JPH03165375A - Video signal processing circuit - Google Patents

Video signal processing circuit

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Publication number
JPH03165375A
JPH03165375A JP1305190A JP30519089A JPH03165375A JP H03165375 A JPH03165375 A JP H03165375A JP 1305190 A JP1305190 A JP 1305190A JP 30519089 A JP30519089 A JP 30519089A JP H03165375 A JPH03165375 A JP H03165375A
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JP
Japan
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error
sample data
circuit
correction
error correction
Prior art date
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Application number
JP1305190A
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Japanese (ja)
Inventor
Aran Katonaa Maikeru
マイケル・アラン・カトナー
Kaichi Tatezawa
立沢 加一
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Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
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Filing date
Publication date
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Publication of JPH03165375A publication Critical patent/JPH03165375A/en
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Abstract

PURPOSE:To enable the execution of most satisfactory error correction over a wide range as much as possible by using corrected sample data for the correction processing of error sample data and varying an upper limit value in the number of times for repeating the correction. CONSTITUTION:To the sample data and an error flag supplied to an input terminal 1, the error correction is executed concerning a horizontal direction by a one-dimensional error correcting circuit 2. Next, the respective sample data of lines are supplied to a two-dimensional error correcting circuit 3 corresponding to the current line, upper line, lower line and current line before one frame from the circuit 2 and line delay circuit 4-6. Then, the error correction is executed by a control signal, etc., from a ranking control circuit 7. A threshold value in the number of times for repeating the correction to be set to the ranking control circuit 7 can be set from an external part and made variable. Thus, since the number of times for repeating a repeated replacement processing using the sample data, to which the error correction is already executed, is controlled, the error correction can be executed corresponding to the kind of a picture, etc.

Description

【発明の詳細な説明】 本発明を以下の順序で説明する。[Detailed description of the invention] The present invention will be explained in the following order.

A、産業上の利用分野 B1発明の概要 C0従来の技術 り1発明が解決しようとする課題 E0課題を解決するための手段 F2作用 G、実施例 G−1,基本構成(第1図) G−20本発明を適用したエラー修整装置全体の構成(
第2図) G−3,1次元エラー修整回路 (第3図、第4図) G−4,2次元エラー修整回路 (第1図、第5図乃至第11図) B1発明の効果 A、産業上の利用分野 本発明は、ビデオ信号処理回路に関し、特にビデオ信号
のエラー修整を行うビデオ信号処理回路に関する。
A. Industrial field of application B1 Overview of the invention C0 Prior art 1 Problem to be solved by the invention E0 Means for solving the problem F2 Effect G. Example G-1. Basic configuration (Fig. 1) G -20 Configuration of the entire error correction device to which the present invention is applied (
(Figure 2) G-3, One-dimensional error correction circuit (Figures 3, 4) G-4, Two-dimensional error correction circuit (Figures 1, 5 to 11) B1 Effects of the invention A, INDUSTRIAL APPLICATION FIELD The present invention relates to a video signal processing circuit, and more particularly to a video signal processing circuit for correcting errors in a video signal.

B1発明の概要 本発明は、ビデオ信号のサンプルデータの内のエラーサ
ンプルデータをエラー修整するビデオ信号処理回路にお
いて、エラー修整の際に既修整サンプルデータを用いる
際の修整の繰り返し回数をカウントするカウント手段を
設け、このカウント手段からのカウント値が所定の上限
値を超えるような修整を行わないと共に、この上限カウ
ント値を可変とすることにより、高エラーレートでも可
能な既修整データを用いたエラー修整を行わせると共に
、このときの修整の繰り返し回数の上限値を変えること
でエラー修整形態を可変とし、例えば動画と静止画、動
きが早い画面と動きが遅い画面、あるいはエラーレート
等に応して、最適のエラー修整を行うようにしたもので
ある。
B1 Summary of the Invention The present invention provides a counter that counts the number of times correction is repeated when corrected sample data is used for error correction in a video signal processing circuit that corrects errors in error sample data of sample data of a video signal. By providing a means to prevent corrections that would cause the count value from this counting means to exceed a predetermined upper limit value, and by making this upper limit count value variable, errors using already corrected data that are possible even at high error rates can be prevented. In addition to making corrections, the error correction format can be made variable by changing the upper limit of the number of times the correction is repeated, for example, depending on video and still images, fast-moving screens and slow-moving screens, or error rates. The system is designed to perform optimal error correction.

C9従来の技術 例えば、VTR(ビデオテープレコーダ)からの再生さ
れたビデオ信号のサンプルデータの誤りに対しては、誤
り訂正符号を用いた誤り訂正処理が行われる。更に、こ
れらの誤り訂正処理で訂正ができなかったサンプルデー
タについては、誤すが無い他のサンプルデータ(エラー
フリーサンプルデータ)を用いた補間処理や置換処理等
の方法により、エラー修整(誤り6M 整>を行ってい
る。
C9 Prior Art For example, error correction processing using an error correction code is performed for errors in sample data of a video signal reproduced from a VTR (video tape recorder). Furthermore, for the sample data that could not be corrected by these error correction processes, error correction (error 6M I am doing some sorting.

このエラー修整は、ビデオ信号処理過程において、誤り
検出や誤り訂正の処理の後で、ビデオテープを出力する
前に行われるものであり、ビデオ画像の固有の冗長性を
利用して、訂正不可のエラーサンプルデータの新たな値
を捕間や置換等により作成している。
This error correction is performed in the video signal processing process, after error detection and error correction processing, but before outputting the videotape, and takes advantage of the inherent redundancy of video images to correct uncorrectable errors. A new value of the error sample data is created by interpolation, replacement, etc.

ここで、誤っているサンプルデータ(エラーサンプルデ
ータ)を修整するためのエラー修整方法の種Mhしては
、エラーサンプルデータの同一ラインドで両側のサンプ
ルデータを用いて補間(水平(I()方向の補間)する
方法、エラーサンプルデータの上下ラインJ二の同し位
置のサンプルブタを用いて補間(垂直(V)方向の補間
)する方法、エラーサンプルデータの右下がりの対角線
方向の近傍サンプルデータを用いて補間(D、方向の補
間)する方法、エラーサンプルデータの左下がりの対角
線上の近傍サンプルデータを用いて捕間(D一方向の補
間)する方法、時間的相関関係が高い前フレーム(ある
いはフィールド)のエラーフリーサンプルデータでfl
Aする方法、エラサンプルデータの近傍サンプルデータ
で置換する方法等が知られている。
Here, the error correction method Mh for correcting incorrect sample data (error sample data) is interpolation (horizontal (I() direction) using sample data on both sides in the same line of error sample data. method of interpolation (interpolation in the vertical (V) direction) using sample pigs at the same position on the upper and lower lines J2 of the error sample data, neighboring sample data in the downward diagonal direction of the error sample data A method of interpolation using (D, direction interpolation), a method of capturing using neighboring sample data on the diagonal line downward to the left of the error sample data (D one-way interpolation), a previous frame with high temporal correlation. (or field) with error-free sample data fl
A method of replacing error sample data with neighboring sample data, etc. are known.

D1発明が解決しようとする課題 ところで、VTRから再生さ机るサンプルデータのエラ
ーレートが非常に高いときは、補間処理や置換処理に用
いるサンプルデータがほとんどエラー状態となり、上記
通常の補間処理や置換処理を行うことができない場合が
ある。
D1 Problem to be Solved by the Invention By the way, when the error rate of sample data reproduced from a VTR is extremely high, most of the sample data used for interpolation processing and replacement processing will be in an error state, and the normal interpolation processing and replacement processing described above will be in an error state. Processing may not be possible.

しかしながら、実際のエラー修整としては、広い範囲の
訂正不可エラーレート、例えばノーマル再生時の実質的
に0%から高速のテープツヤトル時の略々100%まで
に亘って、機能することが望まれている。
However, in actual error correction, it is desired to function over a wide range of uncorrectable error rates, for example, from virtually 0% during normal playback to approximately 100% during high-speed tape gloss. .

本発明は、上述の実情に鑑みてなされたものであり、エ
ラーレートが略々100%程度と非常に高い場合でも、
可能な範囲で最良のエラー修整が行えるようなビデオ信
号処理過程の促供を目的とする。
The present invention was made in view of the above-mentioned circumstances, and even when the error rate is very high, approximately 100%,
The objective is to facilitate a video signal processing process that provides the best possible error correction.

E3課題を解決するための手段 本発明に係るビデオ信号処理回路は、ビデオ信号のサン
プルデータが供給さてし、サンプルデータがエラーのと
き、他のサンプルデータを用いて当該エラーサンプルデ
ータの修整処理を行うエラ修整処理手段と、上記エラー
サンプルデータの修整処理に既修整サンプルデータを用
いる際の修整の繰り返し回数をカウントするカウント手
段とを有し、該カウント手段からのカウント値が所定の
上限値を超えるような修整を行わないと共に、上記」−
限カウント値を可変とすることにより、上記課題を解決
する。
E3 Means for Solving Problem The video signal processing circuit according to the present invention is provided with sample data of a video signal, and when the sample data has an error, performs correction processing on the error sample data using other sample data. and a counting means for counting the number of times the correction is repeated when the already corrected sample data is used for the correction processing of the error sample data, and the count value from the counting means exceeds a predetermined upper limit value. Do not make any modifications that exceed the above.
The above problem is solved by making the limit count value variable.

F1作用 修整されたビデオサンプルデータを用いることにより、
高エラーレートでもエラー修整を可能とすると共に、こ
のときの修整の繰り返し回数(すなわち再帰的な修整回
数)の上限値を変えることでエラー修整の形態を可変と
している。
By using F1 effect corrected video sample data,
Error correction is possible even at a high error rate, and the form of error correction is made variable by changing the upper limit of the number of repetitions of correction (that is, the number of recursive corrections).

G、実施例 以下、本発明に係るビデオ信号処理回路の一実施例を図
面を参照しながら説明する。
G. Embodiment Hereinafter, an embodiment of a video signal processing circuit according to the present invention will be described with reference to the drawings.

G−1,基本構成(第1図) 例えば、VTR(ビデオテープレコーダ)からの再生さ
れたビデオ信号のサンプルデータの誤りに対しては、誤
り訂正符号等を用いた誤り訂正処理が施される。更にこ
れらの誤り訂正処理で訂正できなかったサンプルデータ
(エラーサンプルデータ)については、誤りが無いサン
プルデータ(エラーフリーサンプルデータ)を用いた補
間処理や置換処理、さらにはエラー修整が既に施された
サンプルデータを用いた置換処理が行われる。
G-1, Basic configuration (Figure 1) For example, for errors in sample data of a video signal reproduced from a VTR (video tape recorder), error correction processing is performed using an error correction code, etc. . Furthermore, for sample data that could not be corrected by these error correction processes (error sample data), interpolation processing and replacement processing using sample data without errors (error-free sample data), and further error correction have already been performed. Replacement processing using sample data is performed.

これらの補間処理や置換処理を行うエラー修整装置全体
のブロック回路図を第2図に示す。この第2図に示すよ
うに、上記補間処理や置換処理はエラー修整が施される
エラーサンプルデータと同一ライン上のサンプルデータ
を用いてエラー修整を行う1次元エラー修整(1次元エ
ラー修整回路2)と、エラー修整が施されるエラーサン
プルデータの周辺のサンプルデータを用いてエラー修整
を行う2次元エラー修整(2次元エラー修整回路3)と
からなる。
FIG. 2 shows a block circuit diagram of the entire error correction device that performs these interpolation processes and replacement processes. As shown in FIG. 2, the interpolation processing and replacement processing are performed using one-dimensional error correction (one-dimensional error correction circuit 2 ) and a two-dimensional error correction circuit (two-dimensional error correction circuit 3) that performs error correction using sample data around the error sample data to which error correction is applied.

上記2次元エラー修整回路3の具体的な構成を第1図に
示す。この第1図に示すように、2次元エラー修整は、
端子73乃至端子79を介して入力されるエラーサンプ
ルデータの周辺のエラーフリーサンプルデータを用いて
補間処理を行う部分(最適捕間方向決定回路51、任意
補間方向決定回路54、エラー修整方法セレクタ5日、
補間回路61乃至補間回路63、セレクタ64.66で
構成される)と、端子80乃至端子87を介して人力さ
れるエラーサンプルデータの周辺のエラーフリーサンプ
ルデータを用いて置換処理を行う部分(最適置換方向決
定回路53、最近隣置j桑決定回路56、エラー修整方
法セレクタ5日、セレクタ65.66で構成される)と
、端子8Bを介して入力される前フレームのエラーサン
プルデータを用いて時間的な置換処理を行う部分(高4
11度テンポラル置換決定回路52、低積度テンポラル
置換決定回路55、エラー修整方法セレクタ58、セレ
クタ66で構成される)と、端子80乃至端子87介し
て人力されるエラー修整が既に施されたサンプルデータ
を用いて置換処理を行う部分(繰り返し置換決定回路5
7、リカージョンカウント発生回路59、リカージョン
カウントメモリ60、エラー修整方法セレクタ58、セ
レクタ65.66で構成される)とから構成される。
A specific configuration of the two-dimensional error correction circuit 3 is shown in FIG. As shown in Figure 1, two-dimensional error correction is
A part that performs interpolation processing using error-free sample data around error sample data inputted through terminals 73 to 79 (optimum capture direction determination circuit 51, arbitrary interpolation direction determination circuit 54, error correction method selector 5) Day,
A section that performs replacement processing using error-free sample data around error sample data input manually via terminals 80 to 87 (composed of interpolation circuits 61 to 63 and selectors 64 and 66) (consisting of a replacement direction determining circuit 53, a nearest neighbor determining circuit 56, an error correction method selector 5, and selectors 65 and 66), and the error sample data of the previous frame inputted through the terminal 8B. Part that performs temporal replacement processing (high school 4th grade)
11 degree temporal replacement determination circuit 52, low integration temporal replacement determination circuit 55, error correction method selector 58, and selector 66), and a sample that has already been subjected to error correction manually input through terminals 80 to 87. A part that performs replacement processing using data (repetitive replacement determination circuit 5
7, a recursion count generation circuit 59, a recursion count memory 60, an error correction method selector 58, and selectors 65 and 66).

