JPH0373817A - 温度計測方法及び装置 - Google Patents
温度計測方法及び装置Info
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- JPH0373817A JPH0373817A JP21005889A JP21005889A JPH0373817A JP H0373817 A JPH0373817 A JP H0373817A JP 21005889 A JP21005889 A JP 21005889A JP 21005889 A JP21005889 A JP 21005889A JP H0373817 A JPH0373817 A JP H0373817A
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- Measuring Temperature Or Quantity Of Heat (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は産業機械等の温度計測装置に係わり、特に、半
導体製造装置としてのCVD装置における温度測定、高
精度の温度管理及び自動制御等に用いる高精度の温度計
測装置に関する。
導体製造装置としてのCVD装置における温度測定、高
精度の温度管理及び自動制御等に用いる高精度の温度計
測装置に関する。
[従来の技術1
一般に、産業関連の温度計測においては各種熱電対が広
く活用されている9周知のように熱電対(よ、それぞれ
が均質で相互に成分を異にする2種類の金属線を接合し
て再接合点間に温度差を設けると、ゼーベック効果によ
って生じる起電力によって電流が流れるという機能を用
いている。
く活用されている9周知のように熱電対(よ、それぞれ
が均質で相互に成分を異にする2種類の金属線を接合し
て再接合点間に温度差を設けると、ゼーベック効果によ
って生じる起電力によって電流が流れるという機能を用
いている。
即ち、両投合点の温度をそれぞれ’rt 、’r2とす
るとゼーベック効果に基づく起電力Eは次式によって表
される。
るとゼーベック効果に基づく起電力Eは次式によって表
される。
E”’a(Tt T2) b(T12−T22
)1−たたし−1式において、a、bは二種類の金属の
組み会わせて決まる定数であってa、bのデイメンジョ
ンはそれぞれ(mV/’C)、〔mV/°c2〕である
。
)1−たたし−1式において、a、bは二種類の金属の
組み会わせて決まる定数であってa、bのデイメンジョ
ンはそれぞれ(mV/’C)、〔mV/°c2〕である
。
b′(つで、片方の接合点を測温点、もう一方の接合点
を基準接合点とし、基準接合点の温度管理を行うととも
に測温点と基準接合点との温度差を計測することによっ
て測温点の温度を知ることができる。
を基準接合点とし、基準接合点の温度管理を行うととも
に測温点と基準接合点との温度差を計測することによっ
て測温点の温度を知ることができる。
従来、基準接合点の温度管理は、第4図<A)・〜(D
)に示すような方法が行われている。
)に示すような方法が行われている。
第4図(A>において、41は第1の金属線、42は第
2の金属線であって両金属線の接合点である4点は測温
点で、K点は基準接合点、45.46はリード線であっ
て5oは該リード線によって導かれる測温出力値を処理
し表示する該温度計測装置の表示部である。
2の金属線であって両金属線の接合点である4点は測温
点で、K点は基準接合点、45.46はリード線であっ
て5oは該リード線によって導かれる測温出力値を処理
し表示する該温度計測装置の表示部である。
47はに点を摂氏零度に維持するための摂氏零度維持装
置であって、例えばベルチェ効果と水の氷点を活用して
摂氏零度に維持する装置である。
置であって、例えばベルチェ効果と水の氷点を活用して
摂氏零度に維持する装置である。
第4図(B)は前記第4図(A>と同じであるが、48
は基準接合点の温度を室温よりも若干高く一定の温度に
維持するための恒温槽である。
は基準接合点の温度を室温よりも若干高く一定の温度に
維持するための恒温槽である。
第4図(C)においては、41は第1の金属線42は第
2の金属線であって、両金属線の接合点である。1点が
測温点である。43.44は測温点と基準温度を設定出
来る場所との間の距離が長い場合等に用いられる補償導
線であって、それぞれ前記41.42と類似の特性を持
つ金属線である。
2の金属線であって、両金属線の接合点である。1点が
測温点である。43.44は測温点と基準温度を設定出
来る場所との間の距離が長い場合等に用いられる補償導
線であって、それぞれ前記41.42と類似の特性を持
つ金属線である。
第1の金属線41と第2の金属線42をそれぞれ補償導
線43及び44によって延長して基準接合点であるに点
を設けている。該に点において基準温度を設ける手段は
、前述した(A)図または(B)図と同様であって、摂
氏零度または所定の温度に維持するための装置、例えば
(A)図と同様の摂氏零度に維持するための摂氏零度維
持装置47を設けている。45,46は前述と同様にリ
ード線であって、50は該リード線によって導かれる測
温出力値を処理し表示する該温度計測装置の表示部であ
る。
線43及び44によって延長して基準接合点であるに点
を設けている。該に点において基準温度を設ける手段は
、前述した(A)図または(B)図と同様であって、摂
氏零度または所定の温度に維持するための装置、例えば
(A)図と同様の摂氏零度に維持するための摂氏零度維
持装置47を設けている。45,46は前述と同様にリ
ード線であって、50は該リード線によって導かれる測
温出力値を処理し表示する該温度計測装置の表示部であ
る。
第4図(D)図において、41は第1の金属線42は第
2の金属線であって、両金属線の接合点である4点は測
温点で、45.46はリード線である。また、49は基
準接合点に部に設けた補償回路である。該補償回路は、
環境温度に於ける基準接合点の起電力に相当する電圧を
発生させる働きを有している回路であって、例えば基準
接合点に部に測温抵抗体を配設し、該測温抵抗体の抵抗
値から該基準接合点に部の温度を検知して所定の電圧を
発生させている。また、半導体の温度特性を活用したり
ニアライズ特性を持った温度補償用ICによって補償を
行っている。
2の金属線であって、両金属線の接合点である4点は測
温点で、45.46はリード線である。また、49は基
準接合点に部に設けた補償回路である。該補償回路は、
環境温度に於ける基準接合点の起電力に相当する電圧を
発生させる働きを有している回路であって、例えば基準
接合点に部に測温抵抗体を配設し、該測温抵抗体の抵抗
値から該基準接合点に部の温度を検知して所定の電圧を
発生させている。また、半導体の温度特性を活用したり
ニアライズ特性を持った温度補償用ICによって補償を
行っている。
[発明が解決しようとする課題]
上述した従来の基準接合点の温度制御方法または装置に
よると、一応の温度計測には有効であるがその得られる
計測温度精度に限度があって、各種産業界において計測
温度精度を高める必要が生じてきている現状においては
問題を生じてきている。
よると、一応の温度計測には有効であるがその得られる
計測温度精度に限度があって、各種産業界において計測
温度精度を高める必要が生じてきている現状においては
問題を生じてきている。
即ち、前述した第4図(A)の例における摂氏零度の基
準温度は±0.03℃の安定精度であって、第4図(B
)の例における基準温度の制御幅は±0.05°Cであ
るといわれている。
準温度は±0.03℃の安定精度であって、第4図(B
)の例における基準温度の制御幅は±0.05°Cであ
るといわれている。
また第4図(D)の例に於ける抵抗測温体をもちいた温
度計測装置によると室温の測定に於ける測定精度が0.
