JPH037260B2 - - Google Patents

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JPH037260B2
JPH037260B2 JP17576882A JP17576882A JPH037260B2 JP H037260 B2 JPH037260 B2 JP H037260B2 JP 17576882 A JP17576882 A JP 17576882A JP 17576882 A JP17576882 A JP 17576882A JP H037260 B2 JPH037260 B2 JP H037260B2
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JP
Japan
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bottle
amplifier
signal
defect
photoelectric conversion
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JPS5965243A (en
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Nobuhiro Minato
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Toyo Glass Co Ltd
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Toyo Glass Co Ltd
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Publication date
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/90Investigating the presence of flaws or contamination in a container or its contents
    • G01N21/9054Inspection of sealing surface and container finish

Description

【発明の詳細な説明】[Detailed description of the invention]

本発明は、びんの封口面となる開口端面部の欠
陥の有無を検査するびん検査装置に関するもので
ある。 びんの開口端面(以下これを「天」という)に
欠陥が存在すると密封キヤツプをかぶせたときの
密封性が損われるので、欠陥の存在するびんは排
除しなければならない。従来、この種の欠陥を検
出するために、びんの天を光学的に走査してその
反射光を電気信号に変換し、その電気信号の異常
性から天の欠陥を検知するようにした検査装置が
種々提案されている。しかし、この種の検査装置
においては、個々のびんの天の反射率の違いや、
投光器の経年劣化、環境の明暗度の経時的変化、
投光器の電源電圧変動などにより、たとえ欠陥の
無い場合であつても受光素子の電気出力に大きな
変動を来たし、そのため処理信号の平均レベルも
大きく変化するので高精度の欠陥検出は困難であ
り、信頼性を低下させる一因となつていた。 したがつて本発明の目的は、びんの天に生じ得
る種々の欠陥をより高精度に高信頼性をもつて検
出し得るびん検査装置を提供することにある。 この目的を達成するために本発明は、 a) びんの開口端面に向けて投光する投光器
と、 b) 前記開口端面からの反射光を受け、その受
光量に応じたレベルの電気信号を出力する光電
変換素子と、 c) びん開口端面が順次全周にわたつて投光さ
れるようにびんを回転駆動する駆動装置と、 d) 前記光電変換素子の出力信号を増幅する可
変増幅度の増幅器と、 e) この増幅器の出力信号を各びんごとに記憶
するメモリと、 f) このメモリに記憶されたデータのうち、過
去最新の所定数のびんについてのデータの平均
値を求め、その平均値が予め定められた所定値
となるように前記増幅器の増幅度を調節する演
算制御手段と、 g) 検査中のびんについて開口端面全周にわた
る前記増幅器の出力信号の異常成分が所定値を
超えたとき欠陥信号を出力する比較演算手段と を備えて成るびん検査装置を構成したものであ
る。 以下、図面に示す実施例を参照して本発明を詳
細に説明する。 第1図は、検査対象の天2を有するびん1と、
びん1の斜め上方から天2に向けて投光する投光
器3と、天2からの反射光を受けてその受光量に
応じたレベルの電気信号を出力する光電変換素子
4とを示している。びん1は天2の全周にわたる
光学的走査のため検査位置で、図示していない駆
動装置により少なくとも1回転だけ回転駆動され
る。ここまでの装置部分は従来公知のものをその
まま用いて構成することができる。 第2図に示すように、光電変換素子4の出力電
気信号は増幅度可変の増幅器5およびA−D変換
器6を介してメモリ7に記憶される。一方、びん
1を回転駆動する駆動装置の動きに連係してびん
1の回転速度を速度検出器8により検出し、その
検出値と、その都度のびん口径を設定するびん口
径設定部9の設定値とに基づいて、光学的に走査
する天2の走査速度を天部周速演算器10により
演算する。この演算器10の演算結果に基づい
て、A−D変換器6は、びん1が1周する間に採
取するデータのピツチが駆動装置の速度やびん口
径のいかんにかかわらず、常に一定になるように
変換タイミング設定器11を介して調整される。 メモリ7にはA−D変換器6から出力されるデ
ータが各びんごとに一連のデイジタル量として記
憶されるので、その記憶データを基にして演算制
御器12はまず次のような演算を行なう。 いま便宜上、メモリ7の記憶内容がアナログ的
に表現して第3図に示すようであつたとして、あ
るびんの検査時点Qを基準として、すでに検査済
のびんについてのデータのうち、最新のものを予
め定めた所定数(例えば10組)だけD1,D2…Do
と用いてその平均値P1を求める。すなわち個々
のびんのデータD1,D2…の平均値をD1 D2 ,…
として、 P1=1/nok=1 を求める。第3図には個々のびん相互間で平均反
射光信号レベルが大幅に異なるかのように多少誇
張されて表現されているが、実際は、同一生産ロ
ツト内ではこの差はもつと小さい。そこで過去所
定数(例えば10個)のびんについてのデータを平
均することにより特定のびんの欠陥等による異常
データに基づく影響を薄めるようにしているので
ある。この平均値P1は、びんの検査が進行する
につれて、平均値の計算に用いたデータのうち最
も古いものはその都度捨て、その代り最新のびん
についてのデータを補充するようにして、常に更
新するものとする。 しかして、電気回路装置を安定に正しく動作さ
せるためには、すでに述べたように、信号レベル
を所定値にそろえるのが望ましく、そのレベルを
演算制御器12内に設定し、前述の平均値P1
その設定値に一致するように、演算制御器12は
D−A変換器13を介して増幅器5の増幅度を調
節する。 このようにして一定レベルの電気信号となるよ
うに増幅された光電変換素子4の出力信号がA−
D変換されてメモリ7に記憶される。ここで最後
に検査されたびんすなわち被検査びんについての