本発明に係るビデオ信号処理回路においては、この2次
元エラー修整回路における上記エラー修整が既に施され
たサンプルデータを用いて、修整処理(特に置換処理)
を繰り返し再帰的に行うようにしている。
In the video signal processing circuit according to the present invention, correction processing (particularly replacement processing) is performed using sample data that has already been subjected to the above error correction in this two-dimensional error correction circuit.
I am trying to do this repeatedly and recursively.

G−24本発明を適用したエラー修整装置全体の構成(
第2図) 第2図は本発明を適用したエラー修整装置全体の構成を
示し、この第2図において、入力端子1には、例えば、
VTR,(ビデオテープレコーダ)からの再生ビデオ信
号に誤り訂正処理等を施した後のビデオ信号のサンプル
データ及び該サンプルデータに対応するエラーフラグが
供給されている。
G-24 Overall configuration of error correction device to which the present invention is applied (
FIG. 2) FIG. 2 shows the overall configuration of an error correction device to which the present invention is applied. In this FIG. 2, the input terminal 1 has, for example,
Sample data of a video signal after error correction processing and the like are applied to a reproduced video signal from a VTR (video tape recorder) and an error flag corresponding to the sample data are supplied.

通常、この人力サンプルデータには、上記誤り訂正処理
によっては訂正しきれなかったエラーサンプルデータが
含まれており、上記エラーフラグは、これらのエラーサ
ンプルデータを識別するために用いられる。これらのエ
ラーフラグは、エラー訂正処理回路において、サンプル
データに誤りがあるときに、セット状Bt(例えば「l
」)とされ、サンプルデータに誤りがないときにリセン
ト状態(「Oj)とされる。
Normally, this manual sample data includes error sample data that could not be completely corrected by the error correction process, and the error flag is used to identify these error sample data. These error flags are set in the error correction processing circuit when there is an error in the sample data.
''), and when there is no error in the sample data, it is in the recent state (Oj).

これらのサンプルデータ及びエラーフラグは1次元エラ
ー修整回路2に供給され、この1次元エラー修整回1路
2において、水平方向(ライン方向)についてのエラー
修整(1次元エラー修整)が行われる。この1次元エラ
ー修整が施されたサンプルデータは2次元エラー修整回
路3、ライン遅延回路4及びランキング制御回路7に供
給される。
These sample data and error flags are supplied to a one-dimensional error correction circuit 2, where error correction (one-dimensional error correction) in the horizontal direction (line direction) is performed. The sample data subjected to one-dimensional error correction is supplied to a two-dimensional error correction circuit 3, a line delay circuit 4, and a ranking control circuit 7.

2次元エラー修整回路3には、1次元エラー修整回路2
の出力に対して1ライン(lH−1水平走査期間)遅延
した上記ライン遅延回路4からのサンプルデータ、1次
元エラー修整回路2の出力に対して2ライン遅延したラ
イン遅延回路5からのサンプルデータ及びライン遅延回
路4の出力に対して1フレーム(IF=2垂直走査時間
)遅延したフレーム遅延回路6からのサンプルデータが
供給されている。すなわち、ライン遅延回路4からのサ
ンプルデータを基準にすると、1次元エラー修整回路2
からのサンプルデータはl H進んでおり、ライン遅延
回路5からのサンプルデータはlH遅延しており、フレ
ーム遅延回路6からのサンプルデータはIF遅延してい
る。換言すると、現在のライン、上のライン、下のライ
ン及びlフレーム前の現在のラインに対応するラインの
各サンプルデータが、この2次元エラー修整回路3に供
給される。
The two-dimensional error correction circuit 3 includes the one-dimensional error correction circuit 2.
Sample data from the line delay circuit 4 delayed by one line (lH-1 horizontal scanning period) with respect to the output of , sample data from the line delay circuit 5 delayed by two lines with respect to the output of the one-dimensional error correction circuit 2 Sample data from a frame delay circuit 6 delayed by one frame (IF=2 vertical scanning times) with respect to the output of the line delay circuit 4 is supplied. That is, based on the sample data from the line delay circuit 4, the one-dimensional error correction circuit 2
The sample data from the frame delay circuit 6 is delayed by lH, the sample data from the line delay circuit 5 is delayed by lH, and the sample data from the frame delay circuit 6 is delayed by IF. In other words, each sample data of the current line, the upper line, the lower line, and the line corresponding to the current line one frame before is supplied to the two-dimensional error correction circuit 3.

この2次元エラー修整回路3では、上記4つのラインF
のサンプルデータを用いて最適なエラー修整が行われる
。すなわち、この2次元エラー修整回路3は、例えば複
数方向の補間処理、前のフレームの同じ位置のサンプル
データを用いてエラーサンプルデータを置き換える置換
処理、近傍のサンプルデータを用いてエラーサンプルデ
ータを置き換える置換処理等の各種エラー修整機能を有
し、この2次元エラー修整回路3において、ランキング
制御回路7からの制御信号(後述するランキングフラグ
)等によって、例えば近傍サンプルデータと最も変化が
少な(なるような(最適な)エラー修整が行われる。す
なわち、ランキング制御回路7には、1次元エラー修整
回路2、ライン遅延回路4.5からのサンプルデータ及
び各エラーフラグが供給され、このランキング制御回路
7において、各サンプルデータ及び各エラーフラグに基
づいて最適な2次元エラー修整方向が決定され、この結
果が制御信号として2次元エラー修整回路3に供給され
る。
In this two-dimensional error correction circuit 3, the above four lines F
Optimal error correction is performed using the sample data. That is, this two-dimensional error correction circuit 3 performs, for example, interpolation processing in multiple directions, replacement processing for replacing error sample data using sample data at the same position in the previous frame, and replacement processing for error sample data using neighboring sample data. It has various error correction functions such as replacement processing, and in this two-dimensional error correction circuit 3, the control signal (ranking flag to be described later) from the ranking control circuit 7 is used to select the data that has the least change from neighboring sample data. In other words, the ranking control circuit 7 is supplied with sample data and each error flag from the one-dimensional error correction circuit 2 and the line delay circuit 4.5, and the ranking control circuit 7 In this step, the optimum two-dimensional error correction direction is determined based on each sample data and each error flag, and this result is supplied to the two-dimensional error correction circuit 3 as a control signal.

ところで、上記各入力サンプルデータは、例えば8ビ、
ノドから成り、16進で[01)から「FE」までの値
をとり、これらの8とノドのデータの演算や判断等を行
うことにより、上述のエラー修整を行うものである。な
お、エラー修整後のサンプルデータハ、16aで「00
」から「FF」のイ直となるようにしてもよい。また、
カラービデオ信号の場合、端子lには、1つの画素に対
して、例えば輝度信号のサンプルデータ、色差信号のサ
ンプルデータ及び輝度信号及び色差信号の各サンプルデ
ータ対応したエラーフラグがそれぞれ供給される。この
とき、輝度信号のサンプリング周波数は色差信号のサン
プリング周波数の2倍であり、輝度信号のサンプルデー
タは色差信号のサンプルデータより帯域が広く、より詳
細な情報を含んでいる。すなわち、輝度信号のサンプル
データ及びエラーフラグは、輝度信号及び色差信号のエ
ラー修整に対して、エラー修整の方向を決定するのに良
好な予測性を有している。したがって、通常、輝度信号
のサンプルデータ及びエラーフラグが、最適なエラー修
整の方向を決定するのに用いられる。なお、1画素に対
する輝度信号のエラーフラグと色差信号のエラーフラグ
とが異なるときは、輝度信号のエラー修整と色差信号の
エラー修整とをそれぞれ最適な方向で行うようにする。
By the way, each of the above input sample data is, for example, 8-bit,
It consists of a node and takes values from [01) to "FE" in hexadecimal, and the above-mentioned error correction is performed by performing calculations and judgments on these 8 and node data. Note that the sample data after error correction is "00" in 16a.
” to “FF”. Also,
In the case of a color video signal, error flags corresponding to, for example, sample data of a luminance signal, sample data of a color difference signal, and each sample data of the luminance signal and color difference signal are supplied to a terminal l for one pixel. At this time, the sampling frequency of the luminance signal is twice the sampling frequency of the color difference signal, and the sample data of the luminance signal has a wider band and contains more detailed information than the sample data of the color difference signal. That is, the sample data and error flag of the luminance signal have good predictability for determining the direction of error correction for error correction of the luminance signal and color difference signal. Therefore, sample data of the luminance signal and error flags are typically used to determine the optimal error correction direction. Note that when the error flag of the luminance signal and the error flag of the color difference signal for one pixel are different, the error correction of the luminance signal and the error correction of the color difference signal are respectively performed in the optimal direction.

以上のようにして、前段のエラー訂正処理過程において
エラー訂正ができなかったエラーサンプルデータのエラ
ー修整が行われる。
As described above, error correction is performed on the error sample data that could not be corrected in the previous error correction process.

(、−3,1次元エラー修整回路(第3図、第4図)第
2図に示す1次元エラー修整回路2の詳細を第3図、第
4図を用いて説明する。
(, -3, One-dimensional error correction circuit (FIGS. 3 and 4) Details of the one-dimensional error correction circuit 2 shown in FIG. 2 will be explained with reference to FIGS. 3 and 4.

この第3図に示すように、1次元エラー修整回路は、誤
りがあるサンプルデータと同一ライン上の該エラーサン
プルデータの両側の複数のサンプルデータの加重平均値
を用いてエラー修整を行う可変長補間処理部とエラーサ
ンプルデータと同一ライン上の該エラーサンプルデータ
の近傍のサンプルデータの1つを用いてエラーサンプル
データを置き換える置換処理部とに大別することができ
る。上記可変長捕間処理部は、第2図に示す端子1を介
して人力されるエラー修整が施されるエラーサンプルデ
ータPOの両側の複数のサンプルデータを用いて加重平
均値を演算する可変長補間処理回路11と、同じく第2
図に示す端子lを介して入力される上記各サンプルデー
タに対応したエラーフラグを判別し、判別結果に基づい
゛ζ加垂平均に用いるサンプルデータの個数及び加重平
均の係数を制御するサンプル数制御回路13がら構成さ
れる。また、上記置換処理部は、上記サンプルデータの
うちで誤りがないサンプルデータの1つを用いてエラー
サンプルデータを;置き換える置換処理回路12と、上
記エラーフラグを判別し、判別結iに基づいて1換処理
に用いるサンプルデータを決定する置換モード制御回路
14がら構成される。可変長補間処理回路11及び置換
処理回路12からのエラー修整が施された各サンプルデ
ータはセレクタ16に供給され、このセレクタ16にお
いて、補間処理が可能なときは、補間処理によって得ら
れたサンプルデータが端子18から取り出され、′4i
lt間処理が不可能なときは、置換処理で得られたサン
プルデータが端子18から取り出され、勿論サンプルデ
ータにエラーが無いときは、該サンプルデータが端子1
日から取り出される。
As shown in FIG. 3, the one-dimensional error correction circuit is a variable length error correction circuit that performs error correction using the weighted average value of a plurality of sample data on both sides of the error sample data on the same line as the error sample data. It can be roughly divided into an interpolation processing section and a replacement processing section that replaces the error sample data using one of the sample data near the error sample data on the same line as the error sample data. The variable length interpolation processing unit is a variable length interpolation processing unit that calculates a weighted average value using a plurality of sample data on both sides of error sample data PO to which error correction is manually inputted via terminal 1 shown in FIG. The interpolation processing circuit 11 and the second
Sample number control that determines the error flag corresponding to each sample data inputted through the terminal l shown in the figure, and controls the number of sample data used for the ζ additive average and the coefficient of the weighted average based on the determination result. It consists of a circuit 13. The replacement processing unit also includes a replacement processing circuit 12 that replaces the error sample data using one of the sample data without errors among the sample data, and a replacement processing circuit 12 that determines the error flag and based on the determined result i. It consists of a permutation mode control circuit 14 that determines sample data to be used in the permutation process. Each error-corrected sample data from the variable length interpolation processing circuit 11 and the replacement processing circuit 12 is supplied to the selector 16, and when interpolation processing is possible, the sample data obtained by the interpolation processing is is taken out from terminal 18 and '4i
When the inter-lt processing is not possible, the sample data obtained by the replacement process is taken out from the terminal 18. Of course, if there is no error in the sample data, the sample data is taken out from the terminal 1.
taken out from the sun.

この出力サンプルデータは第2図に示す2次元エラー修
整回路3に供給される。
This output sample data is supplied to a two-dimensional error correction circuit 3 shown in FIG.

次に、この1次元エラー修整回路の具体的な動作につい
て説明する。
Next, the specific operation of this one-dimensional error correction circuit will be explained.