1%程度の精度であって、半導体$制御装置としてのC
VD装置に必要な温度計測精度である10乃至1100
ppを得ることができない。
度計測装置によると室温の測定に於ける測定精度が0.
1%程度の精度であって、半導体$制御装置としてのC
VD装置に必要な温度計測精度である10乃至1100
ppを得ることができない。
また、上述した従来の熱電対による温度測定手段に於け
る基準接合点の管理手段によると、tf4戒が複雑で調
整が難しく温度、時間に対する安定性も良くなかった。
る基準接合点の管理手段によると、tf4戒が複雑で調
整が難しく温度、時間に対する安定性も良くなかった。
また、基準接合点に関する温度補償回路の他にリニアラ
イザが必要な場合があるという問題点があった。
イザが必要な場合があるという問題点があった。
本発明は上記従来の問題点に着目し、調整箇所が少なく
、安定で精度の良い、またリニアライザも必要としない
温度計測装置を提供することを目的としている。
、安定で精度の良い、またリニアライザも必要としない
温度計測装置を提供することを目的としている。
[課題を解決するための手段1
上記問題を解決するために本発明に基づく温度計測方法
においては、熱電対による温度計測手段において、熱電
対の基準接合点部に配設した機械電気振動子の温度によ
る物理的変数を計測し、該計測値と熱電対の測温出力値
とから該熱電対の測温点の温度を算出するようにし、前
記機械電気振動子には水晶振動子を用いるようにした。
においては、熱電対による温度計測手段において、熱電
対の基準接合点部に配設した機械電気振動子の温度によ
る物理的変数を計測し、該計測値と熱電対の測温出力値
とから該熱電対の測温点の温度を算出するようにし、前
記機械電気振動子には水晶振動子を用いるようにした。
また、算出手段では、前記機械電気振動子の物理的変数
を第1のデジタル量によって得、前記熱電対の測温出力
を第2のデジタル量で得、第1のデジタル量と第2のデ
ジタル量との差から熱電対の測温点の温度を算出するよ
うにした。
を第1のデジタル量によって得、前記熱電対の測温出力
を第2のデジタル量で得、第1のデジタル量と第2のデ
ジタル量との差から熱電対の測温点の温度を算出するよ
うにした。
また、熱電対による温度計測装置において、熱電対の基
準接合点部に配設した機械電気振動子と、該機械電気振
動子の温度による物理的変数の計測装置と、該計測値と
熱電対の測温出力値とから該熱電対の測温点の温度を算
出する演算装置とから構成するようにし、前記機械電気
振動子には水晶振動子を用いるようにした。また、熱電
対による温度計測装置において、熱電対の基準接合点部
に配設した機械電気振動子と、該機械電気振動子を構成
要素とする発振回路と、該発振回路の発振周波数を計数
する計数回路と、熱電対の測温点の熱起電力をデジタル
値に変換するアナログデジタル変換回路と、前記計数回
路の出力値と前記デジタル化された熱電対の測温点の測
温出力値から前記機械電気振動子を構成要素とする発振
回路と熱電対の測温点の測温出力値との相対温度特性か
ら作成した演算式によって該熱電対の測温点の温度を算
出する演算装置とから構成するようにし、前記機械電気
振動子には水晶振動子を用いるようにした。また、演算
装置には、前記計数回路の出力値と前記デジタル化され
た熱電対の測温点の測温出力値との差を算出する減算回
路を設けた。
準接合点部に配設した機械電気振動子と、該機械電気振
動子の温度による物理的変数の計測装置と、該計測値と
熱電対の測温出力値とから該熱電対の測温点の温度を算
出する演算装置とから構成するようにし、前記機械電気
振動子には水晶振動子を用いるようにした。また、熱電
対による温度計測装置において、熱電対の基準接合点部
に配設した機械電気振動子と、該機械電気振動子を構成
要素とする発振回路と、該発振回路の発振周波数を計数
する計数回路と、熱電対の測温点の熱起電力をデジタル
値に変換するアナログデジタル変換回路と、前記計数回
路の出力値と前記デジタル化された熱電対の測温点の測
温出力値から前記機械電気振動子を構成要素とする発振
回路と熱電対の測温点の測温出力値との相対温度特性か
ら作成した演算式によって該熱電対の測温点の温度を算
出する演算装置とから構成するようにし、前記機械電気
振動子には水晶振動子を用いるようにした。また、演算
装置には、前記計数回路の出力値と前記デジタル化され
た熱電対の測温点の測温出力値との差を算出する減算回
路を設けた。
[作用]
本発明によれば、基準接合点の温度計測に機械電気振動
子を配設し、該機械電気振動子の計測値と熱電対の測温
出力値とから、該機械電気振動子の温度変化特性を活用
して熱電対の測温点の温度を算出するようにし、前記機
械電気振動子の温度変化特性を活用する手段としては水
晶発振回路を用いるようにした。水晶発振回路は水晶振
動子の直列共振点と並列共振点との間の狭いインダクタ
ンス成分を活用した発振回路であるので非常に安定な発
振器が得られ、従って安定な基準接合点の温度計測値が
えられる。また、演算回路には機械電気振動子を構成要
素とする発振回路と熱電対の測温点の測温出力値との相
対温度特性から作成した演算式によって該熱電対の測温
点の温度を算出するようにし、また、減算回路を用いる
ようにしたのでリニアライザを不要にすることが出来た
。
子を配設し、該機械電気振動子の計測値と熱電対の測温
出力値とから、該機械電気振動子の温度変化特性を活用
して熱電対の測温点の温度を算出するようにし、前記機
械電気振動子の温度変化特性を活用する手段としては水
晶発振回路を用いるようにした。水晶発振回路は水晶振
動子の直列共振点と並列共振点との間の狭いインダクタ
ンス成分を活用した発振回路であるので非常に安定な発
振器が得られ、従って安定な基準接合点の温度計測値が
えられる。また、演算回路には機械電気振動子を構成要
素とする発振回路と熱電対の測温点の測温出力値との相