記憶データを用いて比較演算器14はその被検査
びんについて欠陥の有無を判断する。そのため、
被検査びんについての平均値P0を計算するとと
もに、一つのびんについての一連のデータ中の極
大値Pxおよび極小値Pzを摘出し、△P0=|P1−
P0|および△Pm=Px−Pzがそれぞれ定められ
た各限界値以内か、またはそれを超えているかを
判断する。そして前者の場合は欠陥無し、または
あつてもそれは許容範囲内であると判断し、後者
の場合は欠陥ありと判断して欠陥信号を出力す
る。この欠陥信号は、例えばドライバ15を介し
て、生産ラインにおける欠陥びんの排除信号とし
て用いたり、記録や警報用、工程管理用などのた
めの信号として用いたりすることができる。 次に光電変換素子4の出力信号つまりは増幅器
5の出力信号の波形の具体例と、それに対応する
欠陥について説明する。 第4図は、被検査びん固有の平均値P0が前述
の一連のびんについての平均値P1にほぼ一致し
ているが、ごく幅の狭い小振幅のパルス状異常波
形が現われる場合であつて、△Pmも予め定めら
れた限界値以下である例を示すものであり、これ
は比較演算器15により正常(欠陥なし)と判断
される。このケースは、びん1の天2にわたぼこ
りのような小さなごみが付着したような場合に相
当する。 第5図は、全体的になだらかに傾斜した変化を
示しているが、その平均値P0と平均値P1との間
の差△P0も、極大値と極小値との間の差△Pmも
共に所定の限界値以内である場合を示し、この場
合も正常と判断される。 第6図は、比較的大きな正のパルスが現れるこ
とにより差△Pmが限界値を超える場合を示すも
のであつて、これは第11図に例示するクロー
ズ・ブリスタ(閉じた泡)CBと言われる欠陥に
対応する。 第7図は、第6図とは異なり、比較的大きな負
のパルスが現れることにより差△Pmが限界値を
超える場合であつて、これは第11図の天すじ
TSや、第12図の口焼きびりKB、オーブン・
ブリスタ(開いた泡)OBと言われる欠陥に対応
する。 第8図は、全体的になだらかに傾斜して1往復
するタイプであつて、しかも△Pmが所定の限界
値よりも大きい場合であり、これは第14図に示
すように正しくは破線2Tで表される水平な天と
なるべきところであるのに、天2が傾斜した、い
わゆる天傾斜という欠陥に対応する。 第9図は、波形中に比較的大きな谷が現れる場
合であつて、△Pmも大である場合である。これ
は第13図に示すような天波TNや天流れTFと
言われる欠陥に対応するものである。 第10図は、波形が全体として平坦であるがレ
ベルが低く、平均値P0が平均値P1よりかなり小
さく△P0が所定の限界値を越える場合である。
これは第15図に示すようにびん1の高さHsが
規定の高さ寸法Htに達せず、しかも許容誤差範
囲を超える場合とか、びん1に口が全く不十分に
しか形成されていない場合に対応する。 以上述べた第6図〜第10図の波形の場合はそ
れぞれ第11図〜第15図に示すような欠陥が存
在する場合であつて、比較演算器14が欠陥信号
を出力する。 欠陥かどうかの判断を行なう場合の限界値すな
わちしきい値は不良信号の特徴つまり検出すべき
びんの天の欠陥の種類に応じて、異なるレベルを
設定するのがよい。このような波形の特徴認識お
よびその認識結果に基づく限界値の設定は比較演
算器14を用いて行なうことができる。 信号波形図の特徴の認識および限界値の設定例
について次に説明する。 まず欠陥の種類を次の3種に大別する。 #1:口焼きびりKB(第7図、第12図)オ
ープン・ブリスタOB(第7図、第12図) 天すじTS(第7図、第11図) #2:クローズド・ブリスタCB(第6図、第1
1図) #3:天波TN(第9図、第13図) 天流れTF(第9図、第13図)) このような分類を前提として、びん口の全周囲
長さに対して欠陥に対応する不良信号部の長さ
が、 a) #1の欠陥に対しては暗方向に0.01〜0.1
%である時。 b) #2の欠陥に対しては明方向に0.01〜0.1
%である時 c) #3の欠陥に対しては暗方向に10〜30%で
ある時 にそれぞれ一応、欠陥ありと予備的に判断し、さ
らにびんの用途・封口構造に応じて次表に示す許
容限界値、すなわち平均値P1に対するずれの許
容限界値、を超えた時に最終的に欠陥ありと判断
する。
The present invention relates to a bottle inspection device that inspects the presence or absence of defects in the open end surface of a bottle, which serves as the sealing surface. If there is a defect on the open end surface (hereinafter referred to as the "top") of the bottle, the sealing performance when the sealing cap is placed will be impaired, so bottles with defects must be discarded. Conventionally, in order to detect this type of defect, inspection equipment optically scans the top of the bottle, converts the reflected light into an electrical signal, and detects defects in the top from the abnormality of the electrical signal. Various proposals have been made. However, with this type of inspection equipment, differences in the reflectance of the top of individual bottles,
Deterioration of floodlights over time, changes in environmental brightness over time,
Fluctuations in the power supply voltage of the emitter will cause large fluctuations in the electrical output of the light receiving element even if there is no defect, and as a result, the average level of the processed signal will also change greatly, making it difficult to detect defects with high precision and reliability. This was a contributing factor to the decline in sexual performance. SUMMARY OF THE INVENTION Accordingly, an object of the present invention is to provide a bottle