この1次元エラー修整回路2には、第3図に示すように
ビデオ信号の同一ライン上の、例えば7個のサンプルデ
ータP3、P2、PI%PO1M1、M2、M3及びこ
れらのサンプルデータに対応するエラーフラグFP3、
FP2、FPI、FPO,FMI、FM2、FM3が供
給される。上記サンプルデータPOはエラー修整が施さ
れるサンプルデータであり、サンプルデータP1、P2
、P3は、サンプルデータPOの左側の近い方から順に
3個のサンプルデータであり、サンプルデータMl、M
2、M3は、サンプルデータPOの右側の近い方から順
に3個のサンプルデータである。
This one-dimensional error correction circuit 2 includes, for example, seven sample data P3, P2, PI%PO1M1, M2, M3 on the same line of the video signal, as shown in FIG. error flag FP3,
FP2, FPI, FPO, FMI, FM2, and FM3 are supplied. The above sample data PO is sample data to which error correction is applied, and sample data P1, P2
, P3 are three pieces of sample data in order from the one closest to the left of the sample data PO, and the sample data Ml, M
2 and M3 are three pieces of sample data in order from the closest one on the right side of the sample data PO.

これらのサンプルデータP3、P2、Pl、Ml、M2
、M3は可変長補間処理回路11及び置換処理回路12
に供給される。一方エラーフラグF P3、FP2、F
PI、FMI、FM2、FM3は、サンプル数制御回路
13及び置換モード制御回路14に供給される。また、
サンプルデータPO及びエラーフラグFPOは、ラッチ
15及びセレクタ16に供給される。
These sample data P3, P2, Pl, Ml, M2
, M3 is a variable length interpolation processing circuit 11 and a replacement processing circuit 12
is supplied to On the other hand, error flag F P3, FP2, F
PI, FMI, FM2, and FM3 are supplied to a sample number control circuit 13 and a replacement mode control circuit 14. Also,
Sample data PO and error flag FPO are supplied to latch 15 and selector 16.

上記サンプル数制御回路13において、エラー修整が施
されるエラーサンプルデータPOの両側の複数のサンプ
ルデータのエラーフラグの状態の判断が行われ、エラー
フラグが「l」 (エラー有り)であるサンプルデータ
を除外して加重平均処理を行わせる制御信号が可変長補
間処理回路11に供給される。第3図に示す具体例では
、6個のエラーフラグFP3、FP2、FPI、FMI
、FM2、FM3の判断が行われ、「l」 (エラー有
り)であるサンプルデータを除外して加重平均処理を行
わせる制御信号が可変長補間処理回路11に供給される
。そして、可変長補間処理回路11において、サンプル
データP3、P2、PI。
In the sample number control circuit 13, the state of the error flags of a plurality of sample data on both sides of the error sample data PO to be subjected to error correction is determined, and the sample data whose error flag is "l" (error present) is determined. A control signal is supplied to the variable length interpolation processing circuit 11 to perform weighted average processing while excluding . In the specific example shown in FIG. 3, six error flags FP3, FP2, FPI, FMI
, FM2, and FM3, and a control signal is supplied to the variable length interpolation processing circuit 11 to exclude sample data that is "l" (with error) and perform weighted average processing. Then, in the variable length interpolation processing circuit 11, the sample data P3, P2, PI.

Ml、M2、M3のうちで上記エラーフラグが「l」 
(エラー有り)であるサンプルデータを除外して加重平
均処理が行われる。ここで、第4図に示す具体例を説明
する。なお、この図に示すOはエラーフリーサンプルデ
ータを示し、×はエラーサンプルデータを示し、△は左
右のサンプルデータ対のうち少なくとも1つがエラーサ
ンプルデータであることを示し、口はエラー状態を考慮
しないサンプルデータを示す。
The above error flag is "l" among Ml, M2, and M3
Weighted average processing is performed by excluding sample data (with errors). Here, a specific example shown in FIG. 4 will be explained. In addition, O shown in this figure indicates error-free sample data, × indicates error sample data, △ indicates that at least one of the left and right sample data pairs is error sample data, and the opening indicates that an error state is taken into consideration. Shows sample data that does not.

第4図のaに示すように、エラーフラグタFP3、FP
2、FPI、FMI、FM2、FM3が全て’0」 (
エラー無し)であり、エラー修整が施されるエラーサン
プルデータPOの両側の6個のサンプルデータP3、P
2、Pl、Ml、M2、M3全てがエラーフリー状態(
6サンプル使用)のとき、加重平均の係数をK1.に2
、K3とし、加重平均値Pを、 P 41 x (Pi十旧)÷に2X (P2+M2)
+に3X (P:bM3)とする。
As shown in FIG. 4a, error flag data FP3, FP
2. FPI, FMI, FM2, and FM3 are all '0' (
6 sample data P3, P on both sides of the error sample data PO to which error correction is applied (no error).
2. Pl, Ml, M2, and M3 are all error-free (
(using 6 samples), the weighted average coefficient is set to K1. to 2
, K3, and the weighted average value P is P 41 x (Pi ten years old) ÷ 2X (P2 + M2)
+3X (P:bM3).

第4図のしに示すようにエラーフラグFP2、FPI、
FMI、FM2が全て「0」 (エラー無し)であり、
エラーフラグFP3、FM3の少なくとも1つが「l」
 (エラー有り)であり、エラー修整が施されるエラー
サンプルデータPOの両側の4個のサンプルデータP2
、PI、Ml、M2がエラーフリー状態(4サンプル使
用)のとき、加重平均値Pを、 P・にIX(PI+旧)+に2X(P2+12)とする
As shown in the box of FIG. 4, the error flags FP2, FPI,
FMI and FM2 are all “0” (no error),
At least one of error flags FP3 and FM3 is "l"
(There is an error), and the four sample data P2 on both sides of the error sample data PO to which error correction is applied
, PI, Ml, and M2 are in an error-free state (using 4 samples), the weighted average value P is set to P.IX(PI+old)+2X(P2+12).

第4図のCに示すようにエラーフラグFPI及びFMI
が「0」 (エラー無し)であり、エラーフラグFP2
、FM2の少なくとも1つが11゜(エラー有り)であ
り、エラー修整が施されるエラーサンプルデータPOの
両側の2個のサンプルデータPi、、Mlがエラーフリ
ー状態(2サンプル使用)のとき、加重平均値Pを、 P 、に1 x (PL+M1) とする。
As shown in Figure 4C, the error flags FPI and FMI
is “0” (no error), and the error flag FP2
, FM2 is 11° (with error), and two sample data Pi, , Ml on both sides of the error sample data PO to be subjected to error correction are in an error-free state (two samples are used), the weighted Let the average value P be 1 x (PL+M1).

以、トのようにして可変長補間処理回路11で得られた
加重平均値Pは、セレクタ16に供給される。ところで
、上記の係数群に1、K2、K3の値としては、回路構
成の容易性、構成部品点数等を考慮し、片体的には下記
のような値を用いる。
Hereinafter, the weighted average value P obtained by the variable length interpolation processing circuit 11 as described in (g) is supplied to the selector 16. By the way, as the values of 1, K2, and K3 in the above coefficient group, the following values are used in consideration of ease of circuit configuration, number of component parts, etc.

2サンプル使用のとき、 Kl=I/2・0.5. K2=に3・0とする。When using 2 samples, Kl=I/2・0.5. Set K2= to 3.0.

4サンプル使用のとき、 に1・1/2+1/8+1/16・0.6875に2・
−(1/2+1/4)/4・−0,1875,K3=0
 とする。
When using 4 samples, 1・1/2+1/8+1/16・2・0.6875
-(1/2+1/4)/4・-0,1875,K3=0
shall be.

6サンプル使用のとき、 K1=1/2+1/4・0.75. K2・−(1/2
+ 1/8) /2・−0,3125に3・l/16・
0.0625とする。
When using 6 samples, K1=1/2+1/4・0.75. K2・-(1/2
+ 1/8) /2・-0,3125 to 3・l/16・
It is set to 0.0625.

次に、第3回に示す置換処理部(置換処理回路12、置
換モード制御回路14)の説明をする。
Next, the replacement processing section (replacement processing circuit 12, replacement mode control circuit 14) shown in the third section will be explained.

ヒ述の第4図のa、b、、cに示す3つのエラーモード
以外のときは、次に述べる置換処理が、置換モード制御
回路14の制御のちとに置換処理回路I2において行わ
れる。
In cases other than the three error modes shown in a, b, . . . c of FIG.

置換モード制御回路14において、エラーフラグFPI
、FMIの状態が判断され、エラーフラグFl)1.F
MIの少なくとも1つが「1」 (エラー有り)のとき
、サンプルデータP1.Mlのうちのエラーフリーサン
プルデータを用いてエラーサンプルデータPOの置き換
えが行われる。
In the replacement mode control circuit 14, the error flag FPI
, the state of the FMI is determined and the error flag Fl)1. F
When at least one MI is "1" (error present), sample data P1. The error sample data PO is replaced using the error free sample data of Ml.

エラーフラグFPI及びFMIが「IJ (エラー有り
)であって、エラーフラグFP2、FM2の少なくとも
1つが「0」 (エラー無し)のとき、サンプルデータ
P2、M2のうちのエラーフリサンプルデータを用いて
エラーサンプルデータPOの置き換えが行われる。なお
、エラーフラグFP2、FM2の両方が「0」 (エラ
ー無し)のときは、サンプルデータP2が優先して用い
られる。
When the error flags FPI and FMI are "IJ (error present)" and at least one of the error flags FP2 and FM2 is "0" (no error), error-free sample data of sample data P2 and M2 is used. The error sample data PO is replaced. Note that when both error flags FP2 and FM2 are "0" (no error), sample data P2 is used preferentially.

エラーフラグFP2、FPI、FMl、FM2が全て「
l」 (エラー有り)であって、エラーフラグFP3、
FM3の少なくとも1つがrQ。
Error flags FP2, FPI, FMl, and FM2 are all "
l” (there is an error), and the error flag FP3,
At least one of FM3 is rQ.

(エラー無し)のとき、サンプルデータP3、M3のう
ちのエラーフリーサンプルデータを用いてエラーサンプ
ルデータPOの置換処理が行われる。
(No error), error-free sample data of the sample data P3 and M3 is used to replace the error sample data PO.

なお、エラーフラグFP3、FM3の両方が「0」(エ
ラー無し)のときは、サンプルデータP3が優先して用
いられる。
Note that when both error flags FP3 and FM3 are "0" (no error), sample data P3 is used with priority.

エラー7ラグFP3、FP2、FPI、FMI、FM2
、FM3の全てが「l」 (エラー有り)のときには、
最後のエラーフリーサンプルデータを用いてエラーサン
プルデータPOの置き換えが行われる。ここで、最後の
エラーフリーサンプルデータとは、ラッチ15に設けら
れた1サンプルデ一タ分のメモリを同一ライン上のエラ
ーフリーサンプルデータで順次更新しておき、この記憶
されているサンプルデータをいう。
Error 7 Lag FP3, FP2, FPI, FMI, FM2
, when all of FM3 is "l" (error exists),
The last error-free sample data is used to replace the error sample data PO. Here, the last error-free sample data means that the memory for one sample data provided in the latch 15 is sequentially updated with error-free sample data on the same line, and this stored sample data is say.

以上のようにして、置換処理が施されたサンプルデータ
がセレクタ16に供給される。すなわち、セレクタ16
には、可変長補間処理回路11で得られたサンプルデー
タ(加重平均値)、置換処理回路12で得られたサンプ
ルデータ及びサンプルデ ’)POの3つのサンプルデ
ータが供給され、補間/置換処理制御回路17からの制
御信号及びエラーフラグFPO状態に基づいて1つのサ
ンプルデータが選択され、端子18から取り出される。
As described above, the sample data subjected to the replacement process is supplied to the selector 16. That is, the selector 16
is supplied with three sample data: sample data (weighted average value) obtained by the variable-length interpolation processing circuit 11, sample data obtained by the replacement processing circuit 12, and sample data (sample de')PO, and then performs the interpolation/replacement processing. One piece of sample data is selected based on the control signal from the control circuit 17 and the state of the error flag FPO, and is taken out from the terminal 18.

すなわら、セレクタ16において、エラーフラグFPO
が「0.(エラー無し)のときは、サンプルデータPO
が取り出され、エラーフラグFPOが「1」 (エラー
有り)であって、上記補間処理が可能なときは、可変長
補間処理回路11からの上記加重平均値P(補間処理を
施したサンプルブタ)が取り出され、補間処理ができな
いときは、置換処理回路12からの上記置換処理で得ら
れたサンプルデータが取り出される。この出力サンプル
データは、第2図に示す2次元エラー修整回路3等に供
給される。
In other words, in the selector 16, the error flag FPO
is "0. (no error), the sample data PO
is extracted, the error flag FPO is "1" (error present), and the above interpolation process is possible, the above weighted average value P (sample pig subjected to interpolation process) from the variable length interpolation processing circuit 11 is extracted, and when interpolation processing cannot be performed, sample data obtained by the above replacement processing is extracted from the replacement processing circuit 12. This output sample data is supplied to the two-dimensional error correction circuit 3 shown in FIG. 2, etc.