対温度特性から作成した演算式によって該熱電対の測温
点の温度を算出するようにし、また、減算回路を用いる
ようにしたのでリニアライザを不要にすることが出来た
。
従って、調整箇所が少なく、安定で高精度な温度計測方
法と温度計測装置を提供することができる。
法と温度計測装置を提供することができる。
[実施例]
本発明の実施例を図によって詳細に説明する。
第1図は本発明に基づく一実施例の回路図であり、第2
図は別の実施例の回路図である。
図は別の実施例の回路図である。
第3図には本発明の実施例に用いる水晶振動子について
の説明図を示している。
の説明図を示している。
第3図(A>は水晶振動子の等価回路図であって、第3
図(B)図は該等価回路に基づく特性図である。
図(B)図は該等価回路に基づく特性図である。
第3図(A)においてRQは水晶振動子のもつ等価抵抗
、Lは水晶振動子の持つ等価インダクタンス、COは水
晶振動子の持つ等価キャパシタンスであって、Cmは該
水晶振動子の両端に於ける電極間の等価キャパシタンス
である。
、Lは水晶振動子の持つ等価インダクタンス、COは水
晶振動子の持つ等価キャパシタンスであって、Cmは該
水晶振動子の両端に於ける電極間の等価キャパシタンス
である。
本等価回路による特性は第3図(B)に示すように直列
共振点FSと並列共振点Fpが存在し、水晶の振動は機
械的であって損失成分が少ないのでROが小さく、従っ
て非常に大きなQを得ることかでき、また、C1nの大
きさに比べてcOの大きさが極度に小さいので二つの共
振点は非常に接近している。従って、第3図(B)図に
示す直列共振点FSと並列共振点Fpの間のインダクタ
ンス成分を活かした発振回路を構成すると非常に安定な
発振器を得ることができる。
共振点FSと並列共振点Fpが存在し、水晶の振動は機
械的であって損失成分が少ないのでROが小さく、従っ
て非常に大きなQを得ることかでき、また、C1nの大
きさに比べてcOの大きさが極度に小さいので二つの共
振点は非常に接近している。従って、第3図(B)図に
示す直列共振点FSと並列共振点Fpの間のインダクタ
ンス成分を活かした発振回路を構成すると非常に安定な
発振器を得ることができる。
また、水晶はカットの仕方によって各種の温度特性を持
った性能のものを得ることができるが、いずれにしても
安定な特性を持っているので、温度による前記発振器の
発振周波数の変化特性を計測しておくと、該発振器の発
振周波数を計測することによって、該水晶振動子部の温
度を検知することができる。
った性能のものを得ることができるが、いずれにしても
安定な特性を持っているので、温度による前記発振器の
発振周波数の変化特性を計測しておくと、該発振器の発
振周波数を計測することによって、該水晶振動子部の温
度を検知することができる。
第1図は上述した水晶発振器の温度特性を活かした本発
明に基づく温度計測装置の実施例を示している。
明に基づく温度計測装置の実施例を示している。
第1図において、1aとlbは均質で相互に成分を異に
する2種類の金属線であり、Jは両金属線を接合した接
合点である。la、1b両金属線と接合点によって熱電
対lの測温部を構成していて、該接合点Jを測定すべき
対象位置に配設する。
する2種類の金属線であり、Jは両金属線を接合した接
合点である。la、1b両金属線と接合点によって熱電
対lの測温部を構成していて、該接合点Jを測定すべき
対象位置に配設する。
金属線taと1bは筐体2の内部に設けた基準接合点2
1においてリード線に接合し、前記二種の前押金属線の
二個所の接合点間の温度差によって得られる測温出力値
は、リード線7aと7bによって導いて増幅回路3に入
力し、所定の電圧まで増幅した後、アナログデジタル変
換回路(以下ADCと記す)4によってデジタル値に変
換してコンピュータ10の入力回路13に入力する。
1においてリード線に接合し、前記二種の前押金属線の
二個所の接合点間の温度差によって得られる測温出力値
は、リード線7aと7bによって導いて増幅回路3に入
力し、所定の電圧まで増幅した後、アナログデジタル変
換回路(以下ADCと記す)4によってデジタル値に変
換してコンピュータ10の入力回路13に入力する。
22は発振回路23を構成する水晶振動子であって、該
発振回路23の発振周波数はカウンタ5によって計測し
た後、コンピュータ10の入力回路13に入力される。
発振回路23の発振周波数はカウンタ5によって計測し
た後、コンピュータ10の入力回路13に入力される。
コンピュータ10には前記二つのデジタル入力値から測
温点の温度を算出するための演算処理プログラムと定数
を記録したメモリ12とコンピュータ本体く以下CPU
と記す)11が含まれていて、CPUIIに於ける演算
結果は表示部6に表示される。
温点の温度を算出するための演算処理プログラムと定数
を記録したメモリ12とコンピュータ本体く以下CPU
と記す)11が含まれていて、CPUIIに於ける演算
結果は表示部6に表示される。
次に上記の回路における回路動作を説明する。
均質で相互に成分を異にする2種類の金属線、1aと1
bは接合点Jと21において接合しているのでゼーベッ
ク効果に基づく前接合点の温度差による起電力はリード
線7aと7bの間に出力される。リード線7aと7bは
増幅回路3に結合されているので、該起電力値は増幅回
路3に設定されている増幅機能によって所定の振幅まで
増幅した後、ADC4によって所定の条件にしたがった
デジタル値に変換してコンピュータ10の入力回路13
に入力している。
bは接合点Jと21において接合しているのでゼーベッ
ク効果に基づく前接合点の温度差による起電力はリード
線7aと7bの間に出力される。リード線7aと7bは
増幅回路3に結合されているので、該起電力値は増幅回
路3に設定されている増幅機能によって所定の振幅まで
増幅した後、ADC4によって所定の条件にしたがった
デジタル値に変換してコンピュータ10の入力回路13
