も1つの修整エラーが所定の閾値より大きいときは、こ
の方向はエラー修整の方向から除外することにより、エ
ラー修整の結果の予測をより正確に行うことができ、従
来のエラー修整と比較して、より良好なエラー修整を行
うことがきる。
As is clear from the above explanation, when error correction is performed by interpolation processing or W conversion processing, among the correction errors in each direction used to determine the direction of error correction, the errors on both sides of the error sample data are When at least one of the correction errors is larger than a predetermined threshold, this direction is excluded from the direction of error correction, which allows for more accurate prediction of the error correction result, which is different from conventional error correction. By comparison, better error correction can be performed.

なお、第1図に示す各修整精度出力回路の出力値(V修
整エラー、H修整エラー、D。修整エラ、D−修整エラ
ー)について閾値を設けることで、全ての修整エラーが
この閾値より大きいとき、周辺のサンプルデータを用い
た補間処理を行わないようにしてもよい。また、本発明
は、エラーサンプルデータの片側のみの修整エラーを用
いてエラー修整の方向のランク付けを行うように各修整
精度出力回路の誤差演算回路を1つとして回路を簡素化
した場合にも適用することができる。
By setting a threshold value for the output value of each correction accuracy output circuit shown in FIG. 1 (V correction error, H correction error, D. correction error, D-correction error), all correction errors are larger than this threshold value. In this case, interpolation processing using surrounding sample data may not be performed. The present invention also applies to a case where the circuit is simplified by using only one error calculation circuit for each correction accuracy output circuit so as to rank the direction of error correction using correction errors on only one side of error sample data. Can be applied.

H1発明の効果 本発明に係るビデオ信号処理回路によれば、補間処理や
置換処理等によるエラー修整を行う場合、これらの修整
方向を決定するときに、任意方向のエラーサンプルデー
タの両側の修整エラーの平均値を互いに比較して行うの
ではなく、該両側の修整エラーの少なくとも1つが所定
の閾値より大きいときは、該方向はエラー修整の方向か
ら除外し、残りの方向の修整エラーを互いに比較して、
修整エラーが最小である方向を最適なエラー修整の方向
とすることにより、従来のエラー修整に比較して、良好
なエラー修整を行うことができる。
H1 Effects of the Invention According to the video signal processing circuit according to the present invention, when performing error correction by interpolation processing, replacement processing, etc., when determining the direction of these corrections, correction errors on both sides of error sample data in any direction are detected. When at least one of the correction errors on both sides is larger than a predetermined threshold, the direction is excluded from the direction of error correction, and the correction errors in the remaining directions are compared with each other. do,
By setting the direction in which the correction error is minimum as the direction of optimal error correction, better error correction can be performed compared to conventional error correction.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明に係るビデオ信号処理回路の一実施例(
ランキング制御回路)のブロック回路図、第2図は本発
明に係るビデオ信号処理回路を適用したエラー修整装置
のブロック回路図、第3図は1次元エラー修整回路のブ
ロック回路図、第4図は1次元エラー修整回路の動作原
理を説明するためのサンプルデータのエラー状態を示す
因、第5図は2次元エラー修整のときに使用されるサン
プルデータの配置を示す図、第6図は2次元エラー修整
のときに使用されるエラーフラグの配置を示す図、第7
図は2次元エラー修整回路のブロック回路図、第8rf
!J及び第9図は繰り返し置換の具体例を示す図、第1
0図は繰り返し置換決定回路のブロック回路図である。 41 ・ ・ ・ 42 ・ ・ ・ 43 ・ ・ ・ 44 ・ ・ ・ 45 ・ ・ ・ H修整精度出力回路 V修整精度出力回路 り。修整精度出力回路 D−修整精度出力回路 ランキング決定回路 す”、′>Lデー′7のエラー扶麹五示す図第4図
FIG. 1 shows an embodiment of a video signal processing circuit according to the present invention (
2 is a block circuit diagram of an error correction device to which the video signal processing circuit according to the present invention is applied, FIG. 3 is a block circuit diagram of a one-dimensional error correction circuit, and FIG. 4 is a block circuit diagram of a one-dimensional error correction circuit. Figure 5 is a diagram showing the arrangement of sample data used in two-dimensional error correction, and Figure 6 is a two-dimensional error correction circuit. Diagram showing the arrangement of error flags used during error correction, No. 7
The figure is a block circuit diagram of a two-dimensional error correction circuit, No. 8 rf
! J and FIG. 9 are diagrams showing specific examples of repeated substitution, 1st
FIG. 0 is a block circuit diagram of the iterative replacement determination circuit. 41 ・ ・ ・ 42 ・ ・ ・ 43 ・ ・ ・ 44 ・ ・ ・ 45 ・ ・ ・ H modified precision output circuit V modified precision output circuit. Modified accuracy output circuit D--modified accuracy output circuit ranking determination circuit Figure 4 shows the error of ``>L date ``7.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 ビデオ信号のサンプルデータが供給され、サンプルデー
タが誤っているとき、周辺のサンプルデータを用いて当
該エラーサンプルデータの修整を行うビデオ信号処理回
路において、 上記エラーサンプルデータの周辺のサンプルデータを用
いて互いに異なる複数のエラー修整方向の修整エラーを
求める複数の修整エラー算出手段と、 これらの修整エラー算出手段からの出力値のうち、修整
エラー算出手段における中間値あるいは出力値が所定の
閾値より大となる修整エラー出力値を除外して互いに比
較し、その比較結果に応じて上記修整方向のランク付け
を行う方向ランキング手段とを有することを特徴とする
ビデオ信号処理回路。
[Claims] In a video signal processing circuit that, when sample data of a video signal is supplied and the sample data is erroneous, corrects the error sample data using surrounding sample data, a plurality of correction error calculation means for calculating correction errors in a plurality of mutually different error correction directions using sample data of the correction error calculation means; 1. A video signal processing circuit comprising: direction ranking means for excluding correction error output values that are larger than a predetermined threshold value, comparing them with each other, and ranking the correction directions according to the comparison results.
JP1212517A 1989-08-18 1989-08-18 Video signal processing circuit Pending JPH0376480A (en)

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