(、−4,2次元エラー修整回路 (第1図、第5図乃至第11図) 以上のようにして1次元エラー修整が施された後のサン
プルデータは、第2図に示す2次元エラー修整回路3に
おいて2次元エラー修整が施される。この2次元エラー
修整回路3では、エラーサンプルデータと同一ライン上
及び上下ライン上の該エラーサンプルデータの周辺のサ
ンプルデ−タや前フレームの同し位置のサンプルデータ
等を用いて補間処理や置換処理によるエラー修整が行わ
れる0例えば、エラーサンプルデータの周辺のサンプル
データを用いた複数方向の補間処理、前のフレームの同
じ位置のサンプルデータを用いてエラーサンプルデータ
を置き換える置換処理、近傍のサンプルデータを用いて
エラーサンプルデータを置き換える置換処理等が行われ
る。
(, -4, Two-dimensional error correction circuit (Fig. 1, Fig. 5 to Fig. 11) The sample data after one-dimensional error correction has been applied as described above has two-dimensional errors shown in Fig. 2. Two-dimensional error correction is performed in the correction circuit 3.The two-dimensional error correction circuit 3 processes sample data around the error sample data on the same line as the error sample data and on the lines above and below it, as well as the same sample data in the previous frame. For example, interpolation processing in multiple directions using sample data around the error sample data, sample data at the same position of the previous frame, etc. Replacement processing in which the error sample data is replaced using sample data, replacement processing in which the error sample data is replaced using neighboring sample data, and the like are performed.

これらの捕間処理、置換処理の結果が近傍サンプルデー
タと最も変化が少なくなる(最適な)方向を予測し、こ
れらの方向の13先1頭位(ランキング)を決定するラ
ンキング制御回路7について説明する。ここで、1次元
エラー修整回路2、ライン遅延回路4.5、フレーム遅
延回路6から得られる各サンプルデータを第5図に示し
、これらのサンプルデータに対応するエラーフラグを第
6図に示す、第5図に示すように、エラー修整が施され
るサンプルデータPOと同一ライン(現在のライン)上
の咳サンプルデータPOの両側の6つのサンプルデータ
を、P3、P2、PI、Ml、、M2、M3とし、上の
ライン」−の各サンプルデータを、PP3、PP2、P
 P ]、PPO1PMI、PM2、PM3とし、下の
ライン上の各サンプルデータを、NF2、NF2、NP
I、NPOlNMl、NM2、N M 3とし、1フレ
ーム前の現在のラインに対応するライン上の各サンプル
データを、L P 3、LP2、LPI LPO2LM
l、LM2.1M3とする。また、第6図に示すように
、上記各サンプルデータに対応するエラーフラグを、そ
れぞれFPOlF P 3、PP2、l?P I、FM
I、FM2、FM3、FPP3、FPP2、FPPl、
、FPPOlFPMl、FPM2、FPM3、FNP3
、FNP2、FNPl、FNPOlFNMl、FNM2
、FNM3、FLP3、FLP2、FLPl、FLPO
lFLMI、Fl、M2、FLM3とする。
A description will be given of the ranking control circuit 7 that predicts the (optimal) direction in which the results of these interpolation processing and replacement processing have the least change from the neighboring sample data, and determines the 1st place (ranking) ahead of 13 in these directions. do. Here, each sample data obtained from the one-dimensional error correction circuit 2, line delay circuit 4.5, and frame delay circuit 6 is shown in FIG. 5, and error flags corresponding to these sample data are shown in FIG. As shown in FIG. 5, the six sample data on both sides of the cough sample data PO on the same line (current line) as the sample data PO to which error correction is applied are P3, P2, PI, Ml, , M2. , M3, and each sample data of the upper line "-" is PP3, PP2, P
P ], PPO1PMI, PM2, PM3, and each sample data on the lower line is NF2, NF2, NP
I, NPOlNMl, NM2, NM3, and each sample data on the line corresponding to the current line one frame before is L P3, LP2, LPI LPO2LM
1, LM2.1M3. In addition, as shown in FIG. 6, error flags corresponding to each of the above sample data are set to FPOIF P3, PP2, l?, respectively. PI, F.M.
I, FM2, FM3, FPP3, FPP2, FPPl,
, FPPOlFPML, FPM2, FPM3, FNP3
,FNP2,FNPl,FNPOlFNMl,FNM2
, FNM3, FLP3, FLP2, FLPl, FLPO
Let them be lFLMI, Fl, M2, and FLM3.

第7図は、ランキング制御回路7の具体的な回路構成を
示す図である。この第7図において、H修整精度出力回
路41は、H方向のエラー修整の精度を、エラーサンプ
ルデータの近傍でのH方向の修整エラーに基づいてP測
するためのものであり、エラー修整が施されるエラーサ
ンプルデータPOのヒのライン上のサンプル1−夕を用
いて修整エラーJ 7ff算するl((tl)誤差演算
回路41aと、同しく下のう、インのサンプルデータを
用いて修整エラーを演算するH([1)誤差演算回路4
1bと、該1((U)誤差演算回路41aの出力と)i
 (D)誤差演算回路111bの出力との平均値を演算
するモ均値/セレクタ回路41cから構成される。
FIG. 7 is a diagram showing a specific circuit configuration of the ranking control circuit 7. As shown in FIG. In FIG. 7, the H correction accuracy output circuit 41 is for measuring the accuracy of error correction in the H direction based on the correction error in the H direction in the vicinity of the error sample data. Calculate the corrected error J7ff using the samples 1-1 on the line A of the error sample data PO to be applied ((tl) using the error calculation circuit 41a and the sample data of H ([1) error calculation circuit 4 that calculates correction errors
1b, and the 1 ((U) output of the error calculation circuit 41a) i
(D) It is composed of a mean value/selector circuit 41c that calculates the average value with the output of the error calculation circuit 111b.

すなわち、H(lt)誤差演算回路41aには、例えば
エラー修整が施されるナンプルデータPOO上のライン
のサンプルデータl’P1..P、PO1PMl及びエ
ラーフラグFPPI、FPPO,,FPMlが供給され
、H方向の第1の修整エラーPP0− (PPト、P旧
)/21 が求めらy+、る。また、II (D)誤差/3i算回
路41bには、例えばエラー修整が施されるサンプルデ
ータPOの下のラインのサンプルデータNPI、NPO
lNMI及びエラーフラグFNr’l、FNPO,FN
MIが供給され、H方向の第2の修整エフ− NPO−(NPI十N門])/2 が求められる。これらの第1、第2の修整エラーは平均
値/セレクタ回路41cに供給される。この平均値/セ
、レクタ回路41cにおいて、上記H方向の第1、第2
の修整エラーの平均値を求める演算が行われる。すなわ
ち、11方向の修整エラーE(H)。
That is, the H(lt) error calculation circuit 41a receives, for example, sample data l'P1. .. P, PO1PMl and error flags FPPI, FPPO, . In addition, the II (D) error/3i arithmetic circuit 41b includes, for example, sample data NPI and NPO of the line below the sample data PO to which error correction is applied.
lNMI and error flags FNr'l, FNPO, FN
MI is supplied, and a second correction F-NPO-(NPI 10N gates])/2 in the H direction is determined. These first and second corrected errors are supplied to an average value/selector circuit 41c. In this average value/cell, in the collector circuit 41c, the first and second
A calculation is performed to find the average value of the correction errors. That is, the correction error E(H) in 11 directions.

E(II)=(l  F’PO−(PPl+P門l)ノ
21十 l NPO−(NPI ÷NMI)/2 + 
 )/2が求められる。この+1方向の修整エラーE 
()()はランキング決定回路45に供給される。なお
、上記11方向の修整エラー巳(旧は、例えば上述の1
次元エラー修整における加重平均の演算式を用いて E C)l)・0.5x (l PP0−(0,75x
 (ppt÷P門l)0.3125 X (PP2+P
M2> +0.0625 X (PP3+PM3) )
+1IIPO−(0,75X(NP1+NMI)0.3
125 x (NP2÷NM2)÷〇、0625X (
NP3+NM3)) l )としてもよい。また、例え
ば上記H方向の第1の修整エラーi PP0−(PPl
+P門1)/2  :の演算に用いられるサンプルデー
タPPIのエラーフラグFPPlが「1」 (エラー有
り)のときは、H方向の修整エラーE (H)を E(II)・I NFO−(NPl+NM1)/2とす
る。また、例えば上記H方向の第1の修整エラーIPρ
0−(PPl+PM1)/2 1の演算に用いられるサ
ンプルデータPPIのエラーフラグFPPI及び上記H
方向の第2の修整エラーi NPO−(NPl+NM1
)/21の演算に用いられるサンプルデータNPIのエ
ラーフラグFNP 1が[1J (エラー有り)のとき
は、H方向の修整エラーE (H)は演算できないもの
とし、H方向のH演算可能信号を出力端子46を介して
、第2図に示す2次元エラー修整回路3に送出する。
E (II) = (l F'PO- (PPl + P gate l) no 210 l NPO- (NPI ÷ NMI) / 2 +
)/2 is required. This +1 direction correction error E
()() are supplied to the ranking determination circuit 45. Note that the correction errors in the 11 directions mentioned above (in the old case, for example,
Using the weighted average calculation formula in dimensional error correction, E C)l)・0.5x (l PP0-(0,75x
(ppt÷P gate l)0.3125 X (PP2+P
M2> +0.0625 X (PP3+PM3))
+1IIPO-(0,75X(NP1+NMI)0.3
125 x (NP2÷NM2)÷〇, 0625X (
NP3+NM3)) l) may also be used. Also, for example, the first correction error i in the H direction is PP0-(PPl
+P gate 1)/2: When the error flag FPPl of the sample data PPI used for the calculation is "1" (error present), the correction error E (H) in the H direction is converted to E(II)・I NFO−( NPl+NM1)/2. Further, for example, the first correction error IPρ in the H direction
0-(PPl+PM1)/2 Error flag FPPI of sample data PPI used for calculation of 1 and the above H
Second correction error in direction i NPO−(NPl+NM1
)/21 when the error flag FNP 1 of the sample data NPI is [1J (error present), it is assumed that the correction error E (H) in the H direction cannot be calculated, and the H calculation possible signal in the H direction is The signal is sent to the two-dimensional error correction circuit 3 shown in FIG. 2 via the output terminal 46.

また、上記H方向の第1、第2の修整エラーは、所定の
閾値Tと比較される。この比較の結果、少なくとも1つ
の修整エラーが所定の閾値T以上のときは、当該H方向
は2次元エラー修整の最適な方向として考慮しないよう
にする。すなわち、この11方向はエラー修整の方向か
ら除外し、他の方向のエラー修整を行うのである。なお
、上記閾値Tの値は可変なものとし、外部から設定でき
るものとする。この閾値Tを小さくすることにより、最
適な2次元エラー修整の方向決定の精度を高くすること
ができるが、多くの位置においてエラー修整の方向が決
定できなくなる。反対に閾値Tを大きくすることにより
、多くの位置においてエラー修整の方向決定の精度が悪
くなる。
Further, the first and second correction errors in the H direction are compared with a predetermined threshold T. As a result of this comparison, if at least one correction error is greater than or equal to the predetermined threshold T, the H direction is not considered as the optimal direction for two-dimensional error correction. In other words, these 11 directions are excluded from the error correction directions, and error correction is performed in other directions. Note that the value of the threshold T is variable and can be set externally. By reducing this threshold T, it is possible to increase the accuracy of determining the direction of optimal two-dimensional error correction, but the direction of error correction cannot be determined at many positions. On the other hand, by increasing the threshold T, the accuracy of determining the direction of error correction becomes worse at many positions.

■修整精度出力回路42は、■方向のエラー修整の精度
を、エラーサンプルデータの近傍での■方向の修整エラ
ー(修整誤差)に基づいて予測するためのものであり、
例えばエラー修整が施されるエラーサンプルデータPO
の左側のサンプルデータP1及び該サンプルデータPI
の上下のサンプルデータPPI、NPIを用いて修整エ
ラーを演算するV (L)誤差演算回路42aと、同じ
くサンプルデータPOの右側のサンプルデータM1及び
該サンプルデータMlの上下のサンプルデータPMI、
NMIを用いて修整エラー(修整誤差)を演算するV 
(R)誤差/it算回路42bと、これらのV (L)
誤差演算回路42aの出力とV (R)誤差演算回路4
2bの出力との平均値を演算する平均値/セレクタ回路
42cとから構成される。
The ■ correction accuracy output circuit 42 is for predicting the accuracy of error correction in the ■ direction based on the correction error (correction error) in the ■ direction in the vicinity of the error sample data,
For example, error sample data PO to which error correction is applied
The sample data P1 on the left side and the sample data PI
V (L) error calculation circuit 42a that calculates a correction error using sample data PPI and NPI above and below, sample data M1 on the right side of sample data PO and sample data PMI above and below the sample data Ml,
V that calculates the correction error (correction error) using NMI
(R) Error/it calculation circuit 42b and these V (L)
Output of error calculation circuit 42a and V (R) error calculation circuit 4
2b and an average value/selector circuit 42c that calculates an average value with the output of 2b.

すなわち、V(L)Sv差演算回路42a、V (R)
誤差演算回路42b、平均値/セレクタ回路42Cにお
いて、例えば■方向の第1の修整エラーPl−(PP1
+NP1)/2 ■方向の第2の修整エラー 門1− (PMl+N門1)/2 ■方向の修整エラーE (V) E(V)=(! Pi−(PI”1+NP1)/2 l
 + l Ml−(PP1+NP1)/2 l )/2
がそれぞれ求められる。このV方向の修整エラーE (
V)はランキング決定回路45に供給される。
That is, V(L)Sv difference calculation circuit 42a, V (R)
In the error calculation circuit 42b and the average value/selector circuit 42C, for example, the first correction error Pl-(PP1
+NP1)/2 Second correction error gate 1- (PMl+N gate 1)/2 in ■ direction Correction error E (V) E(V)=(! Pi-(PI”1+NP1)/2 l
+ l Ml-(PP1+NP1)/2 l )/2
are required respectively. This V-direction correction error E (
V) is supplied to the ranking determination circuit 45.