に入力している。
上記の回路において2種類の金属線1aと1bの接合点
Jは測温点に配設されているので、基準接合点21の温
度が明確に管理されれば、測温点Jの温度を正しく知る
ことが出来る。
Jは測温点に配設されているので、基準接合点21の温
度が明確に管理されれば、測温点Jの温度を正しく知る
ことが出来る。
基準接合点21はリード線と接合する為の端子板に構成
されていて、該端子板は空気の流れを押さえて断熱し密
閉した筐体2の内部に装着されている。また、基準点2
1を設けた端子板には水晶振動子22を発振要素とする
発振回路23を該水晶振動子22と端子板との間の温度
抵抗を高めない構造で装着している。
されていて、該端子板は空気の流れを押さえて断熱し密
閉した筐体2の内部に装着されている。また、基準点2
1を設けた端子板には水晶振動子22を発振要素とする
発振回路23を該水晶振動子22と端子板との間の温度
抵抗を高めない構造で装着している。
従って、水晶振動子22は基準接合点21と同一温度に
安定に維持されているので、水晶振動子22を発振要素
とする発振回路23の発振周波数は基準接合点21の温
度によって一義的に定められている。水晶振動子22を
発振要素とする発振回路23の発振周波数をカウンタ5
に入力すると、カウンタ5においては、予め定めた所定
の時間毎に開閉して前記発振回路23からの入力信号を
入り切りするゲート回路とカウンタがあって、該ゲート
回路が開いている間に該ゲート回路を通過する前記発振
回路23からの入力信号の波の数をカウンタでカウント
する。従って、該発振回路23の発振周波数はデジタル
値に変換され、カウンタ5の出力信号としてコンピュー
タ10の入力回路13に入力している。
安定に維持されているので、水晶振動子22を発振要素
とする発振回路23の発振周波数は基準接合点21の温
度によって一義的に定められている。水晶振動子22を
発振要素とする発振回路23の発振周波数をカウンタ5
に入力すると、カウンタ5においては、予め定めた所定
の時間毎に開閉して前記発振回路23からの入力信号を
入り切りするゲート回路とカウンタがあって、該ゲート
回路が開いている間に該ゲート回路を通過する前記発振
回路23からの入力信号の波の数をカウンタでカウント
する。従って、該発振回路23の発振周波数はデジタル
値に変換され、カウンタ5の出力信号としてコンピュー
タ10の入力回路13に入力している。
コンピュータ10の内部に設けたメモリ12には、2種
類の金属線1aと1bによって構成される熱電対lの温
度特性と、水晶振動子22を発振要素とする発振回路の
温度特性、および、その他の回路条件から定まる演算式
と関係する定数が、演算プログラムとして記憶させてい
る。
類の金属線1aと1bによって構成される熱電対lの温
度特性と、水晶振動子22を発振要素とする発振回路の
温度特性、および、その他の回路条件から定まる演算式
と関係する定数が、演算プログラムとして記憶させてい
る。
入力回路13はCPU11と外部入力回路とのインタフ
ェースとしての機能を有しているので、入力回路13に
入力したADC4からの入力値とカウンタ5からの入力
値はCPUIIが演算処理をするに適した条件に変換処
理されてCPU11に入力し、CPUIIにおいては前
記演算プログラムによって演算される。従って、CPU
IIの出力端子からは測温点Jの温度が正しく算出され
て出力する。出力回路14は、CPU11の出力端子と
外部回路との間のインタフェースとして、CPU11の
出力端子から得られる出力信号をあらかじめ定められた
設計条件にしたがって外部回路に結合出来るように構成
されているので、前記CPU11からの温度情報は出力
回路14において表示装置6に入力するに適した信号に
変換処理されて表示装置6に入力する0表示装置6には
ラッチ回路と表示回路及び表示回路の為の増幅回路が含
まれる。したがって前記CPU11からの温度情報はラ
ッチ回路に入力し、該ラッチ回路は新しい温度情報がC
PUIIから供給されるまでの間該ラッチ回路のラッチ
している値を増幅回路で増幅し、表示回路で表示する。
ェースとしての機能を有しているので、入力回路13に
入力したADC4からの入力値とカウンタ5からの入力
値はCPUIIが演算処理をするに適した条件に変換処
理されてCPU11に入力し、CPUIIにおいては前
記演算プログラムによって演算される。従って、CPU
IIの出力端子からは測温点Jの温度が正しく算出され
て出力する。出力回路14は、CPU11の出力端子と
外部回路との間のインタフェースとして、CPU11の
出力端子から得られる出力信号をあらかじめ定められた
設計条件にしたがって外部回路に結合出来るように構成
されているので、前記CPU11からの温度情報は出力
回路14において表示装置6に入力するに適した信号に
変換処理されて表示装置6に入力する0表示装置6には
ラッチ回路と表示回路及び表示回路の為の増幅回路が含
まれる。したがって前記CPU11からの温度情報はラ
ッチ回路に入力し、該ラッチ回路は新しい温度情報がC
PUIIから供給されるまでの間該ラッチ回路のラッチ
している値を増幅回路で増幅し、表示回路で表示する。
上述の回路においてカウンタ5は、所定の時間毎にカウ
ンタ内部に含まれるゲートを開閉し、ゲートを通過する
水晶振動子22を発振要素とする発振回路23の発振周
波数の波の数をカウンタでカウントすると記したが、ゲ
ートを通過する水晶振動子22を発振要素とする発振回
路の発振波の波と波の間、即ち該発振波の1サイクルの
周期を時間とするゲート信号を作成し、別に設けた安定
な高周波パルス発振器からのパルス信号が該ゲート信号
を通過する数をカウントするようにしても良い、またそ
の他の周波数デジタル変換回路を使用することができる
。
ンタ内部に含まれるゲートを開閉し、ゲートを通過する
水晶振動子22を発振要素とする発振回路23の発振周