inspection device that can detect various defects that may occur on the top of a bottle with higher precision and reliability. In order to achieve this object, the present invention comprises: a) a light projector that emits light toward the open end surface of a bottle; and b) receives reflected light from the open end surface and outputs an electrical signal at a level corresponding to the amount of received light. c) a drive device that rotates the bottle so that the bottle opening end face is sequentially illuminated over the entire circumference; and d) an amplifier with a variable amplification degree that amplifies the output signal of the photoelectric conversion element. and e) a memory that stores the output signal of this amplifier for each bottle; and f) of the data stored in this memory, the average value of the data for the latest predetermined number of bottles in the past is calculated, and the average value is calculated. (g) an arithmetic control means for adjusting the amplification degree of the amplifier so that the amplification factor becomes a predetermined value; This bottle inspection device comprises a comparison calculation means for outputting a defect signal when the defect signal is detected. Hereinafter, the present invention will be explained in detail with reference to embodiments shown in the drawings. FIG. 1 shows a bottle 1 having a top 2 to be inspected;
A light projector 3 emits light from diagonally above the bottle 1 toward the ceiling 2, and a photoelectric conversion element 4 that receives reflected light from the ceiling 2 and outputs an electrical signal at a level corresponding to the amount of received light. The bottle 1 is rotated through at least one rotation by a drive (not shown) in the inspection position for optical scanning over the entire circumference of the top 2. The device parts up to this point can be configured using conventionally known parts as they are. As shown in FIG. 2, the output electrical signal of the photoelectric conversion element 4 is stored in a memory 7 via an amplifier 5 with a variable amplification degree and an AD converter 6. On the other hand, the rotational speed of the bottle 1 is detected by a speed detector 8 in conjunction with the movement of the drive device that rotationally drives the bottle 1, and the detected value and the setting of the bottle diameter setting section 9 which sets the bottle diameter each time are set. Based on this value, the scanning speed of the top 2 that is optically scanned is calculated by the top peripheral speed calculator 10. Based on the calculation results of the calculator 10, the A-D converter 6 ensures that the pitch of the data collected during one revolution of the bottle 1 is always constant regardless of the speed of the drive device or the bottle diameter. It is adjusted via the conversion timing setter 11 as follows. Since the data output from the A-D converter 6 is stored in the memory 7 as a series of digital quantities for each bottle, the arithmetic controller 12 first performs the following calculations based on the stored data. . For convenience, let us assume that the contents of the memory 7 are represented in analog form as shown in FIG. A predetermined number (for example, 10 pairs) of D 1 , D 2 ...D o