なお、H方向の修整エラーを求めるときと同様に、修整
エラーが演算できないときはV演算可能信号が出力端子
47を介して、第2図に示す2次元エラー修整回路3に
出力される。また、第1、第2の修整エラーが所定の闇
値下より大きいが否がか判断され、閾値Tより大きいと
きは当該V方向は2次元エラー修整の最適な方向として
考慮されないようになされる。
Note that, similarly to when determining the correction error in the H direction, when the correction error cannot be calculated, a V calculation enable signal is outputted to the two-dimensional error correction circuit 3 shown in FIG. 2 via the output terminal 47. Further, it is determined whether the first and second correction errors are larger than a predetermined darkness value or not, and when they are larger than the threshold T, the V direction is not considered as the optimal direction for two-dimensional error correction. .

D、修整精度出力回路43は、D、方向のエラー修整の
精度を、エラーサンプルデータの近傍でのり、方向の修
整エラーに基づいて予測するためのものであり、例えば
エラー修整が施されるエラーサンプルデータPOの左側
のサンプルデータP1及び該サンプルデータPIの右下
がり対角線上の両側のサンプルデータPP2、NPOを
用いて修整エラーを演算するり、(L)誤差演算回路4
3aと、同じくサンプルデータPOの右側のサンプルデ
ータMl及び該サンプルデータMlの右下がり対角線上
の両側のサンプルデータPP01N M 2を用いて修
整エラーを演算するり、(R)誤差演算回路43bと、
該り、(L)誤差演算回路43aの出力とり、(R)誤
差演算回路43bの出力との平均値を演算する平均(l
i/セレクタ回路43cがら構成される。
The correction accuracy output circuit 43 is for predicting the accuracy of error correction in the direction D based on the correction error in the direction near the error sample data. (L) Error calculation circuit 4
3a, the sample data Ml on the right side of the sample data PO and the sample data PP01N M2 on both sides of the diagonal line downward to the right of the sample data Ml are used to calculate a correction error, and (R) an error calculation circuit 43b;
Then, the average value (L) of the output of the error calculation circuit 43a and the average value of (R) the output of the error calculation circuit 43b is calculated.
It is composed of an i/selector circuit 43c.

すなわち、上記り、(1,)誤差演算回路43a、D。That is, as described above, (1,) error calculation circuits 43a, D.

(R)誤差演算回路43b、平均値/セレクタ回路43
cにおいて、例えばD9方向の第1の修整エフ− Pl−(T’P2+NPO)/2 D、方向の第2の修整エラー ■−(PPO+NM2) /2 D、方向の修整エラーE (D、 )  ;E(D、)
=(l PI−(PP2+NPO)/2+ 旧−(PP
O+NM2) /2・)/2がそれぞれ求められる。こ
のり、方向の修整エラーE (D、 )はランキング決
定回路45に供給される。なお、H方向の修整エラーを
求めるときと同様に、修整エラーが/jiXできないと
きはり、演算可能信号が出力端子48を介して、第2図
に示す2次元エラー修整回路3に出力される。また、第
1、第2の修整エラーが所定の閾値Tより大きいか否か
が判断され、閾値Tより大きいときは当該り、方向は2
次元エラー修整の最適な方向として考慮されないように
なされる。
(R) Error calculation circuit 43b, average value/selector circuit 43
In c, for example, the first correction error in the D9 direction F-Pl-(T'P2+NPO)/2 D, the second correction error in the direction ■-(PPO+NM2)/2 D, the correction error in the direction E (D, ); E(D,)
=(l PI-(PP2+NPO)/2+ old-(PP
O+NM2)/2・)/2 are obtained, respectively. Additionally, the directional correction error E (D, ) is supplied to the ranking determination circuit 45 . Note that, similarly to when determining the correction error in the H direction, when the correction error cannot be determined by /jiX, a computation enable signal is outputted to the two-dimensional error correction circuit 3 shown in FIG. 2 via the output terminal 48. Further, it is determined whether the first and second correction errors are larger than a predetermined threshold T, and if they are larger than the threshold T, then the direction is 2.
It is made so that it is not considered as the optimal direction for dimensional error correction.

D−修整精度出力回路44は、D一方向のエラー修整の
精度を、エラーサンプルデータの近傍でのD一方向の修
整エラーに基づいて予測するためのものであり、例えば
エラー修整が施さ、れるエラーサンプルデータPOの左
側のサンプルデータP1及び該サンプルデータPIの左
下がり対角線上の両側のサンプルデータPP01NP2
を用い゛ζ修整エラーを演算するD −(L)誤差′f
J算回路44aと、同じくサンプルデータPOの右側の
サンプルデータM1及び該サンプルデータMlの左下が
り対角線上の両側のサンプルデータPM2、NPOを用
いて修整エラーを演算するD −(R)誤差/ji算回
路44bと、該D −(L)誤差演算回路44aの出力
とD −(R)誤差演算回路44bの出力との平均値を
演算する平均値/セレクタ回路44cから構成される。
The D-correction accuracy output circuit 44 is for predicting the accuracy of error correction in one direction of D based on the correction error in one direction of D in the vicinity of error sample data. Sample data P1 on the left side of the error sample data PO and sample data PP01NP2 on both sides of the diagonal line downward to the left of the sample data PI.
D − (L) error ′f
D − (R) error/ji which calculates a correction error using the J arithmetic circuit 44a and the sample data M1 on the right side of the sample data PO and the sample data PM2 and NPO on both sides of the diagonal line downward to the left of the sample data Ml. It is composed of an arithmetic circuit 44b and an average value/selector circuit 44c that calculates the average value of the output of the D-(L) error arithmetic circuit 44a and the output of the D-(R) error arithmetic circuit 44b.

すなわち、上記D −(L)誤差演算回路44a、D(
R)誤差演算回路44b1平均(1!/セレクタ回路4
4cにおいて、例えばD一方向の第1の修整エフ− PL−(PP2+NPO)/2 D一方向の第2の修整エラー Ml−(PM2今!IPO) /2 D一方向の修整エラーE (D−)  ;E(D−)・
(:Pi−(r’PO+NP2)/2+ 1M1− (
PP2+NPO)/2 ! )/2がそり、ぞれ求めら
れる。このり、方向の修整エラーE (D−)はランキ
ング決定回路45に供給される。なお、H方向の修整エ
ラーを求めるときと同様に、修整エラーが演算できない
ときはD−演算可能信号が出力端子49を介して、第2
図に示す2次元エラー修整回路3に出力される。また、
第1、第2の修整エラーが所定の閾値Tより大きいか否
かが判断され、閾値Tより大きいときは当1亥り一方向
は2次元エラー修整の最適な方向として考慮されないよ
うになされる。
That is, the D-(L) error calculation circuit 44a, D(
R) Error calculation circuit 44b1 average (1!/selector circuit 4
4c, for example, the first correction error in one direction of D - PL-(PP2+NPO)/2 The second correction error in one direction of D Ml- (PM2 now! IPO) /2 The correction error in one direction of D E (D- ) ;E(D-)・
(:Pi-(r'PO+NP2)/2+ 1M1- (
PP2+NPO)/2! )/2 can be found respectively. Additionally, the direction correction error E (D-) is supplied to the ranking determination circuit 45. Note that, similarly to when calculating the correction error in the H direction, when the correction error cannot be calculated, the D-calculation possible signal is sent to the second
It is output to the two-dimensional error correction circuit 3 shown in the figure. Also,
It is determined whether the first and second correction errors are larger than a predetermined threshold T, and if they are larger than the threshold T, one direction is not considered as the optimal direction for two-dimensional error correction. .

次に、ランキング決定回路45において、上記で除外さ
れていない残りの修整エラーE (H)、E (V)、
E (D、 )、E (D−)が互いに比較され、値が
小さい順に修整方向ランキング(優先順位)が決定され
る。なお、各方向の修整エラー値が等しいときは、H方
向、■方向、D、方向、D一方向の順に優先順位がある
ものとされる。このランキング制御回路45からのラン
キングフラグ(複数ビット)は、第2図に示す2次元エ
ラー修整回路3に供給される。
Next, in the ranking determination circuit 45, the remaining correction errors E (H), E (V), which have not been excluded above,
E (D, ) and E (D-) are compared with each other, and a modification direction ranking (priority order) is determined in order of decreasing value. Note that when the correction error values in each direction are the same, priority is given in the order of the H direction, the {circle around (2)} direction, the D direction, and the D direction. The ranking flag (multiple bits) from the ranking control circuit 45 is supplied to the two-dimensional error correction circuit 3 shown in FIG.

この2次元エラー修整回路3の具体的な回路構成が前述
の第1図のようになっている。この第1図に示す2次元
エラー修整回路の入力端子70には、上述したようなエ
ラー修整を行おうとする点の周辺のエラーフラグ(例え
ばPPPI、FPPO2FPMI、FPI、FMI、F
NPl、、FNPOlFNMI)が供給されており、入
力端子71及び72には、第2図に示すランキング制御
回路7からのランキングフラグ及び各方向の演算可能信
号が供給されている。2次元エラー修整回路は、これら
のランキングフラグ、各方向の演算可能信号やエラーフ
ラグ等を用いてエラー修整が施されるエラーサンプルデ
ータPOの周辺のエラー状態を判断し、最適なエラー修
整方法を決定する最適補間方向決定回路51、高精度の
テンポラル(時間的)置換決定回路52、最適置換方向
決定回路53、任意補間方向決定回路54、低精度テン
ポラル置換決定回路55、最近藺置換決定回路56、繰
り返し置換決定回路57及びエラー修整方法セレクタ3
Bで構成される部分と、決定されたエラー修整方法に基
づき、実際の補間処理装置tQ処理を行う■補間回路6
1、D、捕間回路62、D−補間回路63、セレクタ6
4.65.66で構成される部分とからなる。以下、上
記各回路を順に説明する。
The specific circuit configuration of this two-dimensional error correction circuit 3 is as shown in FIG. 1 described above. The input terminal 70 of the two-dimensional error correction circuit shown in FIG.
NPl, . The two-dimensional error correction circuit uses these ranking flags, computable signals in each direction, error flags, etc. to determine the error state around the error sample data PO to be subjected to error correction, and determines the optimal error correction method. Optimum interpolation direction determining circuit 51, high precision temporal replacement determining circuit 52, optimal replacement direction determining circuit 53, arbitrary interpolation direction determining circuit 54, low precision temporal replacement determining circuit 55, most recent replacement determining circuit 56 , repeated replacement determination circuit 57 and error correction method selector 3
■Interpolation circuit 6 that performs the actual interpolation processing device tQ processing based on the part consisting of B and the determined error correction method.
1, D, interpolation circuit 62, D-interpolation circuit 63, selector 6
4.65.66. Each of the above circuits will be explained in order below.

第1図において、最適補間方向決定回路51には、エラ
ー修整が施されるエラーサンプルデータ20周辺のサン
プルデータのエラーフラグFPP1、FPPOS rp
Mx、rpt; FMI、FNPl、ビNPO,FNM
I、上記ランキング制御回路7からのランキングフラグ
及び各方向の演算可能信号が供給され、これらのエラー
フラグ、ランキングフラグ及び演算可能信号の状態が判
断され、M適な補間方向が決定される。具体的には、エ
ラーフラグが「1」 (エラー有り)である方向を除外
し、ランキングフラグに基づいて最優先の方向が決定さ
れる。この最優先の方向を示す制御信号がエラー修整方
法セレクタ5日に供給される。
In FIG. 1, the optimum interpolation direction determining circuit 51 stores error flags FPP1 and FPPOS rp of sample data around error sample data 20 to which error correction is applied.
Mx, rpt; FMI, FNPl, BiNPO, FNM
I, the ranking flag and computable signals in each direction are supplied from the ranking control circuit 7, the states of these error flags, ranking flags, and computable signals are determined, and an appropriate interpolation direction is determined. Specifically, directions with an error flag of "1" (error present) are excluded, and the highest priority direction is determined based on the ranking flag. A control signal indicating this highest priority direction is supplied to the error correction method selector 5.

すなわち、ランキング制御回路7において修整エラーが
最小と判断された方向であっζも、この方向の補間処理
に用いられるサンプルデータがエラー状態にあるときは
、この方向は選択されず、次に優先順位が高い方向が選
択される。
In other words, even if the ranking control circuit 7 determines that the correction error is the smallest, if the sample data used for interpolation processing in this direction is in an error state, this direction will not be selected and will be given the next priority. The direction where is higher is selected.

高精度テンポラル置換決定回路52には、エラー修整が
施されるエラーサンプルデータPQの両側の6個のサン
プルデータP3、P2、r’l、Ml、M2、M3、前
フレームの対応するラインの7個のサンプルデータLP
3、LP2、LPI、LPOlLMI、1M2、LM3
、これらのサンプルデータのエラーフラグFP3、FP
2、FPl、FMI、FM2、FM3、FLP3、FL
P2、FLPI、FLPO,FLMI、F l−M 2
、F L M 3が供給され、上記エラーフラグが判断
され、時間的(時間軸上の)置換処理が可能か否がが決
定される。上記エラーフラグの全てがrQ。
The high-precision temporal replacement determination circuit 52 includes six sample data P3, P2, r'l, Ml, M2, M3 on both sides of the error sample data PQ to which error correction is applied, and seven sample data on the corresponding line of the previous frame. sample data LP
3, LP2, LPI, LPOLMI, 1M2, LM3
, these sample data error flags FP3, FP
2, FPl, FMI, FM2, FM3, FLP3, FL
P2, FLPI, FLPO, FLMI, F l-M 2
, FLM3 are supplied, the error flag is judged, and it is determined whether or not temporal (on the time axis) replacement processing is possible. All of the above error flags are rQ.