波数の波の数をカウンタでカウントすると記したが、ゲ
ートを通過する水晶振動子22を発振要素とする発振回
路の発振波の波と波の間、即ち該発振波の1サイクルの
周期を時間とするゲート信号を作成し、別に設けた安定
な高周波パルス発振器からのパルス信号が該ゲート信号
を通過する数をカウントするようにしても良い、またそ
の他の周波数デジタル変換回路を使用することができる
。
上述した変換回路のうちいずれの変換回路を用いるかは
、水晶振動子22を発振要素とする発振回路23の発振
周波数及び必要とする演算精度、及びCPUの性能によ
って任意に定めることが出来る。
、水晶振動子22を発振要素とする発振回路23の発振
周波数及び必要とする演算精度、及びCPUの性能によ
って任意に定めることが出来る。
また、機械電気振動子として水晶振動子を用いるように
説明したが、水晶振動子の代わりにセラミック振動子を
用いても良い、またチュウニングフォークによる発振器
を用いることも出来る。どの様な機械電気振動子を用い
るかは必要な温度の計測精度及びその他条件によって選
択すれば良い。
説明したが、水晶振動子の代わりにセラミック振動子を
用いても良い、またチュウニングフォークによる発振器
を用いることも出来る。どの様な機械電気振動子を用い
るかは必要な温度の計測精度及びその他条件によって選
択すれば良い。
また、水晶振動子を発振要素とする発振回路は、最近は
ICとして水晶振動子を含んだ発振器が市販されている
ので、水晶振動子とともに発振回路も基準接合点を装着
した端子板に装着することが可能であり、また望ましい
が、条件によっては、水晶発振回路の特性からみて大き
な影響が無いので′9.振回路を端子板から離して装着
しても良い。
ICとして水晶振動子を含んだ発振器が市販されている
ので、水晶振動子とともに発振回路も基準接合点を装着
した端子板に装着することが可能であり、また望ましい
が、条件によっては、水晶発振回路の特性からみて大き
な影響が無いので′9.振回路を端子板から離して装着
しても良い。
また、コンピュータ10の内部に設けたメモリ12には
、2種類の金属線1aと1bによって構成される熱電対
としての温度特性と、水晶振動子22を発振要素とする
発振回路の温度特性、及びその他の回路条件から定まる
演算式と関係する定数が演算プログラムとして記憶させ
ている、と記したが、熱電対の温度特性と水晶振動子を
発振要素とする発振回路の温度特性、及びその他の回路
条件から定まる演算式と関係する定数は、数式を基にし
て演算プログラムとして作成し記憶させて使用しても良
いが、熱電対の温度特性と水晶振動子を発振要素とする
発振回路の温度特性、及びその池の回路条件から定まる
関係を熱電対の温度と水晶振動子を発振要素とする発振
回路の発振周波数と熱電対の起電力とから該熱電対の測
温点の温度を検出する三次元の数表として、または複数
の数表として記憶させ、熱電対の起電力値と発振回路の
発振周波数の計測値に対応して該数表から索引し、数表
に表示されていない中間値に対しては比例計算で補正す
るようにして熱電対の測温点の温度を算出することもで
きる。
、2種類の金属線1aと1bによって構成される熱電対
としての温度特性と、水晶振動子22を発振要素とする
発振回路の温度特性、及びその他の回路条件から定まる
演算式と関係する定数が演算プログラムとして記憶させ
ている、と記したが、熱電対の温度特性と水晶振動子を
発振要素とする発振回路の温度特性、及びその他の回路
条件から定まる演算式と関係する定数は、数式を基にし
て演算プログラムとして作成し記憶させて使用しても良
いが、熱電対の温度特性と水晶振動子を発振要素とする
発振回路の温度特性、及びその池の回路条件から定まる
関係を熱電対の温度と水晶振動子を発振要素とする発振
回路の発振周波数と熱電対の起電力とから該熱電対の測
温点の温度を検出する三次元の数表として、または複数
の数表として記憶させ、熱電対の起電力値と発振回路の
発振周波数の計測値に対応して該数表から索引し、数表
に表示されていない中間値に対しては比例計算で補正す
るようにして熱電対の測温点の温度を算出することもで
きる。
また、必要とする計測温度の範囲がせまく、前述した各
要素間の関係温度特性が直線であると見做し得る場合に
おいては、CPU11に記憶させる前立プログラムを熱
電対の起電力値と発振回路の発振周波数の計測値との差
を求める減算式とすることができる。この場合は熱電対
の起電力値と発振回姉の発振周波数の計測値との関係を
合わせるためにADC4のアナログデジタル変換条件を
適切に設定しておくかCl) tJ 11の中にデジタ
ル化された熱電対の起電力値と発振回路の発振周波数の
計測値との関係を合わせるための処理プログラブ、が必
要である。
要素間の関係温度特性が直線であると見做し得る場合に
おいては、CPU11に記憶させる前立プログラムを熱
電対の起電力値と発振回路の発振周波数の計測値との差
を求める減算式とすることができる。この場合は熱電対
の起電力値と発振回姉の発振周波数の計測値との関係を
合わせるためにADC4のアナログデジタル変換条件を
適切に設定しておくかCl) tJ 11の中にデジタ
ル化された熱電対の起電力値と発振回路の発振周波数の
計測値との関係を合わせるための処理プログラブ、が必
要である。
また、必要とする計測温度の範囲がせまく、前述した各
要素151の関係温度1.シ性が直線であると見做しf
:)る場合においては、CPUIIをハードウェアによ
って構成した減算回路に置き換えても良い 即ち第2図において、1aと1bは均質で相互に成分を
弄にする2種類の金属線であり1.■は両金属線を接合
した接合点である。la、lb両全金属線接合点によっ
て熱電対1の測温部を構成していて、該接合点Jを測定
すべき対象位置に配設する。金属線1aと1bは筐体2
の内部に設けたJ^準接接合点21おいてリード線に接
合し、前記棟の5z種金属線の二個所の接合点間の湛度