Find the average value P 1 using . In other words, the average value of the data D 1 , D 2 ... of each bottle is D 1 , D 2 , ...
As, P 1 =1/n ok=1 is determined. Although the average reflected light signal level is somewhat exaggerated in FIG. 3, as if the average reflected light signal level differs greatly between individual bottles, in reality, this difference is small within the same production lot. Therefore, by averaging the data for a predetermined number of past bottles (for example, 10 bottles), the influence of abnormal data due to defects in specific bottles is weakened. This average value P 1 is constantly updated as the bottle inspection progresses, by discarding the oldest data used to calculate the average value and replenishing it with data for the latest bottles. It shall be. Therefore, in order to operate the electric circuit device stably and correctly, it is desirable to adjust the signal level to a predetermined value, as described above, and this level is set in the arithmetic controller 12, and the above-mentioned average value P 1 matches the set value, the arithmetic controller 12 adjusts the amplification degree of the amplifier 5 via the DA converter 13. The output signal of the photoelectric conversion element 4, which has been amplified in this way to become an electric signal at a constant level, is A-
The data is converted into D and stored in the memory 7. Here, using the stored data regarding the bottle inspected last, that is, the bottle to be inspected, the comparator 14 determines whether or not there is a defect in the bottle to be inspected. Therefore,
Calculate the average value P 0 for the bottles to be inspected, and extract the maximum value Px and minimum value Pz from a series of data for one bottle, and calculate △P 0 = |P1−
It is determined whether P 0 | and △Pm=Px−Pz are within or exceed each predetermined limit value. In the former case, it is determined that there is no defect, or even if there is a defect, it is within an allowable range, and in the latter case, it is determined that there is a defect and a defect signal is output. This defect signal can be used, for example, via the driver 15, as a signal for rejecting defective bottles in a production line, or as a signal for recording, warning, process control, etc. Next, a specific example of the waveform of the output signal of the photoelectric conversion element 4, that is, the output signal of the amplifier 5, and the defects corresponding thereto will be explained. Figure 4 shows a case where the average value P 0 specific to the bottle under test almost matches the average value P1 for the series of bottles described above, but a pulse-like abnormal waveform with a very narrow width and small amplitude appears. , ΔPm are also below a predetermined limit value, and this is determined by the comparator 15 to be normal (no defect). This case corresponds to a case where small dust such as cotton dust is attached to the top 2 of the bottle 1. Figure 5 shows a gradual slope of change as a whole, and the difference △P 0 between the average value P 0 and the average value P1 is also the same as the difference △Pm between the maximum value and the