(エラー無し)であり、かつ対応するサンプルデータ同
士の差が所定の閾値HT以下のとき、前フレームのサン
プルデータLPOを用いてエラーサンプルデータPOを
置換する制御信号がエラー修整方法セレクタ58に供給
される。具体的には、FP3・FP2:FP1=FM1
=I’M2=F門3・F[、P3:FLP2・l?LP
l=I’LPo工FL、’ll・FLM2二FLM3=
OLP3−P3 ’≦HT、  l 1.Ml−門t 
: <or。
(no error) and the difference between the corresponding sample data is less than or equal to a predetermined threshold HT, a control signal for replacing the error sample data PO with the sample data LPO of the previous frame is supplied to the error correction method selector 58. be done. Specifically, FP3・FP2:FP1=FM1
=I'M2=F gate 3・F[, P3:FLP2・l? LP
l=I'LPoENGFL,'ll・FLM22FLM3=
OLP3-P3'≦HT, l 1. Ml-phylum t
: <or.

LP2−P2・≦)IT、  l 1M2−M2 +≦
IITLPI−Pi ’≦11T、苓LM3−M31≦
IITの条件全てを満足するとき、エラーサンプルデー
タPOをサンプルデータLPOで置き換えるのである。
LP2-P2・≦)IT, l 1M2-M2 +≦
IITLPI-Pi'≦11T, LM3-M31≦
When all the IIT conditions are satisfied, the error sample data PO is replaced with the sample data LPO.

すなわち、エラーサンプルデータPOの両側の6個のサ
ンプルデータが時間的に余り変化しないときは、エラー
サンプルデータPOも時間的に変化がないものとして置
換を行うのである。なお、上記間(f HTは小さな値
とされる。
That is, when the six sample data on both sides of the error sample data PO do not change much over time, replacement is performed on the assumption that the error sample data PO also does not change over time. Note that during the above period (f HT is assumed to be a small value).

最適置換方向決定回路53には、エラーフラグFPP1
..Fl)PO,FPMi Fl’l、FMI。
The optimum replacement direction determining circuit 53 has an error flag FPP1.
.. .. Fl'l, FMI.

FNPI、FNPO,FNMI、ランキング回路7から
のランキングフラグ及び各方向の演算可能信号が供給さ
れ、これらのエラーフラグ、ランキングフラグ及び演算
可能信号の状嘘が判断され、最適な置換方向が決定され
る。具体的には、エラーフラグがrl、(エラーイfす
)である方向を除外し、残りの方向のランキングフラグ
に基づい°ζ最優先の方向が決定される。この最1z先
の方向を示す制御信号がエラー修整方法セレクク5日に
供給される。
FNPI, FNPO, FNMI, ranking flags from the ranking circuit 7, and computable signals in each direction are supplied, and the states of these error flags, ranking flags, and computable signals are determined, and the optimal replacement direction is determined. . Specifically, directions with error flags rl, (error if) are excluded, and the direction with the highest priority is determined based on the ranking flags of the remaining directions. A control signal indicating the farthest direction is supplied to the error correction method selector 5.

任意補間方向決定回路54に;よ、エラーフラグFPP
l、FPPO,FPMI、FPI、FMI。
The error flag FPP is sent to the arbitrary interpolation direction determining circuit 54.
l, FPPO, FPMI, FPI, FMI.

FNP l、FNPOlFNMIが供給され、これらの
エラーフラグの状態が判断される。すなわち、エラーフ
ラグが「0」 (エラー無し)である方向が選択され、
この方向の補間処理が可能な制御信号がエラー修整方法
セレクタ58に供給される。
FNP_I, FNPO_FNMI are provided and the state of these error flags is determined. In other words, the direction in which the error flag is "0" (no error) is selected,
A control signal that allows interpolation processing in this direction is supplied to the error correction method selector 58.

なお、複数の方向が選択されるときは、11方同、■方
向、D。方向、D一方向の順に優先順位が設定される。
Note that when multiple directions are selected, 11 directions are selected, ■direction, and D. Priorities are set in the order of D direction and D direction.

低精度テンポラ装置)桑決定回路55には、エラー修整
が施されるエラーサンプルデータPOの両1jljlの
6個のサンプルデータP3、P2、Pl、Ml、M2、
M3、前フレームの対応するラインの7個のサンプルデ
ータLP3.1.、 P 2、LPI、LPO,LMI
、LM2.1M3及びこれらのサンプルデータのエラー
フラグFP3、FP2、FPl、r”Ml、FM2、F
M3、FLP3、FLP2、FLPI、FLPO,Fl
、Ml、FLM2、FLM3が供給される。この低精度
テンポラル置換決定回路56において、−上記エラーフ
ラグが判断され、エラーフラグFLPOが「0」 (エ
ラー無し)であり、エラーサンプルデータPOの各片側
の対応する3組のエラーフラグのうらの少な(とも1組
がそれぞれ「0」 (エラー無し)であり、かつ上記2
組の各サンプルデータの差が所定の闇値LT以下のとき
、前フレームのサンプルデータLPOを用いてエラーサ
ンプルデータPOを置換する制御信号がエラー修整方法
セレクタ58に供給される。すなわち、 1’LI’0・0゜ FP3=FLP3・O又はFP2・FLP2・O又はF
PI・FLPI・0F41・FLMI・0又はFM2・
FLM2・O又はFM3・FL門3・0!、l’n−P
nl  ≦LT、  ! LMn+−Mm   ≦Lr
(n、mはエラーフリーの番号を表す。)の条件を満足
rるとき、エラーサンプルデータPOをサンプルデータ
LPOで置き換えるのである。
(Low precision temporar device) The mulberry determination circuit 55 stores six sample data P3, P2, Pl, Ml, M2, both 1jljl of the error sample data PO to be subjected to error correction.
M3, seven sample data LP3.1 of the corresponding line of the previous frame. , P 2, LPI, LPO, LMI
, LM2.1M3 and these sample data error flags FP3, FP2, FPl, r”Ml, FM2, F
M3, FLP3, FLP2, FLPI, FLPO, Fl
, Ml, FLM2, and FLM3 are supplied. In this low-precision temporal replacement determination circuit 56, - the above error flag is determined, and the error flag FLPO is "0" (no error), and the error flag FLPO is "0" (no error), and the (one set is "0" (no error)), and the above 2
When the difference between each sample data set is less than or equal to a predetermined darkness value LT, a control signal is supplied to the error correction method selector 58 to replace the error sample data PO with the sample data LPO of the previous frame. That is, 1'LI'0・0°FP3=FLP3・O or FP2・FLP2・O or F
PI・FLPI・0F41・FLMI・0 or FM2・
FLM2/O or FM3/FL gate 3/0! , l'n-P
nl ≦LT, ! LMn+-Mm≦Lr
When the following conditions (n and m represent error-free numbers) are satisfied, the error sample data PO is replaced with the sample data LPO.

換言すると、L記高精度テンポラル置換回路52にメ3
いては、エラーサンプルデータP Oの両側6個のサン
プルデータ及び対応する前のフレームのサンプルデータ
が全てエラーフリー状態でなければならなく、エラーレ
ートが低い状態のとき、該高精度テンポラル置換が有効
であり、低積度テンポラル置換は、高いエラーレートの
ときに有効である。なお、上記閾値LTは小さな値とさ
れる。
In other words, the high-precision temporal replacement circuit 52 is connected to the
In this case, the six sample data on both sides of the error sample data PO and the corresponding sample data of the previous frame must all be in an error-free state, and when the error rate is low, the high-precision temporal replacement is effective. , and low-integration temporal replacement is effective when the error rate is high. Note that the threshold value LT is a small value.

最近隣置換決定回路56には、エラー修整が施されるエ
ラーサンプルデータPOの両側の4個のエラーフラグF
P2、FPl、l”Ml、FM2、上のラインの3個の
エラーフリードPPI、FPPO1Fl”Ml及び下の
ラインの3個のエラーフラグFNPI FNPOlFN
Mlが供給され、これらのエラーフラグの状態が判断さ
れる。すなわち、エラーフラグが「O」 (エラー無し
)のサンプルデータのうちで一番近い(最近隣)サンプ
ルデータを用いてエラーサンプルデータPOを置き換え
るのである。この最近隣サンプルデータでエラーサンプ
ルデータPOを置き換える制御信号がエラー修整方法セ
レクタ58に供給される。なお、複数のサンプルデータ
が使用可能なときは、サンプルデータP1、ML P2
、M2、PPO。
The nearest neighbor replacement determining circuit 56 includes four error flags F on both sides of the error sample data PO to be subjected to error correction.
P2, FPl, l"Ml, FM2, 3 error free PPIs on the upper line, FPPO1Fl"Ml and 3 error flags FNPI FNPOlFN on the lower line
Ml is supplied and the state of these error flags is determined. That is, the error sample data PO is replaced by using the closest (nearest neighbor) sample data among the sample data whose error flag is "O" (no error). A control signal for replacing the error sample data PO with this nearest neighbor sample data is supplied to the error correction method selector 58. Note that when multiple sample data are available, sample data P1, ML P2
, M2, PPO.

NPO,PPI PMI、NPI、NMIの順に優先順
位が設定される。
NPO, PPI Priorities are set in the order of PMI, NPI, and NMI.

本発明の一実施例のビデオ信号処理回路に用いられる繰
り返し置換決定回路57には、エラーフラグ(特に修整
しようとする点のエラーフラグFPO)及びリカージョ
ンカウント(再帰計数)メモリ60からの再帰計数が供
給される。ここで、繰り返し置換とは、供給されるサン
プルデータのエラーレートが非常に高く、上述のような
通常の補間処理や置換処理が行えないときに、エラーサ
ンブルデータPOの置き換えを、エラー修整が既に施さ
れたサンプルデータを用いてil¥帰的に繰り返し行う
ことをいう0例えば、エラー修整が施されたサンプルデ
ータを用いて置換処理で得られたサンプルデータを1世
代目とし、このttU代目のサンプルデータを用いて再
び置換処理で得られるサンプルデータを2世代目とする
。また、これらの世代の状態を再帰計数(リカージョン
カラン日で表すものとする。すなわち、例えば第8図に
示すようにサンプルデータP5はエラーフリー状態(0
)にあり、サンプルデータP4、P3、P2、Pl、P
Oは全てエラー状u (X)にあるとき、サンプルデー
タP4はエラーフリーサンプルデータP5で置換され、
サンプルデータP3はサンプルデータP4で置換(P5
の再帰的置換)されて1世代目となる。サンプルデータ
P2はサンプルデータP3で置換されて再帰的置換の2
世代目となる。サンプルデータP1はサンプルデータP
2で置換されて3世代目となる。サンプルデータPOは
サンプルデータPIで置換されて再帰的置換の4世代目
となる。また第9図には、上述のような再帰的置換が8
世代目まで行われる場合の具体例を示している。上記再
帰計数の具体的な値としては、第1表に示すように各エ
ラー修整の方法によって功朋値を設定し、この初!UI
値に上記再帰的置換を1回行う毎に2を加算するものと
する。
The iterative replacement determination circuit 57 used in the video signal processing circuit according to the embodiment of the present invention includes an error flag (particularly an error flag FPO of a point to be corrected) and a recursion count from a recursion count memory 60. is supplied. Here, repeated replacement refers to replacing the error sample data PO when the error rate of the supplied sample data is extremely high and normal interpolation processing or replacement processing as described above cannot be performed. For example, the first generation is the sample data obtained by replacement processing using the sample data that has undergone error correction, and this ttU generation The sample data obtained by performing the replacement process again using the sample data is defined as the second generation. In addition, the states of these generations are expressed by recursion counts (recursion count days). In other words, for example, as shown in FIG.
), and the sample data P4, P3, P2, Pl, P
When all O are in error state u (X), sample data P4 is replaced with error-free sample data P5,
Sample data P3 is replaced with sample data P4 (P5
recursive replacement) and becomes the first generation. Sample data P2 is replaced with sample data P3 and recursive replacement 2
It is the second generation. Sample data P1 is sample data P
2 and becomes the third generation. The sample data PO is replaced with the sample data PI, resulting in the fourth generation of recursive replacement. Figure 9 also shows that the recursive permutation described above is 8
A specific example is shown in which the process is performed up to the third generation. As for the specific value of the above recursion coefficient, the success value is set according to each error correction method as shown in Table 1. U.I.
It is assumed that 2 is added to the value each time the above recursive replacement is performed.

第1表 なお、第1表中のデイフォルトテンポラル置換とは、上
記エラー修整方法の全てを用いることができないときに
、前フレームのサンプルデータLPOを用いてエラーサ
ンプルデータPOを置き換えることをいい、エラーレー
トが非常に高くて、上記再帰的置換も行えなくなるよう
なエラーサンプルに対して行われる修整処理である。こ
れが連続して行われると、画像が静止して見える。
Table 1 Note that default temporal replacement in Table 1 refers to replacing the error sample data PO using the sample data LPO of the previous frame when all of the above error correction methods cannot be used. This is a correction process performed on error samples whose error rate is so high that even the above-mentioned recursive replacement cannot be performed. If this is done continuously, the image will appear static.