港によって得られる測温出力値はリード線7aと7bに
よって導いて増幅回路3に入力し、所定の電圧まで増幅
した後、アナログデジタル変換回路(以下ADCと記す
〉4によってBCDコートのデジタル値に変換して加算
回路15の入力端子に人力する。22は発振回路23を
構成する水漏振動子であって、該発振回路23の発振周
波数は二進化+逸コード〈以下BCDコードと記す〉の
カウンタ5によって計測した後、補数作成回路16でカ
ウンタ5のカウント値を9の補数値に変換して、前述し
た加算回路15のADC4がらの出力値を人力した入力
端子とは別の入力端子に人力し、加算回路15の内容は
表示部6に表示される9次に上記の回路における回路動
作を説明する。
要素151の関係温度1.シ性が直線であると見做しf
:)る場合においては、CPUIIをハードウェアによ
って構成した減算回路に置き換えても良い 即ち第2図において、1aと1bは均質で相互に成分を
弄にする2種類の金属線であり1.■は両金属線を接合
した接合点である。la、lb両全金属線接合点によっ
て熱電対1の測温部を構成していて、該接合点Jを測定
すべき対象位置に配設する。金属線1aと1bは筐体2
の内部に設けたJ^準接接合点21おいてリード線に接
合し、前記棟の5z種金属線の二個所の接合点間の湛度
港によって得られる測温出力値はリード線7aと7bに
よって導いて増幅回路3に入力し、所定の電圧まで増幅
した後、アナログデジタル変換回路(以下ADCと記す
〉4によってBCDコートのデジタル値に変換して加算
回路15の入力端子に人力する。22は発振回路23を
構成する水漏振動子であって、該発振回路23の発振周
波数は二進化+逸コード〈以下BCDコードと記す〉の
カウンタ5によって計測した後、補数作成回路16でカ
ウンタ5のカウント値を9の補数値に変換して、前述し
た加算回路15のADC4がらの出力値を人力した入力
端子とは別の入力端子に人力し、加算回路15の内容は
表示部6に表示される9次に上記の回路における回路動
作を説明する。
均質で相互に成分を異にする2種類の金属線、laとl
bは接合点、Jと21において接合しているのでゼーベ
ック効果に基づく両接合点の温度差による起電力はリー
ド線7aと7bの間に出力される。リード線7aと7b
は増幅回!@3に結合されているので、該起電力値は増
幅回路3に設定されている増幅機能によって所定の振幅
まで増幅した後、ADC4によって後述する水晶発振回
路の発振周波数との対応を合わせるために必要な所定の
条件にしたがったBCDコードのデジタル値に変換して
加算回路15の入力端子に入力する。
bは接合点、Jと21において接合しているのでゼーベ
ック効果に基づく両接合点の温度差による起電力はリー
ド線7aと7bの間に出力される。リード線7aと7b
は増幅回!@3に結合されているので、該起電力値は増
幅回路3に設定されている増幅機能によって所定の振幅
まで増幅した後、ADC4によって後述する水晶発振回
路の発振周波数との対応を合わせるために必要な所定の
条件にしたがったBCDコードのデジタル値に変換して
加算回路15の入力端子に入力する。
上記の回路において2種類の金属線1aと11)の接合
点Jは測温点に配設されているので、基準接合点21の
温度が明確に管理されれば、測温点、Jo)温度を正し
く知ることが出来る。
点Jは測温点に配設されているので、基準接合点21の
温度が明確に管理されれば、測温点、Jo)温度を正し
く知ることが出来る。
基準接合点21はリード線と接合するl)の端子板に構
成されていて、該端子板は空気の流れを押さえて断熱し
密閉した筐体2の内部に装着されている。また。基準点
21を設けた端子板には水晶振動子22を発振要素とす
る発振回路23を該水晶振動子22と端子板との間の温
度抵抗を高めない構造で装着している。
成されていて、該端子板は空気の流れを押さえて断熱し
密閉した筐体2の内部に装着されている。また。基準点
21を設けた端子板には水晶振動子22を発振要素とす
る発振回路23を該水晶振動子22と端子板との間の温
度抵抗を高めない構造で装着している。
従って、水晶振動子22は基準接合点21と同一温度に
安定に維持されているので、水晶振動子22を発振要素
とする発振回路23の発振周波数は基準接合点21の温
度によって一義的に定められている。水晶振動子22を
発振要素とする発振回路23の発振周波数をカウンタ5
に入力すると、カウンタ5においては、予め定めた所定
の時間毎に1剤1刀して前記発振回路23がらの入力信
号を入り切りするゲート回路とカウンタがあって、該ゲ
ート回路が開いている間に該ゲート回路を通過する前記
発振回路23からの入力信号の波の数を、BCDコード
のカウンタでカウントする。従って該発振回路23の発
振周波数はBCDコードのデジタル値に変換される。
安定に維持されているので、水晶振動子22を発振要素
とする発振回路23の発振周波数は基準接合点21の温
度によって一義的に定められている。水晶振動子22を
発振要素とする発振回路23の発振周波数をカウンタ5
に入力すると、カウンタ5においては、予め定めた所定
の時間毎に1剤1刀して前記発振回路23がらの入力信
号を入り切りするゲート回路とカウンタがあって、該ゲ
ート回路が開いている間に該ゲート回路を通過する前記
発振回路23からの入力信号の波の数を、BCDコード
のカウンタでカウントする。従って該発振回路23の発
振周波数はBCDコードのデジタル値に変換される。
該水晶発振回路23の発振周波数はカウンタ5によって
計allした後、補数作成回路16でカウンタ5のカウ
ント値をBCDコードにおける9の補数値に変換して前
述した加算回路15のADC4からの出力を入力した入
力端子とは別の入力端子に入力する。また、該加算回路
には前記カウンタ5に於けるゲート信号を入力して加算
のスタートストップを行っている。従って、加算回路1