minimum value. Both of these values are within predetermined limit values, and this case is also determined to be normal. Figure 6 shows a case where the difference △Pm exceeds the limit value due to the appearance of a relatively large positive pulse, and this is called the closed blister CB illustrated in Figure 11. Respond to defects that occur. In Fig. 7, unlike Fig. 6, the difference △Pm exceeds the limit value due to the appearance of a relatively large negative pulse, and this is the case where the top line in Fig. 11
TS, mouth burning KB in Figure 12, oven/
Corresponds to a defect called blister (open bubble) OB. Fig. 8 shows a type that makes one reciprocation with a gentle slope as a whole, and △Pm is larger than a predetermined limit value, which is correctly indicated by the broken line 2T as shown in Fig. 14. This corresponds to a defect called sky tilt, in which the sky 2 is tilted even though the sky should be horizontal. FIG. 9 shows a case where a relatively large valley appears in the waveform and ΔPm is also large. This corresponds to the defects called sky wave TN and sky flow TF as shown in FIG. FIG. 10 shows a case where the waveform is flat as a whole, but the level is low, and the average value P 0 is much smaller than the average value P 1 and ΔP 0 exceeds a predetermined limit value.
This occurs when the height Hs of bottle 1 does not reach the specified height dimension Ht and exceeds the allowable error range, as shown in Figure 15, or when the opening of bottle 1 is completely insufficiently formed. corresponds to In the case of the waveforms shown in FIGS. 6 to 10 described above, defects as shown in FIGS. 11 to 15 exist, respectively, and the comparator 14 outputs a defect signal. It is preferable that the limit value or threshold value for determining whether or not a defect is present is set at different levels depending on the characteristics of the defective signal, that is, the type of defect on the top of the bottle to be detected. Recognition of waveform characteristics and setting of limit values based on the recognition results can be performed using the comparator 14. Next, an example of recognizing the characteristics of a signal waveform diagram and setting a limit value will be described. First, the types of defects are roughly divided into the following three types. #1: Mouth burning KB (Fig. 7, Fig. 12) Open blister OB (Fig. 7, Fig. 12) Top suji TS (Fig. 7, Fig. 11) #2: Closed blister CB (Fig. 7, Fig. 11) Figure 6, 1st
(Fig. 1) #3: Tenpa TN (Fig. 9, Fig. 13) Tennami TF (Fig. 9, Fig. 13)) Based on this classification, defects are determined for the entire circumference of the bottle mouth. The length of the corresponding defective signal part is a) 0.01 to 0.1 in the dark direction for #1 defect.
When it is %. b) 0.01 to 0.1 in the bright direction for #2 defect
c) For defect #3, if it is 10 to 30% in the dark direction, it is preliminarily determined that there is a defect, and furthermore, depending on the use of the bottle and the sealing structure, as shown in the table below. When the allowable limit value, that is, the allowable limit value of the deviation from the average value P1, is exceeded, it is finally determined that there is a defect.