ここで、本発明実施例では、上記再帰計数のL限値を変
化させ、上記再帰的な繰り返し置換の世代の上限値を変
化させている。これは、例えば、上記再帰的な置換も行
われないようなエラーサンプルを上記デイフォルトテン
ポラル置換により修整するものとするとき、画像内の通
常の修整方法では修整できないエラーサンプル点を、こ
のデイフォルトテンポラル置換で修整するか、上記再帰
的な置換で修整するかの割合を変化させることになる。
Here, in the embodiment of the present invention, the L limit value of the recursion count is changed, and the upper limit value of the generation of the recursive repeated replacement is changed. For example, when an error sample for which the above recursive replacement is not performed is to be corrected by the default temporal replacement, the error sample point in the image that cannot be corrected by the normal correction method is This will change the proportion of corrections made using temporal replacement or the recursive replacement described above.

具体的には、画面の内容や種類等に応して上記再帰計数
の上限値を変化させることが考えられる0例えば、静止
画のように時間的相関関係が高い(フレームあるいはフ
ィールド間の相関関係が高い)画像の場合には、上記再
帰的置換の繰り返し回数の上限値を小さくして、第10
図に示すように、上記再帰的な置換で修整する範囲9を
小さくし、上記デイフォルトテンポラル置換で修整する
範囲(すなわち時間的に前の画像が表示される範囲)1
0を広くする。逆に、動画やシャトル再生モード時℃よ
うに時間的相関関係が低い画像の場合には、上記上限値
を太き(して、第11図に示すように、上記再帰的な置
換で修整する範囲9を大きくし、上記デイフォルトテン
ポラル置換で修整する範囲10を狭くする。これらの第
10図及び第11図において、上記再帰的な置換で修整
された範囲9内は、同じサンプルデータが用いられるた
め一つの画素のように単一濃度、単一色で表示され、上
記デイフォルトテンポラル1喚で4g整さf(、た範囲
10内は、各サンプル位置毎に時間的に前で最も近いエ
ラー無しのサンプルデータが用いられるが、エラーが連
続する場合には古いサンプルデータがそのまま使用され
続けるため画像が静止して見えることになる。これによ
って、動きの少ない画像については、第1O図のように
前の画像データをそのまま使用する範囲10を広くとっ
て解像度を高め、動きの激しい画像については、第11
図のように解像度は犠牲にしてもリアルタ・イムのデー
タを多く表示し、前の画像が残ることによる悪影響を防
止している。
Specifically, it is possible to change the upper limit of the above recursion count depending on the content and type of the screen. In the case of an image with a high
As shown in the figure, the range 9 to be modified by the recursive replacement is reduced, and the range 1 to be modified by the default temporal replacement (i.e., the range in which the previous image is displayed) is
Widen 0. On the other hand, in the case of images with low temporal correlation, such as those in video or shuttle playback mode, the above upper limit value is made thicker (as shown in Figure 11, the image is corrected by the above recursive replacement). The range 9 is enlarged, and the range 10 corrected by the above default temporal replacement is narrowed.In these figures 10 and 11, the same sample data is used within the range 9 corrected by the above recursive replacement. Therefore, it is displayed with a single density and a single color like one pixel, and the above default temporal 1st value is set to 4g f (, within the range 10, the closest error in time for each sample position is However, if errors occur continuously, the old sample data will continue to be used and the image will appear stationary.As a result, for images with little movement, as shown in Figure 1O. The previous image data is used as it is in the 10th range to increase the resolution, and for images with rapid movement, the 11th range is used as is.
As shown in the figure, even at the expense of resolution, it displays a large amount of real-time data and prevents the negative effects of the previous image remaining.

ところで、上述のような画像の内容や種類、特に動きの
大小についての判別の具体例としては、例えばVTRの
再生モードによって行わせればよい。これは、VTRが
静止画(スチル) +’T>化モードやスロー再生モー
ド時には、動きの少ない画像が得られる確率が高く、ま
た、いわゆるシャトルモードのようにテープ走行速度が
早いときには、動きの激しい画像が得られる確率が高い
ことを考慮したものである。すなわち、ツヤトルモード
やキュー、レビュー再生モード等の時には、上記再帰的
置換の繰り返し回数の上限値を大きくして再帰的置換処
理を行う範囲を広くし、静止画(スチル)再生モード時
やスロー再生モード時には、再帰的置換の繰り返し回数
の上限値を小さくして再帰的置換処理を行う範囲を狭(
する。上記上限値の具体的数値としては、例えば、再帰
計数の最大値を7として繰り返し置換の世代を4に制限
する状態と、再帰計数の最大値を15として繰り返し置
換のIit代を8に制限する状態とを切換可能としてい
る。
By the way, as a concrete example of the above-mentioned determination of the content and type of the image, especially the magnitude of the movement, it may be performed based on, for example, the playback mode of the VTR. This is because when the VTR is in still image (still image) mode or slow playback mode, there is a high probability that images with little movement will be obtained, and when the tape running speed is fast, such as in so-called shuttle mode, there is a high probability that images with little movement will be obtained. This is done in consideration of the high probability of obtaining a sharp image. In other words, when in gloss mode, cue, review playback mode, etc., the upper limit of the number of times the recursive replacement is repeated increases the range in which recursive replacement processing is performed, and when in still image playback mode or slow playback mode. Sometimes, you can reduce the upper limit of the number of repetitions of recursive replacement to narrow the range in which recursive replacement is performed (
do. Specific numerical values of the above upper limit include, for example, a state where the maximum value of the recursion count is set to 7 and the generation of repeated replacement is limited to 4, and a state where the maximum value of the recursion count is set to 15 and the Iit generation of repeated replacement is limited to 8. It is possible to switch between the states.

この他、例えばエラーレートに応じて上記再帰的置換の
繰り返し回数の上限値を変化させるようにしてもよい、
また例えばシャトル再生モードにおいて、エラーレート
が高い高速時はど繰り返し置換を行う範囲(viり返し
置換の回数の上@値)を大きくするようにしてもよい、
なお、再帰計数は第1図に示すリカージョンカウントメ
モリ60に記憶されており、全てのサンプルデータに対
応して再帰計数が設けられている。
In addition, for example, the upper limit of the number of repetitions of the recursive replacement may be changed depending on the error rate.
Furthermore, for example, in the shuttle playback mode, the range in which repeated replacement is performed (the upper value of the number of repeated replacements) may be made larger when the error rate is high and the speed is high.
Note that the recursion count is stored in a recursion count memory 60 shown in FIG. 1, and a recursion count is provided corresponding to all sample data.

繰り返し置換決定回路57において、エラー修整が施さ
れるサンプルデータの前のサンプルデータPl、上のラ
インのサンプルデータPPI、PPO,PMIの位置の
再帰計数が端子90を介して入力される再帰計数の最大
値、例えば7と比較され、7以下であって、最小の再帰
計数の位置が選択され、この繰り返し置換を行う制御信
号がエラー修整方法セレクタ58に供給される。また、
この繰り返し置換決定回路57からリカージョンカウン
ト発生器59に、上記選択された位置の再帰計数が送ら
れる。このリカージョンカウント発生器59には、エラ
ー修整方法セレクタ5日において繰り返し置(負が選i
尺されたことを示す信号が供給され、当該繰り返し置換
方法が選択されたとき、上記選択された位置の再帰計数
に2が加算され、この加算された再帰計数が当該置換が
施された位置の再帰計数として、リカージョンカウント
メモリ60に新たに記憶される。なお、上記サンプルデ
ータP1、PPI、PPO,I”Mlの位置の各再帰計
数が同じ値のときは、サンプルデータ1’l、I’PO
,PPI、PMIの各位置の順に優先順位を設定する。
In the iterative replacement determining circuit 57, the recursive counts at the positions of the sample data Pl, the sample data PPI, PPO, and PMI on the line above the sample data to which the error correction is applied are calculated as the recursive counts input through the terminal 90. The position is compared with the maximum value, for example 7, and the position with the smallest recursion count that is less than or equal to 7 is selected, and a control signal for performing this repeated substitution is supplied to the error correction method selector 58. Also,
The recursion count of the selected position is sent from the repeat permutation determination circuit 57 to the recursion count generator 59. This recursion count generator 59 is repeatedly set in the error correction method selector 5 (negative is selected).
When a signal indicating that the replacement has been performed is supplied and the iterative replacement method is selected, 2 is added to the recursion count of the selected position, and this added recursion count becomes the recursion count of the position where the replacement has been performed. It is newly stored in the recursion count memory 60 as a recursion count. Note that when the recursion coefficients at the positions of the sample data P1, PPI, PPO, I'Ml are the same value, the sample data 1'l, I'PO
, PPI, and PMI.

ここで、上記繰り返し置換決定回路57の具体的回路構
成を第12図に示す。この図において、比較器110乃
至比較!5113には、端子+00乃至端子103をそ
れぞれ介してエラー修整が施されるサンプルデータPO
の近傍のサンプルデータPI、PPO,,PPI、PM
IのH方向再帰計数、■方向再帰計数、D、方向再帰計
数、D一方向再帰計数がそれぞれ供給される。これらの
比較器110乃至比較器113において、端子90を介
して供給される再帰計数の上限値、例えば7との比較が
それぞれ行われ、少な(とも1つの再帰計数が7より小
さいときに、NANDゲート114からの繰り返し置換
を行うことができる繰り返し置換可能信号が端子105
から取り出される。
Here, a specific circuit configuration of the iterative replacement determining circuit 57 is shown in FIG. In this figure, the comparator 110 to compare! 5113 contains sample data PO to which error correction is applied via terminals +00 to 103, respectively.
Sample data near PI, PPO,, PPI, PM
An H direction recursion count of I, a direction recursion count of I, a direction recursion count of D, and a one-way recursion count of D are respectively supplied. In these comparators 110 to 113, a comparison is made with an upper limit value of the recursion count supplied via the terminal 90, for example, 7, and when the recursion count is less than 7 (NAND A repeatable replaceable signal from gate 114 that allows repeatable replacement is connected to terminal 105.
taken from.

この再帰計数の上限値は、再帰計数上限値切換回路91
から供給されるようになっており、この再帰計数上限値
切換回路91は、端子92を介して供給される切換制御
信号に応して切換側?fflされるようになっている。
The upper limit value of this recursion count is determined by the recursion count upper limit value switching circuit 91.
This recursive count upper limit value switching circuit 91 switches from the switching side? ffl is now available.

端子92からの切換制御信号としては、具体的には例え
ばVTRの再生モードがシャトルモードか否かを示す信
号等を用いることができ、この場合の再帰計数上限値切
換回路91は、シャトルモードのとき例えば15を、そ
れ以外のときは例えば7を出力し、上記再帰計数上限値
として端子90に送る。また、−F記名方向の再帰計数
は置換方向選択回路115に供給され、この置換方向選
択回路115において、最小の再帰計数の位置が選択さ
れ、この位置を示す信号が端子106から取り出される
。これらの繰り返し置換可能信号及び位置を示す信号は
、再帰的繰り返し置換制御信号として、第1図のエラー
修整方法セレクタ回路58に供給される。
As the switching control signal from the terminal 92, specifically, for example, a signal indicating whether the reproduction mode of the VTR is the shuttle mode or not can be used. For example, 15 is output when this is the case, and 7 is output at other times, and is sent to the terminal 90 as the upper limit value of the recursion count. Further, the recursion count in the -F name direction is supplied to a permutation direction selection circuit 115, which selects the position with the minimum recursion count, and takes out a signal indicating this position from the terminal 106. These iteratively replaceable signals and signals indicating the position are supplied to the error correction method selector circuit 58 in FIG. 1 as recursive and iteratively replaced control signals.

以上のようにして、最適補間方向決定回路51、高精度
テンポラル置換決定回路52、最適置換方向決定回路5
3、任意補間方向決定回路54、低精度テンポラル置換
決定回路55、最近隣置換決定回路56、繰り返し置換
決定回路57からの各種のエラー修整を行うための制御
信号がエラー修整方法セレクタ58に供給される。この
エラー修整方法セレクタ58において、第2表に示す優
先順位(上から順に)に基づいて、最適なエラー修整方
法が選択される。
As described above, the optimal interpolation direction determining circuit 51, the high-precision temporal replacement determining circuit 52, and the optimal replacement direction determining circuit 5
3. Control signals for performing various error corrections from the arbitrary interpolation direction determination circuit 54, the low-precision temporal replacement determination circuit 55, the nearest neighbor replacement determination circuit 56, and the iterative replacement determination circuit 57 are supplied to the error correction method selector 58. Ru. In this error correction method selector 58, the optimum error correction method is selected based on the priority order (from top to bottom) shown in Table 2.

第2表 繰り返し置換 最大98% なお、第2表中のエラーレートは各エラー修整方法が適
用可能な範囲を示し、同一のエラーレートに対して、複
数のエラー修整方法が適用可能であることを示している
。しかし、咳エラーレートはエラ、−修整方法を決定す
るためには用いられず、上述のようにエラー修整が施さ
れるサンプルデータの周辺のエラーフラグの状態(エラ
ーパターン)によってエラー修整方法が決定される。以
上のようにして、エラー修整方法がエラー修整方法セレ
クタ58において決定され、このエラー修整方法セレク
タ58からの制御信号によって、エラー修整が行われる
。以下、各エラー修整方法を説明する。
Table 2 Repeated Replacement Maximum 98% The error rates in Table 2 indicate the applicable range of each error correction method, and it is important to note that multiple error correction methods can be applied to the same error rate. It shows. However, the error rate is not used to determine the error correction method; as mentioned above, the error correction method is determined by the state of the error flags (error pattern) around the sample data to which error correction is applied. be done. As described above, the error correction method is determined by the error correction method selector 58, and the error correction is performed according to the control signal from the error correction method selector 58. Each error correction method will be explained below.