5には加算結果として、熱電対1の測温値をBCDコー
ドで表したデジタル値から水晶発振回路23の発振周波
数をBCDコードで表したデジタル値を減算した値、す
なわち測温点の正しい温度値が残されている。従って、
該加算回路15の加算結果を表示装置6に表示すること
によって、測温点の正しい温度値を知ることができる。
計allした後、補数作成回路16でカウンタ5のカウ
ント値をBCDコードにおける9の補数値に変換して前
述した加算回路15のADC4からの出力を入力した入
力端子とは別の入力端子に入力する。また、該加算回路
には前記カウンタ5に於けるゲート信号を入力して加算
のスタートストップを行っている。従って、加算回路1
5には加算結果として、熱電対1の測温値をBCDコー
ドで表したデジタル値から水晶発振回路23の発振周波
数をBCDコードで表したデジタル値を減算した値、す
なわち測温点の正しい温度値が残されている。従って、
該加算回路15の加算結果を表示装置6に表示すること
によって、測温点の正しい温度値を知ることができる。
上記の説明において、加算回路をBCDコードで表した
デジタル値で計算するように説明したが、必ずしもBC
Dコードにとられれること無く、任意のコードによるデ
ジタル処理が実施出来る。また、減算の可能な回路であ
れば上記のような加算回路を用いなくても良い。
デジタル値で計算するように説明したが、必ずしもBC
Dコードにとられれること無く、任意のコードによるデ
ジタル処理が実施出来る。また、減算の可能な回路であ
れば上記のような加算回路を用いなくても良い。
また、上記の説明では、機械電気振動子として水晶振動
子を用いるように説明したが、前述した第1図の実施例
と同じく水晶振動子の代わりにセラミック振動子を用い
ても良い、またチュウニングフォークによる発振器を用
いることも出来る。
子を用いるように説明したが、前述した第1図の実施例
と同じく水晶振動子の代わりにセラミック振動子を用い
ても良い、またチュウニングフォークによる発振器を用
いることも出来る。
どの様な機械電気振動子を用いるかは必要な温度の計測
精度及びその他条件によって選択すれば良い。また、水
晶振動子を発振要素とする発振回路は、最近はICとし
て水晶振動子を含んだ発振器が市販されているので、水
晶振動子とともに発振回路も基準接合点を装着した端子
板に装着することが可能であり、また望ましいが、条件
によっては、水晶発振回路の特性からみて大きな影響が
無いので発振回路を端子板から離して装着しても良い また、上述の説明ではデジタル処理で説明したが、発振
回路の発振周波数を周波数アナログ変換を行い、演算増
幅器によってm戒した減算回路等によるアナログ処理に
よってもよい。
精度及びその他条件によって選択すれば良い。また、水
晶振動子を発振要素とする発振回路は、最近はICとし
て水晶振動子を含んだ発振器が市販されているので、水
晶振動子とともに発振回路も基準接合点を装着した端子
板に装着することが可能であり、また望ましいが、条件
によっては、水晶発振回路の特性からみて大きな影響が
無いので発振回路を端子板から離して装着しても良い また、上述の説明ではデジタル処理で説明したが、発振
回路の発振周波数を周波数アナログ変換を行い、演算増
幅器によってm戒した減算回路等によるアナログ処理に
よってもよい。
また、筐体2は断熱構造の密閉した筐体であると説明し
たが、環境条件によっては開放型の端子板のみであって
も良い。
たが、環境条件によっては開放型の端子板のみであって
も良い。
また温度計測結果は、表示装置6に表示するように説明
したが、測定結果を自動温度制御装置等に入力して、各
種自動制御装置に活用することも出来る。
したが、測定結果を自動温度制御装置等に入力して、各
種自動制御装置に活用することも出来る。
[発明の効果1
以上説明したように本発明によれば、基準接合点の温度
計測に機械電気振動子を配設し、該機械電気振動子の計
測値と熱電対の起電力とから該熱電対の測温点の温度を
算出するようにしたので、調整箇所が少なく、安定で高
精度な温度計測方法と温度計測装置を提供することがで
きる。また、リニアライザを不要にすることが出来ると
いうすぐれた効果を得ることが出来る。
計測に機械電気振動子を配設し、該機械電気振動子の計
測値と熱電対の起電力とから該熱電対の測温点の温度を
算出するようにしたので、調整箇所が少なく、安定で高
精度な温度計測方法と温度計測装置を提供することがで
きる。また、リニアライザを不要にすることが出来ると
いうすぐれた効果を得ることが出来る。
第1図は本発明に係る一実施例の回路ブロック図。
第2図は本発明に係る別の実施例の回路ブロック図。
第3図は第1図、第2図に示した実施例の水晶振動子の
特性図。 第4図は従来の概要回路ブロック図である。 1・・・熱電対 2・・・基準接合点筐体 3・・・増幅回路 4・・・アナログデジタル変換回路 5・・・カウンタ 6・・・表示装置 7・・・リード線 10−・・コンピュータ 11・・・CPU 12・・・メモリ 13・・・入力回路 14・・・出力回路 15・・・加算回路 16・・・補数作成回路 1・・・基準接合点 2・・・水晶振動子 3・・・発振回路 1.42・・・金属線 3.44・・補償導線 5.46・・・リート線 7・・・摂氏零度維持装置 8・・・恒温槽 9・・・温度補償装置 O・・表示装置
特性図。 第4図は従来の概要回路ブロック図である。 1・・・熱電対 2・・・基準接合点筐体 3・・・増幅回路 4・・・アナログデジタル変換回路 5・・・カウンタ 6・・・表示装置 7・・・リード線 10−・・コンピュータ 11・・・CPU 12・・・メモリ 13・・・入力回路 14・・・出力回路 15・・・加算回路 16・・・補数作成回路 1・・・基準接合点 2・・・水晶振動子 3・・・発振回路 1.42・・・金属線 3.44・・補償導線 5.46・・・リート線 7・・・摂氏零度維持装置 8・・・恒温槽 9・・・温度補償装置 O・・表示装置