【表】 ここに例示するように限界値は比較的小さなも
のであるが、本発明によれば、個々のびんの天の
反射率の違いや、投光器の経年変化・電源電圧の
変動、さらには検査場所の明暗度の経年時変化な
どがあつても、信号処理系に前置されている増幅
器の増幅度をその都度調節して平均値としては常
に一定レベルの信号が出力されるようにしたの
で、信号レベルの変動による誤動作の無い、高精
度かつ高信頼性のびん検査装置を提供することが
できる。 なお、実施例においてはメモリおよび演算器の
構成が簡単になることからデイジタル化した回路
のものについて説明したが、場合によつてはアナ
ログ回路のみで全装置を構成してもよい。また、
第2図の装置において演算制御器12および比較
演算器14は共通の計算機を共用するように構成
してもよい。
[Table] As exemplified here, the limit values are relatively small, but according to the present invention, it is possible to account for differences in the reflectance of the top of individual bottles, aging of the projector, fluctuations in power supply voltage, and even Even if the brightness of the inspection location changes over time, the amplification level of the amplifier installed in the signal processing system is adjusted each time so that a signal with a constant average level is always output. Therefore, it is possible to provide a highly accurate and highly reliable bottle inspection device that is free from malfunctions due to signal level fluctuations. In the embodiment, a digital circuit has been described because it simplifies the configuration of the memory and the arithmetic unit, but in some cases, the entire device may be configured only with analog circuits. Also,
In the apparatus shown in FIG. 2, the arithmetic controller 12 and the comparator 14 may be configured to share a common computer.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は、本発明装置における投光器および光
電変換素子の光学的配置を示す側面図、第2図
は、本発明の一実施例を示すブロツク図、第3図
は、本発明の増幅器の増幅度調節方法を説明する
ための波形図、第4〜10図は、増幅器から出力
される信号波形の具体例を示す波形図、第11〜
13図は、びんの天に生じる種々の欠陥例を示す
部分斜視図、第14図〜15図は、さらに他の欠
陥例を示すびんの側面図である。 1……びん、2……天(開口端面)、3……投
光器、4……光電変換素子、5……増幅器、7…
…メモリ、12……演算制御器、14……比較演
算器。
FIG. 1 is a side view showing the optical arrangement of a light projector and a photoelectric conversion element in the device of the present invention, FIG. 2 is a block diagram showing an embodiment of the present invention, and FIG. 3 is an amplification of the amplifier of the present invention. Waveform diagrams 4 to 10 are waveform diagrams for explaining the degree adjustment method, and waveform diagrams 11 to 10 are waveform diagrams showing specific examples of signal waveforms output from the amplifier.
FIG. 13 is a partial perspective view showing various examples of defects occurring on the top of the bottle, and FIGS. 14 and 15 are side views of the bottle showing still other examples of defects. 1...Bottle, 2...Top (opening end surface), 3...Light emitter, 4...Photoelectric conversion element, 5...Amplifier, 7...
...Memory, 12... Arithmetic controller, 14... Comparison calculator.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 a) びんの開口端面に向けて投光する投光
器と、 b) 前記開口端面からの反射光を受け、その受
光量に応じたレベルの電気信号を出力する光電
変換素子と、 c) びん開口端面が順次全周にわたつて投光さ
れるようにびんを回転駆動する駆動装置と、 d) 前記光電変換素子の出力信号を増幅する可
変増幅度の増幅器と、 e) この増幅器の出力信号を各びんごとに記憶
するメモリと、 f) このメモリに記憶されたデータのうち、過
去最新の所定数のびんについてのデータの平均
値を求め、その平均値が予め定められた所定値
となるように前記増幅器の増幅度を調節する演
算制御手段と、 g) 検査中のびんについて開口端面全周にわた
る前記増幅器の出力信号の異常成分が所定値を
超えたとき欠陥信号を出力する比較演算手段と を備えて成るびん検査装置。
[Scope of Claims] 1 a) A light projector that emits light toward the open end surface of the bottle; b) A photoelectric conversion element that receives reflected light from the open end surface and outputs an electrical signal at a level corresponding to the amount of received light. and c) a driving device that rotates the bottle so that the bottle opening end face is sequentially illuminated over the entire circumference; d) an amplifier with a variable amplification degree that amplifies the output signal of the photoelectric conversion element; and e) a memory for storing the output signal of this amplifier for each bottle; g) arithmetic control means for adjusting the amplification degree of the amplifier to a predetermined value; A bottle inspection device comprising a comparison calculation means for outputting an output.
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