最適補間方向による補間が可能なとき、エラー修整方法
セレクタ5日からセレクタ64.66を制御する信号が
送出される。この制御0信号により、セレクタ64にお
いて、補間処理されたナンプルデータ(補間値1))の
1つが選択される。すなわち、セレクタ64には、端子
73を介して第2図に示す1次元エラー修整回路2で得
られたF(方向の加重平均値(補間値)Pが供給されて
いる。また、例えば■補間回路61には、端子74.7
5を介して補間処理が施されるサンプルデータPOの上
下のサンプルデータPPO,NPOがそれぞれ供給れ、
このV補間回路61において、■方向の補間値P ((
PPO+NI’O)/2 )が求められ、この■方向の
補間値Pがセレクタ64に供給されている。
When interpolation in the optimum interpolation direction is possible, a signal is sent from the error correction method selector 5 to control the selectors 64 and 66. This control 0 signal causes the selector 64 to select one of the interpolated number data (interpolated value 1). That is, the selector 64 is supplied with F (direction weighted average value (interpolated value) P) obtained by the one-dimensional error correction circuit 2 shown in FIG. 2 via the terminal 73. The circuit 61 has terminals 74.7
Sample data PPO and NPO above and below the sample data PO to be subjected to interpolation processing are respectively supplied through
In this V interpolation circuit 61, the interpolated value P ((
PPO+NI'O)/2) is obtained, and this interpolated value P in the {circle around (2)} direction is supplied to the selector 64.

また、D、補間回路62には、端子76.77を介して
、補間処理が施されるサンプルデータP0の右下がり対
角線上のサンプルデータPPI、NMlがそれぞれ供給
れ、このり。補間回路62において、D、方向の補間値
P ((PPl+〜旧)/2)が求められ、このり、方
向の補間値Pがセレクタ64に供給されている。D−補
間回路63には、端子78.79を介して、補間処理が
施されるサンプルデータPOの左下がり対角線上のサン
プルデータP 、’V41、NPIがそれぞれ供給れ、
このD捕間回路63において、D一方向の補間値P((
PMl+!JPI)/2 )が求められ、このD一方向
の補間値Pがセレクタ64に供給されている。以上のよ
うに各方向の補間値Pがセレクタ64に供給され、エラ
ー修整方法セレクタ58からの制御信号により、上記最
適捕間方向決定回路51で決定された方向(修整エラー
が最小の方向)の補間値Pが選択され、セレクタ66を
介して端子8に出力される。
Further, the interpolation circuit 62 is supplied with sample data PPI and NMl on the diagonal line downward to the right of the sample data P0 to be interpolated, respectively, through terminals 76 and 77. In the interpolation circuit 62, an interpolated value P ((PPl+~old)/2) in the direction D is determined, and the interpolated value P in the direction is supplied to the selector 64. The D-interpolation circuit 63 is supplied with sample data P, 'V41, and NPI on the diagonal line downward to the left of the sample data PO to be interpolated, respectively, through terminals 78 and 79.
In this D interpolation circuit 63, one-way D interpolation value P((
PMl+! JPI)/2) is determined, and this one-way interpolation value P of D is supplied to the selector 64. As described above, the interpolated values P in each direction are supplied to the selector 64, and the control signal from the error correction method selector 58 determines the direction determined by the optimum interpolation direction determining circuit 51 (the direction with the minimum correction error). Interpolated value P is selected and output to terminal 8 via selector 66.

エラー修整方法セレクク58において、高精度テンポラ
ル置換が選1尺されたとき、セレクタ66が制御され、
端子88を介して入力される前フレ−ムのサンプルデー
タL P Oが端子8に出力される。
When the high-precision temporal replacement is selected in the error correction method selector 58, the selector 66 is controlled;
The sample data LPO of the previous frame inputted through the terminal 88 is outputted to the terminal 8.

エラー修整方法セレクタ58において、最適置換方向に
よる置換が選択されたとき、セレクタ65.6Gが制御
され、端子80乃至端7−87を介してそれぞれ入力さ
れるサンプルデータl″P 1、PPOlPMI、Pl
、Ml、NPI、NPOlNMIのうちで上記最適置換
方向決定回路53で決定された方向(修整エラーが最小
の方向)のサンプルデータがセレクタ65及びセレクタ
66を介して端子8に出力される。
When the error correction method selector 58 selects replacement according to the optimal replacement direction, the selector 65.6G is controlled and the sample data l″P1, PPOlPMI, Pl input via the terminals 80 to 7-87, respectively.
.

エラー修整方法セレクタ5Bにおいて、任意補間方向に
よる補間が選択されたとき、セレクタ64.66が制御
され、セレクタ64に人力される各方向の補間値Pのう
ちで一上記任意補間方向決定回路54で決定された方向
の補間値Pが選択され、セレクタ66を介して端子8に
出力される。
When interpolation in an arbitrary interpolation direction is selected in the error correction method selector 5B, the selectors 64 and 66 are controlled, and one of the interpolation values P in each direction manually input to the selector 64 is selected by the arbitrary interpolation direction determining circuit 54. The interpolated value P in the determined direction is selected and output to the terminal 8 via the selector 66.

エラー修整方法セレクタ5Bにおいて、低精度テンポラ
ル置換が選択されたとき、セレクタ66が制御され、端
子88を介して人力される前フレームのナンブルデータ
1、POが端子8に出力される。
When low-precision temporal replacement is selected in the error correction method selector 5B, the selector 66 is controlled, and the number data 1 and PO of the previous frame input manually via the terminal 88 are output to the terminal 8.

エラー修整方法セレクタ5日において、最近間置換がM
 IJeされたとき、セレクタ65.66が制御され、
端10乃至端子87を介してそれぞれ人力さ力、るサン
プルデータPPi PPO,PMl、Pl、Ml、NP
l、、NPOlNMIから上記最近間置換決定回路56
で決定されたサンプルデータが選択され、セレクタ66
を介して端子8に出力される。
In the error correction method selector 5th, the most recent replacement is M
When IJe is performed, selectors 65 and 66 are controlled,
The sample data PPi, PPO, PMl, Pl, Ml, NP, which are manually input through the terminal 10 and the terminal 87, respectively
l, , NPOlNMI to the most recent replacement determination circuit 56
The sample data determined in is selected, and the selector 66
It is output to terminal 8 via.

エラー修整方法セレクタ58において、繰り返し置換が
選択されたとき、セレクタ65.66が制御され、端子
80乃至端子83を介してそれぞれ入力されるサンプル
データPP1、PPOlPMiPlから上記繰り返し置
換決定回路57で決定されたサンプルデータが選択され
、セレクタ66を介して端子8に出力される。
When repeat replacement is selected in the error correction method selector 58, the selectors 65 and 66 are controlled, and the repeat replacement determination circuit 57 determines the sample data PP1 and PPOlPMiPl input via the terminals 80 to 83, respectively. The selected sample data is selected and outputted to the terminal 8 via the selector 66.

なお、エラー修整方法セレクタ58において、上記エラ
ー修整方法全てを用いることができないと判断されたと
きは、デイフォルト置換とされ、セレクタ66が制御さ
れて端子88を介して入力される前フレームのサンプル
デ−タ 8に出力される。
Note that when the error correction method selector 58 determines that all of the above error correction methods cannot be used, default replacement is performed, and the selector 66 is controlled to replace the sample of the previous frame input via the terminal 88. It is output to data 8.

以−トの説明で明らかなように、エラーレートが非常に
高く、通常のエラー修整、例えばエラーフリーサンプル
データを用いた捕間処理や置換処理を行うことができな
いときに、既にエラー(*整が施されたサンプルデータ
を用いたエラー修整を再帰的に繰り返し行わせると共に
、この再局的修整の繰り返し回数を可変とし、iifi
i面のJINや内容、例えば動画と静止画、動きが早い
両面と動き遅い画面に応して、具体的にはVTRの再往
モート等に応して、上記再帰的修整の繰り返し回数の上
限値を制御することにより、画面の内容や種類等に応し
た最適のエラー修整を行うことができる。
As is clear from the explanation below, when the error rate is very high and normal error correction cannot be performed, such as interception processing or replacement processing using error-free sample data, the error The error correction using the sample data that has been applied is repeated recursively, and the number of repetitions of this relocal correction is made variable.
The upper limit of the number of times the above recursive modification can be repeated depends on the JIN and content of the i-side, such as moving images and still images, fast-moving double-sided screens and slow-moving screens, and more specifically, depending on the VTR's forward mode, etc. By controlling the values, it is possible to perform optimal error correction according to the content and type of the screen.

H.発明の効果 本発明に係るビデオ信号処理回路によれば、エラーレー
トが非常に高く、エラーフリーサンプルデータを用いた
補間処理等の通常のエラー修整を行うことができないと
きに、既に修整が行われたサンプルデータを用いて修整
を行うと共に、この場合の修整サンプルデータの再帰的
な繰り返し修整回数の上限値を可変とすることで、例え
ば画面の種類や内容等に応じた最適な修整を可能として
いる。
H. Effects of the Invention According to the video signal processing circuit according to the present invention, when the error rate is so high that normal error correction such as interpolation processing using error-free sample data cannot be performed, the correction has already been performed. In addition to making corrections using the sample data that has been edited, by making the upper limit of the number of recursive repeated corrections of the correction sample data variable, it is possible to make the most suitable corrections depending on the type and content of the screen, for example. There is.

具体的には、例えば動画と静止画、動きが早い両面と動
き遅い画面、あるいはエラーレート等に応して、既にエ
ラー修整が施されたサンプルデータを用いた繰り返し置
換処理における繰り返し回数を制御l口することにより
、画面の種類等に適したエラー11整を行うことができ
る。
Specifically, the number of repetitions in the iterative replacement process using sample data that has already undergone error correction can be controlled depending on, for example, moving images and still images, fast-moving double-sided screens and slow-moving screens, or error rates. By speaking, it is possible to perform error correction suitable for the type of screen, etc.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明に係るビデオ信号処理回路の一実施例を
適用した2次元エラー修整回路のブロック回路図であり
、第2図は本発明に係るビデオ信号処理回路を適用した
エラー修整装置のプロ、り回路図であり、第3図は]次
元エラー修整回路のブロック回路図であり、第4図は1
次元エラー1′6整回路の動作原理を説明するためのサ
ンプルデータのエラー状態を示す図であり、第5図は2
次元エラー修整のときに使用されるサンプルデータの配
置を示す図であり、第6図は2次元エラー修整のときに
使用されるエラーフラグの配置を示す図であり、第7図
はランキング制御′i「回路のブロック回路図であり、
第8図及び第9図は繰り返し置換の具体例を示す図であ
り、第10及び第11図はは繰り返し置換処理の範囲示
す図であり、第12図は繰り返し置換決定回路のブロッ
ク回路図である。 57・・・繰り返し置換決定回路 59・・・リカージョンカウント発生器60・・ ・リ
カージョンカウントメモリ90・・・上限値入力端子
FIG. 1 is a block circuit diagram of a two-dimensional error correction circuit to which an embodiment of the video signal processing circuit according to the present invention is applied, and FIG. 2 is a block circuit diagram of an error correction device to which the video signal processing circuit according to the present invention is applied. FIG. 3 is a block circuit diagram of the dimensional error correction circuit, and FIG. 4 is a block circuit diagram of the dimensional error correction circuit.
It is a diagram showing the error state of sample data for explaining the operating principle of the dimensional error 1'6 adjustment circuit, and FIG.
FIG. 6 is a diagram showing the arrangement of sample data used in dimensional error correction; FIG. 6 is a diagram showing the arrangement of error flags used in two-dimensional error correction; and FIG. i is a block circuit diagram of a circuit;
8 and 9 are diagrams showing specific examples of repeated replacement, FIGS. 10 and 11 are diagrams showing the range of repeated replacement processing, and FIG. 12 is a block circuit diagram of a repeated replacement determination circuit. be. 57...Repetitive replacement determination circuit 59...Recursion count generator 60... -Recursion count memory 90...Upper limit value input terminal

Claims (1)

【特許請求の範囲】 ビデオ信号のサンプルデータが供給され、サンプルデー
タがエラーのとき、他のサンプルデータを用いて当該エ
ラーサンプルデータの修整処理を行うエラー修整処理手
段と、 上記エラーサンプルデータの修整処理に既修整サンプル
データを用いる際の修整の繰り返し回数をカウントする
カウント手段とを有し、 該カウント手段からのカウント値が所定の上限値を超え
るような修整を行わないと共に、上記上限カウント値を
可変とすることを特徴とするビデオ信号処理回路。
[Claims] Error correction processing means for correcting the error sample data using other sample data when sample data of a video signal is supplied and the sample data is in error; and a counting means for counting the number of repetitions of modification when using already modified sample data for processing, and does not perform modification such that the count value from the counting means exceeds a predetermined upper limit value, and the above upper limit count value. A video signal processing circuit characterized in that the circuit is variable.
JP1305190A 1989-11-25 1989-11-25 Video signal processing circuit Pending JPH03165375A (en)

Priority Applications (1)

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JP1305190A JPH03165375A (en) 1989-11-25 1989-11-25 Video signal processing circuit

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JP1305190A JPH03165375A (en) 1989-11-25 1989-11-25 Video signal processing circuit

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008176744A (en) * 2007-01-22 2008-07-31 Sony Corp Mean value calculation system, mean value calculation method, and program

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