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、熱電対による温度計測手段において、熱電対の基準
接合点部に配設した機械電気振動子の温度による物理的
変数を計測し、該計測値と熱電対の測温出力値とから該
熱電対の測温点の温度を算出することを特徴とする温度
計測方法。 2、機械電気振動子に水晶振動子を用いたことを特徴と
する請求項1記載の温度計測方法。 3、前記機械電気振動子の物理的変数を第1のデジタル
量によって得、前記熱電対の測温出力を第2のデジタル
量で得、第1のデジタル量と第2のデジタル量との差か
ら熱電対の測温点の温度を算出することを特徴とする請
求項1記載の温度計測方法。 4、熱電対による温度計測装置において、熱電対の基準
接合点部に配設した機械電気振動子と、該機械電気振動
子の温度による物理的変数の計測装置と、該計測値と熱
電対の測温出力値とから該熱電対の測温点の温度を算出
する演算装置とを含んでいることを特徴とする温度計測
装置。 5、機械電気振動子に水晶振動子を用いたことを特徴と
する請求項4記載の温度計測装置。 6、熱電対による温度計測装置において、熱電対の基準
接合点部に配設した機械電気振動子と、該機械電気振動
子を構成要素とする発振回路と、該発振回路の発振周波
数を計数する計数回路と、熱電対の測温点の熱起電力を
デジタル値に変換するアナログデジタル変換回路と、前
記計数回路の出力値と前記デジタル化された熱電対の測
温点の測温出力値から前記機械電気振動子を構成要素と
する発振回路と熱電対の測温点の測温出力値との相対温
度特性から作成した演算式によつて該熱電対の測温点の
温度を算出する演算装置とを含むことを特徴とする温度
計測装置。 7、機械電気振動子に水晶振動子を用いたことを特徴と
する請求項6記載の温度計測装置。 8、前記演算装置が、前記計数回路の出力値と前記デジ
タル化された熱電対の測温点の測温出力値との差を算出
する減算回路であることを特徴とする請求項6記載の温
度計測装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP21005889A JPH0373817A (ja) | 1989-08-16 | 1989-08-16 | 温度計測方法及び装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP21005889A JPH0373817A (ja) | 1989-08-16 | 1989-08-16 | 温度計測方法及び装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0373817A true JPH0373817A (ja) | 1991-03-28 |
Family
ID=16583119
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP21005889A Pending JPH0373817A (ja) | 1989-08-16 | 1989-08-16 | 温度計測方法及び装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0373817A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5362943A (en) * | 1991-03-26 | 1994-11-08 | Kanegafuchi Kagaku Kogyo Kabushiki Kaisha | Fixing device and heat roller therefor |
KR20030031297A (ko) * | 2001-10-13 | 2003-04-21 | 엘지전자 주식회사 | 제벡 효과를 이용한 이동 통신 단말기의 온도 감지 장치 |
CN102312467A (zh) * | 2011-06-21 | 2012-01-11 | 广东省电力设计研究院 | 消防气压稳压给水系统 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5940829B2 (ja) * | 1974-09-02 | 1984-10-03 | スミス・クライン・アンド・フレンチ・ラボラトリ−ス・リミテツド | メルカプトエチル置換グアニジンの製法 |
-
1989
- 1989-08-16 JP JP21005889A patent/JPH0373817A/ja active Pending
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5940829B2 (ja) * | 1974-09-02 | 1984-10-03 | スミス・クライン・アンド・フレンチ・ラボラトリ−ス・リミテツド | メルカプトエチル置換グアニジンの製法 |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5362943A (en) * | 1991-03-26 | 1994-11-08 | Kanegafuchi Kagaku Kogyo Kabushiki Kaisha | Fixing device and heat roller therefor |
KR20030031297A (ko) * | 2001-10-13 | 2003-04-21 | 엘지전자 주식회사 | 제벡 효과를 이용한 이동 통신 단말기의 온도 감지 장치 |
CN102312467A (zh) * | 2011-06-21 | 2012-01-11 | 广东省电力设计研究院 | 消防气压稳压给水系统 |
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